觸控面板檢測(cè)裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型提供一種觸控面板檢測(cè)裝置，其包括：一金屬檢測(cè)平臺(tái)及一觸控面板。金屬檢測(cè)平臺(tái)具有一探測(cè)單元，探測(cè)單元用以設(shè)置于一測(cè)量位置，金屬檢測(cè)平臺(tái)連接于一微處理單元。觸控面板設(shè)置于金屬檢測(cè)平臺(tái)上，觸控面板上具有多個(gè)電極線路，每一電極線路具有一供探測(cè)單元測(cè)量的測(cè)試點(diǎn)。當(dāng)探測(cè)單元設(shè)置于測(cè)量位置時(shí)，探測(cè)單元連接于測(cè)試點(diǎn)，用以測(cè)量每一電極線路的電容值。本實(shí)用新型僅需要制作一個(gè)探測(cè)單元（已知技術(shù)為兩個(gè)探測(cè)單元），更進(jìn)一步降低探測(cè)單元的成本，還可以提高觸控面板的檢測(cè)效率。
【專利說明】觸控面板檢測(cè)裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種觸控面板檢測(cè)裝置，尤指一種觸控面板與檢測(cè)平臺(tái)相互電性連通的觸控面板檢測(cè)裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著技術(shù)的日新月異，目前觸控面板已廣泛地應(yīng)用于數(shù)字式的電子產(chǎn)品上，無論是筆記本電腦、手機(jī)或是可攜式多媒體播放器等電子裝置，使用者可方便且容易地利用觸控面板來進(jìn)行各項(xiàng)功能的操作，逐漸利用觸控面板來取代傳統(tǒng)鍵盤以作為新一代輸入接口，常見的觸控面板依技術(shù)原理主要可區(qū)分為電容式、電阻式、音波式、紅外線式等等，電容式觸控面板因?yàn)榫哂卸帱c(diǎn)觸控的特性而備受矚目。
[0003]其中，以電容式與電阻式觸控面板的市場占有率最高，電容式與電阻式觸控面板同樣以例如:氧化銦錫(ITO)等的導(dǎo)電玻璃作為感應(yīng)單元，然而不同的是當(dāng)使用者手指觸控時(shí)，電容式的觸控面板中的導(dǎo)電玻璃處會(huì)產(chǎn)生電容變化，電阻式的觸控面板中的導(dǎo)電玻璃處則是產(chǎn)生電壓變化，無論是電容或電壓變化的信號(hào)，均通過連接于導(dǎo)電玻璃上的多個(gè)導(dǎo)線輸出至微處理單元，該微處理單元可依據(jù)變化信號(hào)計(jì)算出按壓點(diǎn)的位置。由此可知，電容式觸控面板的感測(cè)正確性主要依賴每一感測(cè)軸線的電性特性而決定。所以，感測(cè)軸線中若有斷路、短路或是電容效應(yīng)不均勻的情形發(fā)生都會(huì)影響感測(cè)的正確性。因此，感測(cè)軸線的檢測(cè)變得相當(dāng)重要。
[0004]上述電容式及電阻式觸控面板在制作完成后，必須測(cè)試每一感測(cè)軸線與導(dǎo)電玻璃之間是否導(dǎo)通，而目前所使用的測(cè)試儀器為探針型式，也即該儀器設(shè)有多個(gè)探針，測(cè)試時(shí)該些探針針刺接觸于每一感測(cè)軸在線，如此儀器便能與導(dǎo)線電連接，從而判斷導(dǎo)電玻璃的信號(hào)是否有傳遞至感測(cè)軸線。并且，在一般觸控面板在生產(chǎn)流程檢測(cè)時(shí)，必須以手動(dòng)的方式對(duì)觸控面板作檢測(cè)，但此種檢測(cè)方式非常耗時(shí)間，隨著觸控面板的需求量不斷提升，傳統(tǒng)以手動(dòng)方式的測(cè)試方法更顯得毫無效率。
[0005]本案發(fā)明人有鑒于上述缺點(diǎn)，且積累個(gè)人從事相關(guān)產(chǎn)業(yè)開發(fā)實(shí)務(wù)上多年的經(jīng)驗(yàn)，精心研究，終于提出一種設(shè)計(jì)合理且有效改善上述問題的結(jié)構(gòu)。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0006]本實(shí)用新型提供一種觸控面板檢測(cè)裝置，用以檢測(cè)一觸控面板是否斷路或短路，所述觸控面板檢測(cè)裝置包括:一金屬檢測(cè)平臺(tái)，所述金屬檢測(cè)平臺(tái)具有一探測(cè)單元，所述探測(cè)單元用以設(shè)置于一測(cè)量位置，所述金屬檢測(cè)平臺(tái)連接于一微處理單元；以及一觸控面板，所述觸控面板設(shè)置于所述金屬檢測(cè)平臺(tái)上，所述觸控面板上具有多個(gè)電極線路，每一個(gè)所述電極線路具有一用于所述探測(cè)單元進(jìn)行測(cè)量的測(cè)試點(diǎn)；其中，當(dāng)所述探測(cè)單元設(shè)置于所述測(cè)量位置時(shí)，所述探測(cè)單元連接于所述測(cè)試點(diǎn)，所述探測(cè)單元用以測(cè)量每一個(gè)所述電極線路的電容值。
[0007]本實(shí)用新型還提供一種觸控面板檢測(cè)裝置，用以檢測(cè)一觸控面板是否斷路或短路，所述觸控面板檢測(cè)裝置包括:一檢測(cè)平臺(tái)，所述檢測(cè)平臺(tái)上設(shè)有所述觸控面板，且所述觸控面板與所述檢測(cè)平臺(tái)相互電性連接，所述觸控面板上具有多個(gè)電極線路，所述檢測(cè)平臺(tái)具有一探測(cè)單元，所述探測(cè)單元用以設(shè)置于一測(cè)量位置，每一個(gè)所述電極線路具有一用于所述探測(cè)單元進(jìn)行測(cè)量的測(cè)試點(diǎn)，所述檢測(cè)平臺(tái)連接于一微處理單元；其中，所述檢測(cè)平臺(tái)具有一絕緣座、及一被覆于所述絕緣座上且用以與所述觸控面板電性連通的金屬層，當(dāng)所述探測(cè)單元設(shè)置于所述測(cè)量位置時(shí)，所述探測(cè)單元連接于所述測(cè)試點(diǎn)，所述探測(cè)單元用以測(cè)量每一個(gè)所述電極線路的電容值。
[0008]優(yōu)選地，所述觸控面板檢測(cè)裝置進(jìn)一步包括一自動(dòng)進(jìn)出料系統(tǒng)，所述自動(dòng)進(jìn)出料系統(tǒng)包括:至少一用以托取及放置所述觸控面板的機(jī)械手臂、至少一用于托取所述觸控面板的分料盒、及至少一用于放置所述觸控面板的收料盒。
[0009]優(yōu)選地，所述測(cè)試點(diǎn)為軟性印刷電路板連接區(qū)。
[0010]優(yōu)選地，所述電極線路為自容式電極線路或互容式電極線路。
[0011]優(yōu)選地，所述觸控面板為多聯(lián)板。
[0012]優(yōu)選地,所述觸控面板檢測(cè)裝置進(jìn)一步包括一顯示單元,所述顯示單元連接于所述微處理單元。
[0013]本實(shí)用新型的有益效果可以在于，一種觸控面板檢測(cè)裝置，其可通過“當(dāng)所述探測(cè)單元設(shè)置于所述測(cè)量位置時(shí)，所述探測(cè)單元連接于所述測(cè)試點(diǎn)，用以測(cè)量每一所述電極線路的電容值”的設(shè)計(jì)，藉此，利用氧化銦錫層與外部的金屬檢測(cè)平臺(tái)連接形成一測(cè)試點(diǎn)，該測(cè)試點(diǎn)用以測(cè)量每一電極線路對(duì)金屬檢測(cè)平臺(tái)的電容值，進(jìn)一步通過電容值的變化來判斷該電極線路有無斷路。除此之外，本實(shí)用新型僅需要制作一個(gè)探測(cè)單元(已知技術(shù)為兩個(gè)探測(cè)單元)，更進(jìn)一步降低探測(cè)單元的成本，還可以提高觸控面板的檢測(cè)效率。
[0014]為使能更進(jìn)一步了解本實(shí)用新型的特征及技術(shù)內(nèi)容，請(qǐng)參閱以下有關(guān)本實(shí)用新型的詳細(xì)說明與附圖，然而所附圖式僅提供參考與說明用，并非用來對(duì)本實(shí)用新型加以限制。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]圖1為本實(shí)用新型第一實(shí)施例的正視示意圖。
[0016]圖2為本實(shí)用新型第一實(shí)施例中檢測(cè)平臺(tái)的俯視示意圖。圖3為本實(shí)用新型第一實(shí)施例中觸控面板的示意圖。
[0017]圖4為本實(shí)用新型第二實(shí)施例的示意圖。
[0018]圖5為本實(shí)用新型實(shí)施例中觸控面板的另一示意圖。
[0019]【符號(hào)說明】
[0020]觸控面板檢測(cè)裝置Z
[0021]檢測(cè)平臺(tái)I
[0022]探測(cè)單元10
[0023]微處理單元12
[0024]顯示單元14
[0025]測(cè)試按鈕16
[0026]氣動(dòng)開關(guān)按鈕 18
[0027]觸控面板2、2’[0028]透明基板20、20’
[0029]氧化銦錫層22
[0030]布線區(qū)24
[0031]測(cè)試點(diǎn)240
[0032]導(dǎo)線242
[0033]電極線路26
[0034]X軸電極線路260
[0035]Y軸電極線路262
[0036]電極28
[0037]X 軸電極280
[0038]Y 軸電極282
[0039]自動(dòng)進(jìn)出料系統(tǒng) M
[0040]機(jī)械手臂30
[0041]分料盒 32
[0042]收料盒34
[0043]間隙G
【具體實(shí)施方式】
[0044]〔第一實(shí)施例〕
[0045]請(qǐng)參考圖1至圖3所示，圖1為本實(shí)用新型觸控面板檢測(cè)裝置Z的正視示意圖，圖2為本實(shí)用新型觸控面板檢測(cè)裝置Z中檢測(cè)平臺(tái)I的俯視示意圖，圖3A為本實(shí)用新型觸控面板檢測(cè)裝置Z中觸控面板2的示意圖。由上述圖中可知，本實(shí)用新型提供一種觸控面板檢測(cè)裝置Z，用以檢測(cè)一觸控面板2是否斷路(Open)或短路(short)，觸控面板檢測(cè)裝置Z，包括:一金屬檢測(cè)平臺(tái)1、及一觸控面板2。其中，本具體實(shí)施例是以電容式觸控面板(Capacitive Touch Panel, CTP)為例作說明。
[0046]首先，請(qǐng)參考圖1至圖2所示，金屬檢測(cè)平臺(tái)I具有一探測(cè)單元10，探測(cè)單元10用以設(shè)置于一初始位置(圖未示)及一測(cè)量位置(圖未示)，且該探測(cè)單元10通過金屬檢測(cè)平臺(tái)I連接于一微處理單元12，可使探測(cè)單元10由初始位置移動(dòng)至測(cè)量位置后，對(duì)電極線路26進(jìn)行電容的測(cè)量。其中，微處理單元12可以為電腦、微控制器(Micro Control Unit, MCU)
坐寸ο
[0047]其中，請(qǐng)參考圖1、圖2、圖3及圖5所示，金屬檢測(cè)平臺(tái)I呈平板狀且定義有檢測(cè)區(qū)，該檢測(cè)區(qū)以用平放待檢測(cè)的觸控面板2，且該金屬檢測(cè)平臺(tái)I的檢測(cè)尺寸，大體上略大于該待檢測(cè)觸控面板2的尺寸。具體來說，檢測(cè)區(qū)尺寸可用來檢測(cè)多片已經(jīng)過切割工藝的觸控面板2 (子板)，或者是未經(jīng)切割工藝的觸控面板(多聯(lián)板)2’，例如:800 (L)mmX800(W)mm，該觸控面板(多聯(lián)板)2’中的每一觸控面板(子板)之間均具有一間隙部G。然而，本實(shí)用新型待檢測(cè)觸控面板2的尺寸大小不以此為限。
[0048]接著，該觸控面板檢測(cè)裝置Z，還設(shè)有一測(cè)試按鈕16及至少一氣動(dòng)開關(guān)按鈕18。該氣動(dòng)開關(guān)按鈕18是用以真空吸附待檢測(cè)的觸控面板2于金屬檢測(cè)平臺(tái)I后，再按壓測(cè)試按鈕16進(jìn)行檢測(cè)其電容值，檢測(cè)后同樣按壓氣動(dòng)開關(guān)按鈕18進(jìn)行破真空以取出檢測(cè)后的觸控面板2。
[0049]另外，觸控面板檢測(cè)裝置Z，進(jìn)一步包括:一連接于微處理單元12的顯示單元14。該顯示單元14設(shè)于金屬檢測(cè)平臺(tái)I上，且與一微處理單元12相連接，顯示單元14用以顯示微處理單元12接收測(cè)量數(shù)據(jù)后的運(yùn)算結(jié)果(即為電極線路26為斷路或短路的結(jié)果)，以利檢測(cè)人員判讀及分析。其中，顯示單元14可為液晶顯示器、LED顯示器、OLED顯示器、等離子顯示器或CRT顯示器等。
[0050]接著，探測(cè)單元10為探針型式，測(cè)試時(shí)這些探測(cè)單元10針刺接觸于測(cè)試點(diǎn)240上，如此觸控面板檢測(cè)裝置Z便能與電極線路26相互電性連接，從而判斷導(dǎo)電玻璃的信號(hào)是否有傳遞至電極線路26。
[0051]接著，請(qǐng)參考圖3及圖5所示,本實(shí)施例以互容式(Mutual Capacitance)電極線路26做說明，將觸控面板2設(shè)置于金屬檢測(cè)平臺(tái)I上，觸控面板2上具有多個(gè)電極線路26(X1、X2、X3、X4、X5、Y1、Y2、Y3、Y4、&Y5 的布局(layout)走線)。更進(jìn)一步來說，本實(shí)用新型利用觸控面板2上的氧化銦錫(ΙΤ0)層22與外部的金屬檢測(cè)平臺(tái)I頭尾連接形成一個(gè)測(cè)試點(diǎn)240，該測(cè)試點(diǎn)240用以測(cè)量每一電極線路26對(duì)金屬檢測(cè)平臺(tái)I的電容值，且通過電容值的變化來判斷該電極線路26有無斷路，每一電極線路26具有一供探測(cè)單10元測(cè)量的測(cè)試點(diǎn)240，具體來說，觸控面板2為一透明基板20，該透明基板20設(shè)有一氧化銦錫(IndiumTin Oxide, ITO)層22，且底面周緣作為一布線區(qū)24，該氧化銦錫層22上形成有多個(gè)電極28、以及連接多個(gè)電極28的多個(gè)電極線路26。
[0052]其中，多個(gè)電極28包括多個(gè)X軸電極280及多個(gè)Y軸電極282，多個(gè)電極線路26包括多個(gè)X軸電極線路260及多個(gè)Y軸電極線路262。其中，多個(gè)X軸電極線路260分別與氧化銦錫層22上多個(gè)相對(duì)應(yīng)的X軸電極280電性連接，多個(gè)Y軸電極線路262分別與氧化銦錫層22上多個(gè)相對(duì)應(yīng)的Y軸電極282電性連接。具體來說，X軸電極280及Y軸電極282的外形可為三角形、菱形、矩形等。然而，本實(shí)用新型電極的外形不以此為限。
[0053]接著，該布線區(qū)24上設(shè)有多條相對(duì)應(yīng)地電性連接于X軸電極線路260及多個(gè)Y軸電極線路262電性連接的導(dǎo)線242，且與設(shè)于觸控面板2側(cè)邊的軟性電路板(FlexiblePrint Circuit，F(xiàn)PC)相連接，該軟性電路板與該布線區(qū)24的連接處為前述探測(cè)單元10于測(cè)量位置上與探測(cè)單元10相連接的測(cè)試點(diǎn)240，用以測(cè)量觸控面板2上每一電極線路26。其中，必須強(qiáng)調(diào)的是，本實(shí)用新型的電極線路26也可為自容式(Self Capacitance)電極線路26。
[0054]其中，由于一電容式觸控面板(CTP)內(nèi)所設(shè)的感應(yīng)電極具有一觸發(fā)端(TX)與一接收端(RX)，故又稱為兩極板，又，由于一電容式觸控面板的作動(dòng)原理乃源自于下列關(guān)系式:
[0055]C= ε X (A/d)
[0056]更詳細(xì)地說，當(dāng)介電系數(shù)(ε )值改變時(shí)會(huì)造成電容值(C)變化，而根據(jù):電容(C) =電量(Q)/電場(V)的公式可知，當(dāng)接收端的電場變化時(shí)，電容值也會(huì)跟著變化，藉此，經(jīng)由上述檢測(cè)所得的電容值可進(jìn)一步判斷，該測(cè)量的電極線路26為斷路或短路。
[0057]接著，更進(jìn)一步針對(duì)觸控面板檢測(cè)裝置Z的操作步驟流程進(jìn)行說明:(1)置放待檢測(cè)的觸控面板2于金屬檢測(cè)平臺(tái)I ; (2)通過顯示單元14將待檢測(cè)的觸控面板2進(jìn)行對(duì)位；
(3)按壓氣動(dòng)開關(guān)按鈕18真空吸附待檢測(cè)的觸控面板2 ； (4)按壓測(cè)試按鈕16進(jìn)行測(cè)試；
(5)測(cè)試完畢，按下氣動(dòng)開關(guān)按鈕18進(jìn)行泄壓；(6)取出檢測(cè)后的觸控面板2。[0058]本實(shí)用新型觸控面板檢測(cè)裝置Z的操作步驟，操作員只需要上述5個(gè)步驟且分別按壓3次按鈕即可完成，與已知的檢測(cè)步驟相比，本實(shí)用新型可節(jié)省許多測(cè)量時(shí)間(loading and unloading time),如此,簡便的操作步驟也可以使操作員不易弄錯(cuò),避免造成良率及成本上的損失。
[0059]最后，必須強(qiáng)調(diào)的是，本實(shí)用新型觸控面板檢測(cè)裝置Z的金屬檢測(cè)平臺(tái)I還可以由一絕緣座、一金屬層所組成，其中該金屬層被覆于該絕緣座上，用以在將觸控面板2放置于絕緣座上時(shí)，達(dá)到與觸控面板2電性連通的目的。
[0060]然而，上述對(duì)于微處理單元12、金屬檢測(cè)平臺(tái)1、顯示單元213及觸控面板2的說明只是用來舉例而已，其非用來限定本實(shí)用新型。
[0061]〔第二實(shí)施例〕
[0062]請(qǐng)參考圖4所示，圖4為觸控面板檢測(cè)裝置Z的示意圖。由圖4可知，本實(shí)用新型第二實(shí)施例提供觸控面板檢測(cè)裝置Z，其包括:一金屬檢測(cè)平臺(tái)1、一觸控面板2、及一自動(dòng)進(jìn)出料系統(tǒng)M。
[0063]本實(shí)用新型第二實(shí)施例與第一實(shí)施例最大的差別在于:在第二實(shí)施例中，觸控面板檢測(cè)裝置Z，進(jìn)一步包括:一自動(dòng)進(jìn)出料系統(tǒng)M，其包括:至少一用以托取及放置觸控面板2的機(jī)械手臂30、至少一供托取觸控面板2的分料盒32、及至少一供放置觸控面板2的收料盒34。
[0064]其中，在本具體實(shí)施例中，自動(dòng)進(jìn)出料系統(tǒng)M，其包括:一機(jī)械手臂30、兩個(gè)分料盒32、及兩個(gè)收料盒34。每一分料盒32與每一收料盒34為間隔且圍繞機(jī)械手臂30形成一類“D”字型，且該自動(dòng)進(jìn)出料系統(tǒng)M排列于觸控面板檢測(cè)裝置Z的側(cè)邊。藉此，經(jīng)由上述第二實(shí)施例的觸控面板檢測(cè)裝置Z及一自動(dòng)進(jìn)出料系統(tǒng)M的設(shè)計(jì)，以使得觸控面板2檢測(cè)產(chǎn)能大幅的提升，并且能進(jìn)一步節(jié)省人力成本。
[0065]〔實(shí)施例的可能效果〕
[0066]本實(shí)用新型的有益效果可以在于，一種觸控面板檢測(cè)裝置，其可通過“當(dāng)所述探測(cè)單元設(shè)置于所述測(cè)量位置時(shí)，所述探測(cè)單元連接于所述測(cè)試點(diǎn)，用以測(cè)量每一所述電極線路的電容值”的設(shè)計(jì)，藉此，利用氧化銦錫層與外部的金屬檢測(cè)平臺(tái)連接形成一測(cè)試點(diǎn)，該測(cè)試點(diǎn)用以測(cè)量每一電極線路對(duì)金屬檢測(cè)平臺(tái)的電容值，進(jìn)一步通過電容值的變化來判斷該電極線路有無斷路。除此之外，本實(shí)用新型僅需要制作一個(gè)探測(cè)單元(已知技術(shù)為兩個(gè)探測(cè)單元)，更進(jìn)一步降低探測(cè)單元的成本，還可以提高觸控面板的檢測(cè)效率。
[0067]以上所述僅為本實(shí)用新型的優(yōu)選可行實(shí)施例，非因此局限本實(shí)用新型的權(quán)利要求范圍，故舉凡運(yùn)用本實(shí)用新型說明書及圖式內(nèi)容所為的等效技術(shù)變化，均包含于本實(shí)用新型的范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種觸控面板檢測(cè)裝置，用以檢測(cè)一觸控面板是否斷路或短路，其特征在于，所述觸控面板檢測(cè)裝置包括: 一金屬檢測(cè)平臺(tái)，所述金屬檢測(cè)平臺(tái)具有一探測(cè)單元，所述探測(cè)單元用以設(shè)置于一測(cè)量位置，所述金屬檢測(cè)平臺(tái)連接于一微處理單元；以及 一觸控面板，所述觸控面板設(shè)置于所述金屬檢測(cè)平臺(tái)上，所述觸控面板上具有多個(gè)電極線路，每一個(gè)所述電極線路具有一用于所述探測(cè)單元進(jìn)行測(cè)量的測(cè)試點(diǎn)； 其中，當(dāng)所述探測(cè)單元設(shè)置于所述測(cè)量位置時(shí)，所述探測(cè)單元連接于所述測(cè)試點(diǎn)，所述探測(cè)單元用以測(cè)量每一個(gè)所述電極線路的電容值。
2.一種觸控面板檢測(cè)裝置，用以檢測(cè)一觸控面板是否斷路或短路，其特征在于，所述觸控面板檢測(cè)裝置包括: 一檢測(cè)平臺(tái)，所述檢測(cè)平臺(tái)上設(shè)有所述觸控面板，且所述觸控面板與所述檢測(cè)平臺(tái)相互電性連接，所述觸控面板上具有多個(gè)電極線路，所述檢測(cè)平臺(tái)具有一探測(cè)單元，所述探測(cè)單元用以設(shè)置于一測(cè)量位置，每一個(gè)所述電極線路具有一用于所述探測(cè)單元進(jìn)行測(cè)量的測(cè)試點(diǎn)，所述檢測(cè)平臺(tái)連接于一微處理單元； 其中，所述檢測(cè)平臺(tái)具有一絕緣座、及一被覆于所述絕緣座上且用以與所述觸控面板電性連通的金屬層，當(dāng)所述探測(cè)單元設(shè)置于所述測(cè)量位置時(shí)，所述探測(cè)單元連接于所述測(cè)試點(diǎn)，所述探測(cè)單元用以測(cè)量每一個(gè)所述電極線路的電容值。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的觸控面板檢測(cè)裝置，其特征在于，所述觸控面板檢測(cè)裝置進(jìn)一步包括一自動(dòng)進(jìn)出料系統(tǒng)，所述自動(dòng)進(jìn)出料系統(tǒng)包括:至少一用以托取及放置所述觸控面板的機(jī)械手臂、至少一用于托取所述觸控面板的分料盒、及至少一用于放置所述觸控面板的收料盒。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的觸控面板檢測(cè)裝置，其特征在于，所述測(cè)試點(diǎn)為軟性印刷電路板連接區(qū)。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的觸控面板檢測(cè)裝置，其特征在于，所述電極線路為自容式電極線路或互容式電極線路。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的觸控面板檢測(cè)裝置，其特征在于，所述觸控面板為多聯(lián)板。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的觸控面板檢測(cè)裝置，其特征在于，所述觸控面板檢測(cè)裝置進(jìn)一步包括一顯示單元，所述顯示單元連接于所述微處理單元。
【文檔編號(hào)】G01R31/02GK203444049SQ201320360815
【公開日】2014年2月19日 申請(qǐng)日期:2013年6月21日 優(yōu)先權(quán)日:2013年6月21日
【發(fā)明者】吳俊謀 申請(qǐng)人:群嘉精密股份有限公司