專利名稱：一種pcb板測試設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及PCB板測試領(lǐng)域，具體涉及一種PCB板測試設(shè)備。
背景技術(shù)：
目前PCB板制造的工藝水平發(fā)展很快，電路板的復(fù)雜性不斷提高，而PCB板的生產(chǎn)過程中，經(jīng)常需要進(jìn)行PCB板微短路的測試，以驗(yàn)證PCB板的穩(wěn)定性，如何在PCB板制造工藝日趨復(fù)雜性的情況下測試判斷PCB板是否存在微短路，是整個(gè)測試過程的關(guān)鍵?，F(xiàn)有技術(shù)測試PCB板微短路的方法是通過采用紅外成像顯微鏡，將PCB板影像放 大查找,但這種測試PCB板微短路的方法所需要的測試設(shè)備成本高，而且維護(hù)成本高,對測試人員素質(zhì)要求高，還不能實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測試。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型提供一種PCB板測試設(shè)備，可自動(dòng)掃描測試多路被測PCB板，判斷待測PCB板是否微短路。為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種PCB板測試設(shè)備，包括用于根據(jù)輸入的測試控制信號生成控制電壓切換信號的控制器；與所述控制器相連的，用于根據(jù)所述控制器生成的控制電壓切換信號進(jìn)行電壓切換以向待測PCB板輸出電壓的電壓切換模塊；以及與所述控制器相連的，用于采集所述待測PCB板上的電壓并輸出給所述控制器的電壓采集模塊。具體地，所述電壓采集模塊包括用于采集待測PCB板上的電壓的采集單元；與所述采集單元相連接的，用于將采集單元采集到的電壓進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，得到電壓數(shù)字信號的模數(shù)轉(zhuǎn)換單元；其中，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元包括高精度A/D轉(zhuǎn)換芯片。具體地,還包括與所述控制器相連接的，用于獲取機(jī)械按鍵或者無線通訊按鍵發(fā)出的測試控制信號的按鍵采集模塊。具體地，還包括與所述控制器相連的，用于顯示所述控制器根據(jù)所述電壓數(shù)字信號輸出的測試信號的顯不器。具體地，還包括與所述控制器相連的，用于根據(jù)所述控制器輸出的測試信號，進(jìn)行提示與報(bào)警的報(bào)警模塊。具體地,還包括與所述控制器相連的，用于與外部的上位控制機(jī)相連接的串口模塊；[0021]其中，所述上位控制機(jī)用于通過所述串口 UART向所述控制器發(fā)送工作模式的設(shè)置指令，或者通過所述串口 UART接收所述控制器發(fā)出的所述測試信號。具體地,還包括與所述電壓切換模塊相連的，用于產(chǎn)生不同的輸出電壓提供給所述電壓切換模塊的DC-DC模塊。具體地,還包括與所述控制器相連的，用于存儲(chǔ)所述測試按鍵信號和所述控制器的測試結(jié)果的存儲(chǔ)模塊。
具體地，所述控制器還包括各類單片機(jī)中的任一種、或微控DSP、或微控ARM、或微控PLL。具體地,所述顯示模塊包括IXD屏、數(shù)碼管、LED屏中的任一種。本實(shí)用新型實(shí)施例中，控制模塊根據(jù)輸入的測試控制信號生成控制電壓切換信號，并向電壓切換模塊發(fā)送控制信號，以便所述電壓切換模塊將DC-DC模塊的不同的輸出電壓切換到對應(yīng)的被測PCB板，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測試多路被測的PCB板，所述電壓采集模塊采集待測PCB板待測端的輸出電壓值并通過A/D轉(zhuǎn)換發(fā)給控制模塊，所述控制模塊根據(jù)所述電壓采集模塊發(fā)送的采集結(jié)果，判斷所述待測PCB板是否存在微電流，從而判斷待測PCB板是否存在微短路。

為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖I是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種PCB板測試設(shè)備的第一例結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種PCB板測試設(shè)備的第二例結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本實(shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。圖I是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種PCB板測試設(shè)備的第一例結(jié)構(gòu)示意圖，如圖I所示，包括電壓切換模塊10，控制器20和電壓采集模塊30，其中所述控制器20用于根據(jù)輸入的測試控制信號生成控制電壓切換信號；所述電壓切換模塊10與所述控制器20相連的，用于根據(jù)所述控制器20生成的控制電壓切換信號進(jìn)行電壓切換以向待測PCB板輸出電壓；所述電壓采集模塊30與所述控制器20相連的，用于采集所述待測PCB板上的電壓并輸出給所述控制器20。[0039]需要說明的是，所述電壓采集模塊30包括用于采集所述待測PCB板上的電壓的采集單元；與所述采集單元相連接的，用于將采集單元采集到的電壓進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，得到電壓數(shù)字信號的模轉(zhuǎn)換單元；其中，所述模擬轉(zhuǎn)換單元包括高精度A/D轉(zhuǎn)換芯片。所述控制器還包括各類單片機(jī)中的任一種、或微控DSP、或微控ARM、或微控PLL。本實(shí)施例中，等待測試的PCB板包括多塊，電壓切換模塊10根據(jù)所述控制器20生成的控制電壓切換信號進(jìn)行電壓切換以便向其中的某一塊待測PCB板輸出測試電壓，即所述電壓切換模10將輸入的電壓切換成不同的輸出電壓接續(xù)至對應(yīng)的待測PCB板上。所述電壓采集模塊30與所述控制器20相連的，用于采集所述待測PCB板上的電壓并經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換后輸出給所述控制模塊20，所述控制器20根據(jù)所接收到的所述電壓采集模塊30輸出的電壓數(shù)字信號，判斷待測PCB板是否存在微電流，從而判斷待測PCB板是否存在微短路，并將是否存在微短路的測試結(jié)果存儲(chǔ)，或通過串口發(fā)送至外接的上位控制機(jī)，或直接發(fā)送給顯示器顯示該測試結(jié)果。 本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種PCB板測試設(shè)備，采用A/D采集的方法測試判斷待測PCB板是否存在微電流，從而判斷待測PCB板是否微短路，且測試電壓值可通過DC-DC模塊在輸出電壓范圍可以手動(dòng)連續(xù)調(diào)整，實(shí)現(xiàn)測試電壓可預(yù)先設(shè)置，并能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)掃描測試多路被測的PCB板。圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的一種PCB板測試設(shè)備的第二結(jié)構(gòu)示意圖，如圖2所示，所述PCB板測試設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖除包括上述第一實(shí)施例中PCB板測試設(shè)備中的電壓切換模塊10，控制器20和電壓采集模塊30外，還包括DC-DC模塊40、顯示器50、報(bào)警模塊60、串口模塊70、存儲(chǔ)模塊80和按鍵采集模塊90，其中所述按鍵采集模塊90與所述控制器20相連的，用于獲取機(jī)械按鍵或者無線通訊按鍵發(fā)出的測試控制信號；所述顯示器50與所述控制器20相連的，用于顯示所述控制器20根據(jù)所述電壓數(shù)字信號輸出的測試結(jié)果；所述報(bào)警模塊60與所述控制器20相連的，用于根據(jù)所述控制器20輸出的測試信號進(jìn)行提示與報(bào)警；所述串口模塊70與所述控制器20相連的，用于與外部的上位控制機(jī)相連接的。其中，所述上位控制機(jī)用于通過所述串口 UART向所述控制器20發(fā)送工作模式的設(shè)置指令，或者通過所述串口 UART接收所述控制器20發(fā)出的所述測試信號；所述DC-DC模塊40與所述電壓切換模塊10相連的，用于產(chǎn)生不同的輸出電壓提供給所述電壓切換模塊10 ；所述存儲(chǔ)模塊80與所述控制器20相連的，用于存儲(chǔ)所述按鍵采集模塊90采集到的測試控制信號和所述控制器20的測試結(jié)果的；需要說明的是，按鍵采集模塊90與機(jī)械按鍵相連接，或者包括一無線接收器與無線遙控器相連接，所述按鍵采集模塊90可以根據(jù)機(jī)械按鍵或者無線遙控器的按鍵信息，設(shè)定PCB板測試設(shè)備的工作模式、PCB板間加載電壓、測量記錄查詢等。所述PCB板測試設(shè)備的工作模式包括電壓設(shè)定模式和測試模式，在電壓設(shè)定模式時(shí)，按鍵采集模塊90則根據(jù)機(jī)械按鍵或者無線遙控器的按鍵信息向控制器20預(yù)置測試信息，所述測試信息包括待測PCB板的“型號代碼”、板間加載電壓、同時(shí)測試數(shù)量。控制器20將所述測試信息寫入存儲(chǔ)模塊80 ;在測試模式時(shí)，則電壓采集模塊30循環(huán)采集換每一路的待測PCB板的電壓并發(fā)送給控制器20，所述控制器20根據(jù)所述接收到的所述電壓采集模塊30輸出的電壓數(shù)字信號，判斷各待測PCB板是否存在微電流，從而判斷各待測PCB板是否存在微短路，并將是否存在微短路的測試結(jié)果存儲(chǔ)，或通過串口發(fā)送至外接的上位控制機(jī)，或直接發(fā)送給顯示器顯示該測試結(jié)果。所述顯示器50包括IXD屏、數(shù)碼管、LED屏中任一種，所述顯示器50用于顯示待測PCB板微短路的當(dāng)前狀態(tài)信息。所述上位控制機(jī)除了通過所述串口 UART向所述控制器20發(fā)送工作模式的設(shè)置指令外，還能夠和所述測試設(shè)備進(jìn)行通信如通過所述串口 UART接收所述控制器20發(fā)出的所述測試信號，通過指令控制整個(gè)測試設(shè)備的工作情況。DC-DC模塊40用來產(chǎn)生不同的輸出電壓如0UT1，0UT2, 0UT3等，以便所述電壓切換模塊10將不同的輸出電壓切換到對應(yīng)的待測PCB板，實(shí)現(xiàn)同時(shí)測試多路被測的PCB板。 在本實(shí)用新型實(shí)施例中，電壓切換模塊10可同時(shí)對八組被測PCB板進(jìn)行切換且相互獨(dú)立。所述存儲(chǔ)模塊80包括采用IIC總線通訊的EEPROM或者其他通訊方式的FLASH。本實(shí)施例中，上位控制機(jī)通過串口模塊70向所述控制器20發(fā)送工作模式的設(shè)置指令外，還能夠和所述測試設(shè)備進(jìn)行通信如通過所述串口 UART接收所述控制器20發(fā)出的所述測試信號，通過指令控制整個(gè)測試設(shè)備的工作情況，存儲(chǔ)模塊80與所述控制器20相連的，用于存儲(chǔ)所述按鍵采集模塊90采集到的測試控制信號和所述控制器20的測試結(jié)果，DC-DC模塊40用來產(chǎn)生不同的輸出電壓如0UT1，0UT2, 0UT3等，以便所述電壓切換模塊10 將不同的輸出電壓切換到對應(yīng)的待測PCB板，實(shí)現(xiàn)同時(shí)測試多路被測的PCB板上，顯示器50用于顯示待測PCB板微短路的當(dāng)前狀態(tài)信息，按鍵采集模塊90用于設(shè)定待測PCB板微短路測試工裝的工作模式、PCB板間加載電壓、測量記錄查詢等，報(bào)警模塊60用于根據(jù)所述控制器20輸出的測試信號，進(jìn)行提示與報(bào)警，按鍵采集模塊90所設(shè)定的工作模式包括電壓設(shè)定模式和測試模式，若為電壓模式，按鍵采集模塊90則向控制器20預(yù)置測試信息，并將所述測試信息寫入存儲(chǔ)模塊80，若為測試模式，則電壓采集模塊30循環(huán)轉(zhuǎn)換每一路的PCB板被測端電壓并發(fā)送控制器20，所述控制器20根據(jù)所述被測端電壓判斷是待測PCB板是否存在微短路。本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種PCB板測試設(shè)備，采用A/D采集的方法測試判斷PCB板是否微短路且測試電壓可預(yù)設(shè)，并能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)掃描測試多路被測的PCB板。以上所揭露的僅為本實(shí)用新型較佳實(shí)施例而已，當(dāng)然不能以此來限定本實(shí)用新型之權(quán)利范圍，因此依本實(shí)用新型權(quán)利要求所作的等同變化，仍屬本實(shí)用新型所涵蓋的范圍。
權(quán)利要求1.一種PCB板測試設(shè)備,其特征在于,包括 用于根據(jù)輸入的測試控制信號生成控制電壓切換信號的控制器； 與所述控制器相連的，用于根據(jù)所述控制器生成的控制電壓切換信號進(jìn)行電壓切換以向待測PCB板輸出電壓的電壓切換模塊； 以及與所述控制器相連的，用于采集所述待測PCB板上的電壓并輸出給所述控制器的電壓采集模塊。
2.如權(quán)利要求I所述的PCB板測試設(shè)備，其特征在于，所述電壓采集模塊包括 用于采集所述待測PCB板上的電壓的采集單元； 與所述采集單元相連接的，用于將采集單元采集到的電壓進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，得到電壓數(shù)字信號的模數(shù)轉(zhuǎn)換單元； 其中，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換單元包括高精度A/D轉(zhuǎn)換芯片。
3.如權(quán)利要求2所述的PCB板測試設(shè)備，其特征在于，還包括 與所述控制器相連接的，用于獲取機(jī)械按鍵或者無線通訊按鍵發(fā)出的測試控制信號的按鍵采集模塊。
4.如權(quán)利要求3所述的PCB板測試設(shè)備，其特征在于，還包括 與所述控制器相連的，用于顯示所述控制器根據(jù)所述電壓數(shù)字信號輸出的測試信號的顯示器。
5.如權(quán)利要求4所述的PCB板測試設(shè)備，其特征在于，還包括 與所述控制器相連的，用于根據(jù)所述控制器輸出的測試信號，進(jìn)行提示與報(bào)警的報(bào)警模塊。
6.如權(quán)利要求5所述的PCB板測試設(shè)備，其特征在于，還包括 與所述控制器相連的，用于與外部的上位控制機(jī)相連接的串口模塊； 其中，所述上位控制機(jī)通過所述串口 UART向所述控制器發(fā)送工作模式的設(shè)置指令，或者通過所述串口 UART接收所述控制器發(fā)出的所述測試信號。
7.如權(quán)利要求6所述的PCB板測試設(shè)備，其特征在于，還包括 與所述電壓切換模塊相連的，用于產(chǎn)生不同的輸出電壓提供給所述電壓切換模塊的DC-DC模塊。
8.如權(quán)利要求7所述的PCB板測試設(shè)備，其特征在于，還包括 與所述控制器相連的，用于存儲(chǔ)所述測試按鍵信號和所述控制器的測試結(jié)果的存儲(chǔ)模塊。
9.如權(quán)利要求I至8任一項(xiàng)所述的PCB板測試設(shè)備，其特征在于，所述控制器還包括各類單片機(jī)中的任一種、或微控DSP、或微控ARM、或微控PLL。
10.如權(quán)利要求I至8任一項(xiàng)所述的PCB板測試設(shè)備，其特征在于，所述顯示模塊包括IXD屏、數(shù)碼管、LED屏中的任一種。
專利摘要本實(shí)用新型實(shí)施例公開了一種PCB板測試設(shè)備，包括用于根據(jù)輸入的測試控制信號生成控制電壓切換信號的控制器；與所述控制器相連的，用于根據(jù)所述控制器生成的控制電壓切換信號進(jìn)行電壓切換以向待測PCB板輸出電壓的電壓切換模塊；以及與所述控制器相連的，用于采集所述待測PCB板上的電壓并輸出給所述控制器的電壓采集模塊。本實(shí)用新型提供一種PCB板測試設(shè)備，通過采用A/D采集的方法測試判斷PCB板是否微短路，能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)掃描測試多路被測PCB板。
文檔編號G01R31/02GK202631671SQ20122000217
公開日2012年12月26日 申請日期2012年1月5日 優(yōu)先權(quán)日2012年1月5日
發(fā)明者李小明 申請人:深圳創(chuàng)維數(shù)字技術(shù)股份有限公司