本發(fā)明涉及一種自動檢測系統(tǒng)及應(yīng)用其自動檢測方法，且特別是一種可檢測光學(xué)膜片的自動檢測系統(tǒng)及應(yīng)用其自動檢測方法。

背景技術(shù)：

傳統(tǒng)的自動檢測系統(tǒng)是以人工目測光學(xué)膜片的缺陷，再以人工將不合格的光學(xué)膜片剔除，接著再以人工方式收集合格的光學(xué)膜片。然而，以人工檢測的可靠度不佳，且檢測效率低。

因此，亟需提出一種新的技術(shù)去改善該現(xiàn)有技術(shù)的問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種自動檢測系統(tǒng)及應(yīng)用其自動檢測方法，可自動檢測光學(xué)膜片的缺陷。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種自動檢測系統(tǒng)。自動檢測系統(tǒng)包括一攝像模塊、一機(jī)械手臂及一控制器。攝像模塊用以擷取多個光學(xué)膜片的至少一影像。機(jī)械手臂用以抓取該多個光學(xué)膜片?？刂破饔靡圆僮髟冢阂罁?jù)至少一影像判斷該多個光學(xué)膜片是否具有缺陷；及若該多個光學(xué)膜片具有缺陷，控制機(jī)械手臂抓取具有缺陷的光學(xué)膜片。

為了更好地實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供了一種自動檢測方法。自動檢測方法包括以下步驟。提供多個光學(xué)膜片；提供一自動檢測系統(tǒng)，自動檢測系統(tǒng)包括一攝像模塊、一機(jī)械手臂及一控制器；攝像模塊擷取多個光學(xué)膜片的至少一影像；控制器依據(jù)至少一影像判斷該多個光學(xué)膜片是否具有缺陷；以及，若該多個光學(xué)膜片具有缺陷，控制器控制機(jī)械手臂抓取具有缺陷的光學(xué)膜片。

本發(fā)明的技術(shù)效果在于：

由于本發(fā)明的光學(xué)膜片的抓取以機(jī)械手臂完成，因此可提升光學(xué)膜片的檢測效率。

以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述，但不作為對本發(fā)明的限定。

附圖說明

圖1至3為依照本發(fā)明一實(shí)施例的自動檢測方法的過程圖；

圖4為依照本發(fā)明另一實(shí)施例的機(jī)械手臂的外觀圖。

附圖標(biāo)記

10、10’：光學(xué)膜片

11：缺陷

12：邊界

100：自動檢測系統(tǒng)

110：攝像模塊

120、220：機(jī)械手臂

121：第一本體

121e、222e：側(cè)邊

121s：第一表面

123：第一吸取器

123a：第一氣道

125：真空源

130：控制器

222：第二本體

222s：第二表面

224：第二吸取器

224a：第二氣道

l1：長度

m1：影像

o1：參考點(diǎn)

w1：寬度

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的結(jié)構(gòu)原理和工作原理作具體的描述：

請參考圖1至3，其為依照本發(fā)明一實(shí)施例的自動檢測方法的過程圖。

首先，如圖1所示，其為依照本發(fā)明一實(shí)施例的自動檢測系統(tǒng)100的立體圖。提供一自動檢測系統(tǒng)100，其可包括攝像模塊110、機(jī)械手臂120及控制器130。

攝像模塊110用以擷取多個光學(xué)膜片10的至少一影像m1，光學(xué)膜片10可為一單層或多層膜片，例如可為一偏光片、相位差膜、增亮膜或其他對光學(xué)的增益、配向、補(bǔ)償、轉(zhuǎn)向、直交、擴(kuò)散、保護(hù)、防粘、耐刮、抗眩、反射抑制、高折射率等有所助益的膜片。

多個光學(xué)膜片10可以是小尺寸光學(xué)膜片，其例如是由一大尺寸光學(xué)膜片切割而成。在一實(shí)施例中，在自動檢測之前，一刀具(未繪示)，例如可為一刀模，對一大尺寸光學(xué)膜片(大約等于圖1所示的多個光學(xué)膜片10的區(qū)域大小)同時(shí)裁切出多個光學(xué)膜片10，并將該多個光學(xué)膜片10放置于一承載平臺(未繪示)上；或者，大尺寸光學(xué)膜片可先放置于承載平臺(未繪示)上，然后以刀具，例如可為一刀模，對大尺寸光學(xué)膜片同時(shí)裁切出多個光學(xué)膜片10。

在一實(shí)施例中，大尺寸光學(xué)膜片的裁切可通過控制器130控制刀具完成，或者不通過控制器130控制刀具亦可完成。

在一實(shí)施例中，承載平臺(未繪示)上的多個光學(xué)膜片10可呈矩陣式排列，如以圖1為例，多個光學(xué)膜片10可排列成三列、每列有三片光學(xué)膜片10。此矩陣式排列方式可依刀具設(shè)計(jì)、裁切方式或工藝設(shè)備而決定，而不以本發(fā)明實(shí)施例為限。

在一實(shí)施例中，承載平臺(未繪示)上的多個光學(xué)膜片10可大致互相緊鄰。

在一實(shí)施例中，擷取的影像m1可包括前述呈矩陣式排列中不同行列的多個光學(xué)膜片10。

然后，控制器130可依據(jù)影像m1判斷該多個光學(xué)膜片10是否具有缺陷。若光學(xué)膜片10具有缺陷11，控制器130控制機(jī)械手臂120抓取具有缺陷11的光學(xué)膜片10，并集中到一容器(未繪示)，準(zhǔn)備汰除或重工。由于缺陷11的檢測以電子裝置，如控制器130完成，因此可增加對缺陷11的檢測可靠度，并減少人力。

此外，如圖1所示，機(jī)械手臂120可包括第一本體121、至少一第一吸取 器123及真空源125。各第一吸取器123可上下伸縮地連接于第一本體121且具有第一氣道123a，以吸取光學(xué)膜片10。例如，第一吸取器123可位于光學(xué)膜片10的正上方，然后控制器130控制第一吸取器123往下伸長，以靠近并吸取光學(xué)膜片10。在另一實(shí)施例中，第一吸取器123可固定地配置于第一本體121中，在此設(shè)計(jì)下，通過第一本體121往下移動仍可讓第一吸取器123靠近并吸取光學(xué)膜片10。

在本實(shí)施例中，第一吸取器123的數(shù)量例如是4個，然亦可少于4個或多于4個。真空源125可連通第一氣道123a，以提供真空吸力吸取光學(xué)膜片10。在本實(shí)施例中，多個第一吸取器123可沿一四邊形的四個角落配置。在另一實(shí)施例中，第一吸取器123的數(shù)量例如是2個，其可沿四邊形的相對二角落配置。

此外，在一實(shí)施例中，上述攝像模塊(圖未示)可整合至機(jī)械手臂120中，例如可配置于是整合至第一本體121。在一實(shí)施例中，當(dāng)攝像模塊擷取光學(xué)膜片10的影像m1后，控制器130可依據(jù)影像m1判斷該多個光學(xué)膜片10是否具有缺陷。若光學(xué)膜片10具有缺陷11，控制器130可隨即(例如，不需等待下一個光學(xué)膜片10的分析結(jié)果)以控制機(jī)械手臂120抓取具有缺陷11的光學(xué)膜片10，并集中到一容器(未繪示)后，再繼續(xù)擷取其他光學(xué)膜片10的影像m1，并重復(fù)檢測該多個光學(xué)膜片10。在本實(shí)施例中，借由此整合機(jī)構(gòu)，可同時(shí)進(jìn)行影像擷取及具有缺陷11的光學(xué)膜片10的抓取，而可節(jié)省移動機(jī)械手臂120的時(shí)間，以增加效率。

在一實(shí)施例中，攝像模塊110可配置于第一本體121連接有第一吸取器123的第一表面121s，或可配置于第一本體121相鄰于第一表面121s的一側(cè)邊(或側(cè)面)121e，或可設(shè)置于其他表面，而不以本發(fā)明實(shí)施例為限。

在一實(shí)施例中，在攝像模塊110配置于第一本體121的第一表面121s且第一吸取器123上下伸縮地連接于第一本體121的設(shè)計(jì)下，各第一吸取器123伸長后自第一表面121s突出的長度大于攝像模塊110自第一表面121s突出的長度，借此可避免于第一吸取器123吸取光學(xué)膜片10時(shí)，攝像模塊110接觸到光學(xué)膜片10而損壞光學(xué)膜片10。

在另一實(shí)施例中，在攝像模塊110配置于第一本體121的第一表面121s且第一吸取器12固定地配置于第一本體121中的設(shè)計(jì)下，各第一吸取器123自第一表面121s突出的長度大于攝像模塊110自第一表面121s突出的長度， 借此可避免于第一吸取器123吸取光學(xué)膜片10時(shí)，攝像模塊110接觸到光學(xué)膜片10而損壞光學(xué)膜片10。

如圖2所示，其為具有缺陷的光學(xué)膜片10被抓取的示意圖。光學(xué)膜片10’具有缺陷11，因此控制器130控制機(jī)械手臂120抓取光學(xué)膜片10’，并放置于另一處。

在一實(shí)施例中，攝像模塊110可一次擷取包含全部的多個光學(xué)膜片10的一張影像m1。通過控制器130對影像m1的影像分析，可獲致各光學(xué)膜片10的邊界12，以清楚界定出各光學(xué)膜片10的區(qū)域。如此一來，若影像m1中具有缺陷11，控制器130可清楚獲知具有缺陷11的是哪一個光學(xué)膜片10。在此實(shí)施例中，由于影像m1是包含全部數(shù)片光學(xué)膜片10的一張影像，因此控制器130可在對影像m1的一次分析中，同時(shí)得知具有缺陷11的各光學(xué)膜片10’。如此，相較于移動攝像模塊110進(jìn)行逐片檢測，可減少制造時(shí)間并增加產(chǎn)能。

在一實(shí)施例中，可待全部光學(xué)膜片10分析完成后，以控制器130控制機(jī)械手臂120抓取具有缺陷11的光學(xué)膜片10’。在一實(shí)施例中，控制器130亦可一邊進(jìn)行影像分析，一邊控制機(jī)械手臂120抓取具有缺陷11的光學(xué)膜片10’。

在另一實(shí)施例中，控制器130預(yù)先獲得各光學(xué)膜片10的尺寸，如長度l1及寬度w1?？刂破?30依據(jù)影像m1可決定該多個光學(xué)膜片10的參考點(diǎn)o1，例如是該多個光學(xué)膜片10的其中一轉(zhuǎn)角。然后，控制器130依據(jù)各光學(xué)膜片10的長度l1及寬度w1，即可決定出各光學(xué)膜片10的邊界12，以清楚界定出各光學(xué)膜片10的區(qū)域。如此一來，若影像m1中具有缺陷11，控制器130可清楚獲知具有缺陷11的是哪一個光學(xué)膜片10。在此實(shí)施例中，控制器130同樣可在對影像m1的一次分析中，得知具有缺陷11的光學(xué)膜片10’。如此，相較于移動攝像模塊110進(jìn)行逐片檢測，可減少制造時(shí)間并增加產(chǎn)能。

在其它實(shí)施例中，攝像模塊110可擷取一些光學(xué)膜片10的數(shù)張影像m1。接著，控制器130可分析影像m1，以決定影像m1中的各光學(xué)膜片10的邊界12，以清楚界定出影像m1中各光學(xué)膜片10的區(qū)域。如此一來，若影像m1中具有缺陷11，控制器130可清楚獲知具有缺陷11的是哪一個光學(xué)膜片10。然后，可依此原則，繼續(xù)擷取及分析其它片或其他多個光學(xué)膜片10的影像m1，直到全部的光學(xué)膜片10檢測完成。在此實(shí)施例中，全部光學(xué)膜片10的缺陷檢測可在對多個影像m1的二次或二次以上的影像分析中完成。在此實(shí)施 例中，只要控制器130一分析出光學(xué)膜片10’具有缺陷11，控制器130即可控制機(jī)械手臂120抓取具有缺陷11的光學(xué)膜片10’，于此同時(shí)，攝像模塊110可繼續(xù)擷取其它片或其他多個光學(xué)膜片10的影像m1且控制器130分析其它片或其他多個光學(xué)膜片10的影像m1，直到全部的光學(xué)膜片10檢測完成。在此實(shí)施例中，控制器130亦可分析完上述先后擷取的所有影像m1(亦即，包含全部多個光學(xué)膜片10的多張影像m1)后再控制機(jī)械手臂120抓取具有缺陷11的光學(xué)膜片10’。

在其它實(shí)施例中，攝像模塊110可先擷取一片或一些光學(xué)膜片10的一張或多張影像m1；再依此原則，擷取其它片或其他多個光學(xué)膜片10的影像m1，直到擷取完所有的光學(xué)膜片10的影像m1。接著，控制器130可分析上述先后擷取的所有影像m1(亦即，包含全部多片光學(xué)膜片10的多張影像m1)，以決定影像m1中的各光學(xué)膜片10的邊界12，以清楚界定出影像m1中各光學(xué)膜片10的區(qū)域。如此一來，若影像m1中具有缺陷11，控制器130可清楚獲知具有缺陷11的是哪一個光學(xué)膜片10。在此實(shí)施例中，全部光學(xué)膜片10的缺陷檢測可在對多個影像m1的二次以上的影像分析中完成。在此實(shí)施例中，待全部光學(xué)膜片10分析完成后，控制器130再控制機(jī)械手臂120抓取具有缺陷11的光學(xué)膜片10’。如此，相較于逐片檢測后立即抓取具有缺陷11的光學(xué)膜片10’，可減少制造時(shí)間并增加產(chǎn)能。

綜上可知，由于本發(fā)明實(shí)施例的光學(xué)膜片10的抓取以機(jī)械手臂完成，因此可提升光學(xué)膜片的檢測效率。

如圖3所示，其為圖1的具有所有缺陷11的所有光學(xué)膜片10’被抓取完成的示意圖。待所有缺陷11的光學(xué)膜片10’被檢測出且被抓取完成后，保留下來的即是不具缺陷11，即品質(zhì)合格的光學(xué)膜片10。然后，控制器130可控制機(jī)械手臂120抓取該多個光學(xué)膜片10放置同一區(qū)域，如同一容器(未繪示)中。該多個光學(xué)膜片10可在該同一區(qū)域堆疊。在另一實(shí)施例中，亦可采用人工方式將所有剩余不具缺陷或品質(zhì)合格的光學(xué)膜片10一次收攏，并放置于同一容器(未繪示)中。

圖4為依照本發(fā)明另一實(shí)施例的機(jī)械手臂220的外觀圖。機(jī)械手臂220包括第一本體121、第二本體222、至少一第一吸取器123、至少一第二吸取器224及真空源125。各第一吸取器123可上下伸縮地連接于第一本體121且 具有第一氣道123a，以吸取光學(xué)膜片10。各第二吸取器224可上下伸縮地連接于第二本體222且具有第二氣道224a，以吸取光學(xué)膜片10。真空源125可連通第一氣道123a及第二氣道224a，以提供真空吸力吸取光學(xué)膜片10。第二本體222可左右移動地(或左右伸縮地)連接于第一本體121，以帶動第二吸取器224，使第二吸取器224相對第一吸取器123系可移動。在另一實(shí)施例中，第一吸取器123與第二吸取器224可分別固定地配置于第一本體121與第二本體222中，在此設(shè)計(jì)下，通過第一本體121與第二本體222往下移動可讓第一吸取器123與第二吸取器224靠近并吸取光學(xué)膜片10。

如圖4所示，第二吸取器224可靠近第一吸取器123，以使第一吸取器123的第一氣道123a及第二吸取器224的第二氣道224a位于同一光學(xué)膜片10的范圍內(nèi)，以吸取同一片光學(xué)膜片10?；蛘?，第二本體222可相對第一本體121伸長，以帶動第二吸取器224遠(yuǎn)離第一吸取器123，進(jìn)而擴(kuò)大第一氣道123a及第二氣道224a的分布范圍，吸取二個或二個以上的光學(xué)膜片10。

此外，在一實(shí)施例中，上述攝像模塊(圖未示)亦可整合至機(jī)械手臂220中。在一實(shí)施例中，當(dāng)攝像模塊擷取光學(xué)膜片10的影像m1后，控制器130可依據(jù)影像m1判斷該多個光學(xué)膜片10是否具有缺陷。若光學(xué)膜片10具有缺陷11，控制器130可隨即以控制機(jī)械手臂220抓取具有缺陷11的光學(xué)膜片10，并集中到一容器(未繪示)后，再繼續(xù)擷取其他光學(xué)膜片10的影像m1，并重復(fù)檢測該多個光學(xué)膜片10。在本實(shí)施例中，借由此整合機(jī)構(gòu)，可同時(shí)進(jìn)行影像擷取及具有缺陷11的光學(xué)膜片10的抓取，而可節(jié)省移動機(jī)械手臂220的時(shí)間，以增加效率。

在一實(shí)施例中，攝像模塊(圖未示)可配置于第一本體121或第二本體222，如可配置于第一本體121連接有第一吸取器123的第一表面121s上、第一本體121相鄰于第一表面121s的多個第一側(cè)邊121e的一個上、第二本體222連接有第二吸取器224的第二表面222s上、第二本體222相鄰于第二表面222s的多個第二側(cè)邊222e(或側(cè)面)的一個上，或是可設(shè)置于第一本體121或第二本體222的其它表面上，而不以本發(fā)明實(shí)施例為限。

在一實(shí)施例中，各第一吸取器123自第一本體121的第一表面121s的突出長度與各第二吸取器224自第二本體222的第二表面222s的突出長度大于攝像模塊110自第一本體121的第一表面121s的突出長度或自第二本體222 的第二表面222s的突出長度，如此可避免于第一吸取器123及/或第二吸取器224吸取光學(xué)膜片10時(shí)，攝像模塊110接觸到光學(xué)膜片1而損壞光學(xué)膜片10。

綜上，在一實(shí)施例中，自動檢測系統(tǒng)可自動檢測光學(xué)膜片的缺陷，并自動抓取具有缺陷的光學(xué)膜片。在另一實(shí)施例中，自動檢測系統(tǒng)還可自動收集合格的光學(xué)膜片并集中至同一區(qū)域，或放置于同一容器(未繪示)中。在其它實(shí)施例中，對于全部光學(xué)膜片的缺陷檢測可在一次或二次以上的影像分析中完成。此外，自動檢測系統(tǒng)可待全部光學(xué)膜片的影像分析完成后，再抓取并汰除具有缺陷的光學(xué)膜片，或是一邊分析影像，一邊抓取并汰除具有缺陷的光學(xué)膜片。待所有具有缺陷的光學(xué)膜片抓取并汰除完成后，自動檢測系統(tǒng)可抓取剩下不具缺陷的光學(xué)膜片，并放置于同一容器(未繪示)中。在另一實(shí)施例中，在上述檢測與收集過程中，自動檢測系統(tǒng)可于收集時(shí)同時(shí)計(jì)算不具缺陷的光學(xué)膜片的數(shù)量，并可輸出該數(shù)量的值至一顯示屏幕。在另一實(shí)施例中，在上述檢測與收集過程中，自動檢測系統(tǒng)可于收集時(shí)同時(shí)計(jì)算不具缺陷的光學(xué)膜片的數(shù)量，而作為放置于容器(未繪示)時(shí)的依據(jù)，例如，當(dāng)光學(xué)膜片的數(shù)量到達(dá)一包裝數(shù)量時(shí)，則將后續(xù)光學(xué)膜片收集于另一容器中。

當(dāng)然，本發(fā)明還可有其它多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。