本發(fā)明涉及半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域，尤其涉及一種測試墊布局結(jié)構(gòu)及電性測試方法。

背景技術(shù)：

隨著顯示器件和集成電路器件的不斷發(fā)展，LCD、OLED以及PCB等產(chǎn)品器件已經(jīng)廣泛運(yùn)用到生活中各個領(lǐng)域，在LCD、OLED或PCB完成封裝一個產(chǎn)品時，需要進(jìn)行產(chǎn)品的電性檢驗，即使用電性測試探針扎針至對應(yīng)的測試墊(即測試焊盤)上進(jìn)行通電測試。如圖1所示，傳統(tǒng)技術(shù)中探針扎針具有一定的測試距離(2A或者是3A)，因此扎針對應(yīng)的所有測試墊均依次以該測試距離等距設(shè)置，任意兩測試墊間的距離均為該測試距離，因此增大了測試墊占據(jù)的外圍空間，不符合LCD、OLED或PCB的高解析度以及窄邊框要求。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

鑒于上述問題，本發(fā)明提供一種測試墊布局結(jié)構(gòu)及電性測試方法。

一種測試墊布局結(jié)構(gòu)，應(yīng)用于利用測試探針對待測試器件進(jìn)行的電性測試中，其特征在于，包括：

若干根互相平行的測試墊，設(shè)置于所述待測試器件上；以及

若干探針扎針墊，分別交錯排列設(shè)置于每根所述測試墊上；

其中，利用一組所述測試探針扎于所述探針扎針墊上以對所述待測試器件進(jìn)行電性測試時，相鄰的所述測試墊之間的間距與兩相鄰的所述測試墊寬度之和小于一組測試探針的扎針位置之間的距離，且一組測試探針至少包括2根測試探針。

上述的結(jié)構(gòu)，其中，一組測試探針扎針位置之間設(shè)置有至少一根所述測試墊。

上述的結(jié)構(gòu)，其中，任意兩根相鄰的所述測試墊之間的間距D小于或等于45um。

上述的結(jié)構(gòu)，其中，一組測試探針扎針位置之間的間距L大于或等于n*D，且n為正整數(shù)。

上述的結(jié)構(gòu)，其中，每根所述測試墊的長度為200um。

上述的結(jié)構(gòu)，其中，每根所述測試墊的寬度為110um。

上述的結(jié)構(gòu)，其中，任意相鄰兩根所述測試墊之間的間距均相等。

一種電性測試方法，其特征在于，所述方法包括：

提供一設(shè)置有若干根互相平行的測試墊的待測試器件,且所述測試墊上設(shè)有扎針位置所述測試墊上皆包括有扎針位置；

將測試探針扎針于所述測試墊的扎針位置上，以對所述待測試器件進(jìn)行所述電性測試；

其中，所述測試探針的扎針位置處交錯分布于所述測試墊上。

上述的方法，其中，所述方法中：

同組所述測試探針的扎針位置處之間跨越至少一根所述測試墊， 以進(jìn)行所述電性測試，且一組測試探針至少包括2根測試探針。

上述的方法，其中，所述測試墊上設(shè)置有探針扎針墊，所述測試探針扎于所述探針扎針墊上以進(jìn)行所述電性測試。

綜上所述，本發(fā)明提出了一種測試墊布局結(jié)構(gòu)及電性測試方法，該測試墊布局結(jié)構(gòu)主要針對測試探針的扎針距離而設(shè)定，主要通過將待測試器件上設(shè)置測試墊的電性測試扎針位置交錯排列，進(jìn)而在確保探針扎針位置之間額定距離的同時，有效降低測試墊的分布區(qū)域范圍，布局結(jié)構(gòu)分為N組，各組中的測試墊相鄰距離均為A，且任意一組的相鄰測試墊間均具設(shè)置有剩余組中其他測試墊，進(jìn)而使測試墊結(jié)構(gòu)中的相鄰測試墊間的間距體現(xiàn)為A/N，一定程度上減少了測試墊占據(jù)的外圍空間，符合器件窄邊框的要求，同時適用于密集型線路的電性測試中。

附圖說明

參考所附附圖，以更加充分的描述本發(fā)明的實施例。然而，所附附圖僅用于說明和闡述，并不構(gòu)成對本發(fā)明范圍的限制。

圖1是現(xiàn)有探針扎針測試示意圖；

圖2是本發(fā)明隔開一個PAD進(jìn)行探針扎針測試示意圖；

圖3是本發(fā)明隔開兩個PAD進(jìn)行探針扎針測試示意圖。

具體實施方式

為了使本發(fā)明的技術(shù)方案及優(yōu)點更加易于理解，下面結(jié)合附圖作 進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)說明，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。

實施例一

如圖2和圖3所示，本發(fā)明設(shè)計了一種測試墊布局結(jié)構(gòu)，該結(jié)構(gòu)應(yīng)用于測試探針進(jìn)行電性測試中，其中包括有：

若干條互相平行的測試墊2，一組PAD依次交錯排列，每個測試墊上均設(shè)置有探針扎針針墊，則相鄰的測試墊上的探針扎針墊交錯排列，且一組待測試墊2的中心間距與測試探針1的扎針距離相同。利用測試探針對待測試器件進(jìn)行電性測試時，一組測試探針扎針位置處之間的距離大于相鄰的測試墊之間的距離與相鄰兩測試墊寬度之和。

本申請的技術(shù)方案，可基于傳統(tǒng)測試墊布局的基礎(chǔ)上，通過在相鄰的測試墊之間增加新的測試墊，進(jìn)而節(jié)省整個測試墊的布局空間，且在利用測試探針在進(jìn)行傳統(tǒng)扎針測試時，可通過調(diào)整測試探針的扎針方式諸如在對相鄰的測試焊墊進(jìn)行測試可使得扎針位置相互錯開，或在以間隔的方式針對不相鄰的測試焊墊進(jìn)行扎針測試，即在保持測試探針之間距離不變的前提下，僅改變測試探針的扎針方式實現(xiàn)對待測器件的電性測試，進(jìn)而有效的節(jié)省整個測試器件的排列空間。

另外，交錯排列也就是說，在每一組的PAD中包括有其他組的PAD，且根據(jù)一組的PAD間距進(jìn)行設(shè)置探針間距，在本發(fā)明中，一組探針設(shè)置至少為兩個，則一組PAD同樣為兩個，任意相鄰的兩根測試墊之間的間距D小于或等于45um，一組測試探針扎針的位置的間距L大于等于n*D，且n是不為一的正整數(shù)。從以上信息可知，探 針的距離是和一組中的PAD間距相等的，那么在一組PAD中還設(shè)置有其他組的測試墊，則在預(yù)先設(shè)置的時候，使得交錯分布的每個PAD之間的間距都是相等的，這樣在后續(xù)進(jìn)行探針測試的時候可以更方便的進(jìn)行探針位置找準(zhǔn)。

在上述內(nèi)容中，一組測試墊中都有若干其他組測試墊中的測試墊，至于具體有多少個，可以根據(jù)實際生產(chǎn)情況來確定，其結(jié)果都是為了進(jìn)行電性測試的時候能更加方便高效率的完成電性測試的。一般的電性測試都是一組探針對兩條測試墊進(jìn)行電性測試，測試完一組再移動位置測試下一組，測試墊的占用空間較大，本發(fā)明優(yōu)選的是兩個探針對兩個測試墊同時進(jìn)行電性測試，而一組中兩個測試墊的間距可以跟原來每個測試墊的擺放間距相同，然后在一組測試墊之間再放置若干其他組的測試墊，依次交錯下去?；蛘呤翘结樀拈g距和一組的測試墊間距相同的情況下，探針在移至下一組測試墊進(jìn)行電性測試的距離減小，就是在不改變測試探針間距的情況下，縮小測試墊擺放的間距，這樣就可以縮小測試墊所占的空間。

在本發(fā)明中，每個測試墊的間距設(shè)置為45um，每個PAD的寬度為110um，每個PAD的長度為200um。

而在本發(fā)明中，任意兩組的進(jìn)行電性測試的測試墊上的扎針位置可以相同，也可以不同，但是一組測試墊扎針位置都是在同一條線上的，即一組中的測試墊扎針位置是相同的。

這樣，本發(fā)明提出了一種測試墊布局結(jié)構(gòu)，該測試墊布局結(jié)構(gòu)主要針對測試探針的扎針距離而設(shè)定，主要通過將測試墊布局結(jié)構(gòu)分為 N組，各組中的測試墊相鄰距離均為A，且任意一組的相鄰測試墊間均具設(shè)置有剩余組中其他測試墊，進(jìn)而使測試墊結(jié)構(gòu)中的相鄰測試墊間的間距體現(xiàn)為A/N，一定程度上減少了測試墊占據(jù)的外圍空間，符合器件窄邊框的要求，同時適用于密集型線路的電性測試中。

實施例二

另外，本申請還涉及一種電性測試的方法，該方法可運(yùn)用上述的電測試墊布局結(jié)構(gòu)，具體包括：

首先，當(dāng)需要對待測試器件進(jìn)行電性測試時，可先于該待測試器件之上的測試區(qū)域中設(shè)置若干根相互平行且與待測試器件中設(shè)置的器件結(jié)構(gòu)連接的測試墊，且每根測試墊均可設(shè)置為條狀結(jié)構(gòu)(如長度(Length)為200um寬度(width)為110um的條狀結(jié)構(gòu)，且相鄰的測試墊之間間隔(Space)為45um，即PAD pitch為155um)。

其次，利用測試探針扎針于上述的測試墊上，以對待測試器件進(jìn)行電性測試；而為了提升電性測試的性能可將測試探針扎針于測試墊上的位置處以交錯排列的方式進(jìn)行分布。另外，同一組測試探針的扎針位置處跨越至少一根測試墊以進(jìn)行電性測試。也就是說在探針扎針的時候，兩根探針之間至少會還設(shè)置有一根測試墊，或者更多的測試墊，然后每根測試墊上設(shè)置有探針針墊，測試探針扎針于探針針墊上并進(jìn)行電性測試。綜上所述，本發(fā)明提出了一種測試墊布局結(jié)構(gòu)及電性測試方法，該測試墊布局結(jié)構(gòu)主要針對測試探針的扎針距離而設(shè)定，主要通過將測試墊布局結(jié)構(gòu)分為N組，各組中的測試墊相鄰距 離均為A，且任意一組的相鄰測試墊間均具設(shè)置有剩余組中其他測試墊，進(jìn)而使測試墊結(jié)構(gòu)中的相鄰測試墊間的間距體現(xiàn)為A/N，一定程度上減少了測試墊占據(jù)的外圍空間，符合器件窄邊框的要求，同時適用于密集型線路的電性測試中。

通過說明和附圖，給出了具體實施方式的特定結(jié)構(gòu)的典型實施例，基于本發(fā)明精神，還可作其他的轉(zhuǎn)換。盡管上述發(fā)明提出了現(xiàn)有的較佳實施例，然而，這些內(nèi)容并不作為局限。

對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員而言，閱讀上述說明后，各種變化和修正無疑將顯而易見。因此，所附的權(quán)利要求書應(yīng)看作是涵蓋本發(fā)明的真實意圖和范圍的全部變化和修正。在權(quán)利要求書范圍內(nèi)任何和所有等價的范圍與內(nèi)容，都應(yīng)認(rèn)為仍屬本發(fā)明的意圖和范圍內(nèi)。