專利名稱：切換面板及其測試電路的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及顯示技術領域，特別是涉及一種可使顯示裝置在二維與三維顯示模式之間進行切換的切換面板以及相關的測試電路。
背景技術：
隨著科技的發(fā)展進步，三維顯示技術已經越來越成熟，目前已經開發(fā)出具有三維顯示功能或者具有二維與三維顯示切換功能的顯示裝置(例如顯示器或者電視等等)。請參閱圖1，其繪示為現(xiàn)有的一種具有二維與三維顯示模式切換功能的顯示裝置的示意圖。如圖I所示，顯示裝置100包括普通常用的平面顯示面板110(例如液晶顯示面 板)、切換面板(switching cell panel) 120以及透鏡陣列(lens array)基板130。其中，切換面板120設置在平面顯示面板110與透鏡陣列基板130之間。且切換面板120包括上基板121、下基板122以及夾設在上基板121與下基板122之間的液晶層123。圖2繪示為圖I所示的切換面板的切面示意圖，而圖3繪示為圖I所示的切換面板的平面示意圖。請一并參閱圖2-3，切換面板120的上基板121在顯示區(qū)域內設置有多條相互平行的第一條狀電極(electrode stripe) 1210,而下基板122在顯示區(qū)域內也設置有多條相互平行的第二條狀電極1220，且這些第一條狀電極1210與這些第二條狀電極1220相互垂直。切換面板120進一步包括第一驅動器126以及第二驅動器127，其中第一驅動器126以及第二驅動器127分別用于驅動上基板121上的第一條狀電極1210以及下基板122上的第二條狀電極1220，以使上基板121與下基板122之間產生電壓差，來驅動其內的液晶進行偏轉以開啟或者關閉對應的像素，從而實現(xiàn)二維與三維顯示模式切換的功能。其中，第一條狀電極1210與第二條狀電極1220分別采用ITO等透明材質而制成。由于切換面板120的上基板121以及下基板122上均需要設置大量的條狀電極1210以及1220，因此制造商在制造過程中需要測試這些條狀電極1210以及1220是否出現(xiàn)斷路或者短路現(xiàn)象。圖4繪示現(xiàn)有的一種用于切換面板的測試電路示意圖。如圖4所示，基板200上的條狀電極210通過金屬扇狀結構220而電連接至短路墊(shorting bar) 230，然后再電連接至基板200外的測試墊(test pad)250以及260。其中，短路墊230包括第一測試走線231以及第二測試走線232，且第一測試走線231通過金屬扇狀結構220而分別電連接基板200上的奇數(shù)行的條狀電極210，從而將奇數(shù)行的條狀電極210通過金屬扇狀結構220以及第一測試走線231而電連接測試墊250 ;而第二測試走線232通過金屬扇狀結構220而分別電連接基板200上的偶數(shù)行的條狀電極210，從而將偶數(shù)行的條狀電極210通過金屬扇狀結構220以及第二測試走線232而電連接測試墊260。因此，藉由圖4所示的電路連接關系可以測試切換面板的基板200上所設置的條狀電極210是否發(fā)生了斷路或者短路現(xiàn)象。且，在完成斷路或者短路測試后，可利用雷射切割的方式在雷射切割區(qū)域270切斷第一測試走線231以及第二測試走線232與金屬扇狀結構220之間的電連接線，以使第一測試走線231以及第二測試走線232與條狀電極210電隔離。請繼續(xù)參閱圖2，切換面板120的上基板121的面積決定著整個切換面板120的顯示區(qū)域的大小，為了獲得較大的顯示區(qū)域，則上基板121上除了第一條狀電極1210外，會盡量不設置其它的元件，從而使第一條狀電極1210可以獲得最大程度的長度。因此，對于切換面板120的上基板121來說，其通常不會有足夠的空間來設置短路墊(shortingbar) 230。此外，上基板121上一般只設置有條狀電極1210以及金屬扇狀結構220，其一般不會設置任何的絕緣介質層。而對于圖4所示的測試電路而言，第一測試走線231與金屬扇狀結構220之間的電連接線會橫跨第二測試走線232。由于上基板121上通常沒有設置任何的絕緣介質層，因此其不允許金屬線路之間相互跨越。也就是說，圖4所示的短路墊230也并不適合設置在切換面板120的上基板121內，其一般是設置在下基板122內用于測試下基板122上的條狀電極1220是否發(fā)生斷路或者短路現(xiàn)象。因此，現(xiàn)有的測試電路并不適合用于測試上基板121上的條狀電極1210是否發(fā)生斷路或者短路現(xiàn)象。如果將現(xiàn)有的測 試電路應用在上基板121內，則需要額外的設置一層絕緣介質層，以使兩個測試走線可以設置在不同的層內從而實現(xiàn)金屬線之間的橫跨。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于，克服現(xiàn)有的切換面板存在的缺陷，而提供一種新的切換面板，所要解決的技術問題是制程簡單、成本較少。本發(fā)明的另一目的在于，克服現(xiàn)有的用于切換面板的測試電路存在的缺陷，而提供一種新的用于切換面板的測試電路，所要解決的技術問題是制程簡單并減少成本。本發(fā)明的目的及解決其技術問題是采用以下技術方案來實現(xiàn)的。本發(fā)明提出一種切換面板，其包括一上基板以及一與該上基板相對的下基板。該上基板包括多個相互平行的條狀電極、一第一測試走線以及一第二測試走線。該第一測試走線分別電連接奇數(shù)行的條狀電極，而該第二測試走線分別電連接偶數(shù)行的條狀電極。其中，該第一測試走線與該第二測試走線分別設置在該上基板的相對兩側。優(yōu)選地，該些條狀電極分別為透明電極。例如，該些條狀電極采用ITO透明導電材質制成。優(yōu)選地，該第一測試走線與該第二測試走線分別為金屬線。優(yōu)選地，該第一測試走線與該第二測試走線分別設置在該上基板的相對兩個短側邊處。本發(fā)明還提出一種用于切換面板的測試電路，其中該切換面板包括一上基板，且該上基板上設置有多條相互平行的條狀電極。該測試電路包括一第一測試走線以及一第二測試走線，該第一測試走線分別電連接奇數(shù)行的條狀電極，而該第二測試走線分別電連接偶數(shù)行的條狀電極。其中，該第一測試走線與該第二測試走線分別設置在該上基板的相對兩側。優(yōu)選地，該第一測試走線與該第二測試走線分別設置在該上基板的相對兩個短側邊處。優(yōu)選地，該第一測試走線與該第二測試走線在對該上基板進行芯片切割時，與該上基板分離。
優(yōu)選地，該測試電路進一步包括一第一測試墊以及一第二測試墊，該第一測試墊電連接該第一測試走線以對該些奇數(shù)行的條狀電極進行斷路或者短路測試，而該第二測試墊電連接該第二測試走線以對該些偶數(shù)行的條狀電極進行斷路或者短路測試。優(yōu)選地，該第一測試走線以及該第二測試走線分別為金屬線。本發(fā)明與現(xiàn)有技術相比具有明顯的優(yōu)點和有益效果。借由上述技術方案，本發(fā)明切換面板及其測試電路至少具有下列優(yōu)點及有益效果
本發(fā)明所揭示的測試電路并不需要設置專門的短路墊，且第一測試走線以及第二測試走線會在芯片切割時與上基板分離，因此其并不會減少切換面板的顯示區(qū)域。且由于測試電路的測試走線以及相關電連接線之間并不需要進行橫跨，因此其也并不需要設置絕緣介 質層，則本發(fā)明所揭示的測試電路以及切換面板制程比較簡單，成本較低。上述說明僅是本發(fā)明技術方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術手段，而可依照說明書的內容予以實施，并且為了讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點能夠更明顯易懂，以下特舉較佳實施例，并配合附圖，詳細說明如下。


圖I繪示為現(xiàn)有的一種具有二維與三維顯示模式切換功能的顯示裝置的示意圖。圖2繪示為圖I所示的切換面板的切面示意圖。圖3繪示為圖I所示的切換面板的平面示意圖。圖4繪示現(xiàn)有的一種用于切換面板的測試電路示意圖。圖5繪示為本發(fā)明一較佳實施例所揭示的一種用于切換面板的測試電路的示意圖。100 :顯示裝置110:平面顯示面板
120:切換面板130 :透鏡陣列基板
121:上基板122 :下基板
123 :液晶層1210 :第一條狀電極
1220 :第二條狀電極126 :第一驅動器
127 :第二驅動器200 :基板
210 :條狀電極230 :短路墊
231 :第一測試走線232 :第二測試走線
220 :金屬扇狀結構250 :測試墊
260 :測試墊270 :雷射切割區(qū)域
500 :芯片510 :上基板
511 :條狀電極512 :第一測試走線
513 :第二測試走線516 :第一測試墊
517 :第二測試墊531 :切割線
532 :切割線。
具體實施方式
為更進一步闡述本發(fā)明為達成預定發(fā)明目的所采取的技術手段及功效，以下結合附圖及較佳實施例，對依據(jù)本發(fā)明提出的攝影設備的測試系統(tǒng)及其校正方法其具體實施方式
、方法、步驟、結構、特征及其功效，詳細說明如后。有關本發(fā)明的前述及其他技術內容、特點及功效，在以下配合參考圖式的較佳實施例的詳細說明中將可清楚呈現(xiàn)。通過具體實施方式
的說明，當可對本發(fā)明為達成預定目的所采取的技術手段及功效得一更加深入且具體的了解，然而所附圖式僅是提供參考與說明之用，并非用來對本發(fā)明加以限制。圖5繪示為本發(fā)明一較佳實施例所揭示的一種用于切換面板的測試電路的示意圖。本實施例所揭示的測試電路主要是針對切換面板的上基板，用于測試上基板上的條狀電極是否發(fā)生斷路或者短路現(xiàn)象。如圖5所示，芯片500包括多個切換面板的上基板510，且每個上基板510分別具有多個相互平行的條狀電極511、第一測試走線512以及第二測試走線513。其中，第一測試走線512分別電連接奇數(shù)行的條狀電極511，從而通過第一測試走線512使奇數(shù)行的條狀電極511電連接至第一測試墊516以對奇數(shù)行的條狀電極511 進行斷路或者短路測試。而第二測試走線513分別電連接偶數(shù)行的條狀電極511，從而通過第二測試走線513使偶數(shù)行的條狀電極511電連接至第二測試墊517以對偶數(shù)行的條狀電極511進行斷路或者短路測試。也就是說，條狀電極511、第一測試走線512、第二測試走線513、第一測試墊516以及第二測試墊517組成了一個測試電路，可分別對這些條狀電極511進行斷路或者短路測試以判斷每個條狀電極511是否發(fā)生斷路或者短路現(xiàn)象。此外，第一測試走線512與第二測試走線513分別設置在上基板510的相對兩側，優(yōu)選地，第一測試走線512與第二測試走線513分別設置在上基板510的相對兩個短側邊處。這些條狀電極511可分別為透明電極，例如采用ITO等透明導電材質而制成，而第一測試走線512與第二測試走線513可分別為金屬線，采用金屬材質而制成。當對芯片500進行芯片切割時，可沿著切割線531以及532進行芯片切割，從而形成獨立的上基板510。且，如圖5所示，在進行芯片切割時，第一測試走線512以及第二測試走線513會直接從上基板510分離出去，因此并不需要再利用雷射切割(laser cutting)的方式來切斷第一測試走線512以及第二測試走線513與條狀電極511之間的電連接線，來達到使第一測試走線512以及第二測試走線513與條狀電極511電隔離的目的。另外，在完成芯片切割后，第一測試走線512以及第二測試走線513均會從上基板510分離出去，因此其并不會占用上基板510的面積，也就不會減少整個切換面板的顯示區(qū)域。且，由于第一測試走線512以及第二測試走線513是分別設置在上基板510的相對兩側，因此第一測試走線512、第二測試走線513以及其與條狀電極511之間的電連接線之間并不會進行橫跨，其并不需要設置專門的絕緣介質層來實現(xiàn)金屬線之間的橫跨。綜上所述，本發(fā)明所揭示的測試電路并不需要設置專門的短路墊，因此其并不會減少切換面板的顯示區(qū)域。且由于測試電路的測試走線以及相關電連接線之間并不需要進行橫跨，因此其也并不需要設置絕緣介質層，則本發(fā)明所揭示的測試電路以及切換面板制程比較簡單，成本較低。以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實施例而已，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制，雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上，然而并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉本專業(yè)的技術人員，在不脫離本發(fā)明技術方案范圍內，當可利用上述揭示的技術內容作出些許更動或修飾為等同變化的等效實施例，但凡是未 脫離本發(fā)明技術方案內容，依據(jù)本發(fā)明的技術實質對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術方案的范圍內。
權利要求
1.一種切換面板，其包括 一下基板；以及 一上基板，其與該下基板相對，該上基板包括多個相互平行的條狀電極；一第一測試走線，分別電連接奇數(shù)行的條狀電極；以及一第二測試走線，分別電連接偶數(shù)行的條狀電極； 其特征在于，該第一測試走線與該第二測試走線分別設置在該上基板的相對兩側。
2.根據(jù)權利要求I所述的切換面板，其特征在于，該些條狀電極分別為透明電極。
3.根據(jù)權利要求2所述的切換面板，其特征在于，該些條狀電極采用ITO透明導電材質制成。
4.根據(jù)權利要求I所述的切換面板，其特征在于，該第一測試走線與該第二測試走線分別為金屬線。
5.根據(jù)權利要求I所述的切換面板，其特征在于，該第一測試走線與該第二測試走線分別設置在該上基板的相對兩個短側邊處。
6.一種用于切換面板的測試電路，其中該切換面板包括一上基板，且該上基板上設置有多條相互平行的條狀電極，其特征在于，該測試電路包括 一第一測試走線，分別電連接奇數(shù)行的條狀電極；以及 一第二測試走線，分別電連接偶數(shù)行的條狀電極； 其中，該第一測試走線與該第二測試走線分別設置在該上基板的相對兩側。
7.根據(jù)權利要求6所述的測試電路，其特征在于，該第一測試走線與該第二測試走線分別設置在該上基板的相對兩個短側邊處。
8.根據(jù)權利要求6所述的測試電路，其特征在于，該第一測試走線與該第二測試走線在對該上基板進行芯片切割時，與該上基板分離。
9.根據(jù)權利要求6所述的測試電路，其特征在于進一步包括一第一測試墊以及一第二測試墊，該第一測試墊電連接該第一測試走線以對該些奇數(shù)行的條狀電極進行斷路或者短路測試，而該第二測試墊電連接該第二測試走線以對該些偶數(shù)行的條狀電極進行斷路或者短路測試。
10.根據(jù)權利要求6所述的測試電路，其特征在于，該第一測試走線以及該第二測試走線分別為金屬線。
全文摘要
本發(fā)明提出一種切換面板，其包括一上基板以及一與該上基板相對的下基板。該上基板包括多個相互平行的條狀電極、一第一測試走線以及一第二測試走線。該第一測試走線分別電連接奇數(shù)行的條狀電極，而該第二測試走線分別電連接偶數(shù)行的條狀電極。其中，該第一測試走線與該第二測試走線分別設置在該上基板的相對兩側。由于測試電路的測試走線以及相關電連接線之間并不需要進行橫跨，因此其也并不需要設置絕緣介質層，則本發(fā)明所揭示切換面板制程比較簡單，成本較低。且由于第一測試走線以及第二測試走線會在芯片切割時與上基板分離，因此其并不會減少切換面板的顯示區(qū)域。
文檔編號G01R31/02GK102800268SQ20111013807
公開日2012年11月28日 申請日期2011年5月26日 優(yōu)先權日2011年5月26日
發(fā)明者葉俊顯, 曾國瑋 申請人:友達光電股份有限公司