測試電路中的多個模塊的測試方法和測試設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電路(例如芯片)的可測試性設(shè)計的領(lǐng)域，更具體地，涉及一種測試電路中的多個模塊的測試方法和測試設(shè)備，所述多個模塊具有相同的結(jié)構(gòu)。
【背景技術(shù)】
[0002]為了提高電路測試的效率，在電路設(shè)計階段，在電路中增加可用于測試該電路的硬件邏輯，這被稱為電路的可測性設(shè)計(DFT,Design for testability)。目前,主流的DFT方法是掃描測試法，其目的在于找出電路的制造缺陷(例如不期望的短路、斷路等)，而非驗證電路的功能。在這種方法中，在設(shè)計電路時，將電路中的寄存器替換為具有掃描輸入端口和掃描輸出端口的掃描寄存器。在測試電路時，可以將電路中的所有掃描寄存器連接為掃描鏈。然后，可以將通過自動掃描模式生成(ATPG)工具生成的一個或多個測試模式(test pattern)對應(yīng)的激勵信號分別輸入到掃描鏈中。如本領(lǐng)域公知的，每個測試模式可用于測試?yán)缫环N電路缺陷，并且包括要施加到電路的激勵信號和電路響應(yīng)于該激勵信號的施加而應(yīng)當(dāng)產(chǎn)生的預(yù)期輸出響應(yīng)。這樣，通過確定掃描鏈的輸出響應(yīng)是否與各個測試模式對應(yīng)的預(yù)期輸出響應(yīng)一致，可以確定所述電路是否具有對應(yīng)的缺陷。
[0003]在所設(shè)計的電路中，常常會使用多個具有相同結(jié)構(gòu)的模塊(或稱為重復(fù)使用的模塊)，例如知識產(chǎn)權(quán)核(IP core)、認(rèn)知計算電路中的神經(jīng)元模塊等。隨著電路規(guī)模的增大，在電路中使用的具有相同結(jié)構(gòu)的模塊的數(shù)量也越來越多。在現(xiàn)有的DFT方法中，將這些模塊與其他模塊無區(qū)別地對待，而沒有根據(jù)這些模塊的特點(即，“相同”)來調(diào)整該電路的測試方法，因而測試效率不高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的實施例提出了測試電路中的多個具有相同結(jié)構(gòu)的模塊的測試設(shè)備和測試方法，其能夠簡化對于所述多個具有相同結(jié)構(gòu)的模塊的測試過程，提高測試效率。
[0005]根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種用于測試電路中的多個模塊的測試設(shè)備，所述多個模塊具有相同的結(jié)構(gòu)，所述測試設(shè)備包括:比較裝置，被配置為收集通過將激勵信號并行施加于所述多個模塊而由所述多個模塊產(chǎn)生的輸出響應(yīng)，比較所述多個模塊的輸出響應(yīng)以確定所述多個模塊的輸出響應(yīng)是否相同，并且輸出該比較裝置的比較結(jié)果；以及確定裝置，被配置為接收所述比較結(jié)果，并且根據(jù)該比較裝置的比較結(jié)果來確定所述多個模塊是否具有缺陷。
[0006]根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供了一種用于測試電路中的多個模塊的測試方法，所述多個模塊具有相同的結(jié)構(gòu)，所述測試方法包括:收集通過將激勵信號并行施加于所述多個模塊而由所述多個模塊產(chǎn)生的輸出響應(yīng)；比較所述多個模塊的輸出響應(yīng)以確定所述多個模塊的輸出響應(yīng)是否相同；以及根據(jù)所述比較的結(jié)果來確定所述多個模塊是否具有缺陷。
[0007]根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供了一種用于測試電路中的多個模塊的測試設(shè)備，所述多個模塊具有相同的結(jié)構(gòu)，所述測試設(shè)備可以執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明上述方面的測試方法。
[0008]利用根據(jù)本發(fā)明上述方面的測試設(shè)備和測試方法，當(dāng)電路包括多個具有相同結(jié)構(gòu)的模塊時，可以將激勵信號并行地施加到各個模塊上，并且根據(jù)各個模塊的輸出響應(yīng)是否相同來確定這些模塊是否具有缺陷。這樣，可以并行地測試所述多個模塊，從而可以提高測試效率。此外，由于所述多個模塊可以共用一個或多個測試模式，因此上述測試設(shè)備和測試方法可以簡化所述模塊的測試過程。
【附圖說明】
[0009]通過結(jié)合附圖對本公開示例性實施方式進行更詳細(xì)的描述，本公開的上述以及其它目的、特征和優(yōu)勢將變得更加明顯，其中，在本公開示例性實施方式中，相同的參考標(biāo)號通常代表相同部件。
[0010]圖1示出了適于用來實現(xiàn)本發(fā)明實施方式的示例性計算機系統(tǒng)/服務(wù)器12的框圖。
[0011]圖2 TJK出了將6個具有相同結(jié)構(gòu)的模塊中的每個模塊的掃描寄存器連接為一條掃描鏈的示意圖。
[0012]圖3示出了根據(jù)本發(fā)明實施例的測試電路中的多個具有相同結(jié)構(gòu)的模塊的測試設(shè)備的框圖。
[0013]圖4示出了根據(jù)本發(fā)明實施例的測試電路中的多個具有相同結(jié)構(gòu)的模塊的測試設(shè)備的一種示例實現(xiàn)方式。
[0014]圖5示出了圖3所示的確定裝置確定具有缺陷的模塊的方法的示例。
[0015]圖6示出了本發(fā)明實施例的測試電路中的多個具有相同結(jié)構(gòu)的模塊的測試方法的流程圖。
[0016]圖7示出了根據(jù)本發(fā)明另一實施例的測試電路中的多個具有相同結(jié)構(gòu)的模塊的測試設(shè)備的框圖。
【具體實施方式】
[0017]下面將參照附圖更詳細(xì)地描述本公開的優(yōu)選實施方式。雖然附圖中顯示了本公開的優(yōu)選實施方式，然而應(yīng)該理解，可以以各種形式實現(xiàn)本公開而不應(yīng)被這里闡述的實施方式所限制。相反，提供這些實施方式是為了使本公開更加透徹和完整，并且能夠?qū)⒈竟_的范圍完整地傳達(dá)給本領(lǐng)域的技術(shù)人員。
[0018]圖1示出了適于用來實現(xiàn)本發(fā)明實施方式的示例性計算機系統(tǒng)/服務(wù)器12的框圖。圖1顯示的計算機系統(tǒng)/服務(wù)器12僅僅是一個示例，不應(yīng)對本發(fā)明實施例的功能和使用范圍帶來任何限制。
[0019]如圖1所示，計算機系統(tǒng)/服務(wù)器12以通用計算設(shè)備的形式表現(xiàn)。計算機系統(tǒng)/服務(wù)器12的組件可以包括但不限于:一個或者多個處理器或者處理單元16，系統(tǒng)存儲器28，連接不同系統(tǒng)組件(包括系統(tǒng)存儲器28和處理單元16)的總線18。
[0020]總線18表示幾類總線結(jié)構(gòu)中的一種或多種，包括存儲器總線或者存儲器控制器，外圍總線，圖形加速端口，處理器或者使用多種總線結(jié)構(gòu)中的任意總線結(jié)構(gòu)的局域總線。舉例來說，這些體系結(jié)構(gòu)包括但不限于工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)體系結(jié)構(gòu)(ISA)總線，微通道體系結(jié)構(gòu)(MAC)總線，增強型ISA總線、視頻電子標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(VESA)局域總線以及外圍組件互連(PCI)總線。
[0021]計算機系統(tǒng)/服務(wù)器12典型地包括多種計算機系統(tǒng)可讀介質(zhì)。這些介質(zhì)可以是任何能夠被計算機系統(tǒng)/服務(wù)器12訪問的可用介質(zhì)，包括易失性和非易失性介質(zhì)，可移動的和不可移動的介質(zhì)。
[0022]系統(tǒng)存儲器28可以包括易失性存儲器形式的計算機系統(tǒng)可讀介質(zhì)，例如隨機存取存儲器(RAM) 30和/或高速緩存存儲器32。計算機系統(tǒng)/服務(wù)器12可以進一步包括其它可移動/不可移動的、易失性/非易失性計算機系統(tǒng)存儲介質(zhì)。僅作為舉例，存儲系統(tǒng)34可以用于讀寫不可移動的、非易失性磁介質(zhì)(圖1未顯示，通常稱為“硬盤驅(qū)動器”)。盡管圖1中未示出，可以提供用于對可移動非易失性磁盤(例如“軟盤”)讀寫的磁盤驅(qū)動器，以及對可移動非易失性光盤(例如⑶-ROM，DVD-ROM或者其它光介質(zhì))讀寫的光盤驅(qū)動器。在這些情況下，每個驅(qū)動器可以通過一個或者多個數(shù)據(jù)介質(zhì)接口與總線18相連。存儲器28可以包括至少一個程序產(chǎn)品，該程序產(chǎn)品具有一組(例如至少一個)程序模塊，這些程序模塊被配置以執(zhí)行本發(fā)明各實施例的功能。
[0023]具有一組(至少一個)程序模塊42的程序/實用工具40，可以存儲在例如存儲器28中，這樣的程序模塊42包括——但不限于——操作系統(tǒng)、一個或者多個應(yīng)用程序、其它程序模塊以及程序數(shù)據(jù)，這些示例中的每一個或某種組合中可能包括網(wǎng)絡(luò)環(huán)境的實現(xiàn)。程序模塊42通常執(zhí)行本發(fā)明所描述的實施例中的功能和/或方法。
[0024]計算機系統(tǒng)/服務(wù)器12也可以與一個或多個外部設(shè)備14 (例如鍵盤、指向設(shè)備、顯示器24等)通信，還可與一個或者多個使得用戶能與該計算機系統(tǒng)/服務(wù)器12交互的設(shè)備通信，和/或與使得該計算機系統(tǒng)/服務(wù)器12能與一個或多個其它計算設(shè)備進行通信的任何設(shè)備(例如網(wǎng)卡，調(diào)制解調(diào)器等等)通信。這種通信可以通過輸入/輸出(I/O)接口 22進行。并且，計算機系統(tǒng)/服務(wù)器12還可以通過網(wǎng)絡(luò)適配器20與一個或者多個網(wǎng)絡(luò)(例如局域網(wǎng)(LAN)，廣域網(wǎng)(WAN)和/或公共網(wǎng)絡(luò)，例如因特網(wǎng))通信。如圖所示，網(wǎng)絡(luò)適配器20通過總線18與計算機系統(tǒng)/服務(wù)器12的其它模塊通信。應(yīng)當(dāng)明白，盡管圖中未示出，可以結(jié)合計算機系統(tǒng)/服務(wù)器12使用其它硬件和/或軟件模塊，包括但不限于:微代碼、設(shè)備驅(qū)動器、冗余處理單元、外部磁盤驅(qū)動陣列、RAID系統(tǒng)、磁帶驅(qū)動器以及數(shù)據(jù)備份存儲系統(tǒng)等。
[0025]下面，將參照附圖來詳細(xì)描述根據(jù)本發(fā)明實施例的測試電路中的多個具有相同結(jié)構(gòu)的模塊的測試設(shè)備和測試方法。這里所述的電路可以是任何形式的電路，例如集成電路(或芯片)或非集成的電路(或分立元件電路)。在