電子元器件調(diào)試器的制造方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明揭示一種電子元器件調(diào)試器，所述電子元器件可經(jīng)二焊點(diǎn)焊接于母板上，該調(diào)試器包括：本體，其上設(shè)有容置槽、容置孔及通孔；滑塊，設(shè)于所述容置槽內(nèi)；第一導(dǎo)電柱，穿設(shè)于所述滑塊；第二導(dǎo)電柱，穿設(shè)于所述本體；拉動(dòng)桿，其一端固定于所述滑塊上，另一端從所述通孔內(nèi)延伸出；彈簧，其設(shè)于所述容置槽內(nèi)，并套設(shè)于所述拉動(dòng)桿上；第一導(dǎo)線，其一端與所述第一導(dǎo)電柱遠(yuǎn)離所述容置孔的一端電性連接，所述第一導(dǎo)線另一端焊接于所述二焊點(diǎn)其中之一；第二導(dǎo)線，其一端與所述第二導(dǎo)電柱遠(yuǎn)離所述容置孔的一端電性連接，所述第二導(dǎo)線另一端焊接于所述二焊點(diǎn)其中另一個(gè)。從而無(wú)須多次在母板上進(jìn)行拆卸安裝電子元器件，操作簡(jiǎn)單，減少對(duì)母板傷害的幾率。
【專(zhuān)利說(shuō)明】電子元器件調(diào)試器
【【技術(shù)領(lǐng)域】】
[0001]本發(fā)明涉及一種調(diào)試器，特別是涉及一種電子元器件調(diào)試器。
【【背景技術(shù)】】
[0002]電子工程相關(guān)部門(mén)在對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行debug調(diào)試時(shí),在進(jìn)行例如soft start時(shí)，集成電路的補(bǔ)償?shù)染€路會(huì)對(duì)電阻和/或電容等元器件進(jìn)行調(diào)試。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)在對(duì)該類(lèi)元器件進(jìn)行調(diào)試時(shí)，通常會(huì)采用反復(fù)更換的方式。請(qǐng)參閱圖1，其繪示為現(xiàn)有技術(shù)電子元器件調(diào)試結(jié)構(gòu)示意圖。所述電子元器件10設(shè)于母板20上，所述電子元器件10通過(guò)與焊點(diǎn)11焊接從與所述母板20上的集成電路相連接。在對(duì)電子元器件10進(jìn)行調(diào)試時(shí)，經(jīng)常是需要多次試驗(yàn)，這就需要將電子元器件10從所述母板20上卸下，再將更換后進(jìn)行測(cè)試的新的電子元器件10焊上。
[0004]然而，采用上述電子元器件調(diào)試方式，需要多次在所述母板20上安裝拆卸電子元器件10，直至達(dá)到要求。這樣一方面安裝拆卸麻煩，另一方面會(huì)對(duì)母板20造成傷害。
[0005]有鑒于此，實(shí)有必要開(kāi)發(fā)一種電子元器件調(diào)試器，以解決上述問(wèn)題。
【
【發(fā)明內(nèi)容】
】
[0006]因此，本發(fā)明的目的是提供一種電子元器件調(diào)試器，解決在電子元器件調(diào)試時(shí)安裝拆卸麻煩，以及會(huì)對(duì)母 板造成較大傷害幾率的問(wèn)題。
[0007]為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的電子元器件調(diào)試器，所述電子元器件可經(jīng)二焊點(diǎn)焊接于母板上，該調(diào)試器包括:
[0008]本體，其上設(shè)有容置槽、容置孔及通孔，所述容置孔內(nèi)設(shè)有所述電子元器件，所述通孔設(shè)于所述本體一端；
[0009]滑塊，設(shè)于所述容置槽內(nèi)；
[0010]第一導(dǎo)電柱，穿設(shè)于所述滑塊，所述第一導(dǎo)電柱一端靠近所述容置孔一端，所述第一導(dǎo)電柱另一端伸出所述本體；
[0011]第二導(dǎo)電柱，穿設(shè)于所述本體，所述第二導(dǎo)電柱一端靠近所述容置孔另一端，所述第二導(dǎo)電柱另一端伸出所述本體；
[0012]拉動(dòng)桿，其一端固定于所述滑塊上，另一端從所述通孔內(nèi)延伸出；
[0013]彈簧，其設(shè)于所述容置槽內(nèi)，并套設(shè)于所述拉動(dòng)桿上；
[0014]第一導(dǎo)線，其一端與所述第一導(dǎo)電柱遠(yuǎn)離所述容置孔的一端電性連接，所述第一導(dǎo)線另一端焊接于所述二焊點(diǎn)其中之一；
[0015]第二導(dǎo)線，其一端與所述第二導(dǎo)電柱遠(yuǎn)離所述容置孔的一端電性連接，所述第二導(dǎo)線另一端焊接于所述二焊點(diǎn)其中另一個(gè)。
[0016]可選的，所述容置孔為兩個(gè)，所述第一導(dǎo)電柱、第二導(dǎo)電柱也相應(yīng)為兩個(gè)。
[0017]可選的，所述容置孔兩側(cè)設(shè)有延伸孔。
[0018]可選的，所述第一導(dǎo)電柱從所述本體延伸出的一端設(shè)有導(dǎo)電孔，所述第一導(dǎo)線一端電性連接于所述導(dǎo)電孔內(nèi)。
[0019]可選的，所述第二導(dǎo)電柱從所述本體延伸出的一端設(shè)有導(dǎo)電孔，所述第二導(dǎo)線一端電性連接于所述導(dǎo)電孔內(nèi)。
[0020]可選的，所述滑塊具有第一塊體和第二塊體，所述第二塊體一端固定于所述第一塊體上。
[0021]可選的，所述第一塊體與所述第二塊體垂直。
[0022]可選的，所述第一導(dǎo)電柱穿射于所述第一塊體，所述拉動(dòng)桿一端固定于所述第二塊體。
[0023]相較于現(xiàn)有技術(shù)，利用本發(fā)明的電子元器件調(diào)試器，由于將需要調(diào)試的電子元器件拆卸后，是將所述第一導(dǎo)線及所述第二導(dǎo)線焊接于所述二焊點(diǎn)上，而對(duì)于更換的電子元器件，則是通過(guò)在調(diào)試器的容置孔中進(jìn)行，從而無(wú)須多次通過(guò)焊接的方式在母板上進(jìn)行拆卸安裝電子元器件，從而操作簡(jiǎn)單，減少對(duì)母板傷害的幾率。
【【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】】
[0024]圖1繪示為現(xiàn)有技術(shù)電子元器件調(diào)試結(jié)構(gòu)示意圖。
[0025]圖2繪示為本發(fā)明的電子元器件調(diào)試器一較佳實(shí)施例的立體結(jié)構(gòu)示意圖。
[0026]圖3繪示為本發(fā)明的電子元器件調(diào)試器一較佳實(shí)施例的分解結(jié)構(gòu)示意圖。
[0027]圖4繪示為本發(fā)明的電子元器件調(diào)試器一較佳實(shí)施例的背面結(jié)構(gòu)示意圖。
[0028]圖5繪示為本發(fā)明的電子元器件調(diào)試器一較佳實(shí)施例的使用狀態(tài)示意圖。
【【具體實(shí)施方式】】
[0029]請(qǐng)共同參閱圖2-圖5，其分別繪示為本發(fā)明的電子元器件調(diào)試器一較佳實(shí)施例的立體結(jié)構(gòu)示意圖、本發(fā)明的電子元器件調(diào)試器一較佳實(shí)施例的分解結(jié)構(gòu)示意圖、繪示為本發(fā)明的電子元器件調(diào)試器一較佳實(shí)施例的背面結(jié)構(gòu)示意圖、繪示為本發(fā)明的電子元器件調(diào)試器一較佳實(shí)施例的使用狀態(tài)示意圖。其中，圖2-圖4中皆未繪示導(dǎo)線。
[0030]為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的電子元器件調(diào)試器，所述電子元器件10 (所述電子元器件可以為電阻、電容等)可經(jīng)二焊點(diǎn)11焊接于母板20上，于本實(shí)施例，該調(diào)試器包括:
[0031]本體30，其上設(shè)有容置槽31、容置孔32及通孔33，所述容置孔33內(nèi)設(shè)有所述電子元器件10，所述通孔33設(shè)于所述本體30 —端；
[0032]滑塊40，設(shè)于所述容置槽31內(nèi)；
[0033]第一導(dǎo)電柱50,穿設(shè)于所述滑塊40,所述第一導(dǎo)電柱50 —端靠近所述容置孔32一端，所述第一導(dǎo)電柱50另一端伸出所述本體30 ；
[0034]第二導(dǎo)電柱60，穿設(shè)于所述本體30，所述第二導(dǎo)電柱60 —端靠近所述容置孔32另一端，所述第二導(dǎo)電柱60另一端伸出所述本體30 ； [0035]拉動(dòng)桿70，其一端固定于所述滑塊40上，另一端從所述通孔33內(nèi)延伸出；
[0036]彈簧80，其設(shè)于所述容置槽31內(nèi)，并套設(shè)于所述拉動(dòng)桿70上；
[0037]第一導(dǎo)線90,其一端與所述第一導(dǎo)電柱50遠(yuǎn)離所述容置孔32的一端電性連接,所述第一導(dǎo)線90另一端焊接于所述二焊點(diǎn)11其中之一；[0038]第二導(dǎo)線100，其一端與所述第二導(dǎo)電柱60遠(yuǎn)離所述容置孔32的一端電性連接，所述第二導(dǎo)線100另一端焊接于所述二焊點(diǎn)11其中另一個(gè)。
[0039]其中，所述容置孔32例如為兩個(gè),所述第一導(dǎo)電柱50、第二導(dǎo)電柱60也相應(yīng)為兩個(gè)，如此可以方便有兩個(gè)電子元器件10需要調(diào)試時(shí)，同時(shí)進(jìn)行。當(dāng)然，因應(yīng)多個(gè)電子元器件10需要同時(shí)調(diào)試時(shí)，所述容置孔32、第一導(dǎo)電柱50、第二導(dǎo)電柱60分別為相應(yīng)數(shù)目的多個(gè)。
[0040]其中，所述容置孔32兩側(cè)可以設(shè)有延伸孔34，方便夾取及放置所述電子元器件10。
[0041 ] 其中,所述第一導(dǎo)電柱50從所述本體30延伸出的一端設(shè)有導(dǎo)電孔51,所述第一導(dǎo)線90 —端電性連接于所述導(dǎo)電孔51內(nèi)；所述第二導(dǎo)電柱從所述本體延伸出的一端亦設(shè)有導(dǎo)電孔51，所述第二導(dǎo)線100 —端電性連接于所述導(dǎo)電孔51內(nèi)。
[0042]其中，所述滑塊40具有第一塊體41和第二塊體42，所述第二塊體42 —端固定于所述第一塊體41上。所述第一塊體41可以與所述第二塊體42垂直。所述第一導(dǎo)電柱50穿射于所述第一塊體41，所述拉動(dòng)桿70 —端固定于所述第二塊體42。如此可以方便所述拉動(dòng)桿70的固定以及整個(gè)滑塊40的滑動(dòng)。
[0043]于調(diào)試時(shí)，將需要調(diào)試的電子元器件10拆卸后，將所述第一導(dǎo)線90及所述第二導(dǎo)線100焊接于所述二焊點(diǎn)11上。拉動(dòng)所述拉動(dòng)桿70，將需要調(diào)試更換的電子元器件10放入所述容置孔32 ;放開(kāi)所述拉動(dòng)桿70，所述彈簧80被釋放，所述電子元器件10被所述第一導(dǎo)電柱50、第二導(dǎo)電柱60夾持固定。
[0044]相較于現(xiàn)有技術(shù)，利用本發(fā)明的電子元器件調(diào)試器，由于將需要調(diào)試的電子元器件10拆卸后，是將所述第一導(dǎo)線90及所述第二導(dǎo)線100焊接于所述二焊點(diǎn)11上，而對(duì)于更換的電子元器件10，則是通過(guò)在調(diào)試器的容置孔32中進(jìn)行，從而無(wú)須多次通過(guò)焊接的方式在母板20上進(jìn)行拆卸安裝電子元器件10，從而操作簡(jiǎn)單，減少對(duì)母板20傷害的幾率。
【權(quán)利要求】
1.一種電子元器件調(diào)試器，所述電子元器件可經(jīng)二焊點(diǎn)焊接于母板上，其特征在于，該調(diào)試器包括: 本體，其上設(shè)有容置槽、容置孔及通孔，所述容置孔內(nèi)設(shè)有所述電子元器件，所述通孔設(shè)于所述本體一端； 滑塊，設(shè)于所述容置槽內(nèi)； 第一導(dǎo)電柱，穿設(shè)于所述滑塊，所述第一導(dǎo)電柱一端靠近所述容置孔一端，所述第一導(dǎo)電柱另一端伸出所述本體； 第二導(dǎo)電柱，穿設(shè)于所述本體，所述第二導(dǎo)電柱一端靠近所述容置孔另一端，所述第二導(dǎo)電柱另一端伸出所述本體； 拉動(dòng)桿，其一端固定于所述滑塊上，另一端從所述通孔內(nèi)延伸出； 彈簧，其設(shè)于所述容置槽內(nèi)，并套設(shè)于所述拉動(dòng)桿上； 第一導(dǎo)線，其一端與所述第一導(dǎo)電柱遠(yuǎn)離所述容置孔的一端電性連接，所述第一導(dǎo)線另一端焊接于所述二焊點(diǎn)其中之一； 第二導(dǎo)線，其一端與所述第二導(dǎo)電柱遠(yuǎn)離所述容置孔的一端電性連接，所述第二導(dǎo)線另一端焊接于所述二焊點(diǎn)其中另一個(gè)。
2.如權(quán)利要求1所述的電子元器件調(diào)試器，其特征在于，所述容置孔為兩個(gè)，所述第一導(dǎo)電柱、第二導(dǎo)電柱也相應(yīng)為兩個(gè)。
3.如權(quán)利要求1所述的電子元器件調(diào)試器，其特征在于，所述容置孔兩側(cè)設(shè)有延伸孔。
4.如權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的電子元器件調(diào)試器，其特征在于，所述第一導(dǎo)電柱從所述本體延伸出的一端設(shè)有導(dǎo)電孔，所述第一導(dǎo)線一端電性連接于所述導(dǎo)電孔內(nèi)。
5.如權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的電子元器件調(diào)試器，其特征在于，所述第二導(dǎo)電柱從所述本體延伸出的一端設(shè)有導(dǎo)電孔，所述第二導(dǎo)線一端電性連接于所述導(dǎo)電孔內(nèi)。
6.如權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的電子元器件調(diào)試器，其特征在于，所述滑塊具有第一塊體和第二塊體，所述第一塊體與所述第二塊體垂直，所述第二塊體一端固定于所述第一塊體上。
7.如權(quán)利要求6所述的電子元器件調(diào)試器，其特征在于，所述第一塊體與所述第二塊體垂直。
8.如權(quán)利要求6所述的電子元器件調(diào)試器，其特征在于，所述第一導(dǎo)電柱穿射于所述第一塊體，所述拉動(dòng)桿一端固定于所述第二塊體。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK103675491SQ201210328190
【公開(kāi)日】2014年3月26日 申請(qǐng)日期:2012年9月7日 優(yōu)先權(quán)日:2012年9月7日
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