專利名稱：數(shù)據(jù)采集的制作方法
數(shù)據(jù)采集下文總體涉及數(shù)據(jù)采集，并且尤其應(yīng)用于計算機斷層攝影(CT)。然而，其還適合于其他醫(yī)學(xué)成像應(yīng)用和非醫(yī)學(xué)成像應(yīng)用。計算機斷層攝影(CT)掃描器包括安裝在可旋轉(zhuǎn)掃描架上的X射線管，可旋轉(zhuǎn)掃描架關(guān)于縱軸或Z軸繞檢查區(qū)域旋轉(zhuǎn)。探測器陣列在與X射線管相對的檢查區(qū)域的對側(cè)延伸一角度弧。探測器陣列探測貫穿檢查區(qū)域的輻射。探測器陣列包括光學(xué)耦合至光傳感器陣列的閃爍體陣列，光傳感器陣列電耦合至處理電子器件。對于每個數(shù)據(jù)采集積分期，閃爍體陣列生成指示撞擊到其上面的輻射的光，光傳感器陣列生成指示所述光的電信號，而處理電子器件基于所述電信號生成指示所探測到的輻射的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。重建器重建所述數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)并生成體積圖像數(shù)據(jù)，處理所述體積圖像數(shù)據(jù)以生成一幅或多幅圖像。遺憾的是，閃爍體陣列和光傳感器陣列具有非零并且不同的導(dǎo)熱系數(shù)。對此，閃爍體陣列和光傳感器陣列的響應(yīng)可能隨著溫度而變化。因此，可能會向圖像數(shù)據(jù)中引入諸如環(huán)狀偽影的偽影。一種趨勢是對探測器陣列采取嚴(yán)格的溫度控制。在一種情況下，這包括使用發(fā)熱器、風(fēng)扇、散熱片等使探測器陣列維持在預(yù)定的溫度范圍內(nèi)。然而，這種溫度控制成本高，并且如果溫度控制不適當(dāng)依舊會累及成像性能。使成本增加的另一因素是缺乏在裝配探測器陣列以及將探測器陣列暴露于X射線和/或光之前測試光傳感器通道的能力。此外，通過撞擊光子沉積在閃爍體晶體上的電荷以相對長的時間常數(shù)(例如，秒級)而衰減，這被稱為余輝。因此，來自在第一積分期內(nèi)撞擊到閃爍體晶體上的光子的殘余電荷可能添加到由在隨后的積分期內(nèi)撞擊閃爍體晶體的光子沉積的電荷。這種殘余電荷常常被稱為暗電流并且連同來自下一隨后周期內(nèi)的光子的電荷一起被積分，這可以累及成像性能。一種趨勢是使用具有低余輝的閃爍材料。然而，具有低余輝的閃爍體通常更為昂貴并且比具有較高余輝的閃爍體更為低效。本申請的各方面解決了上述問題和其他問題。根據(jù)一個方面，一種成像系統(tǒng)，包括具有光敏側(cè)和相對的讀出側(cè)的光傳感器陣列。 閃爍體陣列光學(xué)耦合至光傳感器陣列的光敏一側(cè)，而處理電子器件電耦合至光傳感器陣列的讀出側(cè)。光傳感器陣列、閃爍體陣列和處理電子器件熱連通，并且處理電子器件的導(dǎo)熱系數(shù)的值大致等于光傳感器陣列的導(dǎo)熱系數(shù)和閃爍體陣列的導(dǎo)熱系數(shù)的和的負(fù)數(shù)。在另一實施例中，成像探測器包括光傳感器陣列、光學(xué)耦合至光傳感器陣列的閃爍體陣列、以及電耦合至光傳感器陣列的處理電子器件。處理電子器件包括A/D轉(zhuǎn)換器，其將光傳感器陣列輸出的電荷轉(zhuǎn)換為具有指示所述電荷的頻率的數(shù)字信號。A/D轉(zhuǎn)換器交替地將與撞擊輻射對應(yīng)的第一電荷轉(zhuǎn)換為第一信號以及將與衰減電荷對應(yīng)的第二電荷轉(zhuǎn)換為第二信號。邏輯單元基于所述第二信號校正第一信號。在另一實施例中，一種成像探測器，包括光傳感器陣列、光學(xué)耦合至光傳感器陣列的閃爍體陣列、以及電耦合至光傳感器陣列的處理電子器件。處理電子器件包括A/D，其將光傳感器陣列輸出的電荷轉(zhuǎn)換為具有指示所述電荷的頻率的數(shù)字信號；以及積分器偏置電壓信號設(shè)置器，其設(shè)置針對A/D轉(zhuǎn)換器的積分器偏置電壓信號，該信號誘發(fā)可以由A/D轉(zhuǎn)換器測量的電流。
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在另一實施例中，一種成像系統(tǒng)，包括生成貫穿檢查區(qū)域的輻射束的輻射源、探測貫穿檢查區(qū)域的輻射的探測器陣列、以及重建探測器陣列的輸出并生成指示所述輸出的圖像數(shù)據(jù)的重建器。探測器陣列包括多個探測器塊(tile)，并且探測器塊包括光傳感器陣列、 光學(xué)耦合至光傳感器陣列的閃爍體陣列、以及電耦合至光傳感器陣列的處理電子器件。光傳感器陣列、閃爍體陣列和處理電子器件是熱連通的，并且處理電子器件的導(dǎo)熱系數(shù)的值大致等于光傳感器陣列的導(dǎo)熱系數(shù)和閃爍體陣列的導(dǎo)熱系數(shù)的和的負(fù)數(shù)。在另一實施例中，一種方法，包括將成像系統(tǒng)的探測器塊的處理電子器件的導(dǎo)熱系數(shù)的值設(shè)置成大致等于探測器塊的光傳感器陣列和閃爍體陣列的導(dǎo)熱系數(shù)的和。在另一實施例中，一種方法，包括在成像程序中的至少一個積分期期間脈沖調(diào)制輻射發(fā)射的開啟和關(guān)閉、在所述至少一個積分期期間當(dāng)輻射發(fā)射開啟時探測第一信號、在所述至少一個積分期期間僅當(dāng)輻射發(fā)射關(guān)閉時探測第二信號、以及基于所述第二信號校正所述第一信號。在另一實施例中，一種方法，包括將信號注入到探測器塊的A/D轉(zhuǎn)換器的輸出內(nèi)，其中，該信號可以由A/D轉(zhuǎn)換器測量；利用A/D轉(zhuǎn)換器將所述信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)；以及基于所注入的信號和數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)計算探測器塊的光傳感器陣列的阻抗。本發(fā)明可以具體化為各種部件和部件布置，以及各種步驟和步驟安排。附圖僅用于圖示說明優(yōu)選實施例，而不應(yīng)認(rèn)為其對本發(fā)明構(gòu)成限制。

圖1圖示了一種范例成像系統(tǒng)；圖2圖示了一種范例探測器塊；圖3圖示了一種范例探測器電子器件；圖4圖示了一種范例導(dǎo)熱系數(shù)確定器；圖5圖示了一種范例電壓參考確定器；圖6圖示了一種范例時序圖；圖7-10圖示了一種范例A/D轉(zhuǎn)換器和邏輯；圖11-13圖示了一種范例A/D轉(zhuǎn)換器和邏輯。圖1圖示了成像系統(tǒng)100，例如計算機斷層攝影(CT)掃描器。成像系統(tǒng)100包括大體固定的掃描架102和旋轉(zhuǎn)掃描架104。旋轉(zhuǎn)掃描架104由固定掃描架102可旋轉(zhuǎn)地支撐，并關(guān)于縱軸或ζ軸繞檢查區(qū)域106旋轉(zhuǎn)。諸如X射線管的輻射源108由旋轉(zhuǎn)掃描架104支撐并發(fā)射貫穿檢查區(qū)域106的輻射。輻射源控制器Iio控制輻射源108。這種控制包括，但不限于，開啟和關(guān)閉輻射源108， 以及由此開啟和關(guān)閉輻射發(fā)射。這能夠通過柵格切換和/或以其他方式實現(xiàn)。在一種情況下，在積分期期間脈沖調(diào)制輻射源108，使得輻射在積分期的第一子部分內(nèi)開啟而在積分期的第二子部分內(nèi)關(guān)閉。如下文更為詳細(xì)地描述，當(dāng)輻射被關(guān)閉時能夠測量來自閃爍體余輝的暗電流，并且隨后能夠?qū)y量結(jié)果用于校正與探測到的輻射對應(yīng)的信號。輻射敏感探測器陣列112跨越檢查區(qū)域106在輻射源108的對側(cè)延伸一角度弧， 并探測貫穿檢查區(qū)域106的輻射。在圖示的實施例中，輻射敏感探測器陣列112包括沿與 ζ軸橫切的方向相對于彼此布置的多個探測器模塊114。探測器模塊114包括沿ζ軸相對于彼此布置的多個探測器嵌合體或塊116。在一種情況下，探測器陣列112基本上類似于和 / 或基于在 2001 年 7 月 18 日提交的題為 “Solid State X-Radiation Detector Modules
7and Mosaics thereof,and an Imaging Method and Apparatus Employing the Same，，的美國專利6510195B1中所描述的探測器陣列，在此通過引用將其全文并入。暫時轉(zhuǎn)到圖2，圖示了沿圖1的線A-A的塊116的橫截面視圖。所圖示的塊116 包括閃爍體陣列202，閃爍體陣列202物理和光學(xué)地耦合至光傳感器陣列204，例如耦合至基底206的背側(cè)照射的光電二極管或其他光敏像素的陣列。光傳感器陣列204能夠凸點結(jié)合(如圖所示)或以其他方式耦合至基底206。電子器件208物理和電學(xué)地耦合至電耦合至光傳感器陣列204的基底206的讀出區(qū)210。閃爍體陣列202、光傳感器陣列204和電子器件208實質(zhì)上是熱連通的。諸如連接器引腳或其他電路徑的電路徑212承載電源和數(shù)字 I/O 信號。在 Luhta 等人的“A New 2D_Tiled Detector for Multislice CT", Medical Imaging 2006 =Physics of Medical Imaging，Vol. 6142，pp. 275-286 Q006)—文中描述了這種塊的范例。在于2007年3月8日提交的題為“Radiation Detector Array”的序列號為PCT/US2007/063532的國際專利申請中描述了另一種合適的塊，在此通過引用將其全文并入。圖3圖示了一種范例電子器件208，模數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換器302包括積分器304和比較器306。所圖示的A/D轉(zhuǎn)換器302被配置成電子的電流到頻率(I/F)轉(zhuǎn)換器，其將來自光傳感器陣列204的電荷轉(zhuǎn)換為具有指示所述電荷的頻率的一系列脈沖。邏輯單元308對在積分期期間來自比較器306的若干脈沖進行計數(shù)(C)，并確定在積分期內(nèi)從第一脈沖到最后一脈沖的時間(T)。跟蹤這一數(shù)據(jù)，邏輯單元308能夠確定指示輸入電荷的頻率(例如， C/T)。復(fù)位開關(guān)300針對每個積分期將積分器304復(fù)位。在于2001年11月7日提交的題為 “Data Acquisition for Computed Tomography” 的美國專利 6671345B2 中更詳細(xì)地描述了這樣的電子器件的范例，在此通過引用將其全文并入。在于1975年11月觀日提交的題為 “Data Acquisition for Computed ^Tomography” 的美國專利 4052620 中描述了其他合適的電子器件，在此也通過引用將其全文并入。正如下文更為詳細(xì)描述地，在一個實施例中，A/D轉(zhuǎn)換器302被配置成處理與撞擊光子對應(yīng)的電荷和來自余輝(暗電流)的殘余電荷兩者。在這一實施例中，如上所述，源控制器110在積分期期間脈沖調(diào)制輻射發(fā)射，并且當(dāng)輻射被發(fā)射時測量輻射信號，而當(dāng)輻射被關(guān)閉時測量暗電流。根據(jù)這種實施例，邏輯單元308被配置成處理針對輻射信號和暗電流信號兩者的來自比較器306的輸出脈沖，并基于暗電流信號校正或補償輻射信號。在一種情況下，這允許使用具有更長余輝的閃爍體，其通常不如具有更短余輝的閃爍體那么昂貴。對此，以上校正可以方便降低探測器陣列112和/或總體系統(tǒng)100成本。增益控制器310設(shè)置積分器304的增益，并且增益控制電壓參考(V·。調(diào)整器 312生成增益控制器310的參考電壓。導(dǎo)熱系數(shù)確定器314確定電子器件208的參考電壓導(dǎo)熱系數(shù)。如更為詳細(xì)描述地，這可以包括基于閃爍體陣列202、光傳感器陣列204和/或其他部件的導(dǎo)熱系數(shù)確定參考電壓導(dǎo)熱系數(shù)。在一種情況下，這允許相對于其中省略了導(dǎo)熱系數(shù)確定器314的配置而言不那么嚴(yán)格地(或沒有)熱控制探測器陣列112。由熱控制單元316提供這種熱控制，其方便在掃描期間將探測器陣列112的溫度維持在預(yù)定的溫度范圍內(nèi)。熱控制單元316可以包括發(fā)熱器、風(fēng)扇、散熱片等圖示的電子器件208還包括積分器電壓偏置(V^a)確定器318。偏置電壓是在積分器輸入處以及由此在光傳感器陣列204上出現(xiàn)的電壓。這種偏置電壓結(jié)合光傳感器阻抗在光傳感器中引起漏電流。在一種情況下，積分器V^a確定器318提供第一偏置電壓，其降低或基本上抵消在積分器304的輸入處的光傳感器陣列泄露電流。在另一種情況下，并且正如下文更為詳細(xì)描述地，積分器Vgia確定器318提供第二偏置電壓，其允許測量光傳感器陣列泄露電流和/或確定光傳感器陣列阻抗。這可以允許識別不正常工作的或不工作的光傳感器通道，并且能夠在光傳感器、塊和/或探測器陣列112組裝、維護、校準(zhǔn)等期間執(zhí)行。返回到圖1，重建器118重建來自探測器陣列112的信號并生成指示所述信號的體積圖像數(shù)據(jù)。圖像處理器等能夠基于圖像數(shù)據(jù)生成一幅或多幅圖像。通用計算系統(tǒng)充當(dāng)操作員控制臺120。駐留在控制臺120上的軟件允許操作員控制系統(tǒng)100的操作，例如選擇脈沖式X射線技術(shù)、將掃描器置于掃描模式或光傳感器陣列測試模式、設(shè)置電子器件導(dǎo)熱系數(shù)，和/或其他控制。諸如躺椅的患者支撐物122支撐檢查區(qū)域106中的諸如人類患者的對象或受檢者。圖4圖示了導(dǎo)熱系數(shù)確定器314的非限制性實施例。在這一范例中，導(dǎo)熱系數(shù)生成器400基于基準(zhǔn)導(dǎo)熱系數(shù)402和導(dǎo)熱系數(shù)偏置404生成電子器件208的導(dǎo)熱系數(shù)。在一種情況下，基準(zhǔn)導(dǎo)熱系數(shù)402被設(shè)置成電子器件208的預(yù)定值，并且導(dǎo)熱系數(shù)偏置404被設(shè)置成大致等于閃爍體陣列202和光傳感器陣列204導(dǎo)熱系數(shù)的和的負(fù)數(shù)。能夠測量、逼近或以其他方式確定閃爍體陣列202和光傳感器陣列204的導(dǎo)熱系數(shù)。在諸如寄存器的存儲元件中存儲導(dǎo)熱系數(shù)402和404中的一個或兩者。在圖示的范例中，導(dǎo)熱系數(shù)生成器404 使基準(zhǔn)導(dǎo)熱系數(shù)402和導(dǎo)熱系數(shù)偏置404相加或?qū)ζ淝蠛?，以生成電子器件的?dǎo)熱系數(shù)。通過范例的方式，假設(shè)閃爍體陣列202的導(dǎo)熱系數(shù)大致為-0. 15% /C而光傳感器陣列204的導(dǎo)熱系數(shù)大致為+0. 05% /C，并且閃爍體陣列202和光傳感器陣列204的總計導(dǎo)熱系數(shù)大致為-0. 10%/C0根據(jù)這一假定，導(dǎo)熱系數(shù)確定器314能夠被配置成具有在0.0 到-0. 20% /C范圍之間，例如大致-0. 10% /C士0. 005% /C的設(shè)定點的V參考導(dǎo)熱系數(shù)，其將處理電子器件的導(dǎo)熱系數(shù)設(shè)置為大致+0. 10% /C(注意到，在電流到頻率轉(zhuǎn)換器中，整體 A/D轉(zhuǎn)換器的溫度系數(shù)是的溫度系數(shù)的負(fù)數(shù)，其可以降低或基本上抵消閃爍體陣列202 和光傳感器陣列204的導(dǎo)熱系數(shù)，使塊的導(dǎo)熱系數(shù)呈現(xiàn)為大致0. 00% /C。在表1中圖示了以上范例。
權(quán)利要求
1.一種成像探測器，包括光傳感器陣列004)，其具有光敏側(cè)和相對的讀出側(cè)；閃爍體陣列002)，其光學(xué)耦合至所述光傳感器陣列Q04)的所述光敏側(cè)；以及處理電子器件008)，其電耦合至所述光傳感器陣列(204)的所述讀出側(cè)，其中，所述光傳感器陣列004)、所述閃爍體陣列(20 和所述處理電子器件(208)是熱連通的，并且所述處理電子器件(208)的導(dǎo)熱系數(shù)的值大致等于所述光傳感器陣列(204)的導(dǎo)熱系數(shù)和所述閃爍體陣列(202)的導(dǎo)熱系數(shù)的和的負(fù)數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測器，其中，所述處理電子器件(208)包括電流到頻率轉(zhuǎn)換器(302)，其將所述光傳感器陣列(204)的電荷輸出轉(zhuǎn)換為具有指示所述電荷輸出的頻率的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1到2中的任一項所述的探測器，其中，所述處理電子器件(208)的所述導(dǎo)熱系數(shù)的所述值基本上抵消所述光傳感器陣列(204)的所述導(dǎo)熱系數(shù)和所述閃爍體陣列Q02)的所述導(dǎo)熱系數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1到3中的任一項所述的探測器，其中，所述處理電子器件008)、 所述光傳感器陣列(204)和所述閃爍體陣列(202)的所述導(dǎo)熱系數(shù)的凈導(dǎo)熱系數(shù)大致為 0. 00% /攝氏度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1到4中的任一項所述的探測器，還包括導(dǎo)熱系數(shù)確定器(314)，其基于所述光傳感器陣列(204)和所述閃爍體陣列(202)的所述導(dǎo)熱系數(shù)確定所述處理電子器件O08)的所述導(dǎo)熱系數(shù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的探測器，其中，所述導(dǎo)熱系數(shù)確定器(314)識別所述光傳感器陣列(204)、所述閃爍體陣列(20 和所述處理電子器件(208)之間超過了預(yù)定失配閾值的導(dǎo)熱系數(shù)失配，并改變所述處理電子器件O08)的所述導(dǎo)熱系數(shù)，使得所述處理電子器件(208)的所述導(dǎo)熱系數(shù)大致等于所述光傳感器陣列(208)的導(dǎo)熱系數(shù)和所述閃爍體陣列 (202)的所述導(dǎo)熱系數(shù)的和的負(fù)數(shù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1到6中的任一項所述的探測器，其中，所述處理電子器件(20 的所述導(dǎo)熱系數(shù)是可編程控制的。
8.根據(jù)權(quán)利要求1到7中的任一項所述的探測器，所述處理電子器件(208)包括A/D轉(zhuǎn)換器(30 ，其交替地將與撞擊輻射對應(yīng)的第一電荷信號轉(zhuǎn)換為第一數(shù)字信號以及將與衰減閃爍體電荷對應(yīng)的第二電荷信號轉(zhuǎn)換為第二數(shù)字信號；以及邏輯單元(308)，其基于所述第二數(shù)字信號校正所述第一數(shù)字信號。
9.根據(jù)權(quán)利要求1到7中的任一項所述的探測器，所述處理電子器件(208)還包括A/D轉(zhuǎn)換器(302)，其將所述光傳感器陣列(204)的輸出轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號；積分器偏置電壓信號確定器(318)，其為所述A/D轉(zhuǎn)換器(30 提供積分器偏置電壓信號，該信號誘發(fā)能夠由所述A/D轉(zhuǎn)換器(30 測量的電流，以及邏輯單元(308)，其中，所述A/D轉(zhuǎn)換器(30 測量所誘發(fā)的電流，并且所述邏輯單元 (308)基于所述積分器參考電壓信號和所測量的電流計算所述光傳感器陣列(204)的阻抗。
10.一種成像探測器，包括光傳感器陣列O04)；閃爍體陣列002)，其光學(xué)耦合至所述光傳感器陣列Q04)；以及處理電子器件008)，其電耦合至所述光傳感器陣列004)，所述處理電子器件(208) 包括A/D轉(zhuǎn)換器(302)，其將由所述光傳感器陣列(204)輸出的電荷轉(zhuǎn)換為具有指示所述電荷的頻率的數(shù)字信號，其中，所述A/D轉(zhuǎn)換器(30 交替地將與撞擊輻射對應(yīng)的第一電荷轉(zhuǎn)換為第一信號以及將與衰減電荷對應(yīng)的第二電荷轉(zhuǎn)換為第二信號；以及邏輯單元(308)，其基于所述第二信號校正所述第一信號。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的探測器，其中，所述A/D轉(zhuǎn)換器(30 在積分期的第一部分期間轉(zhuǎn)換所述第一電荷并在所述積分期的第二不同部分期間轉(zhuǎn)換所述第二電荷。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的探測器，其中，在所述積分期的所述第二不同部分期間脈沖調(diào)制所述撞擊輻射的關(guān)閉。
13.根據(jù)權(quán)利要求10到12中的任一項所述的探測器，其中，所述邏輯單元(308)基于來自不同積分期的第二信號的平均值校正所述第一信號。
14.根據(jù)權(quán)利要求10到13中的任一項所述的探測器，其中，所述處理電子器件(208) 包括用于處理所述第一電荷的第一通道(702、802)以及用于處理所述第二電荷的第二通道(704,804)。
15.根據(jù)權(quán)利要求10到13中的任一項所述的探測器，其中，所述A/D轉(zhuǎn)換器(302)包括具有至少兩個積分電容器(902、904、1002、1004)的積分器(304)，其中所述積分電容器中的一個用于對所述第一電荷信號進行積分，并且所述積分電容器中的至少一個用于對所述第二電荷信號進行積分。
16.根據(jù)權(quán)利要求10到15中的任一項所述的探測器，其中，所述邏輯單元(308)包括用于處理所述第一電荷的第一子單元(814)和用于處理所述第二電荷的第二子單元 (816)。
17.根據(jù)權(quán)利要求10到16中的任一項所述的探測器，其中，所述光傳感器陣列004)、 所述閃爍體陣列(20 和所述處理電子器件(208)是熱連通的，并且所述處理電子器件 (208)的導(dǎo)熱系數(shù)的值基本上抵消所述光傳感器陣列(204)和所述閃爍體陣列O02)的導(dǎo)熱系數(shù)的和。
18.根據(jù)權(quán)利要求10到17中的任一項所述的探測器，還包括積分器電壓偏置信號確定器(318)，其設(shè)置針對所述A/D轉(zhuǎn)換器(30 的積分器偏置電壓信號，該信號誘發(fā)能夠由所述A/D轉(zhuǎn)換器(30 測量的電流。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的探測器，其中，所述A/D轉(zhuǎn)換器(30 測量所誘發(fā)的電流， 并且所述邏輯單元(308)基于所述積分器電壓參考信號和所測量的電流計算所述光傳感器陣列(204)的阻抗。
20.一種成像探測器，包括光傳感器陣列(204)；閃爍體陣列002)，其光學(xué)耦合至所述光傳感器陣列(204)；以及處理電子器件008)，其電耦合至所述光傳感器陣列004)，所述處理電子器件(208) 包括A/D轉(zhuǎn)換器(302)，其將由所述光傳感器陣列(204)輸出的電荷轉(zhuǎn)換為具有指示所述電荷的頻率的數(shù)字信號；以及積分器電壓偏置信號確定器(318)，其為所述A/D轉(zhuǎn)換器(30 提供積分器偏置電壓信號，該信號誘發(fā)能夠由所述A/D轉(zhuǎn)換器(30 測量的電流。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的探測器，還包括邏輯單元(308)，其中，所述A/D轉(zhuǎn)換器 (302)測量所誘發(fā)的電流，并且所述邏輯單元(308)基于所述積分器參考電壓信號和所測量的電流計算所述閃爍體陣列O02)的阻抗。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的探測器，其中，所述邏輯單元(308)基于所計算的阻抗識別所述光傳感器陣列(204)為錯誤的。
23.—種成像系統(tǒng)，包括輻射源(108)，其生成貫穿檢查區(qū)域(106)的輻射束； 源控制器(110)，其脈沖調(diào)制所述輻射源(108)； 探測器陣列(112)，其探測貫穿所述檢查區(qū)域(106)的輻射；重建器(118)，其重建所述探測器陣列(11 的輸出并生成指示所述輸出的成像數(shù)據(jù)； 其中，所述探測器陣列(106)包括多個探測器塊(116)，探測器塊(116)包括 光傳感器陣列(204)；閃爍體陣列002)，其光耦合至所述光傳感器陣列Q04)；以及處理電子器件008)，其電耦合至所述光傳感器陣列004)，其中，所述光傳感器陣列 004)、所述閃爍體陣列(20 和所述處理電子器件(208)是熱連通的，并且所述處理電子器件O08)的導(dǎo)熱系數(shù)的值基本上抵消所述光傳感器陣列(204)和所述閃爍體陣列(202) 的導(dǎo)熱系數(shù)。
24.根據(jù)權(quán)利要求23所述的成像系統(tǒng)，所述處理電子器件008)，包括A/D轉(zhuǎn)換器(302)，其將由所述光傳感器陣列(204)輸出的電荷轉(zhuǎn)換為具有指示所述電荷的頻率的數(shù)字信號，其中，所述A/D轉(zhuǎn)換器(30 交替地將與撞擊輻射對應(yīng)的第一電荷轉(zhuǎn)換為第一信號以及將與衰減電荷對應(yīng)的第二電荷轉(zhuǎn)換為第二信號；以及邏輯單元(308)，其基于所述第二信號校正所述第一信號。
25.根據(jù)權(quán)利要求23所述的成像系統(tǒng)，所述處理電子器件(208)，包括A/D轉(zhuǎn)換器(302)，其將由所述光傳感器陣列(204)輸出的電荷轉(zhuǎn)換為具有指示所述電荷的頻率的數(shù)字信號；以及積分器電壓偏置信號確定器(318)，其生成針對所述A/D轉(zhuǎn)換器(30 的積分器偏置電壓信號，該信號誘發(fā)能夠由所述A/D轉(zhuǎn)換器(30 測量的電流，其中，所述A/D轉(zhuǎn)換器(30 測量所誘發(fā)的電流，并且所述邏輯單元(308)基于所述積分器參考電壓信號以及所測量的電流計算所述光傳感器陣列O04)的阻抗。
26.一種方法，包括將探測器塊(116)的處理電子器件(208)的導(dǎo)熱系數(shù)的值設(shè)置為大致等于所述探測器塊(116)的光傳感器陣列(204)和閃爍體陣列(202)的導(dǎo)熱系數(shù)的和。
27.根據(jù)權(quán)利要求沈所述的方法，其中，所述處理電子器件(208)包括將由所述光傳感器陣列(204)輸出的電荷轉(zhuǎn)換為具有指示所述電荷的頻率的數(shù)字信號的A/D轉(zhuǎn)換器(302)。
28.根據(jù)權(quán)利要求沈到27中的任一項所述的方法，其中，處理電子器件Q08)的所述導(dǎo)熱系數(shù)的所述值是可編程控制的。
29.一種方法，包括在成像程序的至少一個積分期期間脈沖調(diào)制輻射發(fā)射的開啟和關(guān)閉； 在所述至少一個積分期期間當(dāng)輻射發(fā)射被開啟時探測第一信號； 在所述至少一個積分期期間僅當(dāng)輻射發(fā)射被關(guān)閉時探測第二信號；以及基于所述第二信號校正所述第一信號。
30.根據(jù)權(quán)利要求四所述的方法，其中，所述第二信號對應(yīng)于電荷衰減。
31.一種方法，包括將信號注入到探測器塊(116)的A/D轉(zhuǎn)換器(30 的輸入中，其中，所述信號能夠由所述A/D轉(zhuǎn)換器(30 測量；以及利用所述A/D轉(zhuǎn)換器(30 將所述信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)；以及基于所注入的信號和所述數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)計算所述探測器塊(116)的光傳感器陣列(204)的阻抗。
全文摘要
一種成像探測器，包括處理電子器件(208)，該電子器件具有大致等于探測器的光傳感器陣列(204)和閃爍體陣列(202)的導(dǎo)熱系數(shù)的和的負(fù)數(shù)的導(dǎo)熱系數(shù)。在另一種情況下，所述成像探測器包括A/D轉(zhuǎn)換器(302)，其交替地將與撞擊輻射對應(yīng)的第一電荷轉(zhuǎn)換為第一信號并將與衰減電荷對應(yīng)的第二電荷轉(zhuǎn)換為第二信號，以及邏輯單元(308)，其基于所述第二信號校正所述第一信號。在另一種情況下，所述成像探測器包括A/D轉(zhuǎn)換器(302)、積分器偏置電壓信號確定器(318)和邏輯單元(308)，其中，所述確定器(318)經(jīng)由偏置電壓誘發(fā)電流，所述A/D轉(zhuǎn)換器(302)測量所述電流，并且所述邏輯單元(308)基于參考電壓和所測量的電流計算所述光傳感器陣列(204)的阻抗。
文檔編號G01T1/20GK102365562SQ201080013533
公開日2012年2月29日 申請日期2010年2月18日 優(yōu)先權(quán)日2009年3月26日
發(fā)明者B·E·哈伍德, C·J·弗列托斯, M·查波, R·P·盧赫塔 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司