專利名稱：光學(xué)檢測儀的頂針裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種頂針裝置，尤其涉及一種用于光學(xué)檢測儀上的頂針裝置。
背景技術(shù)：
光學(xué)檢測儀是對(duì)經(jīng)過焊點(diǎn)焊接后的PCB板材的焊點(diǎn)進(jìn)行檢測作用的設(shè)備，PCB板 材通常在完成焊接后需要對(duì)焊點(diǎn)進(jìn)行檢測，如檢測焊點(diǎn)是否圓潤完整，或者是否有空焊、 虛焊、連焊等現(xiàn)象。當(dāng)PCB板材送入光學(xué)檢測儀的攝像頭下方時(shí)，通過攝像頭或者顯微鏡的 鏡頭進(jìn)行觀測，然后電腦分析得出該P(yáng)CB板材上焊點(diǎn)的焊接情況。通常PCB板材的固定是 通過夾具體上兩端位置對(duì)應(yīng)的夾具對(duì)PCB板材進(jìn)行固定，通過夾具把PCB板材夾緊在夾具 體兩端的臺(tái)階上，但是如果PCB板材的尺寸比較大的時(shí)候，通常PCB板材的中央會(huì)由于自身 重力的作用向下凹陷，這樣會(huì)對(duì)檢測結(jié)果的精確性產(chǎn)生嚴(yán)重的不良影響，例如凹陷會(huì)導(dǎo)致 焊點(diǎn)不能被觀測到或者觀測不完整且會(huì)導(dǎo)致光學(xué)檢測儀上發(fā)出的檢測光線在焊點(diǎn)上的反 射方向發(fā)生改變，導(dǎo)致焊點(diǎn)模糊或者灰暗，不利于檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性。

發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型提供了一種用于光學(xué)檢測儀上的頂針裝置。通過該頂針裝置能有針對(duì) 性地頂住PCB板材的凹陷處，使得整個(gè)PCB板材處于同一個(gè)平面，以解決目前市場上光學(xué)檢 測儀對(duì)PCB板材進(jìn)行檢測時(shí)，由于PCB板材中央的凹陷導(dǎo)致PCB板材上的焊點(diǎn)模糊或者不 能完整被觀測到從而影響檢測結(jié)果的缺陷。 本實(shí)用新型的光學(xué)檢測儀的頂針裝置的結(jié)構(gòu)如下位于夾具體的下方有一底板，
底板的下表面有對(duì)稱布置的導(dǎo)向桿支撐在光學(xué)檢測儀的底部，底板的下表面還與氣缸接
觸，固定于底板的上表面且和位于夾具體上的PCB板的頂針與PCB板的底面接觸。通過這
樣的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使得當(dāng)PCB板材的中央或某個(gè)部分產(chǎn)生向下凹陷的問題時(shí)，能通過該頂針把
PCB板材凹陷的部位頂上去，使得整個(gè)PCB板材處在同一個(gè)平面上，由于頂針是和底板固定
在一起的，當(dāng)?shù)装逶跉飧椎淖饔孟卵刂鴮?dǎo)向桿向上運(yùn)動(dòng)的時(shí)候，通過控制氣缸的通氣量控
制底板的上升幅度，恰好使得位于底板上的頂針把PCB板材凹陷的部位頂上去。 進(jìn)一步，底板為鋼板，頂針的底部與磁鐵固定，磁鐵吸附在底板上。通過這樣的設(shè)
計(jì)，能把磁鐵在底板上任意地移動(dòng)，可根據(jù)需要把固定在磁鐵上的頂針放置在PCB板材的
不同位置對(duì)PCB板材進(jìn)行矯正。 進(jìn)一步，底板的四周有內(nèi)凹孔，導(dǎo)向桿的個(gè)數(shù)為四個(gè)且固定在內(nèi)凹孔中。通過設(shè)置 四個(gè)導(dǎo)向桿能使得整個(gè)頂針裝置更加穩(wěn)固。 本實(shí)用新型光學(xué)檢測儀的頂針裝置的有益效果是通過該頂針裝置能有針對(duì)性地 頂住PCB板材的凹陷處，使得整個(gè)PCB板材處于同一個(gè)平面，以解決目前市場上光學(xué)檢測儀 對(duì)PCB板材進(jìn)行檢測時(shí)，由于PCB板材中央的凹陷導(dǎo)致PCB板材上的焊點(diǎn)模糊或者不能完 整被觀測到從而影響檢測結(jié)果的缺陷。
圖1為本實(shí)用新型光學(xué)檢測儀的頂針裝置頂住PCB板材時(shí)的示意圖。 圖2為本實(shí)用新型光學(xué)檢測儀的頂針裝置復(fù)位時(shí)的示意圖。 圖中 1-頂針，2-PCB板，3-夾具體，4-導(dǎo)向桿，5-氣缸，6-底板，7-磁鐵。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖，具體說明本實(shí)用新型。 如圖1為本實(shí)用新型光學(xué)檢測儀的頂針裝置頂住PCB板材時(shí)的示意圖。位于夾具 體3的下方有一底板6，底板6的下表面有對(duì)稱布置的導(dǎo)向桿4支撐在光學(xué)檢測儀的底部， 底板6的下表面還與氣缸5接觸，固定于底板6的上表面且和位于夾具體3上的PCB板2 的頂針1與PCB板2的底面接觸。通過這樣的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使得當(dāng)PCB板材的中央或某個(gè)部分 產(chǎn)生向下凹陷的問題時(shí)，能通過該頂針1把PCB板材凹陷的部位頂上去，使得整個(gè)PCB板材 處在同一個(gè)平面上，由于頂針1是和底板6固定在一起的，當(dāng)?shù)装?在氣缸5的作用下沿著 導(dǎo)向桿4向上運(yùn)動(dòng)的時(shí)候，通過控制氣缸5的通氣量控制底板6的上升幅度，恰好使得位于 底板6上的頂針1把PCB板材凹陷的部位頂上去。 如圖2所示為本實(shí)用新型光學(xué)檢測儀的頂針裝置復(fù)位時(shí)的示意圖。當(dāng)不需要頂針 裝置工作的時(shí)候可以通過控制氣缸5使得底板6沿著導(dǎo)向桿4向下運(yùn)動(dòng)從而讓頂針1脫離 PCB板材。 同時(shí)，本實(shí)用新型還可以進(jìn)一步改進(jìn)為底板6為鋼板，頂針1的底部與磁鐵7固 定，磁鐵7吸附在底板6上。通過這樣的設(shè)計(jì)，能把磁鐵7在底板6上任意地移動(dòng)，可根據(jù) 需要把固定在磁鐵7上的頂針放置在PCB板材的不同位置對(duì)PCB板材進(jìn)行矯正。 底板6的四周有內(nèi)凹孔，導(dǎo)向桿4的個(gè)數(shù)為四個(gè)且固定在內(nèi)凹孔中。通過設(shè)置四 個(gè)導(dǎo)向桿能使得整個(gè)頂針裝置更加穩(wěn)固。 以上僅為本實(shí)用新型的具體實(shí)施例，任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員能思之的變化均落在 本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求一種光學(xué)檢測儀的頂針裝置，其特征在于位于夾具體(3)的下方有一底板(6)，底板(6)的下表面有對(duì)稱布置的導(dǎo)向桿(4)支撐在光學(xué)檢測儀的底部，底板(6)的下表面還與氣缸(5)接觸，固定于底板(6)的上表面且和位于夾具體(3)上的PCB板(2)的頂針(1)與PCB板(2)的底面接觸。
2. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的光學(xué)檢測儀的頂針裝置，其特征在于底板(6)為鋼板，頂針 (1)的底部與磁鐵(7)固定，磁鐵(7)吸附在底板(6)上。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測儀的頂針裝置，其特征在于底板(6)的四周有內(nèi) 凹孔，導(dǎo)向桿(4)的個(gè)數(shù)為四個(gè)且固定在內(nèi)凹孔中。
專利摘要一種光學(xué)檢測儀的頂針裝置，位于夾具體(3)的下方有一底板(6)，底板(6)的下表面有對(duì)稱布置的導(dǎo)向桿(4)支撐在光學(xué)檢測儀的底部，底板(6)的下表面還與氣缸(5)接觸，固定于底板(6)的上表面且和位于夾具體(3)上的PCB板(2)的頂針(1)與PCB板(2)的底面接觸。本實(shí)用新型的有益效果是通過該頂針裝置能有針對(duì)性地頂住PCB板材的凹陷處，使得整個(gè)PCB板材處于同一個(gè)平面，以解決目前市場上光學(xué)檢測儀對(duì)PCB板材進(jìn)行檢測時(shí)，由于PCB板材中央的凹陷導(dǎo)致PCB板材上的焊點(diǎn)模糊或者不能完整被觀測到從而影響檢測結(jié)果的缺陷。
文檔編號(hào)G01N21/01GK201508321SQ20092026741
公開日2010年6月16日 申請日期2009年10月16日 優(yōu)先權(quán)日2009年10月16日
發(fā)明者莊春明 申請人:蘇州明富自動(dòng)化設(shè)備有限公司