專利名稱：數(shù)據(jù)采集的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
以下總體上涉及數(shù)據(jù)采集，并且特別應(yīng)用于計(jì)算斷層攝影(CT)。然而，其也可以應(yīng)用于其它醫(yī)學(xué)成像應(yīng)用和非醫(yī)學(xué)成像應(yīng)用。
背景技術(shù)：
計(jì)算斷層攝影(CT)掃描儀包括安裝在繞著縱向軸或者ζ軸在檢查區(qū)域周圍旋轉(zhuǎn)的可旋轉(zhuǎn)臺架(gantry)上的χ射線管。檢測器陣列對向從χ射線管起與檢查區(qū)域相對的圓角弧。檢測器陣列檢測橫穿檢查區(qū)域的輻射以及其中的受體或者對象并且生成指示其的信號。重構(gòu)器重構(gòu)該信號并且生成容積圖像數(shù)據(jù)。能夠處理該容積圖像數(shù)據(jù)以生成一個或者多個圖像。檢測器陣列通常包括光耦合到光傳感器陣列的閃爍器陣列，該光傳感器陣列電耦合到處理電子設(shè)備。閃爍器陣列生成指示入射到其上的輻射的光，光傳感器陣列生成指示該光的電信號，并且處理電子設(shè)備包括基于該電信號生成指示所檢測的輻射的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的模數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換器。處理該數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)以生成由重構(gòu)器重構(gòu)的信號。遺憾的是，隨著檢測技術(shù)繼續(xù)發(fā)展到更多的切片、更小的切片寬度、更低的信號和更快的旋轉(zhuǎn)次數(shù)，噪聲和/或空間分辨率局限(constraint)會限制成像性能。

發(fā)明內(nèi)容
本申請的各個方面解決了上述以及其它問題。根據(jù)一個方面，一種成像檢測器包括閃爍器陣列、光耦合到所述閃爍器陣列的光傳感器陣列、電流到頻率(I/F)轉(zhuǎn)換器以及邏輯單元。I/F轉(zhuǎn)換器包括積分器和比較器。所述I/F轉(zhuǎn)換器在當(dāng)前積分時段期間將由所述光傳感器陣列輸出的電荷轉(zhuǎn)換為具有指示所述電荷的頻率的數(shù)字信號。所述邏輯單元基于對于所述當(dāng)前積分時段的所述數(shù)字信號來設(shè)定所述積分器對于下一個積分時段的增益。在另一實(shí)施例中，一種方法包括經(jīng)由檢測器瓦片(tile)的電流到頻率(I/F)轉(zhuǎn)換器將指示入射輻射的電荷轉(zhuǎn)換為具有指示所述電荷的頻率的數(shù)字信號；以及基于所述I/F 轉(zhuǎn)換器的輸出來識別對于所述I/F轉(zhuǎn)換器的增益。在另一實(shí)施例中，一種成像系統(tǒng)包括發(fā)射橫穿檢查區(qū)域的輻射的輻射源以及檢測橫穿所述檢查區(qū)域的輻射的檢測器陣列。所述檢測器陣列包括閃爍器陣列、光耦合到所述閃爍器陣列的光傳感器陣列以及電流到頻率(I/F)轉(zhuǎn)換器。所述I/F轉(zhuǎn)換器包括積分器和比較器，并且在當(dāng)前積分時段期間將來自所述光傳感器陣列的輸入電荷轉(zhuǎn)換為具有指示所述電荷的頻率的數(shù)字信號。邏輯單元基于對于所述當(dāng)前積分時段的所述數(shù)字信號設(shè)定所述積分器對于下一個積分時段的增益。


本發(fā)明可以采取各種部件及部件的設(shè)置以及各種步驟及步驟的設(shè)置的形式。附圖
5僅出于說明優(yōu)選實(shí)施例的目的并且不應(yīng)理解為限制本發(fā)明。圖1示出示例成像系統(tǒng)。圖2示出示例檢測器瓦片。圖3示出示例檢測器電子設(shè)備。圖4示出示例檢測器電子設(shè)備。圖5示出示例增益曲線。圖6示出示例增益步進(jìn)圖。圖7示出示例增益切換時序圖。圖8示出示例方法。圖9示出具有多個電容器的積分器復(fù)位開關(guān)。圖10示出具有十六個電容器的積分器復(fù)位開關(guān)。
具體實(shí)施例方式圖1示出諸如計(jì)算斷層攝影(CT)掃描儀的成像系統(tǒng)100。成像系統(tǒng)100包括通常靜止的臺架102和旋轉(zhuǎn)臺架104。旋轉(zhuǎn)臺架104可旋轉(zhuǎn)地由靜止臺架102支撐并且繞著縱向軸或者ζ軸在檢查區(qū)域106周圍旋轉(zhuǎn)。諸如χ射線管的輻射源108由旋轉(zhuǎn)臺架104支撐并且發(fā)射橫穿檢查區(qū)域106的輻射。輻射敏感檢測器陣列112在檢查區(qū)域106的整個范圍內(nèi)對向與輻射源108相對的圓角弧并且檢測橫穿檢查區(qū)域106的輻射。在所說明的實(shí)施例中，輻射敏感檢測器陣列 112包括沿著橫切于ζ軸的方向相對于彼此設(shè)置的多個檢測器模塊114。檢測器模塊114 包括沿著ζ軸相對于彼此設(shè)置的多個檢測器馬賽克或者瓦片116。在一個實(shí)例中，檢測器陣列112基本上類似于和/或基于在2001年7月18日遞交的發(fā)明名稱為“Solid State X-RadiationDetector Modules and Mosaics thereof, and an Imaging Method and ApparatusEmploying the Same”的美國專利6，510，195B1中描述的檢測器陣列，在此結(jié)合該美國專利的全部內(nèi)容作為參考。在此也預(yù)期其它檢測器陣列設(shè)置。參照圖2，示出沿著圖1的線A-A的檢測器瓦片116的截面圖。所說明的瓦片 116包括物理和光耦合到光傳感器陣列204的閃爍器陣列202，該光傳感器陣列204通過襯底206電耦合到電子設(shè)備208。諸如連接器引腳的電子路徑212或者其它電子路徑承載電源和數(shù)字1/0信號。這樣的瓦片的示例在“A New 2D-Tiled Detector for Multislice CT, " Luhta et al. , MedicalImaging 2006 :Physics of Medical Imaging, Vol. 6142, pp. 275-286 (2006)中有所描述。另一適合的瓦片在2006年3月30日遞交的發(fā)明名稱為 "RadiationDetector Array”的專利申請序列號60/743，976中有所描述，在此結(jié)合其全部內(nèi)容作為參考。也可以預(yù)期其它電子設(shè)備。圖3示出示例電子設(shè)備208。模數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換器314包括積分器302 (放大器304 和積分電容器306)和比較器310。如果被采用，則積分器302在積分時段期間對由光傳感器陣列204輸出的電荷以及偏置電流300進(jìn)行積分。比較器310將放大器304的輸出與閾值進(jìn)行比較并且在該輸出升高至高于該閾值時生成指示其這樣的脈沖的信號。復(fù)位開關(guān) 308響應(yīng)于脈沖的生成而在積分時段期間復(fù)位積分器302。在以上配置中，采用A/D轉(zhuǎn)換器314作為電流到頻率(I/F)轉(zhuǎn)換器，在該電流到頻率(I/F)轉(zhuǎn)換器中生成具有指示輸入電荷的脈沖頻率的脈沖列。這樣的電子設(shè)備的示例在 2001 年 11 月 7 日遞交的發(fā)明名稱為“DataAcquisition for Computed Tomography”的美國專利6，671，345B2中有進(jìn)一步的描述，在此結(jié)合該專利的全部內(nèi)容作為參考。其它適合的電子設(shè)備在1975年11月28日遞交的發(fā)明名稱為“Data Acquisition for Computed Tomography"的美國專利4，052，620中有所描述，在此結(jié)合這兩個專利的全部內(nèi)容作為參考。在此也可以預(yù)期其它轉(zhuǎn)換器。數(shù)字邏輯單元312控制復(fù)位開關(guān)308，包括響應(yīng)于在比較器輸出中、在積分時段邊界上和/或以其它方式檢測到脈沖而閉合復(fù)位開關(guān)308以復(fù)位積分器302。如以下更加詳細(xì)描述的，復(fù)位開關(guān)308能夠配置為包括與兩個或者更多積分器增益相對應(yīng)的兩個或者更多復(fù)位電容，并且數(shù)字邏輯單元312能夠配置為確定對于積分器302的增益，該增益可用于從所述兩個或者更多復(fù)位電容中選擇適合的復(fù)位電容。這實(shí)現(xiàn)了動態(tài)地對于較小電荷信號選擇較高增益以及對于較大電荷信號選擇較低增益，或者動態(tài)地切換用于測量較小和較大電荷信號的動態(tài)范圍。由于在不存在實(shí)際檢測器信號的情況下要求模擬偏置電流生成用于數(shù)字化的最小信號，因此應(yīng)意識到，增大增益使得例如以增益因數(shù)降低偏置電流300的量或者降低到零，并且降低偏置電流300會(例如以偏置電流降低的平方根)降低散粒噪聲和/或與偏置電流降低成比例的閃爍噪聲降低。線性誤差通常利用信號電平和增益進(jìn)行調(diào)節(jié)，并且如果采用一個增益值，則可以利用線性校正來采用該增益值。低信號電平通常具有適合的線性度并且因而會限制或者省去這樣的校正。在電子設(shè)備208包括對數(shù)轉(zhuǎn)換的配置中，增益因數(shù)可以是至該對數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸入并且對于利用對數(shù)數(shù)據(jù)的重構(gòu)子系統(tǒng)是透明的。數(shù)字邏輯單元312也處理比較器310的輸出。在一個實(shí)例中，這包括對來自比較器310的脈沖數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù)并且確定從積分時段的第一脈沖到積分時段的最后脈沖的時間。根據(jù)該數(shù)據(jù)，數(shù)字邏輯單元單元312能夠生成指示脈沖頻率(例如，積分時段中的脈沖數(shù)量/積分時段中第一與最后脈沖之間的時間)的輸出信號，其指示輸入電荷。返回到圖1，重構(gòu)器118重構(gòu)來自檢測器陣列112的信號并且生成指示其的容積圖像數(shù)據(jù)。圖像處理器等能夠基于該圖像數(shù)據(jù)生成一個或者多個圖像。通用計(jì)算系統(tǒng)用作操作者控制臺120。駐留在控制臺120上的軟件允許操作者控制系統(tǒng)100的操作。諸如檢查臺的患者支撐臺122支撐位于檢查區(qū)域106中的諸如人類患者的對象或者受體。圖4示出復(fù)位開關(guān)308和邏輯單元312的示例實(shí)施例。所說明的復(fù)位開關(guān)308包括耦合到第一開關(guān)404的具有與第一積分器增益相對應(yīng)的第一電容的第一電容器402，以及耦合到第二開關(guān)408的具有與第二積分器增益相對應(yīng)的第二電容的第二電容器406。盡管在所說明的實(shí)施例中示出兩個開關(guān)/電容器對，但是在其它實(shí)施例中，能夠采用多于兩個的開關(guān)/電容器對。在這樣的實(shí)施例中，包括全部的兩個或者更多對可以對應(yīng)于不同的積分器增益。每一個開關(guān)404和408在第一狀態(tài)和第二狀態(tài)之間獨(dú)立切換，其中在第一狀態(tài)中相對應(yīng)的電容器402或者406與基準(zhǔn)電壓電通信，并且在第二狀態(tài)中相對應(yīng)的電容器402 或者406與積分器302的輸入電通信。開關(guān)404和408可同時處于第一狀態(tài)中，但是在任意給定時間開關(guān)404或者408中僅一個處于第二狀態(tài)中。在處于第二狀態(tài)中時，相應(yīng)電容器用于復(fù)位積分器302。
邏輯單元312包括脈沖識別器410，該脈沖識別器410識別比較器輸出信號中的脈沖并且對其做出響應(yīng)而生成復(fù)位信號。復(fù)位信號包括激活切換開關(guān)404和408中的所選擇一個的信息。例如，該信號可以包括在積分時段期間導(dǎo)致切換開關(guān)404(或者開關(guān)408)的信息，該信息與對于該積分時段的增益相對應(yīng)，從而在該積分時段期間復(fù)位積分器302。邏輯單元312還包括基于對于積分時段的脈沖計(jì)數(shù)和一個或者多個閾值414來生成增益信號的增益信號生成器412。計(jì)數(shù)器416對積分時段期間的所識別的脈沖進(jìn)行計(jì)數(shù)并且生成脈沖計(jì)數(shù)值。增益信號包括指示增益值或者增益因數(shù)(例如代表增益變化)的信息，其指示在隨后積分時段期間要復(fù)位開關(guān)404或者408中的哪一個?？梢酝ㄟ^二進(jìn)制或者非二進(jìn)制數(shù)據(jù)表示該信息。以上允許基于當(dāng)前積分時段的電荷信號電平來動態(tài)地控制對于隨后積分時段的增益。這樣，在輸入電荷信號并且因而脈沖計(jì)數(shù)對于積分時段相對高時，對于下一個積分時段選擇較低增益/較高電容電容器。相對于使用較高增益電容器，使用較低增益電容器擴(kuò)展了放大器的動態(tài)范圍的上端，從而在飽和之前接受較大信號。在輸入電荷信號并且因而脈沖計(jì)數(shù)對于積分時段相對低時，對于下一個積分時段選擇較高增益/較低電容電容器。相對于使用較高值電容器，使用較低值電容器擴(kuò)展了用于測量較小信號的動態(tài)范圍的下端。如在此討論的，擴(kuò)展了動態(tài)范圍的下端允許降低注入到積分器302中的偏置電流的量。在以上示例中，開關(guān)404和408獨(dú)立切換，并且通過將與第一增益相對應(yīng)的第一電容器402或者與第二增益相對應(yīng)的第二電容器406電連接到積分器302的輸入端來復(fù)位積分器302。在另一實(shí)施例中，開關(guān)404和408也能夠同時切換。在這樣的實(shí)施例中，能夠通過同時閉合開關(guān)404和408來設(shè)定較低復(fù)位增益，其中復(fù)位電容是第一和第二電容之和。如上面描述的，可以通過閉合開關(guān)404 (或者可選地開關(guān)408)并且將第一電容器402 (或者第二電容器406)電連接到積分器302的輸入端來設(shè)定較高復(fù)位增益。由于第二電容器406 (或者第一電容器402)可以相對于不共用電容器的實(shí)施例較小，因此共用電容器允許降低復(fù)位開關(guān)308的覆蓋區(qū)(footprint)。進(jìn)而，在集成電路的布局中，給定尺寸的電容器能夠由通過可控?zé)o寄生開關(guān)連接的較小電容器構(gòu)成，其中一個大電容值能夠由經(jīng)由開關(guān)連接的多個(例如十六(16)個)相等或者不相等大小的較小電容器構(gòu)成。這允許按照數(shù)字二進(jìn)制方式或者形式選擇電路的增益(復(fù)位電容值)并且經(jīng)由其布局位置精確再現(xiàn)電容器的值以考慮工藝變化，這能夠?qū)τ谠鲆媲袚Q產(chǎn)生精確的線性度， 從而允許進(jìn)行基本上線性的增益改變實(shí)現(xiàn)。在圖9中以方框圖形式示出上面的一個非限制性實(shí)現(xiàn)，其中復(fù)位開關(guān)308包括能夠經(jīng)由開關(guān)904電并聯(lián)的多個電容器902，并且能夠通過選擇性閉合開關(guān)904中的一個或者多個而設(shè)定特定的電容值。在圖10中以方框圖形式示出另一非限制性實(shí)現(xiàn)，其中復(fù)位開關(guān)308包括能夠選擇性電并聯(lián)以提供特定復(fù)位電容值，例如四(4)個、十六(16)個或者其它數(shù)量復(fù)位電容值，的十六(16)個電容器Cl，……，C16。圖9中示出的相同的無寄生開關(guān)可以結(jié)合圖10使用。表1示出可以用于提供四(4)個復(fù)位電容值RS1，……，RS4的電容器Cl，……， C16的非限制性組合，以使得能夠選擇電容的二進(jìn)制組合以生成按照總值的1/16自增的電容值，并且表2示出可以用于提供十六(16)個復(fù)位電容值RS1，……，RS16的電容器
權(quán)利要求
1.一種成像檢測器，包括閃爍器陣列(202)；光耦合到所述閃爍器陣列(202)的光傳感器陣列(204)；具有積分器(302)和比較器(310)的電流到頻率(I/F)轉(zhuǎn)換器(314)，所述電流到頻率 (I/F)轉(zhuǎn)換器(314)在當(dāng)前積分時段期間將由所述光傳感器陣列(204)輸出的電荷轉(zhuǎn)換為具有指示所述電荷的頻率的數(shù)字信號；以及邏輯單元(312)，基于對于所述當(dāng)前積分時段的所述數(shù)字信號，設(shè)定所述積分器(302) 對于下一個積分時段的增益。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測器，其中所述積分器(302)累積所述電荷，所述比較器 (310)在所累積的電荷超出預(yù)定閾值時生成脈沖，并且所述邏輯單元(312)在生成脈沖時復(fù)位所述積分器(302)并且基于對于所述當(dāng)前積分時段的脈沖計(jì)數(shù)設(shè)定所述增益。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測器，其中所述邏輯單元(312)響應(yīng)于所述脈沖計(jì)數(shù)下降至低于第一計(jì)數(shù)閾值而增大所述增益。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的檢測器，其中增大所述增益使所述I/F轉(zhuǎn)換器(314)的噪聲基底降低，從而允許由所述I/F轉(zhuǎn)換器(314)測量相對較小的電荷。
5.根據(jù)權(quán)利要求2至4中任一項(xiàng)所述的檢測器，其中所述邏輯單元(312)響應(yīng)于所述脈沖計(jì)數(shù)升高至高于第二計(jì)數(shù)閾值而降低所述增益。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測器，其中降低所述增益使所述I/F轉(zhuǎn)換器(314)的飽和水平增加，從而允許在飽和之前由所述I/F轉(zhuǎn)換器(314)測量相對較高的電荷。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的檢測器，還包括基于由所述邏輯單元(312)設(shè)定的所述增益來復(fù)位所述積分器(302)的復(fù)位開關(guān)(308)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測器，其中所述復(fù)位開關(guān)(308)至少包括具有第一電容的第一復(fù)位電容器(402)以及具有第二不同電容的第二復(fù)位電容器(406)。
9 根據(jù)權(quán)利要求8所述的檢測器，其中所述第一和第二電容與第一和第二復(fù)位增益相對應(yīng)，并且選擇性地替換采用所述第一和第二電容器(402，406)以復(fù)位所述積分器(302)。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的檢測器，其中所述第一或者第二電容與第一復(fù)位增益相對應(yīng)并且所述第一和第二電容之和與第二復(fù)位增益相對應(yīng)，并且可選地，采用所述第一或者第二電容器(402，406)以復(fù)位所述積分器(302)并且共同采用所述第一和第二電容器 (402,406)以復(fù)位所述積分器(302)。
11.根據(jù)權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的檢測器，其中所述邏輯單元(312)包括對所述比較器(310)的輸出中的脈沖進(jìn)行計(jì)數(shù)的計(jì)數(shù)器(416)；一個或者多個計(jì)數(shù)閾值(414)；以及增益信號生成器(412)，所述增益信號生成器(412)基于所述計(jì)數(shù)和所述一個或者多個計(jì)數(shù)閾值(414)生成指示所述增益的增益信號。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的檢測器，其中所述邏輯單元(312)還包括脈沖識別器(410)，所述脈沖識別器(410)識別所述比較器(310)的輸出中的脈沖，其中所述計(jì)數(shù)器(416)對所識別的脈沖進(jìn)行計(jì)數(shù)并且所述增益信號生成器(412)基于所識別的脈沖的所述計(jì)數(shù)生成所述增益信號。
13.根據(jù)權(quán)利要求11至12中任一項(xiàng)所述的檢測器，其中所述邏輯單元(312)響應(yīng)于所述脈沖識別器(410)識別所述比較器(310)的所述輸出中的脈沖，在所述當(dāng)前積分時段期間復(fù)位所述復(fù)位開關(guān)(308)。
14.一種方法，包括經(jīng)由檢測器瓦片(116)的電流到頻率(I/F)轉(zhuǎn)換器(314)將指示入射輻射的電荷轉(zhuǎn)換為具有指示所述電荷的頻率的數(shù)字信號；以及基于所述I/F轉(zhuǎn)換器(314)的輸出，識別對于所述I/F轉(zhuǎn)換器(314)的增益。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，其中識別對于所述I/F轉(zhuǎn)換器(314)的所述增益包括基于所述I/F轉(zhuǎn)換器(314)在當(dāng)前積分時段內(nèi)的所述輸出，識別對于下一個積分時段的增 ο
16.根據(jù)權(quán)利要求14至15中任一項(xiàng)所述的方法，還包括對于至少兩個不同的積分時段在至少不同的增益值之間切換所述增益。
17.根據(jù)權(quán)利要求14至16中任一項(xiàng)所述的方法，還包括對所述數(shù)字信號中的脈沖進(jìn)行計(jì)數(shù)；以及響應(yīng)于所述脈沖計(jì)數(shù)下降至低于第一預(yù)定閾值而增大所述增益。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，還包括響應(yīng)于所述脈沖計(jì)數(shù)升高至高于第二預(yù)定閾值而降低所述增益。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的方法，其中所述第一和第二預(yù)定閾值是不同的。
20.根據(jù)權(quán)利要求16至19中任一項(xiàng)所述的檢測器，其中切換所述增益包括在第一和第二電容之間切換所述積分器(302)的復(fù)位電容。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的檢測器，其中切換所述復(fù)位電容包括在各自具有不同電容的第一和第二復(fù)位電容器(402，406)之間切換。
22.根據(jù)權(quán)利要求20所述的檢測器，其中切換所述復(fù)位電容包括在第一組復(fù)位電容器和第二組復(fù)位電容器之間切換，其中所述第二組復(fù)位電容器包括與至少一個附加的復(fù)位電容器電并聯(lián)的所述第一組復(fù)位電容器。
23.根據(jù)權(quán)利要求16至19中任一項(xiàng)所述的檢測器，其中切換所述增益包括基于對于積分器(302)的預(yù)定復(fù)位電容，經(jīng)由開關(guān)(904)以數(shù)字二進(jìn)制方式選擇性地電并聯(lián)積分器復(fù)位開關(guān)(308)的多個電容器(902)中的一個或者多個。
24.根據(jù)權(quán)利要求14至23中任一項(xiàng)所述的方法，還包括對于相對小的電荷信號增大所述增益。
25.根據(jù)權(quán)利要求14至24中任一項(xiàng)所述的方法，還包括對于相對大的電荷信號降低所述增益。
26.—種成像系統(tǒng)，包括輻射源(108)，發(fā)射橫穿檢查區(qū)域(106)的輻射；檢測器陣列(112)，檢測橫穿所述檢查區(qū)域(106)的輻射，所述檢測器陣列(112)包括閃爍器陣列(202)；光耦合到所述閃爍器陣列(202)的光傳感器陣列(204)；具有積分器(302)和比較器(310)的電流到頻率(I/F)轉(zhuǎn)換器(314)，所述電流到頻率 (I/F)轉(zhuǎn)換器(314)在當(dāng)前積分時段期間將來自所述光傳感器陣列(204)的輸入電荷轉(zhuǎn)換為具有指示所述電荷的頻率的數(shù)字信號；以及邏輯單元(312)，基于對于所述當(dāng)前積分時段的所述數(shù)字信號，設(shè)定所述積分器(302) 對于下一個積分時段的增益。
全文摘要
本發(fā)明公開一種成像檢測器，包括閃爍器陣列(202)、光耦合到所述閃爍器陣列(202)的光傳感器陣列(204)、電流到頻率(I/F)轉(zhuǎn)換器(314)和邏輯單元(312)。所述I/F轉(zhuǎn)換器(314)包括積分器(302)和比較器(310)，并且在當(dāng)前積分時段期間將由所述光傳感器陣列(204)輸出的電荷轉(zhuǎn)換為具有指示所述電荷的頻率的數(shù)字信號。所述邏輯單元(312)基于對于所述當(dāng)前積分時段的所述數(shù)字信號來設(shè)定所述積分器(302)對于下一個積分時段的增益。在一個實(shí)例中，相對于對于所述當(dāng)前積分時段的所述增益，增大對于下一個積分時段的增益，這允許在不存在輻射的情況下降低在所述I/F轉(zhuǎn)換器(314)的輸入端注入的偏置電流的量以生成可測量的信號，這會降低諸如散粒噪聲、閃爍噪聲的噪聲和/或其它噪聲。
文檔編號G01T1/20GK102414579SQ201080018158
公開日2012年4月11日 申請日期2010年2月18日 優(yōu)先權(quán)日2009年3月26日
發(fā)明者M·A·查波, R·P·盧赫塔 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司