本實(shí)用新型涉及二極管測試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種二極管測試控制電路和測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

在對二極管進(jìn)行測試時(shí)，通常需要對其進(jìn)行功率老煉測試和高溫反偏測試。傳統(tǒng)的測試系統(tǒng)需要采用兩臺獨(dú)立的設(shè)備分別進(jìn)行功率老煉測試和高溫反偏測試，從而使得測試成本較高且測試效率較低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

基于此，有必要提供一種測試成本低且測試效率高的二極管測試控制電路和測試系統(tǒng)。

一種二極管測試控制電路，包括：直流電源，用于提供直流電；直流電方向切換電路，與所述直流電源連接，用于切換所述直流電源的輸出和輸入方向；主控電路，與所述直流電方向切換電路連接；所述主控電路用于與所述溫度試驗(yàn)箱連接，以對所述溫度試驗(yàn)箱的工作進(jìn)行控制；以及驅(qū)動(dòng)電路，與所述直流電方向切換電路連接；所述驅(qū)動(dòng)電路用于與所述溫度試驗(yàn)箱內(nèi)的待測二極管連接，以將所述直流電轉(zhuǎn)換為驅(qū)動(dòng)電源后驅(qū)動(dòng)所述待測二極管，從而進(jìn)行功率老煉測試或者高溫反偏測試。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述直流電方向切換電路為橋式繼電器組。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述主控電路包括單片機(jī)、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路和電流采樣電路；所述電流采樣電路、所述模數(shù)轉(zhuǎn)換電路以及所述單片機(jī)依次連接；所述電流采樣電路用于對電路中的漏電流進(jìn)行采樣并輸出模擬采樣值；所述模擬采樣值經(jīng)所述模數(shù)轉(zhuǎn)換電路轉(zhuǎn)換為數(shù)字采樣值后輸出給所述單片機(jī)；所述單片機(jī)用于將所述數(shù)字采樣值與漏電流閾值比較，以確認(rèn)測試中的二極管是否失效。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述單片機(jī)為STM32單片機(jī)或者51單片機(jī)；所述直流電源為可編程直流電源。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述主控電路還包括溫箱實(shí)時(shí)監(jiān)控電路，用于采集所述溫度試驗(yàn)箱內(nèi)各點(diǎn)溫度數(shù)據(jù)并輸出給所述單片機(jī)；所述單片機(jī)用于根據(jù)所述溫度數(shù)據(jù)對所述溫度試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度進(jìn)行控制。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，還包括：過溫保護(hù)電路，所述過溫保護(hù)電路用于對所述二極管測試控制電路進(jìn)行過溫保護(hù)；以及過流保護(hù)電流，用于對所述二極管測試控制電路進(jìn)行過流保護(hù)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，還包括主控板和轉(zhuǎn)接板；所述直流電方向切換電路、所述單片機(jī)、所述溫箱實(shí)時(shí)監(jiān)控電路、所述模數(shù)轉(zhuǎn)換電路以及所述過溫保護(hù)電路設(shè)置在所述主控板上；所述電流采樣電路、所述過流保護(hù)電路以及所述驅(qū)動(dòng)電路設(shè)置在所述轉(zhuǎn)接板上；所述轉(zhuǎn)接板、所述主控板以及所述直流電源相互獨(dú)立設(shè)置。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，還包括光耦隔離電路；所述光耦隔離電路設(shè)置在所述主控電路和所述驅(qū)動(dòng)電路之間，用于隔離所述主控電路和所述驅(qū)動(dòng)電路。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，還包括上位機(jī)；所述上位機(jī)與所述主控電路連接，用于將測試配置參數(shù)發(fā)送給所述主控電路，并接收和存儲所述主控電路輸出的數(shù)據(jù)。

一種二極管測試系統(tǒng)，包括溫度試驗(yàn)箱，還包括如前述任一實(shí)施例所述的二極管測試控制電路。

上述二極管測試控制電路和測試系統(tǒng)，通過在直流電源的輸出端設(shè)置直流電方向切換電路，可以實(shí)現(xiàn)電源方向的切換，進(jìn)而使得在直流電源正向輸出時(shí)，主控電路和驅(qū)動(dòng)電路在該正向電源的控制下進(jìn)行功率老煉測試，當(dāng)直流電源反向輸出時(shí)，主控電路和驅(qū)動(dòng)電路在該反向電源的控制下進(jìn)行高溫反偏測試。上述二極管測試控制電路和測試系統(tǒng)，可以在同一個(gè)電路中對二極管的功率老煉測試和高溫反偏測試，從而簡化了測試電路結(jié)構(gòu)，降低了測試成本。并且測試過程中，無需分別進(jìn)行單獨(dú)接線，從而極大的提高了測試效率。

附圖說明

圖1為一實(shí)施例中的二極管測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為圖1中的直流電方向切換電路的電路原理圖。

具體實(shí)施方式

為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。

圖1為一實(shí)施例中的二極管測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。該二極管測試系統(tǒng)用于對二極管進(jìn)行功率老煉測試和高溫反偏測試。本實(shí)施例中的二極管可以包括齊納管、整流管、雪崩二極管、電壓調(diào)整和電壓基準(zhǔn)管以及TVS管等。該二極管測試系統(tǒng)包括二極管測試控制電路(以下簡稱測試控制電路)100和溫度試驗(yàn)箱200。測試控制電路100用于對溫度試驗(yàn)箱200的工作進(jìn)行控制，如對溫度試驗(yàn)箱的開關(guān)、開啟時(shí)長以及溫度等進(jìn)行控制。溫度試驗(yàn)箱200用于提供測試環(huán)境以對待測二極管進(jìn)行功率老煉測試或者高溫反偏測試。

測試控制電路100包括直流電源110、直流電方向切換電路120、主控電路以及驅(qū)動(dòng)電路140。

直流電源110用于向測試控制電路100提供直流電。在本實(shí)施例中，直流電源110為可編程直流電源，從而可以根據(jù)需要為待測二極管提供驅(qū)動(dòng)電流和電壓。

直流電方向切換電路120與直流電源110的輸出端連接，用于切換直流電源110的輸入和輸出方向。直流電方向切換電路120為橋式繼電器組，具體結(jié)構(gòu)如圖2所示。如圖2，當(dāng)繼電器1和4導(dǎo)通且繼電器2和3斷開時(shí)，第一電源輸出極為正極，第二電源輸出極為負(fù)極；當(dāng)繼電器1和4斷開且繼電器2和3導(dǎo)通時(shí)，第一電源輸出極為負(fù)極，第二電源輸出極為正極，從而實(shí)現(xiàn)電源方向的切換，以驅(qū)動(dòng)測試控制電路進(jìn)行功率老煉測試或者高溫反偏測試。

主控電路與直流電方向切換電路120連接且與溫度試驗(yàn)箱200連接。主控電路用于對溫度試驗(yàn)箱200的工作進(jìn)行控制，例如對溫度試驗(yàn)箱200的開啟時(shí)長、開啟溫度等進(jìn)行控制。主控電路包括單片機(jī)132、電流采樣電路134、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路136以及溫箱實(shí)時(shí)監(jiān)控電路138。單片機(jī)132為主控單元，以對整個(gè)測試控制電路100的工作進(jìn)行控制。在本實(shí)施例中，測試控制電路100還包括上位機(jī)150。上位機(jī)150與單片機(jī)132連接，以將測試配置參數(shù)等發(fā)送給單片機(jī)132。單片機(jī)132根據(jù)測試配置參數(shù)生成相應(yīng)的控制信號以對溫度試驗(yàn)箱200的工作進(jìn)行控制。在本實(shí)施例中，單片機(jī)132采用STM32單片機(jī)或者51單片機(jī)。相對于傳統(tǒng)的采用FPGA或者CPLD芯片而言，其具有價(jià)格低廉、方便升級、通用性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。

電流采樣電路134用于對電路中的漏電流進(jìn)行采樣并輸出模擬采樣值。電流采樣電路133采用精密電阻來實(shí)現(xiàn)電流采樣。模數(shù)轉(zhuǎn)換電路136用于將該模擬采樣值轉(zhuǎn)換為數(shù)字采樣值后輸出給單片機(jī)132。單片機(jī)132將該數(shù)字采樣值與漏電流閾值比較，以確認(rèn)測試中的二極管是否失效。當(dāng)數(shù)字采樣值也即采樣到的漏電流大于漏電流閾值時(shí)，可以確認(rèn)該二極管已經(jīng)失效。

溫箱實(shí)時(shí)監(jiān)控電路138用于采集溫度試驗(yàn)箱200內(nèi)各點(diǎn)溫度數(shù)據(jù)并輸出給單片機(jī)132。溫箱實(shí)時(shí)監(jiān)控電路138包括熱電偶，通過熱電偶直接采集溫度試驗(yàn)箱200內(nèi)各點(diǎn)的溫度數(shù)據(jù)。單片機(jī)132根據(jù)溫箱實(shí)時(shí)監(jiān)控電路138測試得到的溫度數(shù)據(jù)對溫度試驗(yàn)箱200進(jìn)行溫度控制，防止溫度試驗(yàn)箱200內(nèi)的溫度失控。

驅(qū)動(dòng)電路140與直流電方向切換電路120連接，并與待測二極管連接。驅(qū)動(dòng)電路140用于將直流電方向切換電路120輸出的直流電轉(zhuǎn)換為驅(qū)動(dòng)電源后驅(qū)動(dòng)待測二極管，從而進(jìn)行功率老煉測試或者高溫反偏測試。在本實(shí)施例中，驅(qū)動(dòng)電路140為繼電器控制回路。

上述二極管測試控制電路100，通過在直流電源110的輸出端設(shè)置直流電方向切換電路120，可以實(shí)現(xiàn)電源方向的切換，進(jìn)而使得在直流電源110正向輸出時(shí)，主控電路和驅(qū)動(dòng)電路140在該正向電源的控制下進(jìn)行功率老煉測試，當(dāng)直流電源110反向輸出時(shí)，主控電路和驅(qū)動(dòng)電路140在該反向電源的控制下進(jìn)行高溫反偏測試。上述二極管測試系統(tǒng)可以在同一個(gè)電路中實(shí)現(xiàn)對二極管的功率老煉測試和高溫反偏測試，從而簡化了測試電路結(jié)構(gòu)，降低了測試成本。并且測試過程中，無需分別進(jìn)行單獨(dú)接線，從而極大的提高了測試效率。

在本實(shí)施例中，上述測試控制電路100還包括過溫保護(hù)電路160、過流保護(hù)電流170以及光耦隔離電路180。過溫保護(hù)電路160用于對測試控制電路100進(jìn)行過溫保護(hù)。過溫保護(hù)電路160包括熱電偶，通過熱電偶對主控電路和驅(qū)動(dòng)電路140的溫度進(jìn)行監(jiān)控，從而實(shí)現(xiàn)過溫保護(hù)。過流保護(hù)電路170用于對測試控制電路100進(jìn)行過流保護(hù)。過流保護(hù)電路170可以通過保險(xiǎn)管和熱敏電阻來實(shí)現(xiàn)。光耦隔離電路180設(shè)置在主控電路和驅(qū)動(dòng)電路140之間，用于隔離主控電路和驅(qū)動(dòng)電路140。

在本實(shí)施例中，二極管測試系統(tǒng)內(nèi)設(shè)置有主控板10和轉(zhuǎn)接板20。其中，直流電方向切換電路120、單片機(jī)132、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路136、溫箱實(shí)時(shí)監(jiān)控電路138以及過溫保護(hù)電路160均設(shè)置在主控板10上。電流采樣電路134、驅(qū)動(dòng)電路140、過流保護(hù)電路170以及光耦隔離電路180均設(shè)置在轉(zhuǎn)接板20上。在本實(shí)施例中，測試系統(tǒng)中的直流電源110、主控板10、轉(zhuǎn)接板20以及溫度試驗(yàn)箱200均相互獨(dú)立設(shè)置，且可以獨(dú)立擴(kuò)展，從而便于單獨(dú)進(jìn)行拆裝和維護(hù)升級。

以上所述實(shí)施例的各技術(shù)特征可以進(jìn)行任意的組合，為使描述簡潔，未對上述實(shí)施例中的各個(gè)技術(shù)特征所有可能的組合都進(jìn)行描述，然而，只要這些技術(shù)特征的組合不存在矛盾，都應(yīng)當(dāng)認(rèn)為是本說明書記載的范圍。

以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本實(shí)用新型的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對實(shí)用新型專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。因此，本實(shí)用新型專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。