技術(shù)編號：6218289
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明提供了一種。涉及電子電器領(lǐng)域；解決了低溫試驗箱在箱門開啟操作過程中保溫、除濕的問題。該自動化測試設(shè)備包括置于同一箱體內(nèi)的過渡區(qū)和降溫區(qū)；所述自動化測試設(shè)備的電路元器件置于所述降溫區(qū)；所述過渡區(qū)的兩側(cè)各有一個活動擋門，所述過渡區(qū)通過一側(cè)的活動擋門隔斷或打開與外界環(huán)境的連通，通過另一側(cè)的擋門隔斷或打開與所述降溫區(qū)的連通，兩側(cè)擋門無法同時開啟；所述過渡區(qū)的溫度均低于0攝氏度且高于所述降溫區(qū)的溫度。本發(fā)明提供的技術(shù)方案適用于集成電路芯片低溫測試，實現(xiàn)了對待測...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。