專利名稱:一種電極的機床外設定裝置的制作方法
技術領域:
一種電極的機床外設定裝置技術領域[0001]本實用新型屬于模具加工領域,尤其是涉及一種電極的機床外設定裝置。
背景技術:
[0002]在模具的加工中需要使用電極放電產生高溫高壓腐蝕模具表面從而得到所需模具的形狀。在現(xiàn)有的技術中,在加工電極時需要先測量電極的偏差值再去加工電極,電極的偏差一般是在機床上測量,存在浪費機床時間的技術問題。發(fā)明內容[0003]本實用新型要解決的問題是提供一種電極的機床外設定裝置,尤其適合在測量電極的偏差中使用。[0004]為解決上述技術問題,本實用新型采用的技術方案是一種電極的機床外設定裝置,包括深度測量裝置、平面測量裝置和一次元測量儀,所述深度測量裝置包括底座,所述底座上設有校驗臺,所述校驗臺上設有支撐柱,所述支撐柱關于校驗臺的中心對稱,所述平面測量裝置包括支座,所述支座前端設有測量臺,所述測量臺上設有支撐柱,所述支撐柱關于測量臺的中心對稱。[0005]進一步的,所述校驗臺為圓柱形。[0006]進一步的,所述測量臺為圓柱形。[0007]進一步的,所述支撐柱為四個。[0008]本實用新型具有的優(yōu)點和積極效果是由于采用上述技術方案,通過一次元測量儀分別測量電極在深度測量裝置和平面測量裝置上的深度數(shù)值和電極在X、Y平面上的數(shù)值,在機床外測量電極的偏差,減少機床占用時間;具有結構簡單,使用方便,提高機床利用率等優(yōu)點。
[0009]圖I是本實用新型一種電極的機床外設定裝置的結構示意圖。[0010]圖中[0011]I、一次元測量儀 2、測量臺 3、支座[0012]4、底座5、校驗臺 6、支撐柱具體實施方式
[0013]如圖I所示,本實用新型一種電極的機床外設定裝置,包括深度測量裝置、平面測量裝置和一次元測量儀I,所述深度測量裝置包括底座4,所述底座4上設有校驗臺5,所述校驗臺5上設有支撐柱6,所述支撐柱6關于校驗臺5的中心對稱,所述平面測量裝置包括支座3,所述支座3前端設有測量臺2,所述測量臺2上設有支撐柱6,所述支撐柱6關于測量臺2的中心對稱,所述校驗臺5和測量臺2為圓柱形,所述支撐柱6為四個。[0014]本實例的工作過程使用時,將電極分別放在深度測量裝置和平面測量裝置的支撐柱6上,用一次元測量儀I分別測量電極在深度測量裝置和平面測量裝置上的深度數(shù)值和電極在X、Y平面上的數(shù)值,在機床外測量電極的偏差,減少機床占用時間。[0015]以上對本實用新型的一個實施例進行了詳細說明,但所述內容僅為本實用新型的較佳實施例,不能被認為用于限定本實用新型的實施范圍。凡依本實用新型申請范圍所作的均等變化與改進等,均應仍歸屬于本實用新型的專利涵蓋范圍之內。
權利要求1.一種電極的機床外設定裝置,其特征在于包括深度測量裝置、平面測量裝置和一次元測量儀,所述深度測量裝置包括底座,所述底座上設有校驗臺,所述校驗臺上設有支撐柱,所述支撐柱關于校驗臺的中心對稱,所述平面測量裝置包括支座,所述支座前端設有測量臺,所述測量臺上設有支撐柱,所述支撐柱關于測量臺的中心對稱。
2.根據權利要求I所述的一種電極的機床外設定裝置,其特征在于所述校驗臺為圓柱形。
3.根據權利要求I所述的一種電極的機床外設定裝置,其特征在于所述測量臺為圓柱形。
4.根據權利要求I所述的一種電極的機床外設定裝置,其特征在于所述支撐柱為四個。
專利摘要本實用新型提供一種電極的機床外設定裝置,包括深度測量裝置、平面測量裝置和一次元測量儀,所述深度測量裝置包括底座,所述底座上設有校驗臺,所述校驗臺上設有支撐柱,所述支撐柱關于校驗臺的中心對稱,所述平面測量裝置包括支座,所述支座前端設有測量臺,所述測量臺上設有支撐柱,所述支撐柱關于測量臺的中心對稱。本實用新型的有益效果是通過一次元測量儀分別測量電極在深度測量裝置和平面測量裝置上的深度數(shù)值和電極在X、Y平面上的數(shù)值,在機床外測量電極的偏差,減少機床占用時間;具有結構簡單,使用方便,提高機床利用率等優(yōu)點。
文檔編號G01B21/00GK202814367SQ20122046833
公開日2013年3月20日 申請日期2012年9月13日 優(yōu)先權日2012年9月13日
發(fā)明者王立征 申請人:天津市瑞??萍及l(fā)展有限公司