電路單元，在進行老化測試的過程中，老化測試信號通過測試電路單元的驅(qū)動信號端輸入測試電路單元。在老化測試結(jié)束后，通過測量測試電路單元各種特性參數(shù)的變化，對液晶模塊整體的可靠性、有效工作壽命等進行評估。
[0044]液晶模塊內(nèi)的驅(qū)動信號線，是指在液晶模塊正常顯示時，向液晶模塊內(nèi)部結(jié)構(gòu)單元輸入驅(qū)動信號的信號線。例如，液晶模塊內(nèi)部的結(jié)構(gòu)單元可以是像素單元，也可以是像素單元內(nèi)的薄膜晶體管(英文全稱:Thin Film Transistor，英文簡稱:TFT)，在液晶模塊正常顯示時，向像素單元內(nèi)的薄膜晶體管輸入驅(qū)動信號的信號線包括柵極(英文:Gate)信號線和源極(英文！Source)信號線。
[0045]測試電路單元的驅(qū)動信號端與液晶模塊內(nèi)的驅(qū)動信號線連接，這樣，液晶模塊正常顯示時，液晶模塊內(nèi)部的驅(qū)動信號在驅(qū)動液晶模塊內(nèi)部各種結(jié)構(gòu)單元的同時，通過測試電路單元的驅(qū)動信號端與液晶模塊內(nèi)的驅(qū)動信號線之間的連接，作為測試信號輸入測試電路單元的驅(qū)動信號端。
[0046]102、驅(qū)動液晶模塊工作，在工作時間達到預(yù)設(shè)時長后，切斷測試電路單元的驅(qū)動信號端與液晶模塊內(nèi)的驅(qū)動信號線之間的連接。
[0047]由于測試電路單元的驅(qū)動信號端與液晶模塊內(nèi)的驅(qū)動信號線連接，當驅(qū)動液晶模塊工作時，液晶模塊內(nèi)部的驅(qū)動信號就可以作為測試信號驅(qū)動測試電路單元，因此無需外接信號發(fā)生器向測試電路單元輸入測試信號。在工作時間達到預(yù)設(shè)時長后，切斷驅(qū)動信號端與驅(qū)動信號線之間的連接，測試電路單元的驅(qū)動信號端懸空。
[0048]由于測試信號完全是液晶模塊內(nèi)部的真實信號，相比通過由信號發(fā)生器輸入模擬信號進行測試的方式，無需考慮模擬信號是否接近真實信號，也避免了測試環(huán)境對模擬信號所造成的各種干擾，因此提高了對液晶模塊測試的準確性。
[0049]103、向液晶模塊輸入激勵信號，激勵信號用于測試測試電路單元的特性參數(shù)。
[0050]測試電路單元的驅(qū)動信號端與液晶模塊內(nèi)的驅(qū)動信號線之間的連接被切斷，測試電路單元的驅(qū)動信號端懸空。
[0051]測試電路單元包括激勵信號輸入端，用于輸入激勵信號。在驅(qū)動信號端與驅(qū)動信號線之間的連接被切斷之后，就可以通過激勵信號輸入端向測試電路單元輸入激勵信號，對測試電路單元的特性參數(shù)進行測試。
[0052]104、從液晶模塊接收反饋信號，反饋信號為測試電路單元對激勵信號的響應(yīng)信號。
[0053]激勵信號為向測試電路單元輸入的信號，反饋信號為測試電路單元輸出的信號，反饋信號和激勵信號之間的變化關(guān)系，反映了測試電路單元的特性參數(shù)。通過對反饋信號和激勵信號進行分析，即可確定測試電路單元的特性參數(shù)。例如，測試電路單元具體為TFT，結(jié)合步驟103，TFT特性參數(shù)具體可以是柵極電壓Vg—定時，不同源級電壓Vs值所對應(yīng)的漏極電流Id值。在具體測試過程中，激勵信號為Vg和Vs，反饋信號為Id，進一步地，在不同Vg下分別對Vs對應(yīng)的Id進行測試，并對測試所得的數(shù)據(jù)進行分析，可以確定TFT的導(dǎo)通狀態(tài)、截止狀態(tài)下所對應(yīng)的Vg、Vs以及Id的變化關(guān)系和取值范圍。
[0054]本發(fā)明的實施例提供的液晶模塊的測試方法，將液晶模塊內(nèi)部的驅(qū)動信號作為測試信號，輸入測試電路單元的驅(qū)動信號端，驅(qū)動測試電路單元，因此無需外接信號發(fā)生器向測試電路單元輸入測試信號。由于測試信號完全是液晶模塊內(nèi)部的真實信號，相比通過由信號發(fā)生器輸入模擬信號進行測試的方式，無需考慮模擬信號是否接近真實信號，也避免了測試環(huán)境對模擬信號所造成的各種干擾，因此提高了對液晶模塊測試的準確性。進一步地，根據(jù)測試結(jié)果對液晶模塊可靠性、有效工作壽命等的評估，也更接近真實情況。
[0055]實施例二
[0056]基于圖1對應(yīng)的實施例，本發(fā)明的實施例二提供一種液晶模塊的測試方法，參照圖2所示，具體包括以下步驟:
[0057]201、測試裝置加載待測的液晶模塊，液晶模塊包括測試電路單元，測試電路單元的驅(qū)動信號端與液晶模塊內(nèi)的驅(qū)動信號線連接。
[0058]在液晶顯示器制造中，在經(jīng)過切割工藝后形成一個個獨立的液晶盒，液晶盒在經(jīng)過與驅(qū)動集成電路邦定，印制電路板連接等處理后，形成液晶模塊。測試裝置加載待測的液晶模塊，指通過待測的液晶模塊的接口與待測模塊連接，并驅(qū)動液晶模塊正常顯示。
[0059]液晶模塊包括測試電路單元，可選的，在一種具體的應(yīng)用場景中，液晶模塊的顯示面板為柵極驅(qū)動集成于陣列基板上(英文全稱:Gate driver On Array，英文縮寫:GOA)的面板，測試電路單元可以是GOA基本單元、多路復(fù)用(英文全稱:Multiplexer，英文縮寫:MUX)單元、像素單元或者靜電釋放(英文全稱:Electro_Static Discharge，英文縮寫:ESD)單元中的至少一種。其中，GOA基本單元可以是GOA電路中的反相器單元，或者進一步地可以是反相器單元中的N型金屬-氧化物-半導(dǎo)體(英文全稱:N-Mental-Oxide-Semiconductor,英文縮寫:NM0S)晶體管或者P型金屬-氧化物-半導(dǎo)體(英文全稱:P-Mental-Oxide_Semiconductor，英文縮寫:PM0S)晶體管。液晶模塊包括所包括的測試電路單元，具體的種類，以及每種測試電路單元的數(shù)量，可以根據(jù)實際的測試需要來確定。通常，測試電路單元分布在面板邊緣的空隙區(qū)域。
[0060]液晶模塊內(nèi)的驅(qū)動信號線，是指在液晶模塊正常顯示時，向液晶模塊內(nèi)部結(jié)構(gòu)單元輸入驅(qū)動信號的信號線?？蛇x的，驅(qū)動信號線可以是時鐘(CLK)信號線、高電平(VGH)信號線、低電平(VGL)信號線、多路復(fù)用(MUX)信號線、柵極(Gate)信號線或者源極(Source)信號線中的至少一種。
[0061]測試電路單元的驅(qū)動信號端與液晶模塊內(nèi)的驅(qū)動信號線連接?？蛇x的，在形成液晶模塊的薄膜晶體管陣列(英文全稱:Thin Film Transistor Array，英文簡稱:TFTArray)的圖形工藝處理過程中，通過在驅(qū)動信號端與驅(qū)動信號線之間沉積金屬線，將驅(qū)動信號端與驅(qū)動信號線連接。優(yōu)選的，驅(qū)動信號端可以和液晶模塊的扇出區(qū)域內(nèi)的驅(qū)動信號線連接，或者和用于進行液晶單元電氣測試(英文全稱:Unit Cell Electrical Test)的測試信號線連接。
[0062]針對不同的測試電路單元，可以連接不同的驅(qū)動信號線。
[0063]以下結(jié)合圖3至圖7對測試電路單元的驅(qū)動信號端與液晶模塊內(nèi)的驅(qū)動信號線之間的連接進行具體說明。圖3至圖7中所示的測試單元，均包括驅(qū)動信號端和激勵信號端。其中，激勵信號端懸空，用于在對測試電路單元的特性參數(shù)進行測試時輸入激勵信號，激勵信號端以“測試點”字樣進行標識。驅(qū)動信號端與驅(qū)動信號線連接，驅(qū)動信號端以所連接的驅(qū)動信號的名稱進行標識。激勵信號端和驅(qū)動信號端均可以包括至少一個引腳。
[0064]對于同一種測試電路單元的多個測試電路單元，采用“第一”、“第二”等字樣進行區(qū)分。當然，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解“第一”、“第二”等字樣并不是在對數(shù)量進行限定。
[0065]結(jié)合圖3所示，測試電路單元為GOA電路中的MOS晶體管，具體可以是NMOS晶體管或者PMOS晶體管。
[0066]圖3中包括了 4個MOS晶體管，每個MOS晶體管的驅(qū)動信號端包括I個節(jié)點，該節(jié)點一端與MOS晶體管的柵極連接，另一端與液晶模塊內(nèi)的驅(qū)動信號線連接。
[0067]其中，第一 MOS晶體管的柵極與CLK信號線連接。
[0068]第二 MOS晶體管的柵極與VGH信號線連接。
[0069]第三MOS晶體管的柵極與VGL信號線連接。
[0070]第四MOS晶體管的柵極與Gate信號線連接。
[0071]同時，4個MOS晶體管的激勵信號端均包括3個節(jié)點，分別為源極測試點、柵極測試點和漏極測試點。以第一 MOS晶體管為例，源極測試點與源極連接，柵極測試點與柵極連接，漏極測試點與漏極連接。
[0072]結(jié)合圖4所示，測試電路單元具體為MU