專利名稱：一種利用雙通道補償振蕩天平法氣溶膠測量誤差的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
一種利用雙通道補償振蕩天平法氣溶膠測量誤差的裝置技術(shù)領(lǐng)域[0001]本實用新型涉及一種氣溶膠測量誤差的裝置，尤其是涉及一種利用雙通道補償振蕩天平法氣溶膠測量誤差的裝置。
背景技術(shù)：
[0002]利用振蕩天平法測量大氣中氣溶膠的含量，是目前比較流行的一種測量方法，此方法準確性相對較高。當前市面上的測量儀器一般都是單一通道直接采氣進入分析測量， 由于儀器部件的精密性及其調(diào)整較為困難等原因，使測量精度不穩(wěn)定，準確度有待進一步提聞。實用新型內(nèi)容[0003]本實用新型主要是解決現(xiàn)有技術(shù)所存在的技術(shù)問題；提供了一種利用雙通道補償微量振蕩天平法氣溶膠測量誤差的方法，使原有的測量誤差得以補償，大大提高了測量的準確度的一種利用雙通道補償振蕩天平法氣溶膠測量誤差的裝置。[0004]本實用新型的上述技術(shù)問題主要是通過下述技術(shù)方案得以解決的一種利用雙通道補償振蕩天平法氣溶膠測量誤差的裝置，其特征在于，包括電動三通球閥、進氣口與電動三通球閥的第二通道連通的制冷緩沖室，所述制冷緩沖室出氣口通過過濾器與加熱腔的進氣口連通；所述加熱腔的出氣口與電動三通球閥的第一通道連通。[0006]在上述的一種利用雙通道補償振蕩天平法氣溶膠測量誤差的裝置，所述制冷緩沖室底部還設(shè)置有自動排水閥。[0007]在上述的一種利用雙通道補償振蕩天平法氣溶膠測量誤差的裝置，所述加熱腔外壁和制冷緩沖室外壁之間還固定有半導體制冷片。[0008]因此，本實用新型具有如下優(yōu)點利用雙通道補償微量振蕩天平法氣溶膠測量誤差的方法，使原有的測量誤差得以補償，大大提高了測量的準確度。


[0009]附圖I是本實用新型的一種結(jié)構(gòu)原理示意圖。
具體實施方式
[0010]下面通過實施例，并結(jié)合附圖，對本實用新型的技術(shù)方案作進一步具體的說明。圖中，電動三通球閥I、半導體制冷片2、過濾器4、加熱腔3、自動排水閥5、制冷緩沖室6、第一通道7、第二通道8、第三通道9.[0011]實施例[0012]如圖I所示[0013]本實用新型的裝置包括電動三通球閥I、進氣口與電動三通球閥I的第二通道8連通的制冷緩沖室6，制冷緩沖室6出氣口通過過濾器4與加熱腔3的進氣口連通；加熱腔3 的出氣口與電動三通球閥I的第一通道7連通。[0014]制冷緩沖室6底部還設(shè)置有自動排水閥5，加熱腔3外壁和制冷緩沖室6外壁之間還固定有半導體制冷片2。[0015]工作時，、[0016]步驟I、利用電動三通球閥的第一通道7采集樣氣進入與電動三通球閥I的第三通道9連接的微量振蕩天平法測量儀對氣溶膠各組份進行測量；[0017]步驟2、關(guān)閉電動三通球閥的第一通道7，打開電動三通球閥的第二通道8采集樣氣進入制冷緩沖室6，通過制冷緩沖室6冷卻以及過濾器4過濾，然后通過加熱腔3，再進入與電動三通球閥I的第三通道9連接的微量振蕩天平法測量儀對氣溶膠各組份進行測量；[0018]步驟3、對步驟I和步驟2得到的兩次測量數(shù)據(jù)進行比對和計算；[0019]步驟4、補償測量誤差，得出實際數(shù)據(jù)。[0020]本文中所描述的具體實施例僅僅是對本實用新型精神作舉例說明。本實用新型所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對所描述的具體實施例做各種各樣的修改或補充或采用類似的方式替代，但并不會偏離本實用新型的精神或者超越所附權(quán)利要求書所定義的范圍。
權(quán)利要求1.一種利用雙通道補償振蕩天平法氣溶膠測量誤差的裝置，其特征在于，包括電動三通球閥(I)、進氣口、與電動三通球閥(I)的第二通道(8 )連通的制冷緩沖室(6 )，所述制冷緩沖室(6 )出氣口通過過濾器(4)與加熱腔(3 )的進氣口連通；所述加熱腔(3 )的出氣口與電動三通球閥(I)的第一通道(7)連通。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種利用雙通道補償振蕩天平法氣溶膠測量誤差的裝置，其特征在于，所述制冷緩沖室(6)底部還設(shè)置有自動排水閥(5)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種利用雙通道補償振蕩天平法氣溶膠測量誤差的裝置，其特征在于，所述加熱腔(3)外壁和制冷緩沖室(6)外壁之間還固定有半導體制冷片(2)。
專利摘要本實用新型涉及一種利用雙通道補償振蕩天平法氣溶膠測量誤差的裝置。該方法包括下列步驟步驟1、利用第一通道采集樣氣進入與電動三通球閥的第三通道連接的微量振蕩天平法測量儀對氣溶膠各組份進行測量；步驟2、關(guān)閉第一通道，打開第二通道采集樣氣進入制冷緩沖室，通過制冷緩沖室冷卻以及過濾器過濾，然后通過加熱腔，再進入與第三通道連接的微量振蕩天平法測量儀對氣溶膠各組份進行測量；步驟3、對步驟1和步驟2得到的兩次測量數(shù)據(jù)進行比對和計算；步驟4、補償測量誤差，得出實際數(shù)據(jù)。因此，本實用新型具有如下優(yōu)點利用雙通道補償微量振蕩天平法氣溶膠測量誤差的方法，使原有的測量誤差得以補償，大大提高了測量的準確度。
文檔編號G01N5/00GK202793957SQ20122042010
公開日2013年3月13日 申請日期2012年8月23日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月23日
發(fā)明者李虹杰, 李金平, 李愷驊 申請人:武漢市天虹儀表有限責任公司