專利名稱：用于介質膜反光碗的光譜測量裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及光譜測量的技術，特別是涉及一種用于介質膜反光碗的光譜測 量裝置的技術。
背景技術：
反光碗主要用于各類型燈具或投光系統(tǒng)的聚光，其聚光面采用曲面設計，能有 效降低光損。介質膜反光碗的碗體都由透明材質制成，其聚光面鍍有多層介質膜， 并能通過介質膜使其聚光面達到特定要求的光譜特性(例如冷光燈碗可選擇鍍一層 能透過不可見的近紅外光，只反射可見光的介質膜)，因而得到了廣泛應用，其聚光 面面型主要有球面、橢球型、拋物面等。由于鍍膜時，材料蒸汽流都是直線行進的， 介質膜反光碗的聚光面成膜均勻性不容易做到一致，而且測量曲面的光譜特性也是 一個難題，因此介質膜反光碗的光譜特性檢測較為困難。
目前對介質膜反光碗光譜特性都采用預先制作參比樣品的間接測量方法，即先 制作介質膜反光碗的網格化支架，再在每個網格內放置一相同材質的平面參比片， 等成膜結束后測量各參比片的反射率，得以獲取各曲率段的光譜特性。但是一方面 由于面型問題使得各介質膜反光碗聚光面實際成膜的厚度與參比樣品不同；另一方 面由于不同的介質膜反光碗之間，其聚光面的成膜也存在差異，因此這種方法所得 到的檢測結果一致性較差，而且其重復性也較低，難以反映全體介質膜反光碗的光 譜特性。另外，制作參比樣品也比較麻煩。
實用新型內容
針對上述現有技術中存在的缺陷，本實用新型所要解決的技術問題是提供一種 能快速、方便的直接測量介質膜反光碗的光譜特性，而且檢測結果一致性好、重復 性高，能反映全體介質膜反光碗光譜特性的用于介質膜反光碗的光譜測量裝置。
為了解決上述技術問題，本實用新型所提供的一種用于介質膜反光碗的光譜測 量裝置，其特征在于包括光源、測試架臺、分光器和計算機；
所述光源包括用于發(fā)光的投光器和用于將投光器所發(fā)出的光轉換為準平行光并 將其傳輸至測試架臺上方的透鏡組，所述投光器經光纖連接至透鏡組；
所述測試架臺臺面上設有用于被測樣品的移動導向的導軌，臺面下方設有用于 接收光源的準平行光的積分球，所述積分球由光纖經用于阻斷光路的快門連接至分 光器內的分光儀；所述分光器用于分離光線以供分光儀測量，所述分光儀的輸出接 口連接用于實現暗背景測量以及由透射率至反射率計算的計算機。
進一步的，所述的投光器為高亮度的光輸出大于xx的投光器。
進一步的，所述分光儀內部采用的是陣列探測器。 進一步的，所述分光儀的輸出接口為USB接口。 進一步的，所述計算機為PC機。
進一步的，所述導軌由用于放置被測樣品的前支撐、用于前支撐的移動導向的 二滑軌和用于帶動前支撐在二滑軌上滑行的滑桿組成，所述滑桿設于前支撐底部， 所述二滑軌的一端分別連接所述滑桿。
進一步的，所述滑軌的軌跡與被測樣品的面型對應設置，并能于測量時微調。 本實用新型提供的用于介質膜反光碗的光譜測量裝置，無需另外制作參比樣品 即可連續(xù)準確的獲知介質膜反光碗各處的透射率及其均勻性分布，并通過介質膜的 透射率間接計算出其反射率，從而得到反射光譜特性，其檢測結果一致性好、重復 性高，能反映全體反光碗光譜特性，并能快速、方便的直接測量。

圖1是本實用新型實施例的用于介質膜反光碗的光譜測量裝置的結構框圖； 圖2測量樣品放置于測試架臺的導軌上的結構示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖說明對本實用新型的實施例作進一步詳細描述，但本實施例并不 用于限制本實用新型，凡是采用本實用新型的相似結構及其相似變化，均應列入本 實用新型的保護范圍。
如圖1所示，本實用新型實施例所提供的一種用于介質膜反光碗的光譜測量裝
置，其特征在于包括光源、測試架臺4、分光器8和PC機9;所述光源包括投光
器1和透鏡組2，所述投光器1經光纖連接到透鏡組2，用于發(fā)光，所述透鏡組2用
于將投光器l所發(fā)出的光轉換為準平行光，并傳輸至測試架臺4上方；所述測試架
臺4臺面上設有導軌3，用于被測樣品的移動導向，臺面下方設有用于接收光源的 準平行光的帶SMA光纖接口的積分球5，積分球5用于調整因光束偏移所致的測量 偏差，所述積分球5由光纖經用于阻斷光路的快門連接至分光器內的分光儀7;所 述分光器8用于分離光線以供分光儀7測量；所述分光儀7內部采用的是陣列探測 器；所述分光儀的USB輸出接口連接用于實現控制背景、樣品及暗背景測量以及由 透射率計算的PC計算機9。所述的投光器為高亮度的功率大于100W的投光器。
如圖2所示，所述導軌3由滑桿31、 二滑軌32和前支撐33組成，所述前支撐 用于放置被測樣品10，所述滑桿31設于前支撐33底部，用于帶動前支撐33在二 滑軌32上滑行，所述二滑軌32用于前支撐的移動導向，所述二滑軌32的一端分別連接所述滑桿31。
所述滑軌32的軌跡與被測樣品10的面型對應設置，并能于測量時微調。
本實用新型的裝置對測量樣品進行測量的具體步驟如下
1) 不放置樣品，通過PC機控制快門開啟測量一次光亮，得到當前基線光亮值
E;
2) 通過PC機控制快門關閉測量一次暗背景，得到當前暗背景光亮值Ib;
3) 放置樣品，通過PC機控制快門開啟再測量一次光亮，得到樣品光亮值I;
4) 用步驟l)、 2)、 3)所得值計算出各波長處透射率丁=(1-Ib)/(E-Ib);
5) 沿導軌移動樣品，使其改變位置，重復步驟3至5直至完成樣品的全方位測量。
本實用新型的裝置在測試架臺上不安裝導軌時，可用于測試普通平面樣品。
權利要求1、一種用于介質膜反光碗的光譜測量裝置，其特征在于包括光源、測試架臺、分光器和計算機；所述光源包括用于發(fā)光的投光器和用于將投光器所發(fā)出的光轉換為準平行光并將其傳輸至測試架臺上方的透鏡組，所述投光器經光纖連接至透鏡組；所述測試架臺臺面上設有用于被測樣品的移動導向的導軌，臺面下方設有用于接收光源的準平行光的積分球，所述積分球由光纖經快門連接至分光器內的分光儀；所述分光儀的輸出接口連接用于實現暗背景測量以及由透射率至反射率計算的計算機。
2、 根據權利要求1所述的用于介質膜反光碗的光譜測量裝置，其特征在于所述的投光器為功率大于100W的投光器。
3、 根據權利要求1所述的用于介質膜反光碗的光譜測量裝置，其特征在于所述分光儀內部采用的是陣列探測器。
4、 根據權利要求l所述的用于介質膜反光碗的光譜測量裝置，其特征在于所述分光儀的輸出接口為USB接口。
5、 根據權利要求l所述的用于介質膜反光碗的光譜測量裝置，其特征在于所述計算機為PC機。
6、 根據權利要求1所述的用于介質膜反光碗的光譜測量裝置，其特征在于所述導軌由用于放置被測樣品的前支撐、用于前支撐的移動導向的二滑軌和用于帶動 前支撐在二滑軌上滑行的滑桿組成，所述滑桿設于前支撐底部，所述二滑軌的一端 分別連接所述滑桿。
7、 根據權利要求6所述的用于介質膜反光碗的光譜測量裝置，其特征在于所述滑軌的軌跡與被測樣品的面型對應設置，并能于測量時微調。
專利摘要一種用于介質膜反光碗的光譜測量裝置，涉及光譜測量技術領域，所解決的是介質膜反光碗的測量結果一致性差、重復性低且不能直接測量的技術問題。該裝置包括光源、測試架臺、分光器和計算機；光源包括用于發(fā)光的投光器和用于將投光器所發(fā)出的光轉換為準平行光并將其傳輸至測試架臺上方的透鏡組，投光器經光纖連接至透鏡組；測試架臺臺面上設有用于被測樣品的移動導向的導軌，臺面下方設有用于接收光源的準平行光的積分球，積分球由光纖經快門連接至分光器內的分光儀；分光儀的輸出接口連接用于實現暗背景測量以及由透射率至反射率計算的計算機。本實用新型具有檢測結果一致性好、重復性高，能反映全體介質膜反光碗光譜特性的特點。
文檔編號G01N21/59GK201344905SQ20092006749
公開日2009年11月11日 申請日期2009年2月5日 優(yōu)先權日2009年2月5日
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