專(zhuān)利名稱(chēng)：一種轉(zhuǎn)子接地檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子繞組接地檢測(cè)裝置，屬于發(fā)電機(jī)參數(shù)測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域。
技術(shù)背景
發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子接地故障對(duì)發(fā)電機(jī)有重大危害，轉(zhuǎn)子接地檢測(cè)裝置提供了轉(zhuǎn)子繞組絕緣電阻檢測(cè)功能，可以在轉(zhuǎn)子繞組電阻下降到一定程度時(shí)發(fā)出報(bào)警信號(hào)，從而保證了在轉(zhuǎn)子發(fā)生接地故障前對(duì)轉(zhuǎn)子進(jìn)行處理，提高了系統(tǒng)運(yùn)行可靠性。
傳統(tǒng)的接地檢測(cè)裝置由于測(cè)量原理所限，與發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子耦合強(qiáng)，當(dāng)裝置自身發(fā)生故障時(shí)會(huì)影響到發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子的安全，同時(shí)也會(huì)受到轉(zhuǎn)子運(yùn)行狀態(tài)的影響。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種與轉(zhuǎn)子之間保持弱耦合，兩者之間不會(huì)相互影響的發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子接地檢測(cè)裝置。
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明的技術(shù)方案是提供一種轉(zhuǎn)子接地檢測(cè)裝置，其特征在于包括碳刷接觸檢測(cè)模塊和絕緣電阻檢測(cè)模塊，報(bào)警模塊與碳刷接觸檢測(cè)模塊、絕緣電阻檢測(cè)模塊連接，絕緣電阻檢測(cè)模塊通過(guò)絕緣電阻記錄模塊連接CPU，CPU還連接碳刷接觸檢測(cè)模塊、報(bào)警模塊和人機(jī)界面。
優(yōu)選地，所述碳刷接觸檢測(cè)模塊為測(cè)量光耦。
優(yōu)選地，所述絕緣電阻檢測(cè)模塊包括內(nèi)阻&，內(nèi)阻& 一端連接轉(zhuǎn)子勵(lì)磁線圈的一個(gè)端部，內(nèi)阻&另一端連接直流電源U1的正端/直流電源U2的負(fù)端；采樣電阻Rs —端連接直流電源U1的負(fù)端/直流電源U2的正端，采樣電阻Rs另一端與轉(zhuǎn)子勵(lì)磁線圈連接。
優(yōu)選地，所述電源U1和電源U2的電壓值不等，電源U1和電源U2之間可切換。
優(yōu)選地，所述內(nèi)阻&彡IM Ω。
優(yōu)選地，所述絕緣電阻記錄模塊為電可擦除式存儲(chǔ)芯片。
優(yōu)選地，所述人機(jī)界面由液晶顯示屏和薄膜鍵盤(pán)組成。
本發(fā)明提供的一種轉(zhuǎn)子接地檢測(cè)裝置通過(guò)在勵(lì)磁回路負(fù)極對(duì)地疊加直流電壓以注入電流，檢測(cè)此電壓通過(guò)勵(lì)磁回路分布電阻和薄弱點(diǎn)的絕緣電阻漏電流，通過(guò)對(duì)疊加直流電壓的切換，來(lái)抵消勵(lì)磁繞組電流對(duì)測(cè)量回路的影響，從而獲得絕緣電阻值。裝置能夠定時(shí)對(duì)發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子繞組的絕緣電阻進(jìn)行測(cè)量，同時(shí)將測(cè)量所得的數(shù)據(jù)記錄下來(lái)。如果測(cè)量的絕緣電阻值低于設(shè)定的報(bào)警值，裝置將會(huì)發(fā)出報(bào)警信號(hào)。由于裝置使用了兆歐級(jí)別的內(nèi)阻， 使得裝置與轉(zhuǎn)子之間實(shí)現(xiàn)了弱耦合，即使裝置自身故障也不會(huì)影響轉(zhuǎn)子的安全，同時(shí)裝置耐壓水平達(dá)到5000VAC，轉(zhuǎn)子側(cè)也不會(huì)影響到裝置。
本發(fā)明提供的裝置克服了現(xiàn)有技術(shù)的不足，與轉(zhuǎn)子之間保持弱耦合，兩者之間不會(huì)相互影響，轉(zhuǎn)子絕緣電阻檢測(cè)準(zhǔn)確，提高了系統(tǒng)運(yùn)行的可靠性。


圖1為本發(fā)明提供的一種轉(zhuǎn)子接地檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明提供的一種轉(zhuǎn)子接地檢測(cè)裝置測(cè)量系統(tǒng)圖；圖3為本實(shí)施例中絕緣電阻測(cè)量原理圖?！?br> 具體實(shí)施例方式為使本發(fā)明更明顯易懂，茲以一優(yōu)選實(shí)施例，并配合附圖作詳細(xì)說(shuō)明如下。圖1為本發(fā)明提供的一種轉(zhuǎn)子接地檢測(cè)裝置示意圖，所述的一種轉(zhuǎn)子接地檢測(cè)裝置，包括碳刷接觸檢測(cè)模塊和絕緣電阻檢測(cè)模塊，報(bào)警模塊與碳刷接觸檢測(cè)模塊、絕緣電阻檢測(cè)模塊連接，絕緣電阻檢測(cè)模塊通過(guò)絕緣電阻記錄模塊連接CPU，CPU還連接碳刷接觸檢測(cè)模塊、報(bào)警模塊和人機(jī)界面。結(jié)合圖2，本發(fā)明提供的一種轉(zhuǎn)子接地檢測(cè)裝置通過(guò)在勵(lì)磁回路負(fù)極對(duì)地疊加直流電壓以注入電流，檢測(cè)此電壓通過(guò)勵(lì)磁回路分布電阻和薄弱點(diǎn)的絕緣電阻漏電流，通過(guò)對(duì)疊加直流電壓的切換，來(lái)抵消勵(lì)磁繞組電流對(duì)測(cè)量回路的影響，從而獲得絕緣電阻值。碳刷接觸檢測(cè)模塊可以檢測(cè)測(cè)量碳刷與轉(zhuǎn)子的接觸情況，由測(cè)量光耦實(shí)現(xiàn)，接觸良好的條件下再進(jìn)行測(cè)量，如果檢測(cè)到接觸不良，裝置將會(huì)發(fā)出碳刷接觸不良的信號(hào)。絕緣電阻檢測(cè)模塊提供了轉(zhuǎn)子電阻定時(shí)檢測(cè)的功能，可以根據(jù)發(fā)電機(jī)運(yùn)行情況設(shè)定測(cè)量間隔的時(shí)間，然后裝置在相應(yīng)的時(shí)刻會(huì)自動(dòng)對(duì)轉(zhuǎn)子絕緣電阻進(jìn)行測(cè)量。絕緣電阻記錄模塊為電可擦除式存儲(chǔ)芯片，可以在每次測(cè)量后將測(cè)得的絕緣電阻值記錄在裝置存儲(chǔ)器中，運(yùn)行人員可以查看儲(chǔ)存的歷史記錄。人機(jī)界面由液晶顯示屏和薄膜鍵盤(pán)組成，可以通過(guò)人機(jī)界面對(duì)裝置進(jìn)行報(bào)警值設(shè)置、歷史記錄查詢、測(cè)量間隔時(shí)間設(shè)置等操作。結(jié)合圖3，絕緣電阻檢測(cè)模塊包括內(nèi)阻&，內(nèi)阻& 一端連接轉(zhuǎn)子勵(lì)磁線圈的一個(gè)端部，內(nèi)阻&另一端連接直流電源U1的正端和直流電源U2的負(fù)端；采樣電阻Rs —端連接直流電源U1的負(fù)端和直流電源U2的正端，采樣電阻Rs另一端與轉(zhuǎn)子勵(lì)磁線圈連接。電源U1和電源U2的電壓值不等，內(nèi)阻Rl彡IM Q。為了消除勵(lì)磁電流對(duì)測(cè)量的影響，分別在測(cè)量回路源端加入U(xiǎn)jPU2兩個(gè)不等的直流電壓。根據(jù)回路電壓定律有
權(quán)利要求
1.一種轉(zhuǎn)子接地檢測(cè)裝置，其特征在于包括碳刷接觸檢測(cè)模塊和絕緣電阻檢測(cè)模塊，報(bào)警模塊與碳刷接觸檢測(cè)模塊、絕緣電阻檢測(cè)模塊連接，絕緣電阻檢測(cè)模塊通過(guò)絕緣電阻記錄模塊連接CPU，CPU還連接碳刷接觸檢測(cè)模塊、報(bào)警模塊和人機(jī)界面。
2.如權(quán)利要求1所述的一種轉(zhuǎn)子接地檢測(cè)裝置，其特征在于所述碳刷接觸檢測(cè)模塊為測(cè)量光耦。
3.如權(quán)利要求1所述的一種轉(zhuǎn)子接地檢測(cè)裝置，其特征在于所述絕緣電阻檢測(cè)模塊包括內(nèi)阻&，內(nèi)阻& 一端連接轉(zhuǎn)子勵(lì)磁線圈的一個(gè)端部，內(nèi)阻&另一端連接直流電源U1的正端/直流電源U2的負(fù)端；采樣電阻Rs —端連接直流電源U1的負(fù)端/直流電源U2的正端，采樣電阻Rs另一端與轉(zhuǎn)子勵(lì)磁線圈連接。
4.如權(quán)利要求3所述的一種轉(zhuǎn)子接地檢測(cè)裝置，其特征在于所述電源仏和電源隊(duì)的電壓值不等，電源U1和電源U2之間可切換。
5.如權(quán)利要求3所述的一種轉(zhuǎn)子接地檢測(cè)裝置，其特征在于所述內(nèi)阻&> IMQ。
6.如權(quán)利要求1所述的一種轉(zhuǎn)子接地檢測(cè)裝置，其特征在于所述絕緣電阻記錄模塊為電可擦除式存儲(chǔ)芯片。
7.如權(quán)利要求1所述的一種轉(zhuǎn)子接地檢測(cè)裝置，其特征在于所述人機(jī)界面由液晶顯示屏和薄膜鍵盤(pán)組成。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種轉(zhuǎn)子接地檢測(cè)裝置，其特征在于包括碳刷接觸檢測(cè)模塊和絕緣電阻檢測(cè)模塊，報(bào)警模塊與碳刷接觸檢測(cè)模塊、絕緣電阻檢測(cè)模塊連接，絕緣電阻檢測(cè)模塊通過(guò)絕緣電阻記錄模塊連接CPU，CPU還連接碳刷接觸檢測(cè)模塊、報(bào)警模塊和人機(jī)界面。本發(fā)明提供的裝置克服了現(xiàn)有技術(shù)的不足，與轉(zhuǎn)子之間保持弱耦合，兩者之間不會(huì)相互影響，轉(zhuǎn)子絕緣電阻檢測(cè)準(zhǔn)確，提高了系統(tǒng)運(yùn)行的可靠性。
文檔編號(hào)G01R27/14GK103018567SQ20121050753
公開(kāi)日2013年4月3日 申請(qǐng)日期2012年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月30日
發(fā)明者石書(shū)華, 王磊, 蔡邁, 柳毅, 趙正宇, 劉明行 申請(qǐng)人:上海電氣電站設(shè)備有限公司