用于檢測工件方形內(nèi)孔尺寸的高精度檢具的制作方法
【專利摘要】本申請公開了一種用于檢測工件方形內(nèi)孔尺寸的檢具，采用設(shè)置有測量桿的高度計作為測量器具，利用分別設(shè)置于固定塊及活動塊上的第一標準塊及第二標準塊實現(xiàn)工件方形內(nèi)孔尺寸的檢測，測量結(jié)果精準，測量方式簡單，可實現(xiàn)機械化快速操作，滿足現(xiàn)代化工業(yè)生產(chǎn)需求，且該檢具結(jié)構(gòu)簡單，制作方法簡便，制造成本低。
【專利說明】用于檢測工件方形內(nèi)孔尺寸的高精度檢具
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本申請涉及工件檢測【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種用于檢測工件方形內(nèi)孔尺寸的高精度檢具。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有技術(shù)中，通常采用卡尺等手持測量工具對工件的內(nèi)凹臺階高度進行檢測，這種檢測方式不僅常因人為操作誤差而導(dǎo)致檢測結(jié)果不準確，且無法滿足工件工業(yè)化批量生產(chǎn)的檢測需求。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本申請?zhí)峁┮环N用于檢測工件方形內(nèi)孔尺寸的高精度檢具，檢測結(jié)果精準，檢測效率高，且制造成本低。
[0004]本申請?zhí)峁┮环N用于檢測工件方形內(nèi)孔尺寸的高精度檢具，包括:
[0005]基座；
[0006]固定于所述基座上的高度計，所述高度計具有可作往返直線運動的測量桿；
[0007]固定于所述基座上且與所述測量桿相對的固定塊；以及
[0008]固定于所述測量桿上可與所述固定塊抵接或分離的活動塊；所述固定塊及活動塊的對應(yīng)抵接處分別向垂直于所述測量桿方向延伸形成有第一標準塊及第二標準塊，所述第一標準塊及第二標準塊的兩相背離面分別構(gòu)成與待檢測工件方形內(nèi)孔的兩相對內(nèi)側(cè)壁相抵接的第一基準面及第二基準面。
[0009]進一步地，所述檢具還包括用于驅(qū)動所述活動塊分離于所述固定塊的驅(qū)動機構(gòu)。
[0010]進一步地，所述驅(qū)動機構(gòu)為設(shè)置于所述活動塊與固定塊之間的壓縮彈簧。
[0011]進一步地，所述固定塊與活動塊之間設(shè)置有軸線與所述測量桿軸線平行或重合的用以引導(dǎo)所述活動塊移動方向的導(dǎo)向桿。
[0012]進一步地，所述高度計通過設(shè)置于所述基座一側(cè)的安裝座固定于所述基座上。
[0013]進一步地，所述高度計設(shè)置有固定桿，所述安裝座上開設(shè)有供所述固定桿穿設(shè)的固定孔，并通過螺釘固定所述固定桿。
[0014]進一步地，所述固定桿與所述測量桿同軸設(shè)置并套設(shè)于所述測量桿外。
[0015]進一步地，所述高度計為數(shù)字顯示高度計。
[0016]本申請的有益效果是:
[0017]通過提供一種檢具，采用設(shè)置有測量桿的高度計作為測量器具，利用分別設(shè)置于固定塊及活動塊上的第一標準塊及第二標準塊實現(xiàn)工件方形內(nèi)孔尺寸的檢測，測量結(jié)果精準，測量方式簡單，可實現(xiàn)機械化快速操作，滿足現(xiàn)代化工業(yè)生產(chǎn)需求，且該檢具結(jié)構(gòu)簡單，制作方法簡便，制造成本低。
【專利附圖】

【附圖說明】[0018]圖1為本申請檢具的立體結(jié)構(gòu)示意圖。
[0019]圖2為本申請檢具的側(cè)面結(jié)構(gòu)示意圖。
[0020]圖3為圖2中的A部放大圖。
[0021]圖4為本申請檢具的使用狀態(tài)示意圖。
[0022]圖5為圖4中的B部放大圖。
【具體實施方式】
[0023]下面通過【具體實施方式】結(jié)合附圖對本申請作進一步詳細說明。
[0024]請參考圖f圖5，本申請?zhí)峁┮环N檢具，用于檢測工件方形內(nèi)孔尺寸，其包括基座10、高度計20、固定塊30及活動塊40。下文中，為方便理解，將方形內(nèi)孔尺寸稱為方形內(nèi)孔的寬度尺寸。
[0025]如圖1、圖2所示,所述高度計20固定于所述基座10上,采用現(xiàn)有通用結(jié)構(gòu),包括設(shè)置有檢測結(jié)果顯示裝置及操作鍵的高度計主體21，以及可伸縮的設(shè)置于所述高度計主體21上以完成檢測作業(yè)的測量桿22。
[0026]所述固定塊30固定于所述基座10上，且與所述測量桿22相對設(shè)置。所述活動塊40固定于所述測量桿22上，且可與所述固定塊30抵接或分離。如圖2、圖3所示，所述固定塊30及活動塊40的對應(yīng)抵接處分別向垂直于所述測量桿22方向延伸形成有第一標準塊31及第二標準塊41，所述第一標準塊31及第二標準塊41的兩相背離面分別構(gòu)成與待檢測工件100的方形內(nèi)孔101的兩相對內(nèi)側(cè)壁相抵接的第一基準面32及第二基準面42。
[0027]本申請中，所述檢具設(shè)置有用于驅(qū)動所述活動塊40分離于所述固定塊30的驅(qū)動機構(gòu)。作為一種優(yōu)選的實施方式，所述驅(qū)動機構(gòu)為設(shè)置于所述活動塊40與固定塊30之間的壓縮彈簧(圖中未示出)。為保證所述活動塊40在移動過程中不產(chǎn)生偏移，所述固定塊30與活動塊40之間設(shè)置有軸線與所述測量桿22的軸線平行或重合的導(dǎo)向桿50，以對所述活動塊40的移動方向進行正確引導(dǎo)。
[0028]請參考圖5，本申請中，所述第一標準塊31及第二標準塊41的寬度值a、b為根據(jù)設(shè)計標準設(shè)定的已知值，在具體實施時，所述第一標準塊31及第二標準塊41的寬度值a、b可為相同值，也可為不同值，但二者的總和為確定值。使用本申請的檢具進行檢測時，須先將所述高度計20校正歸零，具體步驟為:將所述活動塊40朝向與所述固定塊30移動，直至所述活動塊40與所述固定塊30抵緊貼合，按下所述高度計主體21上的歸零操作鍵，即完成所述高度計20的歸零操作。將所述高度計20準確歸零后，即可進入后續(xù)的測量程序，具體步驟為:將待檢測工件100待檢測端的方形內(nèi)孔101套設(shè)于所述固定塊30及活動塊40的外圍，需要說明的是，為保證檢測結(jié)果的準確性，應(yīng)使所述待檢測工件100待檢測端的外端面與所述固定塊30及活動塊40的相應(yīng)端面相抵接；將所述待檢測工件100放置好后，松開所述活動塊40，所述活動塊40在所述壓縮彈簧的驅(qū)動下自動分離于所述固定塊30，所述測量桿22在所述活動塊40的帶動下朝向所述高度計主體21內(nèi)部移動，直至所述第一標準塊31的第一基準面32及第二標準塊41的第二基準面42分別與所述待檢測工件100的方形內(nèi)孔101的兩相應(yīng)內(nèi)側(cè)壁相抵緊貼合，此時，所述高度計20所記錄的數(shù)值即為所述測量桿22歸零后移動的數(shù)值，也就是所述第一標準塊31及第二標準塊41之間的間距c的數(shù)值，而所述待檢測工件100的方形內(nèi)孔101的寬度尺寸w即為所述第一標準塊31及第二標準塊41的寬度值加上二者的間距值，即:w=a+b+c。
[0029]請再次參考圖1、圖2及圖4，本申請中，所述高度計20通過設(shè)置于所述基座10 —側(cè)的安裝座60固定于所述基座10上。所述高度計20設(shè)置有固定桿23，所述安裝座60上開設(shè)有供所述固定桿23穿設(shè)的固定孔，并通過螺釘70緊固所述固定桿23。所述固定桿23與所述測量桿22同軸設(shè)置并套設(shè)于所述測量桿22外。
[0030]為獲得精準的檢測數(shù)值，作為一種優(yōu)選的實施方式，本申請中的所述高度計20采用數(shù)字顯示高度計。當然，作為另一種實施方式，所述高度計20也可設(shè)置為傳統(tǒng)的刻度尺高度計。
[0031]本申請的用于檢測工件方形內(nèi)孔尺寸的高精度檢具，采用設(shè)置有測量桿22的高度計20作為測量器具，借助于高度計20的精準測量及測量結(jié)果的準確獲取，保障檢測的精準度；以分別設(shè)置于固定塊30及活動塊40上的第一標準塊31及第二標準塊41的標準寬度值作為基礎(chǔ)值，利用所述第一標準塊31及第二標準塊41的抵接與分離實現(xiàn)待檢測工件100方形內(nèi)孔101尺寸的精確測量，測量方式簡單易操作，滿足現(xiàn)代化工業(yè)生產(chǎn)的需求，具體實施時還可進一步結(jié)合機械手實現(xiàn)機械化快速檢測，實用性更強，且該檢具結(jié)構(gòu)簡單，制作方法簡便，制造成本低。
[0032]以上內(nèi)容是結(jié)合具體的實施方式對本申請所作的進一步詳細說明，不能認定本申請的具體實施只局限于這些說明。對于本申請所屬【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本申請構(gòu)思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換。
【權(quán)利要求】
1.一種用于檢測工件方形內(nèi)孔尺寸的高精度檢具，其特征在于，包括: 基座; 固定于所述基座上的高度計，所述高度計具有可作往返直線運動的測量桿； 固定于所述基座上且與所述測量桿相對的固定塊；以及 固定于所述測量桿上可與所述固定塊抵接或分離的活動塊；所述固定塊及活動塊的對應(yīng)抵接處分別向垂直于所述測量桿方向延伸形成有第一標準塊及第二標準塊，所述第一標準塊及第二標準塊的兩相背離面分別構(gòu)成與待檢測工件方形內(nèi)孔的兩相對內(nèi)側(cè)壁相抵接的第一基準面及第二基準面。
2.如權(quán)利要求1所述的檢具，其特征在于，所述檢具還包括用于驅(qū)動所述活動塊分離于所述固定塊的驅(qū)動機構(gòu)。
3.如權(quán)利要求2所述的檢具，其特征在于，所述驅(qū)動機構(gòu)為設(shè)置于所述活動塊與固定塊之間的壓縮彈簧。
4.如權(quán)利要求1所述的檢具，其特征在于，所述固定塊與活動塊之間設(shè)置有軸線與所述測量桿軸線平行或重合的用以引導(dǎo)所述活動塊移動方向的導(dǎo)向桿。
5.如權(quán)利要求1所述的檢具，其特征在于，所述高度計通過設(shè)置于所述基座一側(cè)的安裝座固定于所述基座上。
6.如權(quán)利要求5所述的檢具，其特征在于，所述高度計設(shè)置有固定桿，所述安裝座上開設(shè)有供所述固定桿穿設(shè)的固定孔，并通過螺釘固定所述固定桿。
7.如權(quán)利要求6所述的檢具，其特征在于，所述固定桿與所述測量桿同軸設(shè)置并套設(shè)于所述測量桿外。
8.如權(quán)利要求1至7中任一項所述的檢具，其特征在于，所述高度計為數(shù)字顯示高度計。
【文檔編號】G01B5/02GK203758420SQ201420050694
【公開日】2014年8月6日 申請日期:2014年1月25日 優(yōu)先權(quán)日:2014年1月25日
【發(fā)明者】鄧瑞祥 申請人:深圳市依諾威電子有限公司