Cmos圖像傳感器產(chǎn)品的cp測試裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置，包括探針卡，探針卡上設有自動對焦的鏡頭組件，自動對焦的鏡頭組件包括鏡頭，鏡頭連接有自動馬達，自動馬達通過FPC柔性電路板與所述探針卡連接?？梢宰詣涌刂歧R頭的焦距，極大的提高了調(diào)試的效率、降低了測試的成本。
【專利說明】CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置

【技術(shù)領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種WAFER測試裝置，尤其涉及一種CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試
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【背景技術(shù)】
[0002]如圖1所示，CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的WAFER測試(CP測試)，需要在探針卡(PROBECARD)上安裝鏡頭(PUPIL LENS)，才能保證測試的準確性。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中的方式是固定焦距的鏡頭，調(diào)試效率低、測試成本高。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的是提供一種調(diào)試效率高、測試成本低的CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置。
[0005]本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的:
[0006]本發(fā)明的CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置，包括探針卡，所述探針卡上設有自動對焦的鏡頭組件，所述自動對焦的鏡頭組件包括鏡頭，所述鏡頭連接有自動馬達，所述自動馬達與所述探針卡連接。
[0007]由上述本發(fā)明提供的技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明實施例提供的CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置，由于探針卡上設有自動對焦的鏡頭組件，提高了調(diào)試的效率、降低了測試的成本。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1為現(xiàn)有技術(shù)中CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置的探針卡的組裝結(jié)構(gòu)示意圖；
[0009]圖2為本發(fā)明實施例中自動對焦的鏡頭組件的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0010]圖中:1、鏡頭，2、自動馬達，3、FPC柔性電路板，4、探針卡。

【具體實施方式】
[0011]下面將對本發(fā)明實施例作進一步地詳細描述。
[0012]本發(fā)明的CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置，其較佳的【具體實施方式】如圖2所示:
[0013]包括探針卡,所述探針卡上設有自動對焦的鏡頭組件,所述自動對焦的鏡頭組件包括鏡頭，所述鏡頭連接有自動馬達，所述自動馬達與所述探針卡連接。
[0014]所述自動馬達通過FPC柔性電路板與所述探針卡連接。
[0015]本發(fā)明的CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置，將固定焦距的鏡頭換成自動對焦的鏡頭組件，通過FPC柔性電路板，將控制信號引到探針卡上，可以自動控制鏡頭的焦距，極大的提高了調(diào)試的效率、降低了測試的成本。
[0016]以上所述，僅為本發(fā)明較佳的【具體實施方式】，但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本【技術(shù)領域】的技術(shù)人員在本發(fā)明披露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護范圍應該以權(quán)利要求書的保護范圍為準。
【權(quán)利要求】
1.一種CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置，其特征在于，包括探針卡，所述探針卡上設有自動對焦的鏡頭組件，所述自動對焦的鏡頭組件包括鏡頭，所述鏡頭連接有自動馬達，所述自動馬達與所述探針卡連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的CMOS圖像傳感器產(chǎn)品的CP測試裝置，其特征在于，所述自動馬達通過FPC柔性電路板與所述探針卡連接。
【文檔編號】G01R31/26GK104297660SQ201410589973
【公開日】2015年1月21日 申請日期:2014年10月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月28日
【發(fā)明者】馮建中 申請人:北京思比科微電子技術(shù)股份有限公司