技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種基于SiPM的多光子探測方法，通過對SiPM的暗計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)，獲得暗計(jì)數(shù)的概率分布圖，通過得到的概率分布圖求出高斯分布的μ0,Δμ,σ0，σε四個參數(shù)，當(dāng)作用光源是相干光源時，光子數(shù)的概率密度函數(shù)服從泊松分布，建立泊松分布的數(shù)學(xué)模型并進(jìn)行與實(shí)測數(shù)據(jù)的波形匹配，精確計(jì)算出探測到的光子數(shù)量；當(dāng)作用光源是非相干光源時，探測到n光子數(shù)的條件下脈沖高度為x時條件概率密度函數(shù)fX|N(x|n)服從高斯分布，建立高斯分布的數(shù)學(xué)模型并與實(shí)測數(shù)據(jù)進(jìn)行匹配，計(jì)算出探測到的光子數(shù)量；本發(fā)明能夠精確探測單個光子至多個光子精度的光子數(shù)量。

技術(shù)研發(fā)人員：辛云宏;馬劍飛;賀帆
受保護(hù)的技術(shù)使用者：陜西師范大學(xué)
文檔號碼：201710044448
技術(shù)研發(fā)日：2017.01.21
技術(shù)公布日：2017.05.24