專利名稱：一種按鍵的矩陣鍵盤的測試方法
一種按鍵的矩陣鍵盤的測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種按鍵的矩陣鍵盤的測試方法。背景技術(shù)：
鍵盤廣泛使用于各種電子設(shè)備，以作為電子設(shè)備的控制命令或數(shù)據(jù)輸入的周邊設(shè)備。因此鍵盤的品質(zhì)優(yōu)劣及其功能是否可以正常操作，將直接影響該電子設(shè)備的操作穩(wěn)定性，并且由于鍵盤中最為直接的操作單元為按鍵，因此按鍵的測試對于鍵盤而言是重要的一環(huán)。目前，對于按鍵的矩陣鍵盤的測試依賴于手動測試和回環(huán)口線測試兩種方法，手動測試的方案存在測試效率低，需人工操作不確定性大的問題；回環(huán)口線測試的方案，測試效率高，但覆蓋不了矩陣鍵盤口線的上下拉電阻。

發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明要解決的技術(shù)問題，在于提供一種按鍵的矩陣鍵盤的測試方法，它能夠?qū)崿F(xiàn)自動測試，而且能夠提高測試效率和測試覆蓋率。本發(fā)明是這樣實現(xiàn)的一種按鍵的矩陣鍵盤的測試方法，它需要包括一矩陣鍵盤、 一可編程邏輯器件，它包括如下步驟步驟1 所述矩陣鍵盤連接到CPU的線路通過測試點連接到可編程邏輯器件上，所述矩陣鍵盤上選擇復(fù)數(shù)個按鍵，所述按鍵覆蓋了矩陣鍵盤連接到CPU的所有口線；步驟2 所述可編程邏輯器件模擬所選擇的按鍵信號，將模擬按鍵信號通過測試點發(fā)送到CPU ；步驟3 所述CPU若是接收到所述可編程邏輯器件發(fā)送的模擬按鍵信號，則表示口線與CPU焊接正常，若是接收不到可編程邏輯器件發(fā)送的模擬按鍵信號，則表示口線與CPU 焊接異常。進一步的，所述步驟2的具體步驟包括所述可編程邏輯器件進行復(fù)位，通過觸發(fā)信號進行觸發(fā)，經(jīng)過設(shè)定的一段時間進入模擬第一按鍵的程序，將模擬的第一按鍵信號發(fā)送到CPU，再經(jīng)過設(shè)定的時間，進入模擬下一個按鍵的程序，直至將所有選擇的按鍵信號模擬完畢，再恢復(fù)復(fù)位狀態(tài)。進一步的，所述可編程邏輯器件為CPLD。本發(fā)明的優(yōu)點在于本發(fā)明將待測試的矩陣鍵盤通過測試點連接到可編程邏輯器件，通過可編程邏輯器件模擬按鍵按下后的按鍵信號，將按鍵信號發(fā)送到CPU，對矩陣鍵盤的各個口線的連接進行測試，從而實現(xiàn)了對矩陣鍵盤自動化測試的效果，提高了測試的效率，又覆蓋了矩陣鍵盤口線的上下拉電阻，保證測試的準(zhǔn)確性。
下面參照附圖結(jié)合實施例對本發(fā)明作進一步的說明。圖1是本發(fā)明的一實施例4*4矩陣鍵盤的電路結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是本發(fā)明可編程邏輯器件的模塊示意圖。圖3是本發(fā)明一實施例中可編程邏輯器件6個狀態(tài)的示意圖。
具體實施方式請參閱圖1至圖2所示，對本發(fā)明的實施例進行詳細的說明。一種按鍵的矩陣鍵盤的測試方法，它包括一矩陣鍵盤、一可編程邏輯器件，它包括如下步驟步驟1 所述矩陣鍵盤連接到CPU的線路通過測試點連接到可編程邏輯器件上，所述矩陣鍵盤上選擇復(fù)數(shù)個按鍵，所述按鍵覆蓋了矩陣鍵盤連接到CPU的所有口線；步驟2 所述可編程邏輯器件模擬所選擇的按鍵信號，將按鍵信號通過測試點發(fā)送到CPU ；所述可編程邏輯器件進行復(fù)位，通過觸發(fā)信號進行觸發(fā)，經(jīng)過設(shè)定的一段時間進入模擬第一按鍵的程序，將模擬的第一按鍵信號發(fā)送到CPU，再經(jīng)過設(shè)定的時間，進入模擬下一個按鍵的程序，直至將所有選擇的按鍵信號模擬完畢，再恢復(fù)復(fù)位狀態(tài)。步驟3 所述CPU若是接收到所述可編程邏輯器件發(fā)送的模擬按鍵信號，則表示口線與CPU焊接正常，若是接收不到可編程邏輯器件發(fā)送的模擬按鍵信號，則表示口線與CPU 焊接異常。結(jié)合圖1，以4*4矩陣鍵盤為例，設(shè)行線為R0W0、ROffU ROW2, R0W3為輸出口線，設(shè)列線為KB_LINE0、KB_LINE1、KB_LINE2、KB_LINE3為輸入口線。常態(tài)下LINE線通過上拉電阻拉為高電平1111，CPU通過ROW線輸出全低電平0000。當(dāng)圖中ROWO和KB_LINE0組合的 CLEAR按鍵按下時，讀取鍵值為01110000，CPU判定此鍵值為CLEAR?，F(xiàn)在測試該4*4矩陣鍵盤，只要測試按鍵CLEAR(R0W0，KB_LINE0)、按鍵8 (R0W1, KB_LINE1)、按鍵 4(R0W2，KB_LINE2)、按鍵 ALPHA(R0W3，KB_LINE3)，就可以全部測試到該矩陣鍵盤的 KB_LINE0、KB_LINE1、KB_LINE2、KB_LINE3 輸入口線以及 ROffO, ROffU R0W2、R0W3 輸出口線。結(jié)合圖2，所述可編程邏輯器件為CPLD，所述CPLD連接有復(fù)位電路、時鐘電路、電源濾波電路。將圖1中的矩陣鍵盤的8個口線通過測試點連接到所述CPLD。如圖3，所述CPLD設(shè)置好復(fù)位狀態(tài)、觸發(fā)狀態(tài)、CLEAR狀態(tài)、按鍵8狀態(tài)、按鍵4狀態(tài)、按鍵ALPHA狀態(tài)。并且設(shè)置好每一個狀態(tài)之間切換的時間為N秒。測試開始的時候，所述CPLD通過復(fù)位電路提供的復(fù)位信號進入復(fù)位狀態(tài)；經(jīng)過N 秒后，所述CPLD進入觸發(fā)狀態(tài)，再經(jīng)過N秒后，所述CPLD進入CLEAR狀態(tài)，即CLEAR狀態(tài)模擬按鍵CLEAR按下的按鍵信號01110000，然后將01110000通過測試點發(fā)送到CPU，如果CPU 接收到的按鍵信號為01110000，則表示R0W0，KB_LINE0與CPU的焊接正常，如果CPU接收到的按鍵信號不是01110000，則表示R0W0，KB_LINE0與CPU的焊接不正常。同理，所述CPLD 進入按鍵8狀態(tài)的時候，模擬發(fā)送按鍵信號10110000到CPU ；所述CPLD進入按鍵4狀態(tài)的時候，模擬發(fā)送按鍵信號11010000到CPU;所述CPLD進入按鍵ALPHA狀態(tài)的時候，模擬發(fā)送按鍵信號11100000到CPU，從而通過CPU接收到的按鍵信號是否正常，來判斷各個口線與 CPU的焊接是否正常。 以上所述，僅為本發(fā)明較佳實施例而已，故不能依此限定本發(fā)明實施的范圍，即依本發(fā)明專利范圍及說明書內(nèi)容所作的等效變化與修飾，皆應(yīng)仍屬本發(fā)明涵蓋的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種按鍵的矩陣鍵盤的測試方法，其特征在于它需要包括一矩陣鍵盤、一可編程邏輯器件，它包括如下步驟步驟1 所述矩陣鍵盤連接到CPU的線路通過測試點連接到可編程邏輯器件上，所述矩陣鍵盤上選擇復(fù)數(shù)個按鍵，所述按鍵覆蓋了矩陣鍵盤連接到CPU的所有口線；步驟2 所述可編程邏輯器件模擬所選擇的按鍵信號，將模擬按鍵信號通過測試點發(fā)送到CPU ；步驟3 所述CPU若是接收到所述可編程邏輯器件發(fā)送的模擬按鍵信號，則表示口線與 CPU焊接正常，若是接收不到可編程邏輯器件發(fā)送的模擬按鍵信號，則表示口線與CPU焊接異常。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種按鍵的矩陣鍵盤的測試方法，其特征在于所述步驟2 的具體步驟包括所述可編程邏輯器件進行復(fù)位，通過觸發(fā)信號進行觸發(fā)，經(jīng)過設(shè)定的一段時間進入模擬第一按鍵的程序，將模擬的第一按鍵信號發(fā)送到CPU，再經(jīng)過設(shè)定的時間，進入模擬下一個按鍵的程序，直至將所有選擇的按鍵信號模擬完畢，再恢復(fù)復(fù)位狀態(tài)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種按鍵的矩陣鍵盤的測試方法，其特征在于所述可編程邏輯器件為CPLD。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種按鍵的矩陣鍵盤的測試方法，它需要包括一矩陣鍵盤、一可編程邏輯器件，它包括如下步驟1所述矩陣鍵盤連接到CPU的線路通過測試點連接到可編程邏輯器件上，所述矩陣鍵盤上選擇復(fù)數(shù)個按鍵，所述按鍵覆蓋了矩陣鍵盤連接到CPU的所有口線；2所述可編程邏輯器件模擬所選擇的按鍵信號，將模擬按鍵信號通過測試點發(fā)送到CPU；3所述CPU若是接收到所述可編程邏輯器件發(fā)送的模擬按鍵信號，則表示口線與CPU焊接正常，若是接收不到可編程邏輯器件發(fā)送的模擬按鍵信號，則表示口線與CPU焊接異常。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)自動測試，而且能夠提高測試效率和測試覆蓋率。
文檔編號G01R31/02GK102520301SQ20111038167
公開日2012年6月27日 申請日期2011年11月25日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月25日
發(fā)明者念恩, 肖鋒, 蘇龍, 鄭云斌 申請人:福建聯(lián)迪商用設(shè)備有限公司