本發(fā)明涉及磁環(huán)電感分選裝置，特別是一種能延長測(cè)試針使用壽命的小電感金屬磁環(huán)電感分選裝置。
背景技術(shù)：
小電感金屬磁環(huán)，尤其是鎳鋅鐵氧體磁環(huán)，單匝電感量單位在nH級(jí)別，現(xiàn)有電感測(cè)試儀基本不能直接測(cè)試；為測(cè)試其電感并避免儀表及測(cè)試誤差，需繞多圈金屬導(dǎo)線，通常在50圈以上；測(cè)試完成后，再將繞線拆除，測(cè)試十分不便，費(fèi)時(shí)費(fèi)力、效率低下，且浪費(fèi)了大量導(dǎo)線。
2012年7月11日公開的第201120445738.0號(hào)中國發(fā)明，揭示了一種環(huán)形磁環(huán)電感分選工具；該分選工具包括繞有金屬導(dǎo)線的環(huán)形磁環(huán)、與導(dǎo)線相連的電感測(cè)試儀、金屬柱、金屬臺(tái)、環(huán)形絕緣罩、底座等。
該結(jié)構(gòu)基本能夠完成小電感環(huán)形磁環(huán)的電感分選，但在使用中，因金屬罩高度高，重量重，每次測(cè)試需將金屬罩從金屬柱上取下、放回操作；長時(shí)間測(cè)試后，測(cè)試者手會(huì)感覺酸痛、腫脹。
另外，金屬罩閉合時(shí)，會(huì)來回摩擦繞在磁環(huán)上的金屬導(dǎo)線，使絕緣層脫落，需經(jīng)常更換并重新繞制金屬導(dǎo)線，使用不便。
2013年4月25日公開的申請(qǐng)?zhí)枮?01310149474.8的中國發(fā)明專利申請(qǐng)，其發(fā)明創(chuàng)造的名稱為一種小電感環(huán)形磁芯電感分選工具，包括金屬底座、繞有金屬導(dǎo)線的磁環(huán)、電感測(cè)試儀、金屬柱，所述磁環(huán)為磁場(chǎng)源，所述金屬柱、金屬罩、無蓋金屬盒相接觸，共同構(gòu)成閉合磁通路；無蓋金屬盒與環(huán)形絕緣蓋相配合，金屬罩與環(huán)形絕緣蓋活動(dòng)配合，所述金屬柱從上之下依次穿過金屬罩、環(huán)形絕緣蓋、磁環(huán)與無蓋金屬盒；無蓋金屬盒側(cè)邊開有孔，允許磁環(huán)上繞制的金屬導(dǎo)線穿過。
201310149474.8專利申請(qǐng)基本解決了201120445738.0中所存在的技術(shù)問題，然而兩個(gè)專利申請(qǐng)，均存在如下技術(shù)問題，有待進(jìn)行解決：為使金屬罩能順利套裝進(jìn)金屬中，故金屬罩上的孔洞直徑大于金屬柱的外徑，因而，當(dāng)金屬罩蓋合后，金屬罩與金屬柱之間具有間隙，因而電感測(cè)試頻繁跳動(dòng)，不穩(wěn)定，需要人為左右晃動(dòng)金屬罩，使金屬罩與金屬柱相接觸，故測(cè)試繁瑣，誤差大，測(cè)試精度差。另外，金屬罩左右晃動(dòng)過程中，會(huì)對(duì)金屬柱來回多次撞擊，從而金屬柱磨損快，使用壽命短。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，而提供一種能延長測(cè)試針使用壽命的小電感金屬磁環(huán)電感分選裝置，該能延長測(cè)試針使用壽命的小電感金屬磁環(huán)電感分選裝置當(dāng)金屬罩與金屬臺(tái)相蓋合后，能使金屬罩與測(cè)試針緊密接觸配合，從而電感測(cè)試精度高，測(cè)試方便、快捷。另外，還能延長測(cè)試針的使用壽命。
為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是：
一種能延長測(cè)試針使用壽命的小電感金屬磁環(huán)電感分選裝置，包括絕緣底座、金屬臺(tái)、測(cè)試針、金屬罩、升降支架、標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)、絕緣罩、電流互感器和電感測(cè)試儀。
金屬臺(tái)放置在絕緣底座上。
測(cè)試針為金屬材料制成，測(cè)試針包括一體同軸設(shè)置的圓柱部和圓錐部，圓錐部位于圓柱部頂端。
圓柱部底端與金屬臺(tái)固定連接，圓柱部從下至上依次穿過標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)和絕緣罩；標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)作為磁場(chǎng)源，標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)外周纏繞有金屬線，并通過金屬線與電感測(cè)試儀相連接。
金屬罩包括同軸設(shè)置的下金屬環(huán)和上金屬蓋，下金屬環(huán)同軸套設(shè)在絕緣罩的外周，下金屬環(huán)底部與金屬臺(tái)固定連接。
上金屬蓋的中心設(shè)置有中心孔，上金屬蓋下表面同軸設(shè)置有金屬導(dǎo)向套筒，金屬導(dǎo)向套筒底部內(nèi)表面同軸設(shè)置有金屬錐形凸臺(tái)。
上金屬蓋的正上方設(shè)置有旋轉(zhuǎn)盤，旋轉(zhuǎn)盤通過絕緣連桿與上金屬蓋固定連接，旋轉(zhuǎn)盤頂端通過升降支架與絕緣底座固定連接，旋轉(zhuǎn)盤及上金屬蓋能在升降支架的帶動(dòng)下進(jìn)行升降；上金屬蓋在高度下降過程中，測(cè)試針的圓錐部依次從金屬錐形凸臺(tái)、金屬導(dǎo)向套筒和上金屬蓋的中心孔穿過，當(dāng)上金屬蓋下表面與下金屬環(huán)上表面相接觸配合時(shí)，金屬錐形凸臺(tái)與測(cè)試針的圓錐部的底部相接觸。
旋轉(zhuǎn)盤能在電機(jī)的驅(qū)動(dòng)作用下轉(zhuǎn)動(dòng)，電機(jī)與電流互感器相連接。
所述升降支架上設(shè)置有能檢測(cè)升降支架升降位移的位移傳感器。
所述下金屬環(huán)的上表面設(shè)置有與上金屬蓋下表面相配合的環(huán)形凹槽。
所述標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)與測(cè)試針的圓柱部之間設(shè)置有絕緣填充物。
所述金屬臺(tái)上設(shè)置有能使標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)外周纏繞的金屬線穿過的穿線孔。
本發(fā)明采用上述結(jié)構(gòu)后，當(dāng)金屬罩與金屬臺(tái)相蓋合后，能使金屬罩與測(cè)試針緊密接觸配合，從而電感測(cè)試精度高，測(cè)試方便、快捷。另外，還能延長測(cè)試針的使用壽命。
附圖說明
圖1顯示了本發(fā)明一種能延長測(cè)試針使用壽命的小電感金屬磁環(huán)電感分選裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
其中有：
1.絕緣底座；2.金屬臺(tái)；
3.測(cè)試針；31.圓柱部；32.圓錐部；
41.上金屬蓋；411.中心孔；412.金屬導(dǎo)向套筒；413.金屬錐形凸臺(tái)；42.下金屬環(huán)；421.環(huán)形凹槽；
5.升降支架；51.升降橫桿；511.位移傳感器；52.水平橫桿；53.連接軸；
6.旋轉(zhuǎn)盤；61.電機(jī)；62.電流互感器；63.絕緣連桿；
7.標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)；71.絕緣填充物；72.金屬線；
8.絕緣罩；9.電感測(cè)試儀；10.待測(cè)磁環(huán)。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和具體較佳實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
如圖1所示，一種能延長測(cè)試針使用壽命的小電感金屬磁環(huán)電感分選裝置，包括絕緣底座1、金屬臺(tái)2、測(cè)試針3、金屬罩、升降支架5、旋轉(zhuǎn)盤6、標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)7、絕緣罩8、電流互感器62和電感測(cè)試儀9。
金屬臺(tái)放置在絕緣底座上。
測(cè)試針為金屬材料制成，測(cè)試針包括一體同軸設(shè)置的圓柱部和圓錐部，圓錐部位于圓柱部頂端。
圓柱部底端與金屬臺(tái)固定連接，優(yōu)選為可拆卸連接，測(cè)試針可更換。
圓柱部從下至上依次穿過標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)和絕緣罩。
標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)作為磁場(chǎng)源，標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)外周纏繞有金屬線，并通過金屬線與電感測(cè)試儀相連接。
進(jìn)一步，上述標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)與測(cè)試針的圓柱部之間優(yōu)選設(shè)置有絕緣填充物，因而能防止標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)晃動(dòng)，電感測(cè)試更為準(zhǔn)確。
金屬臺(tái)上優(yōu)選設(shè)置有能使標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)外周纏繞的金屬線穿過的穿線孔，因而能避免金屬線的磨損。
金屬罩包括同軸設(shè)置的下金屬環(huán)和上金屬蓋，下金屬環(huán)同軸套設(shè)在絕緣罩的外周，下金屬環(huán)底部與金屬臺(tái)固定連接。
上金屬蓋的中心設(shè)置有中心孔411，上金屬蓋下表面同軸設(shè)置有金屬導(dǎo)向套筒412，金屬導(dǎo)向套筒底部內(nèi)表面同軸設(shè)置有金屬錐形凸臺(tái)413。
上金屬蓋的正上方設(shè)置有旋轉(zhuǎn)盤6，旋轉(zhuǎn)盤通過絕緣連桿與上金屬蓋固定連接，旋轉(zhuǎn)盤頂端通過升降支架與絕緣底座固定連接，旋轉(zhuǎn)盤及上金屬蓋能在升降支架的帶動(dòng)下進(jìn)行升降。
旋轉(zhuǎn)盤能在電機(jī)61的驅(qū)動(dòng)作用下轉(zhuǎn)動(dòng)，電機(jī)與電流互感器相連接。
上述升降支架5優(yōu)選包括升降豎桿51和水平橫桿53，升降豎桿的高度能夠升降，升降豎桿內(nèi)優(yōu)選設(shè)置有能檢測(cè)升降支架升降位移的位移傳感器511。
水平橫桿的底部優(yōu)選設(shè)置有連接軸53和電機(jī)。
旋轉(zhuǎn)盤優(yōu)選通過軸承套裝在連接軸53的外周，旋轉(zhuǎn)盤的外周優(yōu)選設(shè)置有齒輪，該齒輪與電機(jī)齒輪相嚙合。
上金屬蓋在高度下降過程中，測(cè)試針的圓錐部依次從金屬錐形凸臺(tái)、金屬導(dǎo)向套筒和上金屬蓋的中心孔穿過，當(dāng)上金屬蓋下表面與下金屬環(huán)上表面相接觸配合時(shí)，金屬錐形凸臺(tái)與測(cè)試針的圓錐部的底部相接觸。
進(jìn)一步，上述下金屬環(huán)的上表面優(yōu)選設(shè)置有與上金屬蓋下表面相配合的環(huán)形凹槽，從而能對(duì)上金屬蓋進(jìn)行限位。
一種金屬磁環(huán)小電感檢測(cè)方法，包括以下步驟。
步驟1，標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)電感測(cè)試：標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)套設(shè)在位于絕緣蓋和金屬臺(tái)之間的測(cè)試針的圓柱部上，纏繞在標(biāo)準(zhǔn)磁環(huán)上的金屬線優(yōu)選從金屬臺(tái)中穿出后與電感測(cè)試儀相連接，上金屬蓋蓋合在下金屬環(huán)上；此時(shí)，電感測(cè)試儀顯示電感讀數(shù)為初始電感。
步驟2，待測(cè)磁環(huán)放置：上金屬蓋高度上升，將待測(cè)磁環(huán)套裝在測(cè)試針的圓柱部外周并放置在絕緣蓋上。
步驟3，上金屬蓋高度下降：上金屬蓋在升降支架的帶動(dòng)下，高度下降，使上金屬蓋上的金屬導(dǎo)向套筒套裝在測(cè)試針的外周。
步驟4，上金屬蓋與測(cè)試針及下金屬環(huán)之間的配合壓力測(cè)試：金屬導(dǎo)向套筒套裝在測(cè)試針外周的指定位置后，上金屬蓋高度繼續(xù)下降，旋轉(zhuǎn)盤開始在電機(jī)的驅(qū)動(dòng)下轉(zhuǎn)動(dòng)，電流互感器將對(duì)電機(jī)的回路電流進(jìn)行檢測(cè)；上金屬蓋與測(cè)試針及下金屬環(huán)之間的配合壓力與電機(jī)的回路電流呈線性關(guān)系，上金屬蓋與測(cè)試針及下金屬環(huán)之間的配合壓力大小的改變將引起回路電流的變化。
本發(fā)明中，通過檢測(cè)上金屬蓋與測(cè)試針及下金屬環(huán)之間的配合壓力，從而使上金屬蓋、下金屬環(huán)和測(cè)試針緊密接觸配合，測(cè)試針的圓錐部與金屬導(dǎo)向套筒中的金屬錐形凸臺(tái)為錐形環(huán)面接觸，因而接觸更為緊密，測(cè)試針部分點(diǎn)位磨損，對(duì)電感測(cè)試結(jié)果影響不大。
即使測(cè)試針正常測(cè)試的錐形環(huán)面嚴(yán)重磨損，通過降低上金屬蓋的高度，進(jìn)行適當(dāng)高度補(bǔ)償，仍能延長測(cè)試針的使用壽命。
步驟5，待測(cè)磁環(huán)電感測(cè)試：當(dāng)步驟4中的電流互感器所檢測(cè)的電機(jī)回路電流在設(shè)定范圍內(nèi)時(shí)，升降支架高度停止下降，將此時(shí)電感測(cè)試儀上的穩(wěn)定電感讀數(shù)減去步驟1中的初始電感即為待測(cè)磁環(huán)電感。
以上詳細(xì)描述了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，但是，本發(fā)明并不限于上述實(shí)施方式中的具體細(xì)節(jié)，在本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思范圍內(nèi)，可以對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行多種等同變換，這些等同變換均屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。