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一種適合長(zhǎng)樣品的CT檢測(cè)儀的制作方法

文檔序號(hào):12358094閱讀:371來源:國(guó)知局
一種適合長(zhǎng)樣品的CT檢測(cè)儀的制作方法與工藝

本發(fā)明屬于CT檢測(cè)儀技術(shù)領(lǐng)域,尤其是涉及一種適合長(zhǎng)樣品的CT檢測(cè)儀。



背景技術(shù):

在現(xiàn)有的技術(shù)中,CT檢測(cè)儀器為了能滿足對(duì)長(zhǎng)樣品的CT檢測(cè),采用升降射線源和平板探測(cè)器的形式,對(duì)樣品進(jìn)行掃描。此種形式的CT設(shè)備,占用的體積大,設(shè)備重,不能滿足移動(dòng)的需要。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

有鑒于此,本發(fā)明旨在提出一種適合長(zhǎng)樣品的CT檢測(cè)儀,該CT檢測(cè)儀占地體積小,重量輕,可以對(duì)樣品進(jìn)行不同位置檢測(cè)的CT檢測(cè)儀。

為達(dá)到上述目的,本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的:

一種適合長(zhǎng)樣品的CT檢測(cè)儀,包括全屏蔽輻射防護(hù)箱體,以及通過支架設(shè)置于其內(nèi)部的運(yùn)動(dòng)組件;

所述運(yùn)動(dòng)組件包括運(yùn)動(dòng)基座,所述運(yùn)動(dòng)基座的兩端分別設(shè)有主動(dòng)旋轉(zhuǎn)組件以及從動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)組件;所述主動(dòng)旋轉(zhuǎn)組件和/或從動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)組件的外端配置有樣品夾持器;未設(shè)有樣品夾持器的主動(dòng)旋轉(zhuǎn)組件或從動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)組件上設(shè)有樣品固定裝置;所述主動(dòng)旋轉(zhuǎn)組件與驅(qū)動(dòng)其進(jìn)行旋轉(zhuǎn)的電機(jī)連接;

所述運(yùn)動(dòng)基座上還設(shè)有可沿其長(zhǎng)度方向水平運(yùn)動(dòng)的射線源探測(cè)器組件,所述射線源探測(cè)器組件位于主動(dòng)旋轉(zhuǎn)組件和從動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)組件之間,且與驅(qū)動(dòng)其沿運(yùn)動(dòng)基座水平運(yùn)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)裝置連接。

進(jìn)一步,所述樣品固定裝置為三爪卡盤或與樣品形狀相互配合的夾具。

進(jìn)一步,所述運(yùn)動(dòng)基座其上設(shè)有沿其長(zhǎng)度方向延伸的第一導(dǎo)軌,所述射線源探測(cè)器組件上設(shè)有的第一滑塊與所述運(yùn)動(dòng)基座上的第一導(dǎo)軌相配合。

進(jìn)一步,所述射線源探測(cè)器組件包括組件基座,以及可沿組件基座進(jìn)行升降運(yùn)動(dòng)且上下相互對(duì)應(yīng)的射線源以及探測(cè)器,且樣品夾持器上夾持的樣品位于射線源與探測(cè)器之間。

進(jìn)一步,所述組件基座設(shè)有與運(yùn)動(dòng)基座上設(shè)有的第一導(dǎo)軌相配合的第一滑塊。

進(jìn)一步,所述射線源其上設(shè)有滑塊,其與組件基座上設(shè)有的射線源升降導(dǎo)軌相互配合,且射線源與驅(qū)動(dòng)其升降的驅(qū)動(dòng)電機(jī)連接。

進(jìn)一步,所述探測(cè)器其上設(shè)有滑塊,其與組件基座上設(shè)有的探測(cè)器升降導(dǎo)軌相互配合,且射線源與驅(qū)動(dòng)其升降的驅(qū)動(dòng)電機(jī)連接。

相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明所述的適合長(zhǎng)樣品的CT檢測(cè)儀具有以下優(yōu)勢(shì):體積小,重量輕,通過主動(dòng)旋轉(zhuǎn)組件可以帶動(dòng)樣品進(jìn)行旋轉(zhuǎn),配合射線源探測(cè)器組件的水平移動(dòng),可以對(duì)樣品進(jìn)行全方位的檢測(cè),實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)樣品的全行程的螺旋掃描成像,大大提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確度;同時(shí)可以靈活調(diào)整射線源、探測(cè)器與被測(cè)物之間的距離使其適用于不同直徑的樣品進(jìn)行不同放大比的調(diào)整,從而得到更優(yōu)的成像圖像;本發(fā)明所述的CT檢測(cè)儀同時(shí)可以提高檢測(cè)速度。

附圖說明

構(gòu)成本發(fā)明創(chuàng)造的一部分的附圖用來提供對(duì)本發(fā)明創(chuàng)造的進(jìn)一步理解,本發(fā)明創(chuàng)造的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本發(fā)明創(chuàng)造,并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明創(chuàng)造的不當(dāng)限定。在附圖中:

圖1為本發(fā)明實(shí)施例所述的CT檢測(cè)儀器的立體結(jié)構(gòu)示意圖;

圖2為本發(fā)明實(shí)施例所述的運(yùn)動(dòng)組件以及射線源探測(cè)器組件相互配合的立體結(jié)構(gòu)示意圖;

圖3為本發(fā)明實(shí)施例所述的射線源探測(cè)器組件的側(cè)視圖。

附圖標(biāo)記說明:

1、運(yùn)動(dòng)組件;2、全屏蔽輻射防護(hù)箱體;11、射線源探測(cè)器組件;12、運(yùn)動(dòng)基座;13、主動(dòng)旋轉(zhuǎn)組件;14、從動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)組件;111、射線源;112、探測(cè)器;113、射線源升降導(dǎo)軌;114、探測(cè)器升降導(dǎo)軌;115、組件基座;116、第一滑塊;15、第一導(dǎo)軌。

具體實(shí)施方式

需要說明的是,在不沖突的情況下,本發(fā)明創(chuàng)造中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。

在本發(fā)明的描述中,需要理解的是,術(shù)語“中心”、“縱向”、“橫向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“頂”、“底”、“內(nèi)”、“外”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系,僅是為了便于描述本發(fā)明和簡(jiǎn)化描述,而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作,因此不能理解為對(duì)本發(fā)明的限制。此外,術(shù)語“第一”、“第二”等僅用于描述目的,而不能理解為指示或暗示相對(duì)重要性或者隱含指明所指示的技術(shù)特征的數(shù)量。由此,限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隱含地包括一個(gè)或者更多個(gè)該特征。在本發(fā)明的描述中,除非另有說明,“多個(gè)”的含義是兩個(gè)或兩個(gè)以上。

在本發(fā)明的描述中,需要說明的是,除非另有明確的規(guī)定和限定,術(shù)語“安裝”、“相連”、“連接”應(yīng)做廣義理解,例如,可以是固定連接,也可以是可拆卸連接,或一體地連接;可以是機(jī)械連接,也可以是電連接;可以是直接相連,也可以通過中間媒介間接相連,可以是兩個(gè)元件內(nèi)部的連通。對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言,可以通過具體情況理解上述術(shù)語在本發(fā)明中的具體含義。

下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來詳細(xì)說明本發(fā)明。

如圖1~圖3所示,一種適合長(zhǎng)樣品的CT檢測(cè)儀,包括全屏蔽輻射防護(hù)箱體2,以及通過支架設(shè)置于其內(nèi)部的運(yùn)動(dòng)組件1;

所述運(yùn)動(dòng)組件1包括運(yùn)動(dòng)基座12,所述運(yùn)動(dòng)基座12的兩端分別設(shè)有主動(dòng)旋轉(zhuǎn)組件13以及從動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)組件14;所述主動(dòng)旋轉(zhuǎn)組件13外端配置有樣品夾持器,所述從動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)組件14上設(shè)有樣品固定裝置;

如果所述主動(dòng)旋轉(zhuǎn)組件13和所述從動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)組件14上均配置有樣品夾持器,則不需要再設(shè)置樣品固定裝置;

如果所述從動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)組件14上配置樣品夾持器,則在主動(dòng)旋轉(zhuǎn)組件13上設(shè)置樣品固定裝置。

所述樣品固定裝置為三爪卡盤或與樣品相互配合的夾具。

所述主動(dòng)旋轉(zhuǎn)組件13與驅(qū)動(dòng)其進(jìn)行旋轉(zhuǎn)的電機(jī)連接;

所述主動(dòng)旋轉(zhuǎn)組件13以及從動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)組件14均為常用的旋轉(zhuǎn)部件,例如軸承等,其可轉(zhuǎn)動(dòng)安裝在運(yùn)動(dòng)基座12上即可。

所述運(yùn)動(dòng)基座12上還設(shè)有可沿其長(zhǎng)度方向水平運(yùn)動(dòng)的射線源探測(cè)器組件11,所述射線源探測(cè)器組件11位于主動(dòng)旋轉(zhuǎn)組件13和從動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)組件14之間,且與驅(qū)動(dòng)其沿運(yùn)動(dòng)基座12水平運(yùn)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)裝置連接;所述驅(qū)動(dòng)裝置可以是電機(jī),通過滾珠絲桿與射線源探測(cè)器組件11連接,實(shí)現(xiàn)射線源探測(cè)器組件11的水平運(yùn)動(dòng)?;蛘呤峭ㄟ^氣缸等直接實(shí)現(xiàn)射線源探測(cè)器組件11的推拉也可以。

所述運(yùn)動(dòng)基座12其上設(shè)有沿其長(zhǎng)度方向延伸的第一導(dǎo)軌15,所述射線源探測(cè)器組件11上設(shè)有的第一滑塊116與所述運(yùn)動(dòng)基座12上的第一導(dǎo)軌15相配合。第一導(dǎo)軌15與第一滑塊116的配合,可保證射線源探測(cè)器組件11水平移動(dòng)。

所述射線源探測(cè)器組件11包括組件基座115,以及可沿組件基座115進(jìn)行升降運(yùn)動(dòng)且上下相互對(duì)應(yīng)的射線源111以及探測(cè)器112,且樣品夾持器上夾持的樣品位于射線源111與探測(cè)器112之間。所述第一滑塊116設(shè)置在組件基座115上。

所述射線源11其上設(shè)有滑塊,其與組件基座115上設(shè)有的豎直的射線源升降導(dǎo)軌113相互配合,且射線源11與驅(qū)動(dòng)其升降的驅(qū)動(dòng)電機(jī)連接。

所述探測(cè)器112其上設(shè)有滑塊,其與組件基座115上設(shè)有的豎直的探測(cè)器升降導(dǎo)軌114相互配合,且射線源11與驅(qū)動(dòng)其升降的驅(qū)動(dòng)電機(jī)連接。

兩個(gè)驅(qū)動(dòng)電機(jī)分別通過滾珠絲桿與射線源11以及探測(cè)器12連接,實(shí)現(xiàn)兩者豎直方向的升降。或者是通過氣缸等直接實(shí)現(xiàn)射線源探測(cè)器組件11的推拉也可以。

本發(fā)明的工作過程,將樣品的一端夾持在樣品夾持器上,另外一端固定在樣品固定裝置,例如三爪卡盤上,使樣品呈水平狀態(tài)放置;將樣品調(diào)整至射線源11以及探測(cè)器112之間,然后調(diào)整射線源11、樣品、以及探測(cè)器112之間的距離,開啟射線源11以及探測(cè)器12;同時(shí)開啟驅(qū)動(dòng)主動(dòng)旋轉(zhuǎn)組件13進(jìn)行旋轉(zhuǎn)的驅(qū)動(dòng)電機(jī),帶動(dòng)樣品進(jìn)行旋轉(zhuǎn),以及開啟驅(qū)動(dòng)射線源探測(cè)器組件11沿水平方向移動(dòng)的驅(qū)動(dòng)裝置,就可以實(shí)現(xiàn)樣品的全方位的螺旋掃描成像,加快檢測(cè)速度。

以上所述僅為本發(fā)明創(chuàng)造的較佳實(shí)施例而已,并不用以限制本發(fā)明創(chuàng)造,凡在本發(fā)明創(chuàng)造的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明創(chuàng)造的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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