自動化測試設備和測試方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種自動化測試設備和測試方法。涉及電子電器領域；解決了低溫試驗箱在箱門開啟操作過程中保溫、除濕的問題。該自動化測試設備包括：置于同一箱體內的過渡區(qū)和降溫區(qū)；所述自動化測試設備的電路元器件置于所述降溫區(qū)；所述過渡區(qū)的兩側各有一個活動擋門，所述過渡區(qū)通過一側的活動擋門隔斷或打開與外界環(huán)境的連通，通過另一側的擋門隔斷或打開與所述降溫區(qū)的連通，兩側擋門無法同時開啟；所述過渡區(qū)的溫度均低于0攝氏度且高于所述降溫區(qū)的溫度。本發(fā)明提供的技術方案適用于集成電路芯片低溫測試，實現(xiàn)了對待測試電路板或工裝板的降溫預處理。
【專利說明】自動化測試設備和測試方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及電子電器領域，尤其涉及一種自動化測試設備和測試方法。
【背景技術】
[0002]當電子設備需要在低溫環(huán)境下工作的時候，需要達到一定的性能和功能指標。因此在電路板級對元器件進行交貨前的最后一次篩選具有重要的意義。同時也可以對集成電路芯片在加工成產(chǎn)品之前置于工裝板上進行相應標準的低溫篩選測試。
[0003]現(xiàn)有技術在集成電路芯片的篩選方面，尤其是低溫篩選方面。主要有兩種解決方法。
[0004]第一種是采用全自動化的大型測試設備。在全自動化的傳動系統(tǒng)上，增加低溫設備，使芯片處于恒溫的低溫環(huán)境下。然后通過另外的測試設備，來模擬板級電路上其它的元器件，對集成電路芯片進行操作。其主要測試設備的功能范圍覆蓋了集成電路的晶圓測試、封裝測試中的各個項目，因此其復雜度非常高。目前國內外的集成電路測試設備是針對集成電路獨立的芯片進行降溫，然后進行綜合性測試。其中著名的廠家有Multitest、Adventest 等。
[0005]第二種是采用低溫試驗箱的方法，將完整的電路板或工裝板置于低溫試驗箱內進行降溫。
[0006]低溫試驗箱存在的問題就是在箱門開啟操作過程中保溫、除濕不能很好的解決。將會嚴重影響降溫的速度，從而影響工作效率。

【發(fā)明內容】

[0007]本發(fā)明提供了 一種自動化測試設備和測試方法，解決了低溫試驗箱在箱門開啟操作過程中保溫、除濕的問題。
[0008]一種自動化測試設備,包括:
[0009]包括置于同一箱體內的過渡區(qū)和降溫區(qū)；
[0010]所述自動化測試設備的電路元器件置于所述降溫區(qū)；
[0011 ] 所述過渡區(qū)的兩側各有一個活動擋門，所述過渡區(qū)通過一側的活動擋門隔斷或打開與外界環(huán)境的連通，通過另一側的擋門隔斷或打開與所述降溫區(qū)的連通，兩側擋門無法同時開啟；
[0012]所述過渡區(qū)的溫度均低于0攝氏度且高于所述降溫區(qū)的溫度。
[0013]優(yōu)選的，所述過渡區(qū)包括第一過渡區(qū)和第二過渡區(qū)兩部分；
[0014]所述第一過渡區(qū)和所述第二過渡區(qū)分別位于降溫區(qū)的兩側；
[0015]所述第一過渡區(qū)的兩側各有一個活動擋門，所述第一過渡區(qū)通過一側的活動擋門隔斷或打開與外界環(huán)境的連通，通過另一側的擋門隔斷或打開與所述降溫區(qū)的連通，兩側擋門無法同時開啟；
[0016]所述第二過渡區(qū)的兩側各有一個活動擋門，所述第二過渡區(qū)通過一側的活動擋門隔斷或打開與外界環(huán)境的連通，通過另一側的擋門隔斷或打開與所述降溫區(qū)的連通，兩側擋門無法同時開啟。
[0017]優(yōu)選的，該設備還包括一傳送裝置，該傳送裝置在工作時自所述過渡區(qū)向所述降溫區(qū)運動。
[0018]優(yōu)選的，所述降溫區(qū)具體為由多個區(qū)域降溫模塊組成的陣列。
[0019]優(yōu)選的，所述區(qū)域降溫模塊包括上層部分和下層部分；
[0020]所述上層部分和下層部分均包括銅管，待測試電路板或工裝板在所述降溫區(qū)時置于所述上層部分和所述下層部分的銅管之間。
[0021]優(yōu)選的，所述上層部分還包括置于銅管之上的風扇。
[0022]優(yōu)選的，所述下層部分還包括包圍于銅管周圍的純銅部分，所述純銅部分與所述電路板或工裝板直接接觸。
[0023]優(yōu)選的，各降溫模塊附近均置有相應的感溫器，所述感溫器與該自動化測試設備的CPU連接。
[0024]本發(fā)明還提供了一種使用上述自動化測試設備的測試方法，包括:
[0025]待測電路板或工裝板經(jīng)擋門由外界環(huán)境進入過渡區(qū)，所述擋門關閉；
[0026]待所述待測電路板或工裝板的在所述過渡區(qū)停留的時間達到預置過渡時長后，所述待測電路板或工裝板經(jīng)擋門由所述過渡區(qū)進入降溫區(qū)，所述擋門關閉；
[0027]在所述降溫區(qū)對所述待測電路板或工裝板進行測試。
[0028]優(yōu)選的，該方法還包括:
[0029]設置過渡時長，以指示所述待測電路或工裝板在所述過渡區(qū)停留并降溫至所述過渡區(qū)的溫度。
[0030]本發(fā)明提供了一種自動化測試設備和測試方法，包括置于同一箱體內的過渡區(qū)和降溫區(qū)，所述自動化測試設備的電路元器件置于所述降溫區(qū)，所述過渡區(qū)的兩側各有一個活動擋門，所述過渡區(qū)通過一側的活動擋門隔斷或打開與外界環(huán)境的連通，通過另一側的擋門隔斷或打開與所述降溫區(qū)的連通，兩側擋門無法同時開啟，所述過渡區(qū)的溫度均低于O攝氏度且高于所述降溫區(qū)的溫度。實現(xiàn)了對待測試電路板或工裝板的降溫預處理，使得待測試電路板或工裝板進入降溫區(qū)時不帶入濕氣及已處于較低溫，不會對降溫區(qū)的濕度和溫度產(chǎn)生過大的影響，解決了低溫試驗箱在箱門開啟操作過程中保溫、除濕的問題。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0031]圖1為本發(fā)明的實施例一提供的一種自動化測試設備的俯視圖；
[0032]圖2為本發(fā)明的實施例一提供的一種自動化測試設備的一側視圖；
[0033]圖3為本發(fā)明的實施例一提供的一種自動化測試設備的又一側視圖；
[0034]圖4為本發(fā)明的實施例一中區(qū)域降溫模塊的俯視圖；
[0035]圖5為本發(fā)明的實施例一中區(qū)域降溫模塊的側視圖；
[0036]圖6為本發(fā)明的實施例二提供的一種測試方法的流程圖。
【具體實施方式】
[0037]低溫試驗箱存在的問題就是在箱門開啟操作過程中保溫、除濕不能很好的解決。將會嚴重影響降溫的速度，從而影響工作效率。
[0038]為了解決上述問題，本發(fā)明的實施例提供了一種自動化測試設備和測試方法。下文中將結合附圖對本發(fā)明的實施例進行詳細說明。需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互任意組合。
[0039]首先結合附圖，對本發(fā)明的實施例一進行說明。
[0040]本發(fā)明實施例提供了 一種對板級電路局部元器件降溫的自動化測試設備，包括置于同一箱體內的過渡區(qū)和降溫區(qū)；
[0041]所述自動化測試設備的電路元器件置于所述降溫區(qū)；
[0042]所述過渡區(qū)的兩側各有一個活動擋門，所述過渡區(qū)通過一側的活動擋門隔斷或打開與外界環(huán)境的連通，通過另一側的擋門隔斷或打開與所述降溫區(qū)的連通，兩側擋門無法同時開啟；
[0043]所述過渡區(qū)的溫度均低于0攝氏度且高于所述降溫區(qū)的溫度。
[0044]優(yōu)選的，所述過渡區(qū)包括第一過渡區(qū)和第二過渡區(qū)兩部分；
[0045]所述第一過渡區(qū)和所述第二過渡區(qū)分別位于降溫區(qū)的兩側；
[0046]所述第一過渡區(qū)的兩側各有一個活動擋門，所述第一過渡區(qū)通過一側的活動擋門隔斷或打開與外界環(huán)境的連通，通過另一側的擋門隔斷或打開與所述降溫區(qū)的連通，兩側擋門無法同時開啟；
[0047]所述第二過渡區(qū)的兩側各有一個活動擋門，所述第二過渡區(qū)通過一側的活動擋門隔斷或打開與外界環(huán)境的連通，通過另一側的擋門隔斷或打開與所述降溫區(qū)的連通，兩側擋門無法同時開啟。
[0048]優(yōu)選的，該設備還包括一傳送裝置，該傳送裝置在工作時自所述過渡區(qū)101向所述降溫區(qū)運動。
[0049]優(yōu)選的，所述降溫區(qū)具體為由多個區(qū)域降溫模塊組成的陣列。
[0050]優(yōu)選的，所述區(qū)域降溫模塊包括上層部分和下層部分；
[0051]所述上層部分和下層部分均包括銅管，待測試電路板或工裝板在所述降溫區(qū)時置于所述上層部分和所述下層部分的銅管之間。
[0052]優(yōu)選的，所述上層部分還包括置于銅管之上的風扇。
[0053]優(yōu)選的，所述下層部分還包括包圍于銅管周圍的純銅部分，所述純銅部分與所述電路板或工裝板直接接觸。
[0054]優(yōu)選的，各降溫模塊附近均置有相應的感溫器，所述感溫器與該自動化測試設備的CPU連接。
[0055]圖1是本發(fā)明實施例所提供的自動化測試設備的俯視圖，其中，該設備的兩端是過渡區(qū)101 (包括第一過渡區(qū)1011和第二過渡區(qū)1012兩部分)，過渡區(qū)101的溫度為Tl。中間是降溫區(qū)102，降溫區(qū)102的溫度為T2。本發(fā)明實施例中設定Tl高于T2，但低于0攝氏度。需要進入該自動化測試設備進行測試的電路板或工裝板先置于過渡區(qū)101。過渡區(qū)101的兩側各有一個活動擋門。這兩個擋門不能同時開啟，這樣當電路板或工裝板置于過渡區(qū)101后，在低于0攝氏度的環(huán)境下將引入的濕氣在一定程度上進行隔離。同時也可以在最大程度保證降溫區(qū)102的溫度損失最小。
[0056]圖2為圖1中A視角的側視圖。[0057]圖3為圖1中B視角的側視圖。在圖3中可以看到設備箱體上留有兩個操作孔301，可用于接入導線以及操作裝置。
[0058]電路板或工裝板在過渡區(qū)101靜置一段時間后，通過傳輸裝置302移動到降溫區(qū)102。此時溫控系統(tǒng)根據(jù)降溫區(qū)102的實際溫度進行降溫操作。
[0059]降溫區(qū)102的區(qū)域降溫模塊結構的俯視圖如圖4所示。
[0060]在圖1的降溫區(qū)102安置了特制的區(qū)域降溫模塊，同時多個區(qū)域降溫模塊組成陣列，其數(shù)目、排列方式和位置可以根據(jù)電路板或工裝板的實際情況進行調整。單獨的一個區(qū)域降溫模塊分為上下兩層，圖5為區(qū)域降溫模塊的側視圖。使用銅管彎曲成散熱管，同時在下層的銅管周圍包圍純銅以擴大接觸面積，如圖5所示。上層的銅管上方將加裝小型風扇，加速空氣流動，使溫度分布均勻。銅管內部可以使用低溫氮氣進行降溫，也可以連接壓縮機利用冷卻液進行降溫。每個區(qū)域降溫模塊周邊都將使用溫感，監(jiān)控溫度的變化。
[0061 ] 下面結合附圖，對本發(fā)明的實施例二進行說明。
[0062]本發(fā)明實施例提供了一種測試方法，使用本發(fā)明的實施例一所提供的自動化測試設備，進行測試的流程如圖6所示，包括:
[0063]步驟601、待測電路板或工裝板經(jīng)擋門由外界環(huán)境進入過渡區(qū)，所述擋門關閉；
[0064]步驟602、待所述待測電路板或工裝板的在所述過渡區(qū)停留的時間達到預置過渡時長后，所述待測電路板或工裝板經(jīng)擋門由所述過渡區(qū)進入降溫區(qū)，所述擋門關閉；
[0065]本發(fā)明實施例中，可根據(jù)需要設置過渡時長，以指示所述待測電路或工裝板在所述過渡區(qū)停留并降溫至所述過渡區(qū)的溫度。
[0066]步驟603、在所述降溫區(qū)對所述待測電路板或工裝板進行測試。
[0067]本發(fā)明提供了一種自動化測試設備和測試方法，包括置于同一箱體內的過渡區(qū)和降溫區(qū)，所述自動化測試設備的電路元器件置于所述降溫區(qū)，所述過渡區(qū)的兩側各有一個活動擋門，所述過渡區(qū)通過一側的活動擋門隔斷或打開與外界環(huán)境的連通，通過另一側的擋門隔斷或打開與所述降溫區(qū)的連通，兩側擋門無法同時開啟，所述過渡區(qū)的溫度均低于O攝氏度且高于所述降溫區(qū)的溫度。實現(xiàn)了對待測試電路板或工裝板的降溫預處理，使得待測試電路板或工裝板進入降溫區(qū)時不帶入濕氣及已處于較低溫，不會對降溫區(qū)的濕度和溫度產(chǎn)生過大的影響，解決了低溫試驗箱在箱門開啟操作過程中保溫、除濕的問題。
[0068]電路板或工裝板的降溫設備中具有過渡區(qū)，加強了對保溫除濕方面的處理，而不是像低溫試驗箱那樣直接對低溫區(qū)域操作；區(qū)域降溫模塊的結構設計采用了對流、傳導等多種熱傳導方式，同時兼顧了局部區(qū)域的溫度均勻性；采用電路板或工裝板區(qū)域降溫的方法可以在低成本的條件下保證測試的準確性，以及待測器件環(huán)境溫度切實達到測試的標準要求。
[0069]本領域普通技術人員可以理解上述實施例的全部或部分步驟可以使用計算機程序流程來實現(xiàn)，所述計算機程序可以存儲于一計算機可讀存儲介質中，所述計算機程序在相應的硬件平臺上(如系統(tǒng)、設備、裝置、器件等)執(zhí)行，在執(zhí)行時，包括方法實施例的步驟之
一或其組合。
[0070]可選地，上述實施例的全部或部分步驟也可以使用集成電路來實現(xiàn)，這些步驟可以被分別制作成一個個集成電路模塊，或者將它們中的多個模塊或步驟制作成單個集成電路模塊來實現(xiàn)。這樣，本發(fā)明不限制于任何特定的硬件和軟件結合。[0071]上述實施例中的各裝置/功能模塊/功能單元可以采用通用的計算裝置來實現(xiàn)，它們可以集中在單個的計算裝置上，也可以分布在多個計算裝置所組成的網(wǎng)絡上。
[0072]上述實施例中的各裝置/功能模塊/功能單元以軟件功能模塊的形式實現(xiàn)并作為獨立的產(chǎn)品銷售或使用時，可以存儲在一個計算機可讀取存儲介質中。上述提到的計算機可讀取存儲介質可以是只讀存儲器，磁盤或光盤等。
[0073]任何熟悉本【技術領域】的技術人員在本發(fā)明揭露的技術范圍內，可輕易想到變化或替換，都應涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內。因此，本發(fā)明的保護范圍應以權利要求所述的保護范圍為準。
【權利要求】
1.一種自動化測試設備，其特征在于，包括置于同一箱體內的過渡區(qū)和降溫區(qū)； 所述自動化測試設備的電路元器件置于所述降溫區(qū)； 所述過渡區(qū)的兩側各有一個活動擋門，所述過渡區(qū)通過一側的活動擋門隔斷或打開與外界環(huán)境的連通，通過另一側的擋門隔斷或打開與所述降溫區(qū)的連通，兩側擋門無法同時開啟； 所述過渡區(qū)的溫度均低于O攝氏度且高于所述降溫區(qū)的溫度。
2.根據(jù)權利要求1所述的自動化測試設備，其特征在于，所述過渡區(qū)包括第一過渡區(qū)和第二過渡區(qū)兩部分； 所述第一過渡區(qū)和所述第二過渡區(qū)分別位于降溫區(qū)的兩側； 所述第一過渡區(qū)的兩側各有一個活動擋門，所述第一過渡區(qū)通過一側的活動擋門隔斷或打開與外界環(huán)境的連通，通過另一側的擋門隔斷或打開與所述降溫區(qū)的連通，兩側擋門無法同時開啟； 所述第二過渡區(qū)的兩側各有一個活動擋門，所述第二過渡區(qū)通過一側的活動擋門隔斷或打開與外界環(huán)境的連通，通過另一側的擋門隔斷或打開與所述降溫區(qū)的連通，兩側擋門無法同時開啟。
3.根據(jù)權利要求1所述的自動化測試設備，其特征在于，該設備還包括一傳送裝置，該傳送裝置在工作時自所述過渡區(qū)向所述降溫區(qū)運動。
4.根據(jù)權利要求1所述的自動化測試設備，其特征在于，所述降溫區(qū)具體為由多個區(qū)域降溫模塊組成的陣列。
5.根據(jù)權利要求4所述的自動化測試設備，其特征在于，所述區(qū)域降溫模塊包括上層部分和下層部分； 所述上層部分和下層部分均包括銅管，待測試電路板或工裝板在所述降溫區(qū)時置于所述上層部分和所述下層部分的銅管之間。
6.根據(jù)權利要求5所述的自動化測試設備，其特征在于，所述上層部分還包括置于銅管之上的風扇。
7.根據(jù)權利要求5所述的自動化測試設備，其特征在于，所述下層部分還包括包圍于銅管周圍的純銅部分，所述純銅部分與所述電路板或工裝板直接接觸。
8.根據(jù)權利要求5所述的自動化測試設備，其特征在于，各降溫模塊附近均置有相應的感溫器，所述感溫器與該自動化測試設備的CPU連接。
9.一種使用權利要求1至8任一所述的自動化測試設備的測試方法，其特征在于，包括: 待測電路板或工裝板經(jīng)擋門由外界環(huán)境進入過渡區(qū)，所述擋門關閉； 待所述待測電路板或工裝板的在所述過渡區(qū)停留的時間達到預置過渡時長后，所述待測電路板或工裝板經(jīng)擋門由所述過渡區(qū)進入降溫區(qū)，所述擋門關閉； 在所述降溫區(qū)對所述待測電路板或工裝板進行測試。
10.根據(jù)權利要求9所述的測試方法，其特征在于，該方法還包括: 設置過渡時長，以指示所述待測電路或工裝板在所述過渡區(qū)停留并降溫至所述過渡區(qū)的溫度。
【文檔編號】G01R31/28GK103792485SQ201410053193
【公開日】2014年5月14日 申請日期:2014年2月17日 優(yōu)先權日:2014年2月17日
【發(fā)明者】董剛 申請人:大唐微電子技術有限公司