一種電容測(cè)試裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種電容測(cè)試裝置，包括電容測(cè)試儀，其兩端連接測(cè)試板，測(cè)試板上設(shè)有插撥式夾子，待測(cè)電容插置到所述的插撥式夾子內(nèi)定位，所述的測(cè)試板內(nèi)設(shè)有時(shí)序控制器連接驅(qū)動(dòng)開關(guān)，驅(qū)動(dòng)開關(guān)連接繼電器，繼電器連接待測(cè)電容，所述的電容測(cè)試儀通過(guò)相應(yīng)的繼電器與待測(cè)電容連接，該裝置將自動(dòng)切換待測(cè)電容導(dǎo)通到電容測(cè)試儀，通過(guò)電容測(cè)試儀即可讀取電容測(cè)試參數(shù)，這樣測(cè)試方便快捷，可批量測(cè)試，效率提升，無(wú)需逐一人工固定電解。
【專利說(shuō)明】一種電容測(cè)試裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種電容測(cè)試裝置，具體與一種可批量自動(dòng)測(cè)試電容參數(shù)，提升電容測(cè)試效率的電容測(cè)試裝置有關(guān)。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有電容測(cè)試，采用電容測(cè)試儀測(cè)試電容參數(shù)，但現(xiàn)有的測(cè)試方法需要將電容測(cè)試儀兩個(gè)測(cè)試端子人工夾住電容兩端，再讀取測(cè)試參數(shù)，這樣每測(cè)試一個(gè)電容均需要人工固定電容，測(cè)試效率低。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]為解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型提供了一種可批量自動(dòng)測(cè)試電容參數(shù)，提升電容測(cè)試效率的電容測(cè)試裝置。
[0004]本實(shí)用新型解決上述技術(shù)問(wèn)題，所采用的技術(shù)方案是:
[0005]一種電容測(cè)試裝置，包括電容測(cè)試儀，其兩端連接測(cè)試板，測(cè)試板上設(shè)有插撥式夾子，待測(cè)電容插置到所述的插撥式夾子內(nèi)定位，所述的測(cè)試板內(nèi)設(shè)有時(shí)序控制器連接驅(qū)動(dòng)開關(guān)，驅(qū)動(dòng)開關(guān)連接繼電器，繼電器連接待測(cè)電容，所述的電容測(cè)試儀通過(guò)相應(yīng)的繼電器與待測(cè)電容連接。
[0006]進(jìn)一步，所述的驅(qū)動(dòng)開關(guān)包括與時(shí)序控制器連接由其控制的一組譯碼器及與譯碼器連接并由其控制的一組MOS管，一組MOS管，與相應(yīng)的繼電器連接并控制其通斷。
[0007]采用上述技術(shù)方案，本實(shí)用新型采用時(shí)序控制器控制譯碼器數(shù)據(jù)輸出信號(hào)驅(qū)動(dòng)MOS管開關(guān)，繼而控制繼電器導(dǎo)通，使該繼電器所控制待測(cè)電容連接至電容測(cè)試儀，即可讀取待測(cè)電容的測(cè)試參數(shù)。時(shí)序控制器輸出譯碼器所需要的數(shù)據(jù)輸入信號(hào)，譯碼器數(shù)據(jù)輸出不同端口按照設(shè)定時(shí)序處于有效電平，使不同譯碼器數(shù)據(jù)輸出端口所控制MOS管開通，繼而使MOS管所驅(qū)動(dòng)的繼電器導(dǎo)通，不同繼電器KAn導(dǎo)通不同待測(cè)電容Cn，即可達(dá)到快速批量測(cè)試的目的。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0008]此處所說(shuō)明的附圖用來(lái)提供對(duì)本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本實(shí)用新型的一部分，本實(shí)用新型的示意性實(shí)施例及其說(shuō)明用于解釋本實(shí)用新型，并不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的不當(dāng)限定。在附圖中:
[0009]圖1是本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖；
[0010]圖2是本實(shí)用新型測(cè)試板示意圖；
[0011]圖3是本實(shí)用新型電路連接示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0012]為了使本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚、明白，以下結(jié)合附圖和實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。
[0013]如圖1-3所示，一種電容測(cè)試裝置，包括電容測(cè)試儀1，其兩端連接測(cè)試板2，測(cè)試板2上設(shè)有插撥式夾子3，待測(cè)電容4插置到所述的插撥式夾子3內(nèi)定位，所述的測(cè)試板2內(nèi)設(shè)有時(shí)序控制器5連接驅(qū)動(dòng)開關(guān)6，驅(qū)動(dòng)開關(guān)6連接繼電器7，繼電器7連接待測(cè)電容4，所述的電容測(cè)試儀I通過(guò)相應(yīng)的繼電器7與待測(cè)電容4連接。所述的驅(qū)動(dòng)開關(guān)6包括與時(shí)序控制器5連接由其控制的一組譯碼器61及與譯碼器61連接并由其控制的一組MOS管62，一組MOS管62與相應(yīng)的繼電器7連接并控制其通斷。
[0014]工作時(shí)，將所需待測(cè)電容批量人工固定在插拔式夾子中，電容測(cè)試儀測(cè)試端子固定在本發(fā)明裝置測(cè)試端，啟動(dòng)該裝置，采用時(shí)序控制器控制譯碼器數(shù)據(jù)輸出信號(hào)驅(qū)動(dòng)MOS管開關(guān)，繼而控制繼電器導(dǎo)通，使該繼電器所控制待測(cè)電容連接至電容測(cè)試儀，即可讀取待測(cè)電容的測(cè)試參數(shù)。時(shí)序控制器輸出譯碼器所需要的數(shù)據(jù)輸入信號(hào)，譯碼器數(shù)據(jù)輸出不同端口按照設(shè)定時(shí)序處于有效電平，使不同譯碼器數(shù)據(jù)輸出端口所控制MOS管開通，繼而使MOS管所驅(qū)動(dòng)的繼電器導(dǎo)通，不同繼電器KAn導(dǎo)通不同待測(cè)電容Cn，即可達(dá)到快速批量測(cè)試的目的。該裝置將自動(dòng)切換待測(cè)電容導(dǎo)通到電容測(cè)試儀，通過(guò)電容測(cè)試儀即可讀取電容測(cè)試參數(shù)，這樣測(cè)試方便快捷，可批量測(cè)試，效率提升，無(wú)需逐一人工固定電解。
[0015]上述說(shuō)明示出并描述了本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例，如前所述，應(yīng)當(dāng)理解本實(shí)用新型并非局限于本文所披露的形式，不應(yīng)看作是對(duì)其他實(shí)施例的排除，而可用于各種其他組合、修改和環(huán)境，并能夠在本文所述實(shí)用新型構(gòu)想范圍內(nèi)，通過(guò)上述教導(dǎo)或相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)或知識(shí)進(jìn)行改動(dòng)。而本領(lǐng)域人員所進(jìn)行的改動(dòng)和變化不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍，則都應(yīng)在本實(shí)用新型所附權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種電容測(cè)試裝置，其特征在于:包括電容測(cè)試儀(1)，其兩端連接測(cè)試板(2)，測(cè)試板(2)上設(shè)有插撥式夾子(3)，待測(cè)電容(4)插置到所述的插撥式夾子(3)內(nèi)定位，所述的測(cè)試板(2)內(nèi)設(shè)有時(shí)序控制器(5)連接驅(qū)動(dòng)開關(guān)(6)，驅(qū)動(dòng)開關(guān)(6)連接繼電器(7)，繼電器(7 )連接待測(cè)電容(4)，所述的電容測(cè)試儀(I)通過(guò)相應(yīng)的繼電器(7 )與待測(cè)電容(4)連接。
2.如權(quán)利要求1或2所述的一種電容測(cè)試裝置，其特征在于:所述的驅(qū)動(dòng)開關(guān)(6)包括與時(shí)序控制器(5)連接由其控制的一組譯碼器(61)及與譯碼器(61)連接并由其控制的一組MOS管(62)，一組MOS管(62)與相應(yīng)的繼電器(7)連接并控制其通斷。
【文檔編號(hào)】G01R31/01GK203798938SQ201420157759
【公開日】2014年8月27日 申請(qǐng)日期:2014年4月2日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月2日
【發(fā)明者】鄭金龍 申請(qǐng)人:泉州市鯉城區(qū)強(qiáng)力巨彩光電科技有限公司