專利名稱：三維建?？ǔ叩闹谱鞣椒?br> 技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種建模卡尺，尤其涉及一種三維建?？ǔ?。
背景技術(shù)：
目前使用的都是測量長度的工具，而沒有直接測量某點坐標(biāo)的工具。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型所要解決的技術(shù)問題在于提供一種能直接測量某點三維坐標(biāo)的建?？ǔ摺＝o實用新型結(jié)構(gòu)簡單，成本低，使用方便。為解決以上問題，本實用新型的技術(shù)方案如下:一種三維建?？ǔ撸ǔ手睏l狀的縱建?？ǔ吆统蔐狀的橫建?？ǔ摺Ｋ鰴M建?？ǔ叩乃讲糠稚峡逃袡M坐標(biāo)數(shù)字，所述縱坐標(biāo)上刻有縱坐標(biāo)數(shù)字。所述縱建?？ǔ叩南露颂籽b在所述橫建模卡尺的水平部分。所述縱建模卡尺與所述橫建?？ǔ叩乃讲糠窒嗷ゴ怪?，所述縱建模卡尺能相對所述橫建?？ǔ叩乃讲糠窒鄬瑒印１緦嵱眯滦褪褂脮r只需將三維建?？ǔ叩臋M建?？ǔ叩膬?nèi)部拐點對準(zhǔn)需要測量的三維原點，將橫建?？ǔ叩乃讲糠峙c測量的三維橫坐標(biāo)對準(zhǔn)然后移動縱建模卡尺使需要測量的點位于縱建?？ǔ呱希涂梢灾苯幼x出該點的相對三維坐標(biāo)。本實用新型的有益效果是能直接通過移動該三維建?？ǔ叩目v建?？ǔ呔湍苤苯訙y量并讀出該點的三維坐標(biāo)。

圖1為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖和實施例對本實用新型作進(jìn)一步說明:如圖1所示，本實用新型主要由呈直條狀的縱建模卡尺I和呈L狀的橫建?？ǔ?構(gòu)成。橫建?？ǔ?的水平部分上刻有橫坐標(biāo)數(shù)字，縱坐標(biāo)I上刻有縱坐標(biāo)數(shù)字?？v建模卡尺I的下端套裝在橫建?？ǔ?的水平部分?？v建?？ǔ逫與橫建?？ǔ?的水平部分相互垂直，縱建?？ǔ逫能相對橫建?？ǔ?的水平部分相對滑動。本實用新型是這樣使用的:使用時只需將三維建?？ǔ叩臋M建?？ǔ叩膬?nèi)部拐點對準(zhǔn)需要測量的三維原點，將橫建?？ǔ叩乃讲糠峙c測量的三維橫坐標(biāo)對準(zhǔn)然后移動縱建?？ǔ呤剐枰獪y量的點位于縱建?？ǔ呱?，就可以直接讀出該點的相對三維坐標(biāo)。
權(quán)利要求1.一種三維建?？ǔ?，包括縱標(biāo)尺(I)和橫標(biāo)尺(2)，其特征在于:所述橫標(biāo)尺(2)上刻有橫坐標(biāo)數(shù)字，所述縱標(biāo)尺(I)上刻有縱坐標(biāo)數(shù)字。
專利摘要一種三維建模卡尺，包括縱標(biāo)尺(1)和橫標(biāo)尺(2)，其特征在于所述橫標(biāo)尺(2)上刻有橫坐標(biāo)數(shù)字，所述縱標(biāo)尺(1)上刻有縱坐標(biāo)數(shù)字。本實用新型使用時只需將三維建?？ǔ叩臋M建?？ǔ叩膬?nèi)部拐點對準(zhǔn)需要測量的三維原點，將橫建?？ǔ叩乃讲糠峙c測量的三維橫坐標(biāo)對準(zhǔn)然后移動縱建?？ǔ呤剐枰獪y量的點位于縱建?？ǔ呱希涂梢灾苯幼x出該點的相對三維坐標(biāo)。
文檔編號G01B5/004GK202994037SQ20122071459
公開日2013年6月12日 申請日期2012年12月22日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月22日
發(fā)明者龍穎 申請人:龍穎