技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
一種落入式探頭包含測量頭部，所述測量頭部具有浸入端和具有端面的相對的第二端。所述測量頭部由被配置成沿著分型線配合在一起的第一和第二半主體形成。被布置在所述測量頭部內(nèi)的樣品室與其冷卻質(zhì)量塊熱隔絕，并且包含具有2.5mm或更小厚度的金屬壁。入口管具有到所述樣品室的入口開口。所述入口開口具有直徑Diniet，并且與所述測量頭部的所述端面間隔至少公式(1)的距離。當(dāng)所述樣品室用熔融金屬的樣品填充時(shí)，所述金屬樣品的質(zhì)量與所述樣品室的所述金屬壁的質(zhì)量的比率大于2.6且小于6。 D i n l e t 2 - - - ( 1 ) ]]>

技術(shù)研發(fā)人員：德里·拜恩斯;吉多·雅各布斯·奈葉恩斯
受保護(hù)的技術(shù)使用者：賀利氏電子耐特國際股份公司
技術(shù)研發(fā)日：2015.12.22
技術(shù)公布日：2017.09.26