專利名稱：一種可快速檢測光源的檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及光源檢測裝置技術(shù)領(lǐng)域，特指一種可快速檢測光源的檢測裝置。
技術(shù)背景在許多電子產(chǎn)品中均會設(shè)置一些顯示燈。傳統(tǒng)產(chǎn)品中，對于這些LED顯示燈并未 做太多關(guān)注，但是隨著產(chǎn)品競爭的加劇，各個廠家也在盡可能的提高產(chǎn)品的各個方面的性 能，提高人性化設(shè)計，這些LED顯示燈的改進(jìn)也隨之展開。例如提高LED的視覺舒適度等。為了研究LED等光源，需要一個檢測儀器來對產(chǎn)品光源進(jìn)行檢測，通常采用的檢 測儀器就是積分球。見圖1，這是一款普通的積分球產(chǎn)品。積分球又稱為光通球，是一個中空的，內(nèi)壁涂 一層平整的漫反射材料的完整球殼，其典型的功能就是收集光。收集的光被用作一個散射 光源或作為測量用，例如色彩的測量，光源燈光的光度測定，熒光研究，鏡子反射系數(shù)，拉漫 散射樣品研究，激光&LED的測量等。主要用于各種光度計，輻射計，光譜輻射計、CCD像機(jī)， 遙感系統(tǒng)的標(biāo)定的光譜測定。如圖1所示，積分球4由兩個半球型的殼體41、42構(gòu)成，在其中一個殼體41上設(shè) 置有光源安裝端43，該光源安裝端43用于安裝待測光源產(chǎn)品，并且其與外界的電源連接， 為待測光源產(chǎn)品提供電源。殼體41的另一端設(shè)置有輸出端44，通常在輸出端44設(shè)置一個 測試頭，用于檢測光線的光譜及相關(guān)的光學(xué)參數(shù)。這種積分球4最大的不足就是使用不方便。例如在檢測LED時，必須將每個LED 分別安裝在光源安裝端43上，然后分別進(jìn)行檢測，每次檢測均需要打開積分球，安裝LED， 測試等一系列步驟，整個操作過程十分繁瑣，不適應(yīng)大批量的檢測工作。另外，這種積分球產(chǎn)品存在的令一個不足就是，其只能對LED個體進(jìn)行檢測，而無 法對整個產(chǎn)品進(jìn)行檢測。例如，如果需要檢測已經(jīng)安裝在鍵盤、電子產(chǎn)品上的發(fā)光LED，目前 的積分球產(chǎn)品根本無法進(jìn)行檢測，只能將LED由產(chǎn)品上拆下，再放置到積分球產(chǎn)品中進(jìn)行 檢測
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題就是為了克服目前積分球產(chǎn)品的不足，提供一種 可快速檢測光源的檢測裝置，本實(shí)用新型可以直接對具有發(fā)光源的電子產(chǎn)品進(jìn)行檢測。為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型采用了如下的技術(shù)方案該檢測裝置包括用于 檢測光源的積分球和用于放置待測光源部件的基座，其中積分球為一個穹頂蓋體，該積分 球蓋設(shè)于基座上，并且基座安裝在一移動裝置上，通過移動裝置運(yùn)行到積分球底部。所述的積分球為中空的半球形，其上設(shè)置有光線探頭，所述的積分球內(nèi)部設(shè)置有 供光線反射的反射板。所述的基座包括用于固定待測光源部件的夾具以及與積分球底部開口對應(yīng)的座 體，其中所述的座體上設(shè)置由為待測光源提供電力的電源。[0012]所述的座體固定在移動裝置上，該移動裝置至少包括X軸移動軌道、Y軸移動軌 道，座體沿X軸移動軌道運(yùn)行到積分球下方，并沿Y軸移動軌道上升與積分球緊密結(jié)合。本實(shí)用新型將積分球設(shè)置成半球型或者類半球型，待測光源設(shè)置在基座上，通過 基座運(yùn)行到半球型積分球的下方，即積分球罩設(shè)在基座上，形成一個密閉的測試空間。待測 光源通過基座上的電源供電，開始發(fā)光，光線經(jīng)過積分球內(nèi)面的漫反射以及反射板的反射 后，進(jìn)入光學(xué)探頭，光學(xué)探頭對光線進(jìn)行測量，收集所需要的光學(xué)數(shù)據(jù)。當(dāng)檢測完畢后，基座 帶動待測光源離開積分球下方，便于更換新的待測光源。整個操作十分方便，較以往的積分 球產(chǎn)品，本實(shí)用新型工作效率大大提高。另外，本實(shí)用新型可以直接對具有發(fā)光源的產(chǎn)品進(jìn) 行檢測，節(jié)省了許多操作步驟。例如，如果需要對鍵盤上的發(fā)光源進(jìn)行檢測，只需要將鍵盤 固定在基座上的夾具上即可，而無需將鍵盤上的LED拆下，再放置到普通的積分球內(nèi)進(jìn)行 檢測，整個檢測過程非常簡單。

圖1現(xiàn)有積分球產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本實(shí)用新型工作示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖2所示，本實(shí)用新型包括用于檢測光源的積分球1和用于放置待測光源部件 的基座2，其中積分球1為一個穹頂蓋體，本實(shí)施離中該積分球1為一個中空的半球形，其蓋 設(shè)于基座2上，并且基座2安裝在一移動裝置3上，通過移動裝置3運(yùn)行到積分球1底部。所述的積分球1上設(shè)置有光線探頭11，所述的積分球1內(nèi)部設(shè)置有供光線反射的 反射板12。光線探頭11用于對積分球1內(nèi)的光源進(jìn)行檢測，并將檢測的光譜信息輸出至分 析儀器中。所述的基座2包括用于固定待測光源部件的夾具21以及與積分球1底部開口對 應(yīng)的座體22，其中所述的座體22上設(shè)置由為待測光源提供電力的電源。所述的座體22固 定在移動裝置3上，該移動裝置3至少包括-X軸移動軌道31、Y軸移動軌道32，座體22沿 X軸移動軌道31運(yùn)行到積分球1下方，并沿Y軸移動軌道32上升與積分球1緊密結(jié)合。如圖3所示，使用本實(shí)用新型時，將待測光源(或者具有發(fā)光源的電子產(chǎn)品)固定 在座體22上，并通過夾具21將其固定，通過座體22上的電源為待測光源提供電源，令待測 光源發(fā)光。移動裝置3中的X軸移動軌道31首先帶動整個基座2水平運(yùn)行，直至運(yùn)行到半 球型積分球1的下方，然后通過Y軸移動軌道32帶動基座2向上運(yùn)行，直至積分球1罩設(shè) 在基座2上，形成一個密閉的測試空間。待測光源通過基座2上的電源供電，開始發(fā)光，光 線經(jīng)過積分球1內(nèi)面的漫反射以及反射板12的反射后，進(jìn)入光學(xué)探頭11，光學(xué)探頭11對光 線進(jìn)行測量，收集所需要的光學(xué)數(shù)據(jù)。當(dāng)檢測完畢后，基座2帶動待測光源沿積分球1下方 下降，然后再在X軸移動軌道31帶動下運(yùn)行到起始位置，此時取下已測試的光源，更換新的 待測光源。整個操作十分可以方便，較以往的積分球產(chǎn)品，本實(shí)用新型工作效率大大提高。當(dāng)然，以上所述僅僅為本實(shí)用新型實(shí)例而已，并非來限制本實(shí)用新型實(shí)施范圍，例 如，積分球1的形狀可以使半球形或者類半球形均可。故，凡依本實(shí)用新型申請專利范圍所述的構(gòu)造、特征及原理所做的等效變化或修飾，均應(yīng)包括于本實(shí)用新型申請專利范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種可快速檢測光源的檢測裝置，其特征在于包括用于檢測光源的積分球(1)和 用于放置待測光源部件的基座(2)，其中積分球(1)為一個穹頂蓋體，該積分球(1)蓋設(shè)于 基座(2)上，并且基座(2)安裝在一移動裝置(3)上，通過移動裝置(3)運(yùn)行到積分球(1) 的底部。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可快速檢測光源的檢測裝置，其特征在于所述的積分 球(1)為中空的半球形，其上設(shè)置有光線探頭(11)，所述的積分球(1)內(nèi)部設(shè)置有供光線反 射的反射板(12)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種可快速檢測光源的檢測裝置，其特征在于所述的基座 (2)包括用于固定待測光源部件的夾具(21)以及與積分球(1)底部開口對應(yīng)的座體(22)， 其中所述的座體(22)上設(shè)置由為待測光源提供電力的電源。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種可快速檢測光源的檢測裝置，其特征在于所述的座體 (22)固定在移動裝置(3)上，該移動裝置至少包括X軸移動軌道(31)、Y軸移動軌道(32)， 座體(22)沿X軸移動軌道(31)運(yùn)行到積分球(1)下方，并沿Y軸移動軌道(32)上升與積 分球(1)緊密結(jié)合。
專利摘要本實(shí)用新型涉及光源檢測裝置技術(shù)領(lǐng)域，特指一種可快速檢測光源的檢測裝置。該檢測裝置包括用于檢測光源的積分球和用于放置待測光源部件的基座，其中積分球為一個穹頂蓋體，該積分球蓋設(shè)于基座上，并且基座安裝在一移動裝置上，通過移動裝置運(yùn)行到積分球底部。本實(shí)用新型基座可以通過移動裝置運(yùn)行到半球型積分球的下方，形成一個密閉的測試空間。待測光源或者具有發(fā)光體的電子產(chǎn)品通過基座上的電源供電，開始發(fā)光，光線經(jīng)過積分球內(nèi)面的漫反射以及反射板的反射后，進(jìn)入光學(xué)探頭，光學(xué)探頭對光線進(jìn)行測量，收集所需要的光學(xué)數(shù)據(jù)。當(dāng)檢測完畢后，基座帶動待測光源離開積分球下方，便于更換新的待測光源。整個操作十分可以方便，較以往的積分球產(chǎn)品，本實(shí)用新型工作效率大大提高。
文檔編號G01M11/00GK201852908SQ20102019802
公開日2011年6月1日 申請日期2010年5月14日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月14日
發(fā)明者許振相 申請人:東莞東聚電子電訊制品有限公司