電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性檢測方法
【專利摘要】一種電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性檢測方法，包括：建立鍵合引線焊點(diǎn)可靠性的測試裝置，所述測試裝置置于溫循箱內(nèi)，包括：鍵合引線、過渡片、粘接層和陶瓷基板，各鍵合引線鍵合設(shè)置在過渡片上，各條鍵合引線串聯(lián)，串聯(lián)后的鍵合引線一端連接電源的第一接線柱，另一端連接電源的第二接線柱，所述過渡片的粘接面粘接在粘接層上，所述粘接層設(shè)置在陶瓷基板上，鍵合引線為與電源鍵合引線相同類型的鍵合引線；通過所述測試裝置獲取鍵合引線焊點(diǎn)初始阻值和當(dāng)前阻值，并根據(jù)初始阻值、當(dāng)前阻值和預(yù)設(shè)倍數(shù)值判斷鍵合引線焊點(diǎn)是否失效，當(dāng)鍵合引線焊點(diǎn)失效時(shí)獲取溫度循環(huán)次數(shù)；根據(jù)溫度循環(huán)次數(shù)判斷電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性。本方案檢測成本低、精度高。
【專利說明】電源鍵合弓I線焊點(diǎn)的可靠性檢測方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及檢測【技術(shù)領(lǐng)域】，特別是涉及一種電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性檢測方法。
【背景技術(shù)】
[0002]鍵合引線是實(shí)現(xiàn)電連接的金屬連接線。比如，氣密封裝DC/DC電源中的鍵合引線有內(nèi)鍵合引線和外鍵合引線兩種，外鍵合引線的一端焊接在連接線上，另一端焊接在接線柱上，內(nèi)鍵合引線的一端焊接在芯片上，另一端焊接在金屬連接線，作用是將芯片與內(nèi)部的元器件相連接或使DC/DC電源與外部的元器件相連，以實(shí)現(xiàn)其特定的功能。鍵合引線是影響厚膜功率混合電路壽命的因素之一，焊接工藝質(zhì)量差、鋁引線在金導(dǎo)帶上產(chǎn)生金鋁間化合物，都會導(dǎo)致鍵合引線脫落，產(chǎn)生失效。另外，當(dāng)芯片內(nèi)部有水汽時(shí)，會發(fā)生電化學(xué)腐蝕，使壓焊處開路，產(chǎn)生失效，對電路的可靠性構(gòu)成威脅。因此，對鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性進(jìn)行檢測越來越重要。
[0003]為了在短時(shí)間內(nèi)獲得可靠性數(shù)據(jù)，通常采用加速壽命試驗(yàn)的方法。加速壽命試驗(yàn)是通過測試在加速應(yīng)力條件下的壽命值，然后通過一定的換算關(guān)系，換算成正常工作條件下的壽命值，即產(chǎn)品的壽命時(shí)間。和溫度有關(guān)的加速方程就是Arrhenius方程(阿爾羅呢烏斯方程)，而濕度-溫度加速原理所用的模型是Hallberg模型。對DC/DC電源中的鍵合引線使用加速壽命試驗(yàn)方法預(yù)測壽命的可信度很低，試驗(yàn)價(jià)值不大，因?yàn)橐粋€(gè)DC/DC電源由多個(gè)元器件組成，在做定量的加速壽命試驗(yàn)時(shí)，每種元件和互連結(jié)構(gòu)都有多種失效機(jī)理，導(dǎo)致整個(gè)產(chǎn)品可能的失效機(jī)理很多，從理論上來說根本不可能通過產(chǎn)品的加速試驗(yàn)就預(yù)測出其壽命值。而且，DC/DC電源是具有規(guī)定功能的電路產(chǎn)品，產(chǎn)品只能在規(guī)定的溫度范圍和額定的負(fù)載條件下工作，因此，壽命試驗(yàn)時(shí)很難對電路內(nèi)部的某些故障模式進(jìn)行加速，例如，若電路中芯片金屬布線發(fā)生電遷移并導(dǎo)致最終失效，評估其可靠性的加速應(yīng)力是溫度、電流，但是任何超出規(guī)定范圍的溫度和電流應(yīng)力都會導(dǎo)致電路功能的喪失。
[0004]傳統(tǒng)技術(shù)中還采用破壞焊點(diǎn)的方法實(shí)現(xiàn)對鍵合引線焊點(diǎn)可靠性的檢測。在溫循箱內(nèi)，分時(shí)間段檢測鍵合引線焊點(diǎn)，當(dāng)鍵合引線焊點(diǎn)開裂時(shí)，獲取溫循箱中失效的溫度循環(huán)次數(shù)，從而根據(jù)循環(huán)次數(shù)判斷該鍵合引線是否可靠。但是采用這種檢測技術(shù)，必須以鍵合引線焊點(diǎn)開裂為代價(jià)，成本高，而且檢測時(shí)間長，效率低。同時(shí)，由于鍵合引線的焊點(diǎn)焊接在電路上，特別是在特大規(guī)模集成電路中，無法實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)查看，得到的溫度循環(huán)次數(shù)存在誤差，從而導(dǎo)致判斷結(jié)果準(zhǔn)確率低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]基于此，有必要針對成本高、準(zhǔn)確率低的問題，提供一種電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性檢測方法。
[0006]一種電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性檢測方法，包括:
[0007]建立鍵合引線焊點(diǎn)可靠性的測試裝置，所述測試裝置置于溫循箱內(nèi)，所述測試裝置包括:鍵合引線、過渡片、粘接層和陶瓷基板，各鍵合引線鍵合設(shè)置在過渡片上，各條鍵合引線串聯(lián)，串聯(lián)后的鍵合引線一端連接電源的第一接線柱，另一端連接電源的第二接線柱，所述過渡片的粘接面粘接在粘接層上，其中粘接面為鍵合引線鍵合面的對立面，所述粘接層設(shè)置在陶瓷基板上，其中，所述鍵合引線為與電源鍵合引線相同類型的鍵合引線；
[0008]通過所述測試裝置獲取鍵合引線焊點(diǎn)初始阻值和當(dāng)前阻值，并根據(jù)初始阻值、當(dāng)前阻值和預(yù)設(shè)倍數(shù)值判斷鍵合引線焊點(diǎn)是否失效，當(dāng)鍵合引線焊點(diǎn)失效時(shí)獲取溫度循環(huán)次數(shù)，其中，預(yù)設(shè)倍數(shù)值為鍵合引線焊點(diǎn)失效時(shí)阻值增量值與初始阻值的百分比；
[0009]根據(jù)溫度循環(huán)次數(shù)判斷電源鍵合弓丨線焊點(diǎn)的可靠性。
[0010]上述電源鍵合弓I線焊點(diǎn)的可靠性檢測方法，通過建立鍵合引線焊點(diǎn)可靠性的測試裝置，將鍵合引線串聯(lián)起來，且鍵合引線均鍵合在過渡片上，不經(jīng)過過渡片下面的粘接層，避免溫循器件粘接層的退化對鍵合引線焊點(diǎn)組織的影響，提高測量焊點(diǎn)阻值的精確度。通過焊點(diǎn)初始阻值、當(dāng)前阻值與預(yù)設(shè)倍數(shù)值的關(guān)系判斷該鍵合引線焊點(diǎn)是否失效，如果是，則獲取溫度循環(huán)次數(shù)，根據(jù)溫度循環(huán)次數(shù)確定該測試裝置上鍵合引線焊點(diǎn)是否可靠，從而得出電源鍵合引線焊點(diǎn)是否可靠。本方案無需使鍵合引線焊點(diǎn)斷裂即可測得鍵合引線焊點(diǎn)是否可靠，降低了成本，同時(shí)也提高了效率。本方案還可以實(shí)時(shí)獲取到鍵合引線焊點(diǎn)組織，因此避免了檢測時(shí)間間隔導(dǎo)致的誤差，提高了檢測精確度。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0011]圖1為本發(fā)明電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性檢測方法的流程示意圖；
[0012]圖2為本發(fā)明電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性檢測方法實(shí)施例一的流程示意圖；
[0013]圖3為本發(fā)明電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性檢測方法實(shí)施例二的流程示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0014]以下針對本發(fā)明電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性檢測方法的各實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)的描述。
[0015]如圖1所示，為本發(fā)明電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性檢測方法的流程示意圖，包括:
[0016]步驟SlOl:建立鍵合引線焊點(diǎn)可靠性的測試裝置，測試裝置置于溫循箱內(nèi)，測試裝置包括:鍵合引線、過渡片、粘接層和陶瓷基板，各鍵合引線鍵合設(shè)置在過渡片上，各條鍵合引線串聯(lián)，串聯(lián)后的鍵合引線一端連接電源的第一接線柱，另一端連接電源的第二接線柱，過渡片的粘接面粘接在粘接層上，其中粘接面為鍵合引線鍵合面的對立面，粘接層設(shè)置在陶瓷基板上，其中，所述鍵合引線為與電源鍵合引線相同類型的鍵合引線；即鍵合引線與電源鍵合引線相同。
[0017]其中，鍵合引線鍵合面是過渡片與鍵合引線連接所在面。過渡片目的是為了將鍵合引線的焊接不經(jīng)過粘接層，且避免鍵合引線焊接在陶瓷基板上?？梢杂娩X制過渡片，即鋁片。本步驟將所有鍵合引線串聯(lián)并焊接在過渡片上，相鄰鍵合引線的焊接不經(jīng)過過渡片下面的粘接層，鍵合引線和接線柱相連處可以經(jīng)過過渡片下面的粘接層，目的是為了避免溫循器件粘接材料的退化對鍵合引線焊點(diǎn)阻值的影響，采用這種設(shè)計(jì)可方便地進(jìn)行溫循后焊點(diǎn)處阻值變化的測量，并且提高了測量精度。
[0018]在其中一個(gè)實(shí)施例中，陶瓷基板還可以固定在電源的金屬外殼上。將其放置在電源金屬外殼上是為了起支撐作用，另外，金屬外殼在高溫下不會變形，這樣也就避免了該金屬外殼對鍵合引線焊點(diǎn)阻值的影響。
[0019]溫循箱可以是一臺設(shè)備，用于產(chǎn)生溫度的變化，是為鍵合引線的可靠性提供實(shí)驗(yàn)環(huán)境用的。其中，循環(huán)數(shù)和溫度變化范圍可根據(jù)需要設(shè)置，設(shè)置好以后會自動(dòng)工作，直到循環(huán)數(shù)結(jié)束為止。
[0020]步驟S102:通過測試裝置獲取鍵合引線焊點(diǎn)初始阻值和當(dāng)前阻值，并根據(jù)初始阻值、當(dāng)前阻值和預(yù)設(shè)倍數(shù)值判斷鍵合引線焊點(diǎn)是否失效，當(dāng)鍵合引線焊點(diǎn)失效時(shí)獲取溫度循環(huán)次數(shù)，其中，預(yù)設(shè)倍數(shù)值為鍵合引線焊點(diǎn)失效時(shí)阻值增量值與初始阻值的百分比；
[0021]步驟S103:根據(jù)溫度循環(huán)次數(shù)判斷電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性?？梢詫囟妊h(huán)次數(shù)與預(yù)設(shè)值進(jìn)行比較，當(dāng)大于預(yù)設(shè)值時(shí)，則表示鍵合引線焊點(diǎn)可靠，否則不可靠。
[0022]本實(shí)施例主要是通過阻值為判斷鍵合引線焊點(diǎn)失效，從而獲得溫度循環(huán)次數(shù)，根據(jù)溫度循環(huán)次數(shù)確定該測試裝置上鍵合引線焊點(diǎn)是否可靠，從而得出電源鍵合引線焊點(diǎn)是否可靠。
[0023]步驟S102中具體如何獲取溫度循環(huán)次數(shù)的方法有很多種，本方案舉其中兩種進(jìn)行說明。如圖2所示，為本發(fā)明實(shí)施例一的流程示意圖，包括步驟:
[0024]步驟S201:建立鍵合引線焊點(diǎn)可靠性的測試裝置，具體方式如步驟SlOl ；
[0025]步驟S202:通過第一接線柱和第二接線柱獲取溫循箱啟動(dòng)前鍵合引線焊點(diǎn)的初始阻值，并實(shí)時(shí)獲取在溫循箱啟動(dòng)后鍵合引線焊點(diǎn)的當(dāng)前阻值；
[0026]由于溫度對焊點(diǎn)阻值有影響，因此必須先讀出溫度改變前的初始阻值，再讀出受溫度影響下的焊點(diǎn)阻值，以便比較變化大小。另外，鍵合引線焊點(diǎn)阻值的測量可以用一臺測量的小設(shè)備(比如毫歐計(jì)，可測0.01毫歐阻值的變化)進(jìn)行測量。
[0027]步驟S203:計(jì)算當(dāng)前阻值與初始阻值的差值，并判斷差值是否大于所述初始阻值與預(yù)設(shè)倍數(shù)值的乘積；
[0028]其中預(yù)設(shè)倍數(shù)值為鍵合引線焊點(diǎn)失效時(shí)阻值增量值與初始阻值的百分比，即初始阻值與預(yù)設(shè)倍數(shù)值的乘積是鍵合引線焊點(diǎn)失效時(shí)的阻值與初始阻值的差值。預(yù)設(shè)倍數(shù)值是用來判斷鍵合引線焊點(diǎn)的失效判據(jù)。一般情況下，當(dāng)溫循的溫度范圍為_55°C?125°C時(shí)，預(yù)設(shè)倍數(shù)值為20%，即以20%為失效判據(jù)。在其他實(shí)施例中，也可以將初始阻值與預(yù)設(shè)倍數(shù)值的乘積設(shè)為固定的第一預(yù)設(shè)閾值，直接將阻值增量值(阻值與初始阻值的差值)與第一預(yù)設(shè)閾值比較。也可以直接設(shè)置第二預(yù)設(shè)閾值，第二預(yù)設(shè)閾值作為判斷失效的基準(zhǔn)值，將阻值與第二預(yù)設(shè)閾值比較。具體如何設(shè)置判斷條件可以根據(jù)需要調(diào)整。
[0029]步驟S204:若差值大于乘積，則獲取溫循箱內(nèi)的溫度循環(huán)次數(shù)；
[0030]其中，溫度循環(huán)次數(shù)可以通過試驗(yàn)得到。
[0031]步驟S205:根據(jù)溫度循環(huán)次數(shù)判斷電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性。
[0032]獲得溫度循環(huán)次數(shù)后，可以與預(yù)先設(shè)定好的閾值進(jìn)行比較，大于或等于閾值時(shí)，則表示該鍵合引線焊點(diǎn)可靠，小于閾值時(shí)則表示不可靠。本實(shí)施例是直接通過初始阻值和當(dāng)前阻值的關(guān)系，獲取溫循箱中的溫度循環(huán)次數(shù)，從而進(jìn)行可靠性判斷。通過本方案，可以在鍵合引線焊點(diǎn)不斷裂的情況下，即可檢測出可靠性，成本低，且精度高。
[0033]采用實(shí)施例一進(jìn)行檢測時(shí)，每更換一次溫循溫度時(shí)，需要重新進(jìn)行步驟S202至步驟S205，效率相對較低，本方案實(shí)施例二提供一種方案，可以通過檢測裝置進(jìn)行一次檢測后，在后續(xù)溫循溫度更換時(shí)，采用建立的模型進(jìn)行檢測，大大提高了效率，且不會對產(chǎn)品進(jìn)行勞損。如圖3所示，為本發(fā)明方案實(shí)施例二的流程示意圖，包括:
[0034]步驟S301:建立至少兩個(gè)鍵合引線焊點(diǎn)可靠性的測試裝置，且測試裝置相同，具體方式如步驟SlOl ；
[0035]步驟S302:獲取溫循箱啟動(dòng)前各個(gè)測試裝置中鍵合引線焊點(diǎn)初始阻值，并實(shí)時(shí)獲取在溫循箱啟動(dòng)后各個(gè)測試裝置中鍵合引線焊點(diǎn)當(dāng)前阻值，其中，鍵合引線焊點(diǎn)可靠性的測試裝置的個(gè)數(shù)至少為兩個(gè)，且為相同的測試裝置；
[0036]這里需要獲取每個(gè)測試裝置中的初始阻值和當(dāng)前阻值，目的是為了后續(xù)確定失效時(shí)每個(gè)測試裝置的溫度循環(huán)次數(shù)。
[0037]步驟S303:分別計(jì)算各測試裝置當(dāng)前阻值與初始阻值的差值，并判斷差值是否大于初始阻值與預(yù)設(shè)倍數(shù)值的乘積；
[0038]比如，溫循箱內(nèi)溫循的的溫度范圍為-55°C~125°C，預(yù)設(shè)倍數(shù)值為20%，則分別判斷每個(gè)測試裝置當(dāng)前阻值的增量是否大于20%，即判斷測試裝置內(nèi)鍵合引線焊點(diǎn)是否失效。
[0039]步驟S304:若差值大于乘積時(shí)，獲取溫循箱中該測試裝置的鍵合引線的初始溫度循環(huán)次數(shù)、溫循的溫度范圍和彈性區(qū)的溫度范圍，其中，彈性區(qū)的溫度范圍是指鍵合引線不因溫度引起塑性形變的溫度范圍；
[0040]這里的判斷是指每個(gè)測試裝置分別進(jìn)行的判斷，目的是為了獲取失效時(shí)該測試裝置的鍵合引線的初始溫度循環(huán)次數(shù)、溫循的溫度范圍和彈性區(qū)的溫度范圍。由于在一個(gè)溫循中，不是所有的應(yīng)力都會引起塑性形變，如果溫循的一部分是彈性的，則存在彈性區(qū)的溫度范圍，那么這彈性的部分AIV應(yīng)從總的應(yīng)變范圍內(nèi)扣除，即ΛΤ’-Λ?ν。溫度循環(huán)次數(shù)通過試驗(yàn)得到，溫循的溫度`范圍是由鍵合引線的應(yīng)用環(huán)境和材料特行決定的，彈性區(qū)的溫度范圍根據(jù)鍵合引線決定是否考慮，一般情況下，溫度循環(huán)試驗(yàn)的溫度不會超過135度。通過差值與乘積的判斷，可以獲得對應(yīng)測試裝置的初始溫度循環(huán)次數(shù)。每個(gè)試驗(yàn)裝置進(jìn)行同樣的判斷，從而可以得到所有測試裝置中鍵合引線焊點(diǎn)失效時(shí)的初始溫度循環(huán)次數(shù)。由于測試裝置是在同樣的溫循箱內(nèi)試驗(yàn)，所以溫循范圍相同，彈性區(qū)的溫度范圍相同。
[0041]步驟S305:根據(jù)各個(gè)測試裝置的鍵合引線的初始溫度循環(huán)次數(shù)，利用威布爾分布原理確定中位失效循環(huán)次數(shù)；
[0042]比方，有10支測試裝置，試驗(yàn)過程中全部失效了，但每支樣品的失效時(shí)間是不一樣的。數(shù)學(xué)處理上，需要在威布爾分布圖上，將這10支樣品的失效時(shí)間和失效率對應(yīng)起來。10支失效樣品的失效率是100%,其中，失效率為50%處的失效時(shí)間,稱為中位失效時(shí)間。根據(jù)中位失效時(shí)間即可得到中位失效循環(huán)次數(shù)。
[0043]步驟S306:根據(jù)中位失效循環(huán)次數(shù)、溫循的溫度范圍、彈性區(qū)的溫度范圍以及公
【權(quán)利要求】
1.一種電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性檢測方法，其特征在于，包括: 建立鍵合引線焊點(diǎn)可靠性的測試裝置，所述測試裝置置于溫循箱內(nèi)，所述測試裝置包括:鍵合引線、過渡片、粘接層和陶瓷基板，各鍵合引線鍵合設(shè)置在過渡片上，各條鍵合引線串聯(lián)，串聯(lián)后的鍵合引線一端連接電源的第一接線柱，另一端連接電源的第二接線柱，所述過渡片的粘接面粘接在粘接層上，其中粘接面為鍵合引線鍵合面的對立面，所述粘接層設(shè)置在陶瓷基板上，其中，所述鍵合引線為與電源鍵合引線相同類型的鍵合引線； 通過所述測試裝置獲取鍵合引線焊點(diǎn)初始阻值和當(dāng)前阻值，并根據(jù)初始阻值、當(dāng)前阻值和預(yù)設(shè)倍數(shù)值判斷鍵合引線焊點(diǎn)是否失效，當(dāng)鍵合引線焊點(diǎn)失效時(shí)獲取溫度循環(huán)次數(shù)，其中，預(yù)設(shè)倍數(shù)值為鍵合引線焊點(diǎn)失效時(shí)阻值增量值與初始阻值的百分比； 根據(jù)溫度循環(huán)次數(shù)判斷電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性檢測方法，其特征在于，所述通過所述測試裝置獲取鍵合引線焊點(diǎn)初始阻值和當(dāng)前阻值，并根據(jù)初始阻值、當(dāng)前阻值和預(yù)設(shè)倍數(shù)值判斷鍵合引線焊點(diǎn)是否失效，當(dāng)鍵合引線焊點(diǎn)失效時(shí)獲取溫度循環(huán)次數(shù)步驟，包括: 通過第一接線柱和第二接線柱獲取溫循箱啟動(dòng)前鍵合引線焊點(diǎn)的初始阻值，并實(shí)時(shí)獲取在溫循箱啟動(dòng)后鍵合引線焊點(diǎn)的當(dāng)前阻值； 計(jì)算當(dāng)前阻值與初始阻值的差值，并判斷所述差值是否大于所述初始阻值與預(yù)設(shè)倍數(shù)值的乘積； 若所述差值大于所述乘積，則獲取溫循箱內(nèi)的溫度循環(huán)次數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性檢測方法，其特征在于，所述通過所述測試裝置獲取鍵合引線焊點(diǎn)初始阻值和當(dāng)前阻值，并根據(jù)初始阻值、當(dāng)前阻值和預(yù)設(shè)倍數(shù)值判斷鍵合引線焊點(diǎn)是否失效，當(dāng)鍵合引線焊點(diǎn)失效時(shí)獲取溫度循環(huán)次數(shù)步驟，包括: 獲取溫循箱啟動(dòng)前各個(gè)測試裝置中鍵合引線焊點(diǎn)初始阻值，并實(shí)時(shí)獲取在溫循箱啟動(dòng)后各個(gè)測試裝置中鍵合引線焊點(diǎn)當(dāng)前阻值，其中，鍵合引線焊點(diǎn)可靠性的測試裝置的個(gè)數(shù)至少為兩個(gè)，且為相同的測試裝置； 分別計(jì)算各測試裝置當(dāng)前阻值與初始阻值的差值，并判斷所述差值是否大于初始阻值與預(yù)設(shè)倍數(shù)值的乘積； 若所述差值大于所述乘積時(shí)，獲取溫循箱中該測試裝置的鍵合引線的初始溫度循環(huán)次數(shù)、溫循的溫度范圍和彈性區(qū)的溫度范圍，其中，彈性區(qū)的溫度范圍是指鍵合引線不因溫度引起塑性形變的溫度范圍； 根據(jù)各個(gè)測試裝置的鍵合引線的初始溫度循環(huán)次數(shù)，利用威布爾分布原理確定中位失效循環(huán)次數(shù)； 根據(jù)所述中位失效循環(huán)次數(shù)、溫循的溫度范圍、彈性區(qū)的溫度范圍以及公式
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3所述的電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性檢測方法，其特征在于，所述溫循箱內(nèi)溫循的的溫度范圍為_55°C~125°C，所述預(yù)設(shè)倍數(shù)值為20%。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至3任意一項(xiàng)所述的電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性檢測方法，其特征在于，所述電源為氣密封裝DC/DC電源。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至3任意一項(xiàng)所述的電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性檢測方法，其特征在于，所述過渡片的個(gè)數(shù)為鍵合引線條數(shù)減1，相鄰鍵合引線鍵合在同一塊過渡片上。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至3任意一項(xiàng)所述的電源鍵合引線焊點(diǎn)的可靠性檢測方法，其特征在于，所述過渡片為鋁制過渡片。
【文檔編號】G01N17/00GK103822869SQ201410072811
【公開日】2014年5月28日 申請日期:2014年2月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年2月28日
【發(fā)明者】章曉文, 何小琦, 恩云飛 申請人:工業(yè)和信息化部電子第五研究所