一種液晶模塊的測試方法及測試裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種液晶模塊的測試方法及測試裝置。
【背景技術】
[0002]在液晶顯示屏生產中，通常需要對液晶模塊進行各種測試，例如最為常見的老化測試(英文=Stress Test)等。在測試中通過測試信號模擬液晶模塊在正常顯示時的各種工作狀態(tài)，并進一步得到液晶模塊內部結構單元的各種特性參數，從而對液晶模塊的可靠性、有效工作壽命等進彳T評估。
[0003]為了進行測試，液晶模塊上通常設有測試電路單元。現有技術中通常采用信號發(fā)生器提供測試信號，以完成測試。
[0004]當被測液晶模塊未與外部的信號發(fā)生器連接時，測試電路單元的驅動信號端懸空。在通過信號發(fā)生器加載測試信號時，測試結果往往因為實際加載的測試信號不同而不同。為得到可靠的測試結果，需要測試信號盡可能地模擬液晶模塊在實際工作狀態(tài)下各種結構單元所接收到的信號。然而，信號發(fā)生器可能并不能很好地模擬實際工作狀態(tài)下的各種信號，尤其對于高頻信號，信號發(fā)生器可能并不能夠輸出滿足測試要求的信號，再者，信號發(fā)生器輸出的測試信號容易受實際測試環(huán)境中各種干擾的影響，使得測試結果缺乏準確性，進而影響對產品可靠性的評估。

【發(fā)明內容】

[0005]本發(fā)明的實施例提供一種液晶模塊的測試方法及測試裝置，能夠提高對液晶模塊測試的準確性。
[0006]為達到上述目的，本發(fā)明的實施例采用如下技術方案:
[0007]一方面，一種液晶模塊的測試方法，包括:
[0008]加載待測的液晶模塊，所述液晶模塊包括測試電路單元，所述測試電路單元的驅動信號端與所述液晶模塊內的驅動信號線連接；
[0009]驅動所述液晶模塊工作，在工作時間達到預設時長后，切斷所述測試電路單元的驅動信號端與所述液晶模塊內的驅動信號線之間的連接；
[0010]向所述液晶模塊輸入激勵信號，所述激勵信號用于測試所述測試電路單元的特性參數；
[0011]從所述液晶模塊接收反饋信號，所述反饋信號為所述測試電路單元對所述激勵信號的響應信號。
[0012]可選的，所述切斷所述測試電路單元的驅動信號端與所述液晶模塊內的驅動信號線之間的連接，包括:
[0013]通過激光刻蝕切斷所述測試電路單元的驅動信號端與所述液晶模塊內的驅動信號線之間的連接。
[0014]可選的，所述測試電路單元包括GOA基本單元、多路復用MUX單元、像素單元或者靜電釋放ESD單元中的至少一種。
[0015]可選的，所述驅動信號線包括時鐘CLK信號線、高電平VGH信號線、低電平VGL信號線、多路復用MUX信號線、柵極Gate信號線或者源極Source信號線中的至少一種。
[0016]可選的，所述方法還包括:
[0017]根據所述激勵信號和反饋信號輸出所述測試電路單元的特性參數曲線。
[0018]一方面，一種液晶模塊的測試裝置，包括:
[0019]加載模塊，用于加載待測的液晶模塊，所述液晶模塊包括測試電路單元，所述測試電路單元的驅動信號端與所述液晶模塊內的驅動信號線連接；
[0020]所述加載模塊，還用于驅動所述液晶模塊工作；
[0021]分割模塊，用于在所述液晶模塊的工作時間達到預設時長后，切斷所述測試電路單元的驅動信號端與所述液晶模塊內的驅動信號線之間的連接；
[0022]特性參數測試模塊，用于向所述液晶模塊輸入激勵信號，并從所述液晶模塊接收反饋信號；所述激勵信號用于測試所述測試電路單元的特性參數，所述反饋信號為所述測試電路單元對所述激勵信號的響應信號。
[0023]可選的，所述分割模塊，具體用于在所述液晶模塊的工作時間達到預設時長后，通過激光刻蝕切斷所述測試電路單元的驅動信號端與所述液晶模塊內的驅動信號線之間的連接。
[0024]可選的，所述特性參數測試模塊，具體用于向GOA基本單元、多路復用MUX單元、像素單元或者靜電釋放ESD單元中的任一種測試電路單元，輸入所述激勵信號，并接收所述反饋信號。
[0025]可選的，所述測試裝置還包括輸出模塊，用于根據所述激勵信號和反饋信號輸出所述測試電路單元的特性參數曲線。
[0026]本發(fā)明的實施例提供的液晶模塊的測試方法，將液晶模塊內部的驅動信號作為測試信號，輸入測試電路單元的驅動信號端，驅動測試電路單元，因此無需外接信號發(fā)生器向測試電路單元輸入測試信號。由于測試信號完全是液晶模塊內部的真實信號，相比通過由信號發(fā)生器輸入模擬信號進行測試的方式，無需考慮模擬信號是否接近真實信號，也避免了測試環(huán)境對模擬信號所造成的各種干擾，因此提高了對液晶模塊測試的準確性。進一步地，根據測試結果對液晶模塊可靠性、有效工作壽命等的評估，也更接近真實情況。
【附圖說明】
[0027]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0028]圖1為本發(fā)明的實施例一所提供的液晶模塊的測試方法流程示意圖；
[0029]圖2為本發(fā)明的實施例二所提供的液晶模塊的測試方法流程示意圖；
[0030]圖3為本發(fā)明的實施例二中測試電路單元為GOA電路中MOS晶體管的說明示意圖；
[0031]圖4為本發(fā)明的實施例二中測試電路單元為MUX單元的說明示意圖；
[0032]圖5為本發(fā)明的實施例二中測試電路單元為像素單元的說明示意圖；
[0033]圖6為本發(fā)明的實施例二中測試電路單元為ESD單元的說明示意圖；
[0034]圖7為本發(fā)明的實施例二中測試電路單元為GOA電路中反相器單元的說明示意圖；
[0035]圖8為本發(fā)明的實施例三所提供的一種液晶模塊的測試裝置的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0036]下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0037]本發(fā)明的實施例提供一種液晶模塊的測試方法及測試裝置，用于對液晶模塊進行測試。在液晶顯示器的制造中，通常需要對液晶模塊進行各種測試。以最為常見的老化測試(英文=Stress Test)為例，在老化測試中，液晶模塊在測試信號下工作一段時間后，再對液晶模塊內部結構單元的各種特性參數進行測試，通過比較老化測試前后各種特性參數的變化，對液晶模塊的可靠性、有效工作壽命等進行評估。
[0038]本發(fā)明的實施例以老化測試的應用場景為例進行說明，當然，本發(fā)明的實施例所提供的對液晶模塊的測試方法，可以用于對液晶模塊進行多種具體的測試，本發(fā)明對于具體的測試場景不做限定。
[0039]實施例一
[0040]本發(fā)明的實施例一提供一種液晶模塊的測試方法，參照圖1所示，具體包括以下步驟:
[0041]101、測試裝置加載待測的液晶模塊，液晶模塊包括測試電路單元，測試電路單元的驅動信號端與液晶模塊內的驅動信號線連接。
[0042]在液晶顯示器制造中，在經過切割(英文:Cutting)工藝后形成一個個獨立的液晶盒(英文:Cell)，液晶盒在經過與驅動集成電路(英文全稱integrated circuit，英文簡稱:IC)邦定(英文:Bonding)，印制電路板(英文全稱:Printed Circuit Board，英文簡稱:PCB)連接等處理后，形成液晶模塊(英文=Module)。測試裝置加載待測的液晶模塊，指通過待測的液晶模塊的接口與待測模塊連接，并驅動液晶模塊正常顯示。
[0043]液晶模塊包括測試