專利名稱：一種界面波動含氣液膜厚度實時測量裝置及測量方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于氣液分層或環(huán)狀流波動含氣液膜厚度實時測量技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種界面波動含氣液膜厚度實時測量裝置及測量方法，即利用點測量的單頭電導(dǎo)探針分辨氣液界面，可應(yīng)用于管內(nèi)氣液分層流或環(huán)狀流等流型液膜厚度以及明渠高速水流氣液界面的測量。
背景技術(shù)：
在目前的石油多相管流輸送、動力工程等領(lǐng)域內(nèi)，氣液分層流和環(huán)狀流是常見的流型，在這些流型中液膜厚度是一個重要的參數(shù)，有必要對其進行實時精確的測量，從而對截面相分布，壓降等參數(shù)進行準(zhǔn)確計算。目前有很多分層流和環(huán)狀流液膜厚度的測量方法，例如光學(xué)法、射線法、高速攝像法、電學(xué)法等。在這些方法中，光學(xué)法和射線法測量精度比較高，但由于設(shè)備價格昂貴、體積龐大、操作復(fù)雜等因素，其使用受到了很大的限制。高速攝影法能夠以很高的速度對界面進行動態(tài)記錄，所以能夠給出有關(guān)界面波動的更細致的結(jié)構(gòu)，但這種方法對操作者要求很高，而且需要解決有關(guān)照明、聚焦等光學(xué)問題，適用范圍也受到了限制。電學(xué)法可以分為電導(dǎo)法和電容法兩類，其具有價格低廉、設(shè)備簡單、操作方便等優(yōu)點，在近年來多相流領(lǐng)域液膜厚度及截面含氣率測量中得到了廣泛研究。如中國專利申請文本《實時測量多相管流中相含率和相界面的電導(dǎo)探針測量系統(tǒng)》(
公開日2006年10月 18日，公開號CN 1847836A，申請日2006年3月27日)公開了一種測量圓管內(nèi)分層流液膜厚度的電導(dǎo)探針系統(tǒng)，采用雙環(huán)電導(dǎo)探針或雙平行電導(dǎo)探針，可以對多相管流中相含率和相界面進行在線測量和顯示，該專利即采用了電導(dǎo)法，其基本測量原理是安裝在管段上的兩電極之間的電導(dǎo)與液膜厚度有一定的聯(lián)系。但是這種方法有一些不足之處首先兩電極之間的電導(dǎo)受到液相溫度和液相中雜質(zhì)成分等因素的影響，而且雙平行探針的尾渦卷吸氣體會造成探針下游局部區(qū)域與氣體接觸，從而對液膜厚度的測量造成較大誤差；其次需要通過標(biāo)定在液膜厚度與輸出信號之間建立一種函數(shù)關(guān)系，而由于標(biāo)定環(huán)境和測量環(huán)境之間的差別以及信號受噪聲影響等因素，在標(biāo)定與使用過程中會帶來一些誤差；另外這種方法僅適用于靜止或緩流液膜厚度的測量，在液膜高速運動時，其表面受氣體攜帶影響會產(chǎn)生波動與充氣，此時并不存在涇渭分明的氣液界面，因此不能給出準(zhǔn)確的界面氣液分布變化規(guī)律。中國專利申請文本《多相管流中相含率和相界面的單絲電容探針測量系統(tǒng)》(
公開日2006年11月22日，公開號CN 1865966A，申請日2006年5月11日)公開了一種測量圓管內(nèi)分層流液膜厚度的單絲電容探針系統(tǒng)，此專利采用了電容法測量液膜厚度，測量結(jié)果不受流體溫度和雜質(zhì)成分的影響，可以對多相管流中相含率和相界面進行連續(xù)實時在線測量。但這種方法同樣需要標(biāo)定，而且不能給出波動和含氣液膜情況下液膜界面處的氣液分布變化規(guī)律。另外中國專利申請文本《導(dǎo)電基板上液膜厚度的測量方法》(
公開日2008年 4月9日，公開號CN101159225A，申請日2007年11月7日)公開了一種導(dǎo)電基板上靜止的薄液膜厚度的測量方法，其主要思想是利用可移動的導(dǎo)電探針探測液膜表面和液膜底面的位置，可以進行較精細液膜厚度的測量，但這種方法適用范圍較窄，難以應(yīng)用到動態(tài)流動含氣液膜厚度測量中。一些研究者使用超聲波法探測氣液界面，如Murzyn等2007年在報告CH63/07 《Free Surface,Bubbly flow and Turbulence Measurements in Hydraulic Jumps》中使用了超聲波位移計來探測水躍中波動含氣的氣液界面，其基本原理是聲波在空氣中的傳播速度一定，通過測量其從發(fā)射裝置傳播到氣液界面后反射進入接收裝置的時間可以推導(dǎo)出聲波運動的距離，從而確定氣液界面的位置。研究發(fā)現(xiàn)在界面波動含氣時，超聲波法測量的界面位置含氣率大約為50% -60%。這種方法對氣液相性質(zhì)要求較低，而且可以對波動含氣液膜的大概界面位置進行判斷，但其裝置復(fù)雜，難以應(yīng)用在小直徑管道中，而且不能給出氣液界面區(qū)域含氣率隨位置變化的關(guān)系，只能粗略判斷界面位置。綜上所述，目前這些液膜厚度測量方法有一定局限性，不能給出液膜界面處的氣液分布變化規(guī)律，難以實現(xiàn)管內(nèi)波動含氣液膜厚度的高精度實時測量。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種界面波動含氣液膜厚度實時測量裝置及測量方法，即提供一種點測量的單頭電導(dǎo)探針技術(shù)，通過準(zhǔn)確測量液膜氣液界面區(qū)域的含氣率與氣泡頻率變化來確定液膜的厚度，還可以給出精確的界面附近氣液分布變化規(guī)律，而且無需標(biāo)定，克服氣液界面波動和充氣狀態(tài)下液膜厚度難以精確測量的困難，彌補了現(xiàn)有技術(shù)的不足。本發(fā)明的界面波動含氣液膜厚度實時測量裝置包括有電源、單頭電導(dǎo)探針探測器、控制探針檢測位置的夾持位移器和數(shù)據(jù)采集分析器，其中數(shù)據(jù)采集分析器包括有串聯(lián)在電源和單頭電導(dǎo)探針探測器之間的外置電阻和測量外置電阻兩端電壓的采集板卡，其特征在于，上述的單頭電導(dǎo)探針探測器包括有穿過金屬套管的探針，在探測部分金屬套管和探針為L型，探針和金屬套管之間絕緣，且分別連接到電源的正負極上。上述的探針為金屬絲，直徑為0. 2mm，檢測部分為圓錐針尖狀。金屬套管的直徑為 1mm，為了保證金屬套管始終與液相接觸，其外壁連接有導(dǎo)線，與液面始終接觸。上述的探針和金屬套管之間絕緣是指探針除針尖探測部分和尾部外都具有絕緣層或是探針和金屬套管間填充有絕緣材料，其中針尖探測部分用來探測氣泡，尾部用來連接電路。為了獲得更精確的測量數(shù)據(jù)，探針的針尖處有40 80μπι的導(dǎo)電區(qū)域。為了更好的獲得絕緣效果，在金屬套管的兩端用膠團密封，防止液體滲入套管內(nèi)。上述的探針連接到直流電源的負極，金屬套管連接到直流電源的正極，直流電源為4. 5ν直流電源。所述的控制探針檢測位置的夾持位移器可以是微步進控制儀器，通過微步進控制儀器來調(diào)節(jié)探針和金屬套管的位置，并將信號傳遞給數(shù)據(jù)采集分析器的采集板卡，經(jīng)計算機處理程序計算可以得到探針針尖距管底的高度。所述的夾持位移器還可以包括有數(shù)顯游標(biāo)卡尺和探針游標(biāo)固定塊組成，探針游標(biāo)固定塊將金屬套管、探針和數(shù)顯游標(biāo)卡尺固定在一起，可隨著游標(biāo)的上下移動而改變針尖在管內(nèi)的徑向位置，同時數(shù)顯卡尺顯示器就地顯示出游標(biāo)的位置并將信號遠傳至采集板卡。所述的夾持位移器通過密封固定裝置來安裝在要測量的管道上。
所述的外置電阻為5兆歐，采集板卡是NI PCI-6143 S系列同步采集卡，采集板卡將收集的數(shù)據(jù)傳到計算機，由Labview圖形化數(shù)據(jù)采集分析軟件記錄，結(jié)合微步進控制儀器或數(shù)顯游標(biāo)卡尺記錄的探針位移數(shù)據(jù)進行含氣液膜厚度的分析。本發(fā)明的裝置用于導(dǎo)電液體波動含氣液膜厚度的測量。本發(fā)明裝置的電源正負極分別連接在單頭電導(dǎo)探針探測器的探針和金屬套管上， 優(yōu)選正極連接到金屬套管上，負極連接到探針上，這樣構(gòu)成了一個電路。但探針和金屬套管之間做了絕緣處理，因此，只有當(dāng)金屬套管和探針都接觸到導(dǎo)電液體的時候，電路才會聯(lián)通，此時采集板卡測量外置電阻為高電平；當(dāng)探針的針尖向上移動到氣液界面附近時，由于界面的波動和充氣，針尖時而處于氣相，時而處于液相，輸出信號在高低電平之間不斷變換；當(dāng)針尖繼續(xù)向上移動脫離液相進入氣相時，信號顯示低電平。通過與采集板卡相連的 Labview圖形化數(shù)據(jù)采集分析軟件進行信號分析，計算不同針尖位置處的含氣率，其中含氣率為電平數(shù)據(jù)處于低電平的時間總和占采集時間的比例。本發(fā)明的界面波動含氣液膜厚度實時測量方法，是先將探針端部放入待測導(dǎo)電液體中，使針尖朝向來流方向，再用夾持位移器來控制探針針尖在管內(nèi)的位置，首先使探針針尖緊貼管道下壁面，記錄探針針尖位于管底部時的絕對位置，然后使探針從導(dǎo)電液體的液面向氣液界面移動，同時通過采集板卡記錄不同層面外置電阻兩端的電平和檢測時間，以及探針的絕對位置數(shù)據(jù)，將不同層面電平數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)為層面的含氣率，20 90%含氣率層面時探針針尖的絕對位置與探針針尖位于管底部時的絕對位置之差為液膜的厚度。上述的液膜的厚度是50%含氣率層面時探針針尖的絕對位置與探針針尖位于管底部時的絕對位置之差。本發(fā)明通過點測量的單頭電導(dǎo)探針技術(shù)測量氣液分層流和環(huán)狀流動波動和含氣液膜氣液界面的含氣率與氣泡頻率沿界面垂線方向的變化情況，從而精確測量液膜厚度。 同其他測量方法相比具有以下特點無需標(biāo)定；不受介質(zhì)的電導(dǎo)率、溫度等參數(shù)影響，當(dāng)液相電導(dǎo)率較小時，可通過改變外置電阻阻值使輸出信號高低電平差異顯著，也可以通過加入電解質(zhì)來改變液體導(dǎo)電性；可以給出液膜界面處的氣液分布變化規(guī)律。


圖1是本發(fā)明單頭電導(dǎo)探針探測器示意圖；圖2是本發(fā)明測量裝置的整體結(jié)構(gòu)圖；圖3是某一工況下探針原始信號(Raw Signal)、標(biāo)準(zhǔn)化處理后的信號 (Normalized Signal)和理想方波信號(Square Signal)的對比；圖4是探針針尖處于氣液界面以下時的輸出電壓信號，處理得到含氣率為3% ；圖5是探針針尖處于氣液界面附近時的輸出電壓信號，處理得到含氣率為50% ；圖6是探針針尖處于氣液界面以上時的輸出電壓信號，處理得到含氣率為90% ；圖7是探針測量的含氣率和氣泡頻率隨氣液界面垂線方向變化的曲線圖；其中 1、探針2、絕緣漆3、膠團4、金屬套管5、管道6、密封固定裝置7、數(shù)顯游標(biāo)卡尺8、探針游標(biāo)固定塊9、單頭電導(dǎo)探針探測器10、外置電阻11、電源12、接地端13、采集板卡14、 計算機。
具體實施例方式下面將結(jié)合附圖詳述本發(fā)明的裝置和應(yīng)用方法一、電導(dǎo)探針的制作方法如圖1，本發(fā)明的單頭電導(dǎo)探針探測器9主要由探針1和金屬套管4組成。其中探針1的制作過程如下首先采用電化學(xué)腐蝕的方法將電導(dǎo)探針1的電極制成鋒利的針尖狀，隨后在電導(dǎo)探針1表面涂覆絕緣漆2并烘烤，上漆完成后，需要將探針尖端進行打磨，使其暴露出40 80 μ m的導(dǎo)電區(qū)域。針尖電極制作完成后，將其裝入中空的金屬套管4中， 在針尖一端露出一定長度，保證探針1和金屬套管4之間絕緣，在金屬套管4距端部2cm左右位置處，將金屬套管4連同探針1彎成90°，使單頭電導(dǎo)探針探測器9為L型。為了防止金屬套管4中進入導(dǎo)電液體影響絕緣效果，使用高強度膠團3封住金屬套管4兩端并將探針1固定住。另外，探針1穿過金屬套管4的部分可以填充絕緣材料，例如不導(dǎo)電的硅膠等，這樣既可以使探針1和金屬套管4絕緣，又可以使探針1固定在金屬套管4的內(nèi)部。上述的探針1為導(dǎo)電金屬制成的金屬絲，例如不銹鋼絲、鉬絲、銅絲等，探針1的直徑為0. 2mm，檢測部分為圓錐針尖狀。金屬套管由導(dǎo)電的金屬材料制成，例如不銹鋼、銅等， 其直徑為1mm。為了保證金屬套管4始終與液相接觸，其外壁連接有與液面始終接觸的導(dǎo)線。二、液膜厚度測量裝置系統(tǒng)組成及測量方法如圖2，本發(fā)明的測量裝置包括有電源11、單頭電導(dǎo)探針探測器9、控制探針檢測位置的夾持位移器和數(shù)據(jù)采集分析器，其中數(shù)據(jù)采集分析器包括有串聯(lián)在電源11和單頭電導(dǎo)探針探測器9之間的外置電阻10和測量外置電阻10兩端電壓的采集板卡13以及計算機數(shù)據(jù)采集處理軟件系統(tǒng)，其特征在于，上述的單頭電導(dǎo)探針探測器9包括有穿過金屬套管4的探針1，在探測部分金屬套管4和探針1為L型，探針1和金屬套管4之間絕緣，且分別連接到電源11的正負極上。金屬套管4和探針1為L型，這樣測量的時候，L型的探針可以更有效的測量液面上的氣泡。組裝時，將單頭電導(dǎo)探針探測器9和控制探針移動距離的夾持位移器組裝在一起，單頭電導(dǎo)探針探測器9穿過所要檢測的管道5上壁的小孔伸入管內(nèi)，再通過密封固定裝置6安裝在管道5上。其中夾持位移器可以是現(xiàn)有的微步進控制儀器，還可以由數(shù)顯游標(biāo)卡尺7和探針游標(biāo)固定塊8組成，其中探針游標(biāo)固定塊8將單頭電導(dǎo)探針探測器9和數(shù)顯游標(biāo)卡尺7的游標(biāo)固定在一起，可隨著游標(biāo)的上下移動而改變針尖在管內(nèi)的徑向位置，數(shù)顯游標(biāo)卡尺7可以實現(xiàn)單頭電導(dǎo)探針探測器9的探針1針尖絕對位置的高精度測量、就地顯示以及數(shù)據(jù)遠傳，采集板卡13采用NI PCI-6143 S系列同步采集卡，將采集的針尖絕對位置數(shù)據(jù)傳遞到計算機14。本發(fā)明提供的波動含氣液膜的測量裝置實質(zhì)上構(gòu)成了一個電路，該電路包括單頭電導(dǎo)探針探測器9的探針1和金屬套管4、5兆歐的外置電阻10和4. 5V直流電源11。其中單頭電導(dǎo)探針探測器9的探針1與外置內(nèi)阻10、電源11依次串聯(lián)，4. 5V直流電源11的正極連接在探針金屬套管4外壁上，并與接地端12相連，負極與單頭電導(dǎo)探針探測器9的探針1相連。采集板卡13以10-40KHZ的采樣率對外置電阻10兩端的電壓進行采集，并將數(shù)據(jù)傳遞給計算機14。
本發(fā)明的裝置用于導(dǎo)電液體波動含氣液膜厚度的測量，其測量原理是基于氣液相電阻的不同，氣相電阻遠大于液相。由于單頭電導(dǎo)探針探測器9的探針1和金屬套管4之間做了絕緣處理，因此，只有當(dāng)金屬套管4和探針1針尖都接觸到導(dǎo)電液體的時候，電路才會聯(lián)通；當(dāng)探針1針尖接觸到氣相或液相中的小氣泡時，電路斷開。將探針1端部放入界面波動含氣液膜中，使針尖朝向來流方向，在混合流體中液相為連續(xù)相，氣體以小氣泡的形式分散在液相中，金屬套管4始終與連續(xù)的水相接觸。當(dāng)探針1針尖接觸到液相時，電流將會流過探針1和金屬套管4，由于外置電阻遠大于水與導(dǎo)線電阻，而采集板卡13測量的是外置電阻10兩端的電壓，故信號輸出高電平；當(dāng)接觸到混合流體中的小氣泡或液膜波動界面的波谷氣體時，探針1無法與金屬套管4導(dǎo)通，電路斷開，外置電阻10兩端電壓接近零，信號輸出低電平。上下移動數(shù)顯卡尺7的游標(biāo)，與之相連的探針1隨之移動，當(dāng)其針尖接觸氣液界面之下時，信號輸出高電平；當(dāng)針尖向上移動到氣液界面附近時，由于界面的波動和充氣，針尖時而處于氣相，時而處于液相，輸出信號在高低電平之間不斷變換；當(dāng)針尖繼續(xù)向上移動脫離液相進入氣相時，信號顯示低電平。采集板卡13將采集到的探針1的信號以及數(shù)顯游標(biāo)卡尺7的信號傳遞到計算機14，采用專門編制的Labview圖形化數(shù)據(jù)采集分析軟件對信號進行分析處理，計算出各個采集點處探針針尖的絕對位置以及此處的局部時均含氣率和氣泡頻率，進行數(shù)據(jù)存儲并在計算機顯示器上實時顯示。另外，在測量的時候也可以使探針1先處于空氣界面中，然后向下移動，直至到管道的最底部。三、測量裝置信號處理方法計算機14上運行的Labview圖形化數(shù)據(jù)采集分析軟件采用雙線程并行處理技術(shù)來實現(xiàn)實時采集與探針位移和含氣率對應(yīng)關(guān)系的計算，其中一個線程采集探針信號，另一個線程進行信號分析處理顯示。在氣液界面附近以較高的采樣率采集一段時間(如2秒) 后，可以得到一組隨時間變化的原始電壓信號，其中高電平時為液相，低電平時為氣相。信號處理時，首先要對原始信號進行濾波，去除信號中的高頻干擾噪聲，這里采用的是五點光滑濾波。由于不同流動條件下水相的電阻率略有不同，這使得雙頭電導(dǎo)探針輸出信號的基礎(chǔ)電壓，以及電壓信號的變化幅度會存在一定差別，因此需要對雙頭電導(dǎo)探針的原始輸出信號進行標(biāo)準(zhǔn)化處理，將原始信號轉(zhuǎn)化為0-1之間的信號，消除原始信號中基礎(chǔ)電壓和電壓信號的變化幅度不穩(wěn)定的問題。另外由于探針端部尺寸有限，界面對探針的潤濕/干燥需要一定時間，探針和電路系統(tǒng)需要一定的反應(yīng)時間等原因，得到的原始信號并不是嚴(yán)格的方波信號，需要通過閾值處理將信號變成方波信號，然后才能進行參數(shù)的計算。單頭電導(dǎo)探針在氣液流動測量時一般采用單閾值技術(shù)，即信號值大于閾值時設(shè)為高電平，小于閾值時設(shè)為低電平，在這里我們采用了高低電平差的50%作為閾值。圖3給出了某一工況下原始信號(Raw Signal)、標(biāo)準(zhǔn)化處理后的信號 (Normalized Signal)和理想方波信號(Square Signal)的對比。通過對方波信號進行處理，可以得到局部時均含氣率和氣泡頻率的值。其中局部時均含氣率C表示為單頭電導(dǎo)探針電極處于氣相的時間累加值除以總的采樣時間的比率
1 NC = ^EitTF- tTR )j其中AT是總的采樣時間，N是采樣時間內(nèi)雙頭電導(dǎo)探針上游電極測量到的氣泡總數(shù)，(tTF-tTE)j是指第j個氣泡的低電平持續(xù)時間。氣泡頻率F是指單頭電導(dǎo)探針單位時間內(nèi)探測到的氣泡數(shù)目，可直接對理想方波
信號中的脈沖進行計數(shù)得到，其計算方法為 N
權(quán)利要求
1.一種界面波動含氣液膜厚度實時測量裝置，包括有電源(11)、單頭電導(dǎo)探針探測器 (9)、控制單頭電導(dǎo)探針探測器(9)位置的夾持位移器和數(shù)據(jù)采集分析器，其中數(shù)據(jù)采集分析器包括有串聯(lián)在電源(11)和單頭電導(dǎo)探針探測器(9)之間的外置電阻(10)和測量外置電阻(10)兩端電壓的采集板卡(13)，其特征在于，上述的單頭電導(dǎo)探針探測器(9)包括有穿過金屬套管的探針(1)，在探測部分金屬套管(4)和探針(1)為L型，探針(1)和金屬套管⑷之間絕緣，且分別連接到電源(10)的正負極上。
2.如權(quán)利要求1所述的測量裝置，其特征在于上述的探針(1)是直徑為0.2mm的金屬絲，其檢測部分為圓錐針尖狀。
3.如權(quán)利要求1所述的測量裝置，其特征在于上述的金屬套管的直徑為1mm。
4.如權(quán)利要求2所述的測量裝置，其特征在于上述的探針(1)外表面涂有絕緣漆0)， 僅在針尖處有40 80 μ m的導(dǎo)電區(qū)域。
5.如權(quán)利要求1所述的測量裝置，其特征在于上述的金屬套管的兩端用膠團(3) 密封。
6.如權(quán)利要求1所述的測量裝置，其特征在于上述的探針(1)連接到電源(11)的負極，金屬套管(4)連接到電源(11)的正極，電源(11)為4. 5v的直流電源。
7.如權(quán)利要求1所述的測量裝置，其特征在于上述的夾持位移器由數(shù)顯游標(biāo)卡尺(7) 和探針游標(biāo)固定塊(8)組成。
8.權(quán)利要求1所述的裝置用于測量導(dǎo)電液體波動含氣液膜的厚度。
9.如權(quán)利要求8所述的導(dǎo)電液體波動含氣液膜的厚度的測量，其方法如下先將單頭電導(dǎo)探針探測器(9)的L型端部放入待測導(dǎo)電液體中，使探針(1)的針尖朝向來流方向， 再用夾持位移器來控制探針(1)在管內(nèi)的位置，首先記錄探針針尖位于管底部時的絕對位置，然后使探針(1)從導(dǎo)電液體的液面向空氣的層面移動，同時通過采集板卡(1 收集不同層面外置電阻(10)兩端的電平和檢測時間，以及探針(1)的絕對位置數(shù)據(jù)，將不同層面電平數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)為層面的含氣率，20 90%含氣率層面時探針(1)的絕對位置與探針(1)位于管底部時的絕對位置之差為液膜的厚度，其中含氣率為電平數(shù)據(jù)處于低電平的時間總和占采集時間的比例。
10.如權(quán)利要求9所述的測量方法，其特征在于上述的液膜的厚度是50%含氣率層面時探針(1)的絕對位置與探針(1)位于管底部時的絕對位置之差。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種界面波動含氣液膜厚度實時測量裝置及測量方法。所述的裝置包括有電源、單頭電導(dǎo)探針探測器、夾持位移器和數(shù)據(jù)采集分析器，其中數(shù)據(jù)采集分析器包括有串聯(lián)在電源和單頭電導(dǎo)探針探測器之間的外置電阻和測量外置電阻兩端電壓的采集板卡，上述的單頭電導(dǎo)探針探測器包括有穿過金屬套管的探針，在探測部分金屬套管和探針為L型，探針和金屬套管之間絕緣，且分別連接到電源的正負極上。測量時以0％含氣率層面時探針針尖的絕對位置與探針針尖位于管底部時的絕對位置之差為液膜的厚度。本發(fā)明通過單頭電導(dǎo)探針技術(shù)測量氣液分層流和環(huán)狀流動波動和含氣液膜氣液界面的含氣率與氣泡頻率沿界面垂線方向的變化情況，從而精確測量液膜厚度。
文檔編號G01B7/02GK102175130SQ201110050908
公開日2011年9月7日 申請日期2011年3月3日 優(yōu)先權(quán)日2011年3月3日
發(fā)明者何利民, 呂宇玲, 王同吉, 王鑫, 羅小明 申請人:中國石油大學(xué)(華東)