專利名稱：一種防止墊圈漏裝和錯(cuò)裝的檢具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于機(jī)械裝配技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種防止墊圈漏裝和錯(cuò)裝的檢具。
背景技術(shù)：
目前市場(chǎng)上的墊圈規(guī)格很多，規(guī)格相近的，用人眼區(qū)分比較困難。而在機(jī)械設(shè)備的裝配中，會(huì)大量使用墊圈，例如，對(duì)于密封性要求較高的真空設(shè)備，需要大量使用0型密封圈。因此，在裝配過程中，如何防止墊圈的漏裝和錯(cuò)裝，就成為亟待解決的技術(shù)問題。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種防止墊圈漏裝和錯(cuò)裝的檢具。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供技術(shù)方案如下一種防止墊圈漏裝和錯(cuò)裝的檢具，包括至少一個(gè)呈多級(jí)臺(tái)階狀的檢具本體，每個(gè)檢具本體的臺(tái)階的外表面尺寸由上至下逐級(jí)增大，且每個(gè)檢具本體對(duì)應(yīng)于機(jī)械裝配中的一個(gè)裝配區(qū)域；每個(gè)檢具本體的每級(jí)臺(tái)階的外表面尺寸分別與相應(yīng)規(guī)格的墊圈的內(nèi)表面尺寸相適應(yīng)，使得相應(yīng)規(guī)格的墊圈能夠套置于相應(yīng)的臺(tái)階，且每級(jí)臺(tái)階的高度為相應(yīng)規(guī)格的墊圈的厚度與墊圈的數(shù)目之積。上述的檢具，其中，還包括支撐件，所述檢具本體固設(shè)于所述支撐件之上。上述的檢具，其中，還包括放置于所述支撐件之上、用于遮蔽所述檢具本體的防塵罩。上述的檢具，其中，所述墊圈為密封圈。上述的檢具，其中，所述密封圈為0型密封圈。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的有益效果是本實(shí)用新型的檢具包括至少一個(gè)檢具本體，每個(gè)檢具本體對(duì)應(yīng)于機(jī)械裝配中的一個(gè)裝配區(qū)域，在裝配前，將需要裝配的墊圈按照所屬的裝配區(qū)域套置于對(duì)應(yīng)的檢具本體中， 這樣，在裝配時(shí)，便可以根據(jù)裝配區(qū)域從對(duì)應(yīng)的檢具本體中取出墊圈，從而可以防止墊圈的錯(cuò)裝。進(jìn)一步，每個(gè)檢具本體為多級(jí)臺(tái)階狀結(jié)構(gòu)，通過對(duì)每級(jí)臺(tái)階的高度及外表面尺寸按照裝配的需要進(jìn)行設(shè)計(jì)，使得不同規(guī)格的墊圈可以正確的套置于對(duì)應(yīng)的臺(tái)階處，且每個(gè)臺(tái)階剛好裝滿墊圈，這樣，在裝配完成后，根據(jù)檢具本體中是否還有剩余的墊圈，便可以判斷是否存在漏裝的情況；而且，根據(jù)剩余墊圈所在的檢具本體，還可以快速確定是哪個(gè)裝配區(qū)域存在墊圈的漏裝，極大地方便了使用。

圖1為根據(jù)本實(shí)用新型的防止墊圈漏裝和錯(cuò)裝的檢具結(jié)構(gòu)圖。
具體實(shí)施方式
為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)描述。圖1為根據(jù)本實(shí)用新型的防止墊圈漏裝和錯(cuò)裝的檢具結(jié)構(gòu)圖。圖1是在墊圈為0 型密封圈時(shí)所設(shè)計(jì)的檢具，其包括至少一個(gè)檢具本體1，每個(gè)檢具本體1對(duì)應(yīng)于機(jī)械裝配中的一個(gè)裝配區(qū)域；一個(gè)支撐件3，所述檢具本體1固設(shè)于所述支撐件3之上；至少一個(gè)防塵罩4(圖中只示出1個(gè))，放置于所述支撐件3之上，用于遮蔽所述檢具本體1。其中，所述檢具本體1呈多級(jí)臺(tái)階狀，每個(gè)檢具本體1的臺(tái)階2的外表面尺寸(本例中為臺(tái)階2的直徑D)由上至下逐級(jí)增大，且每個(gè)檢具本體1的每級(jí)臺(tái)階2的外表面尺寸分別與相應(yīng)規(guī)格的墊圈的內(nèi)表面尺寸(本例中為0型密封圈的內(nèi)徑dl)相適應(yīng)，使得相應(yīng)規(guī)格的墊圈能夠套置于相應(yīng)的臺(tái)階2，且每級(jí)臺(tái)階2的高度H為相應(yīng)規(guī)格的墊圈的厚度(本例中為0型密封圈的截面直徑d2)與墊圈的數(shù)目之積。S卩，對(duì)于0型密封圈來說，D = dl, H = d2Xn, η為相應(yīng)臺(tái)階應(yīng)放置的0型密封圈數(shù)量。本發(fā)明實(shí)施例中的所述臺(tái)階，是構(gòu)成檢具本體的實(shí)體結(jié)構(gòu)。例如，在圖1中，中間的檢測(cè)本體包括4個(gè)臺(tái)階，每個(gè)臺(tái)階為一個(gè)圓柱體?？梢岳斫猓?dāng)所述墊圈為橢圓形時(shí)，則每個(gè)臺(tái)階是一個(gè)橢圓柱。以下舉例說明上述檢具的使用方法。首先，根據(jù)裝配圖得到，裝配需要分3個(gè)裝配區(qū)域進(jìn)行，于是，在檢具中，會(huì)包括3 個(gè)檢具本體，每個(gè)檢具本體對(duì)應(yīng)一個(gè)裝配區(qū)域；然后，將每個(gè)裝配區(qū)域需要用到的墊圈套置于相應(yīng)的檢具本體中，根據(jù)本發(fā)明對(duì)檢具本體尺寸的設(shè)計(jì)，每個(gè)檢具本體應(yīng)該剛好裝滿墊圈；最后，根據(jù)裝配區(qū)域，從相應(yīng)的檢具本體中取出相應(yīng)的墊圈進(jìn)行裝配。在裝配完成后，檢查檢具本體中是否還有剩余的墊圈，如果沒有，則裝配成功，不存在漏裝的情況；如果還有剩余的墊圈，說明存在漏裝的情況，根據(jù)剩余墊圈所在的檢具本體，可以快速確定是哪個(gè)裝配區(qū)域存在墊圈的漏裝。最后應(yīng)當(dāng)說明的是，以上實(shí)施例僅用以說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案而非限制，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案的精神范圍，其均應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。
權(quán)利要求1.一種防止墊圈漏裝和錯(cuò)裝的檢具，其特征在于，包括至少一個(gè)呈多級(jí)臺(tái)階狀的檢具本體，每個(gè)檢具本體的臺(tái)階的外表面尺寸由上至下逐級(jí)增大，且每個(gè)檢具本體對(duì)應(yīng)于機(jī)械裝配中的一個(gè)裝配區(qū)域；每個(gè)檢具本體的每級(jí)臺(tái)階的外表面尺寸分別與相應(yīng)規(guī)格的墊圈的內(nèi)表面尺寸相適應(yīng)， 使得相應(yīng)規(guī)格的墊圈能夠套置于相應(yīng)的臺(tái)階，且每級(jí)臺(tái)階的高度為相應(yīng)規(guī)格的墊圈的厚度與墊圈的數(shù)目之積。
2.如權(quán)利要求1所述的檢具，其特征在于，還包括 支撐件，所述檢具本體固設(shè)于所述支撐件之上。
3.如權(quán)利要求2所述的檢具，其特征在于，還包括放置于所述支撐件之上、用于遮蔽所述檢具本體的防塵罩。
4.如權(quán)利要求1所述的檢具，其特征在于 所述墊圈為密封圈。
5.如權(quán)利要求4所述的檢具，其特征在于 所述密封圈為0型密封圈。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種防止墊圈漏裝和錯(cuò)裝的檢具，所述檢具包括至少一個(gè)呈多級(jí)臺(tái)階狀的檢具本體，每個(gè)檢具本體的臺(tái)階的外表面尺寸由上至下逐級(jí)增大，且每個(gè)檢具本體對(duì)應(yīng)于機(jī)械裝配中的一個(gè)裝配區(qū)域；每個(gè)檢具本體的每級(jí)臺(tái)階的外表面尺寸分別與相應(yīng)規(guī)格的墊圈的內(nèi)表面尺寸相適應(yīng)，使得相應(yīng)規(guī)格的墊圈能夠套置于相應(yīng)的臺(tái)階，且每級(jí)臺(tái)階的高度為相應(yīng)規(guī)格的墊圈的厚度與墊圈的數(shù)目之積。本實(shí)用新型能夠防止墊圈的錯(cuò)裝，并能及時(shí)發(fā)現(xiàn)墊圈的漏裝。
文檔編號(hào)G01B5/00GK202008333SQ20102067930
公開日2011年10月12日 申請(qǐng)日期2010年12月23日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月23日
發(fā)明者沈冬青 申請(qǐng)人:北京德爾福萬源發(fā)動(dòng)機(jī)管理系統(tǒng)有限公司