專利名稱：光譜儀檢測高硅鋁合金含量的試樣制備方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及高硅鋁合金含量的測量方法，特別是用光譜儀檢測Si含量> 8%的高硅鋁合金的試樣制備方法。
背景技術(shù)：
對于Si含量彡0. 5% (如LY11、LY12等變形鋁合金)鋁合金，用光譜儀測量各元素時，無論對標(biāo)樣或試樣的分析，測定結(jié)果均符合技術(shù)條件要求。但對于Si含量> 8%的高硅鋁合金(如ZLlll等)時，往往分析不準(zhǔn)確，測定值比實(shí)際值要低得多。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種光譜儀測量高硅鋁合金各元素含量的試樣制備方法，利用本發(fā)明所述的試樣制備方法，可以通過光譜儀準(zhǔn)確測量Si含量> 8%的高硅鋁合金各元
素含量。本發(fā)明所述的光譜儀測量高硅鋁合金含量的試樣制備方法是利用堿溶方法，采用分步增加NaOH溶液量，對試樣進(jìn)行溶解，同時加大HNO3的酸化用量，使試樣得到充分的消解，滿足高Si含量鋁合金的分析要求。本發(fā)明所述的光譜儀測量高硅鋁合金含量的試樣制備方法是這樣實(shí)現(xiàn)的(1)取0. 1克Si含量彡8%的高硅鋁合金試樣于燒杯中，加入IOml含有20%的 NaOH溶液，加熱至不再有小氣泡產(chǎn)生為止；(2)向燒杯中加入3ml含有30%的NaOH溶液繼續(xù)反應(yīng)，10分鐘后又補(bǔ)加3ml含有 50%的NaO溶液繼續(xù)加熱至溶液呈粘糊狀；(3)再向燒杯中倒入45ml (1+1)的HNO3進(jìn)行酸化，加熱溶解2 3分鐘，冷至室溫后定容250ml待用。由于采用堿溶方法制樣，試樣的Si含量高，按通常的堿溶方法很難將試樣徹底消解，因此測定結(jié)果偏低，只有采用分步增加NaOH用量和HNO3的酸化用量，使得試樣得到充分的消解才能滿足分析要求，
具體實(shí)施例方式實(shí)施例1 =ZLlllA鑄鋁標(biāo)樣的制備ZLlllA鑄鋁標(biāo)樣的化學(xué)成分見表1表1. ZLlllA鑄鋁標(biāo)樣化學(xué)成分
權(quán)利要求
1.光譜儀測量高硅鋁合金含量的試樣制備方法，利用堿溶方法，采用分步增加NaOH溶液量，對試樣進(jìn)行溶解，其特征在于制備步驟為(1)取0.1克Si含量彡8%的高硅鋁合金試樣于燒杯中，加入IOml含有20%的NaOH 溶液，加熱至不再有小氣泡產(chǎn)生為止；(2)向燒杯中加入3ml含有30%的NaOH溶液繼續(xù)反應(yīng)，10分鐘后又補(bǔ)加3ml含有50% 的NaO溶液繼續(xù)加熱至溶液呈粘糊狀；(3)再向燒杯中倒入45ml(1+1)的HNO3進(jìn)行酸化，加熱溶解2 3分鐘，冷至室溫后定容 250ml ο
全文摘要
本發(fā)明所述的光譜儀測量高硅鋁合金含量的試樣制備方法是利用堿溶方法，(1)取0.1克Si含量≥8％的高硅鋁合金試樣于燒杯中，加入10ml含有20％的NaOH溶液，加熱至不再有小氣泡產(chǎn)生為止；(2)向燒杯中加入3ml含有30％的NaOH溶液繼續(xù)反應(yīng)，10分鐘后又補(bǔ)加3ml含有50％的NaO溶液繼續(xù)加熱至溶液呈粘糊狀；(3)再向燒杯中倒入45ml(1+1)的HNO3進(jìn)行酸化，加熱溶解2～3分鐘，冷至室溫后定容250ml待用。本發(fā)明采用分步增加NaOH溶液量，對試樣進(jìn)行溶解，同時加大HNO3的酸化用量，使試樣得到充分的消解，滿足高Si含量鋁合金的分析要求。
文檔編號G01N1/44GK102564838SQ201010608988
公開日2012年7月11日 申請日期2010年12月28日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月28日
發(fā)明者許裕 申請人:中國航空工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)件制造有限責(zé)任公司