專利名稱：高溫測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試系統(tǒng)，特別是涉及一種以自動(dòng)化方式進(jìn) 行高溫測(cè)試的高溫測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
目前所使用的集成電路(IC)中，由于有一部分使用的環(huán)境較苛
刻，因此需要符合高溫下能正常運(yùn)作的要求，例如在汽車引擎周邊所 使用的集成電路，由于引擎運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)會(huì)逐漸產(chǎn)生熱，因此周邊使用的集
成電路就必須要通過至少14(TC的高溫測(cè)試，用于確保在高溫環(huán)境中 能正常運(yùn)作。
以往 在進(jìn)行高溫測(cè)試時(shí)，通常是利用人工方式以及不同溫度的熱 源，將制作好的集成電路逐漸加溫，直到達(dá)到待測(cè)溫度后，再使用一 個(gè)測(cè)試臺(tái)來測(cè)量集成電路的電性能好壞，進(jìn)而做出產(chǎn)品良好或損壞的 分類，然而所有過程都是以人工搬移集成電路、人工判讀測(cè)試結(jié)果的 方式進(jìn)行，所以往往會(huì)造成耗時(shí)較多、容易判讀失誤的情形發(fā)生，此 外，操作人員在高溫作業(yè)下也容易造成意外，綜合來說，導(dǎo)致不容易 實(shí)施大量集成電路都進(jìn)行高溫測(cè)試的缺點(diǎn)。

實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于提供一種以自動(dòng)化方式來進(jìn)行高溫測(cè)試， 進(jìn)而能讓測(cè)試時(shí)間更有效率，并節(jié)省人力成本、維護(hù)人力安全的高溫 測(cè)試系統(tǒng)。
該高溫測(cè)試系統(tǒng)適用于待測(cè)產(chǎn)品的高溫環(huán)境測(cè)試。
本實(shí)用新型的特征在于該高溫測(cè)試系統(tǒng)包含預(yù)熱單元、第一搬 動(dòng)單元、測(cè)試單元，及第二搬動(dòng)單元，該預(yù)熱單元包括驅(qū)動(dòng)模塊、連 結(jié)于該驅(qū)動(dòng)模塊并運(yùn)輸該待測(cè)產(chǎn)品沿著移動(dòng)方向前進(jìn)的傳送帶，及多個(gè)沿著該移動(dòng)方向排列且對(duì)應(yīng)于該傳送帶的加熱元件以預(yù)熱該待測(cè)
產(chǎn)品；該第一搬動(dòng)單元用于搬動(dòng)預(yù)熱完成的該待測(cè)產(chǎn)品；該測(cè)試單元 包括承載臺(tái)、對(duì)應(yīng)于該承載臺(tái)的測(cè)試臺(tái)，及對(duì)應(yīng)于該承載臺(tái)的加熱元 件，該承載臺(tái)用于承接該第一搬動(dòng)單元上的待測(cè)產(chǎn)品且在該承載臺(tái)上 停留預(yù)定的測(cè)試時(shí)間，該測(cè)試臺(tái)是在該測(cè)試時(shí)間內(nèi)對(duì)該承載臺(tái)上的待 測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，該加熱元件則用于維持該待測(cè)產(chǎn)品的溫度；該第二 搬動(dòng)單元依據(jù)該測(cè)試臺(tái)的測(cè)試結(jié)果，搬動(dòng)該承載臺(tái)上符合該測(cè)試條件 的待測(cè)產(chǎn)品到良品收集區(qū)。
本實(shí)用新型的有益效果在于通過上述各單元的相互搭配，本實(shí) 用新型就能以自動(dòng)化方式來進(jìn)行高溫測(cè)試，所以只需要極少的人力就 可以執(zhí)行大量待測(cè)產(chǎn)品的測(cè)試工作，也能避免虛耗的搬運(yùn)、測(cè)試時(shí)間， 以及人為的誤判，進(jìn)而能達(dá)到測(cè)試時(shí)間更有效率、節(jié)省人力成本、避 免人為誤判、維護(hù)人力安全的使用功能。


圖l是說明本實(shí)用新型高溫測(cè)試系統(tǒng)的優(yōu)選實(shí)施例的示意圖；及 圖2是說明上述優(yōu)選實(shí)施例的運(yùn)作流程的流程圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說明
如圖1、 2所示，本實(shí)用新型高溫測(cè)試系統(tǒng)200的優(yōu)選實(shí)施例適用 于測(cè)試出多個(gè)待測(cè)產(chǎn)品90在高溫環(huán)境下的使用狀態(tài)，該高溫測(cè)試系 統(tǒng)200包含預(yù)熱單元20、第一搬動(dòng)單元31、恒溫測(cè)試單元40、第二 搬動(dòng)單元32、第三搬動(dòng)單元33，及控制單元50。
該預(yù)熱單元20包括驅(qū)動(dòng)模塊21、連結(jié)于該驅(qū)動(dòng)模塊21并沿著移 動(dòng)方向X循環(huán)轉(zhuǎn)動(dòng)的傳送帶22、多個(gè)沿著該移動(dòng)方向X排列且對(duì)應(yīng) 于該傳送帶22的加熱元件？.3，及第一檢測(cè)元件24。
所述待測(cè)產(chǎn)品90放置于該傳送帶22上沿著該移動(dòng)方向X移動(dòng)， 所述加熱元件23沿著該移動(dòng)方向X分別形成由低至高的熱源，用于 將所述待測(cè)產(chǎn)品90從室溫狀態(tài)下逐漸升溫，在本實(shí)施例中，所述待測(cè)產(chǎn)品90將通過所述加熱元件23逐漸升溫到約140°C，該第一檢測(cè) 元件24靠近溫度最高的加熱元件23，用于檢測(cè)預(yù)熱的階段已經(jīng)完成。
該第一搬動(dòng)單元31接續(xù)于該預(yù)熱單元20搬動(dòng)所述待測(cè)產(chǎn)品90， 用于將預(yù)熱完成的待測(cè)產(chǎn)品90移動(dòng)到下一個(gè)恒溫測(cè)試階段。
該恒溫測(cè)試單元40包括承載臺(tái)41、對(duì)應(yīng)于該承載臺(tái)41的測(cè)試臺(tái) 42，及對(duì)應(yīng)于該承載臺(tái)41的加熱元件43，該承載臺(tái)41依次承接該 第一搬動(dòng)單元31上的待測(cè)產(chǎn)品90且在該承載臺(tái)41上停留一測(cè)試時(shí) 間，在本實(shí)施例中該測(cè)試時(shí)間為15秒，該測(cè)試臺(tái)42具有多個(gè)探針可 對(duì)所述待測(cè)產(chǎn)品90做電信號(hào)的功能檢測(cè)，并且是在該測(cè)試時(shí)間內(nèi)以 測(cè)試條件對(duì)該承載臺(tái)41上的待測(cè)產(chǎn)品90進(jìn)行測(cè)試，此時(shí)該加熱元件 43形成恒溫的熱源，且溫度不小于該預(yù)熱單元20上溫度最高的加熱 元件23，在本實(shí)施例中該加熱元件43以140"C的恒溫加熱，所以所 述待測(cè)產(chǎn)品90是在14(TC的環(huán)境中對(duì)電信號(hào)的正?；蚴д孢M(jìn)行測(cè)試 判斷。
該第二搬動(dòng)單元32依據(jù)該測(cè)試臺(tái)42的測(cè)試結(jié)果，搬動(dòng)該承載臺(tái) 41上符合該測(cè)試條件的待測(cè)產(chǎn)品90到良品收集區(qū)60，該良品收集區(qū) 60包括良品傳送帶61及第二檢測(cè)元件62。
該第三搬動(dòng)單元33依據(jù)該測(cè)試臺(tái)42的測(cè)試結(jié)果，搬動(dòng)該承載臺(tái) 41上不符合該測(cè)試條件的待測(cè)產(chǎn)品90到不良品收集區(qū)70，該不良品 收集區(qū)70包括不良品傳送帶71及第三檢測(cè)元件72，在本實(shí)施例中， 該第一、二、三搬動(dòng)單元31、 32、 33都采用機(jī)械手臂。
該控制單元50與前述各單元電連接，并內(nèi)建有該測(cè)試時(shí)間，該控 制單元50運(yùn)作時(shí)依據(jù)該第一檢測(cè)元件24的信號(hào)狀態(tài)來控制該第一搬 動(dòng)單元31的運(yùn)作，以及依據(jù)該測(cè)試時(shí)間的結(jié)束與該測(cè)試臺(tái)42的測(cè)試 結(jié)果控制該第二搬動(dòng)單元32或該第三搬動(dòng)單元33的運(yùn)作。
簡(jiǎn)而言之，當(dāng)該第一檢測(cè)元件24的信號(hào)發(fā)生變化時(shí)，就表示預(yù)熱 階段完成，該控制單元50會(huì)驅(qū)動(dòng)該第一搬動(dòng)單元31將預(yù)熱好的待測(cè) 產(chǎn)品90搬到該承載臺(tái)41上做高溫測(cè)試，當(dāng)該測(cè)試時(shí)間結(jié)束時(shí)，如果 測(cè)試結(jié)果良好，該控制單元50會(huì)驅(qū)動(dòng)該第二搬動(dòng)單元32將良好的待 測(cè)產(chǎn)品90搬到該良品收集區(qū)60，如果測(cè)試結(jié)果異常則驅(qū)動(dòng)該第三搬動(dòng)單元33將異常的待測(cè)產(chǎn)品90搬到該不良品收集區(qū)70，而當(dāng)良好 或異常的待測(cè)產(chǎn)品90分別靠近該第二、三檢測(cè)元件62、 72時(shí)，該控 制單元50能發(fā)出提示信號(hào)以提醒測(cè)試人員取件，而通過高溫測(cè)試的 過程就能確保待測(cè)產(chǎn)品90在高溫環(huán)境使用下也具備功能正常、信號(hào) 不失真的良好使用狀態(tài)。
借此，通過上述各單元的相互搭配，本實(shí)用新型就能以自動(dòng)化方 式來進(jìn)行高溫測(cè)試，所以只需要極少的人力就可以執(zhí)行大量待測(cè)產(chǎn)品 90的測(cè)試工作，也能避免虛耗的搬運(yùn)、測(cè)試時(shí)間，以及人為的誤判， 進(jìn)而能達(dá)到測(cè)試時(shí)間更有效率、節(jié)省人力成本、避免人為誤判、維護(hù) 人力安全的使用功能。
權(quán)利要求1、一種高溫測(cè)試系統(tǒng)，適用于待測(cè)產(chǎn)品的高溫環(huán)境測(cè)試，其特征在于所述高溫測(cè)試系統(tǒng)包含預(yù)熱單元、第一搬動(dòng)單元、測(cè)試單元，及第二搬動(dòng)單元，所述預(yù)熱單元包括驅(qū)動(dòng)模塊、連結(jié)于所述驅(qū)動(dòng)模塊并運(yùn)輸所述待測(cè)產(chǎn)品沿著移動(dòng)方向前進(jìn)的傳送帶，及多個(gè)沿著所述移動(dòng)方向排列且對(duì)應(yīng)于所述傳送帶的加熱元件以預(yù)熱所述待測(cè)產(chǎn)品；所述第一搬動(dòng)單元用于搬動(dòng)預(yù)熱完成的所述待測(cè)產(chǎn)品；所述測(cè)試單元包括承載臺(tái)、對(duì)應(yīng)于所述承載臺(tái)的測(cè)試臺(tái)，及對(duì)應(yīng)于所述承載臺(tái)的加熱元件，所述承載臺(tái)用于承接所述第一搬動(dòng)單元上的待測(cè)產(chǎn)品且在所述承載臺(tái)上停留預(yù)定的測(cè)試時(shí)間，所述測(cè)試臺(tái)在所述測(cè)試時(shí)間內(nèi)對(duì)所述承載臺(tái)上的待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，所述加熱元件則用于維持所述待測(cè)產(chǎn)品的溫度；以及所述第二搬動(dòng)單元依據(jù)所述測(cè)試臺(tái)的測(cè)試結(jié)果，搬動(dòng)所述承載臺(tái)上符合所述測(cè)試條件的待測(cè)產(chǎn)品到良品收集區(qū)。
2、 如權(quán)利要求1所述的高溫測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述高溫 測(cè)試系統(tǒng)還包括第三搬動(dòng)單元，依據(jù)所述測(cè)試臺(tái)的測(cè)試結(jié)果，搬動(dòng) 所述承載臺(tái)上不符合所述測(cè)試條件的待測(cè)產(chǎn)品到不良品收集區(qū)。
3、 如權(quán)利要求1所述的高溫測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述預(yù)熱 單元的所述加熱元件沿著所述移動(dòng)方向分別形成由低至高的熱源。
4、 如權(quán)利要求1所述的高溫測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述恒溫測(cè)試單元的加熱元件的溫度不小于所述預(yù)熱單元上溫度最高的加熱 元件。
5、 如權(quán)利要求1所述的高溫測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述預(yù)熱單元還包括第一檢測(cè)元件，所述系統(tǒng)還包括電連接于所述第一檢測(cè) 元件與所述預(yù)熱單元、所述第一搬動(dòng)單元、所述恒溫測(cè)試單元與所 述第二搬動(dòng)單元的控制單元，所述第一檢測(cè)元件靠近溫度最高的加 熱元件，所述控制單元依據(jù)所述第一檢測(cè)元件的信號(hào)狀態(tài)控制所述 第一搬動(dòng)單元。
6、 如權(quán)利要求5所述的高溫測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述控制 單元內(nèi)建有所述測(cè)試時(shí)間，并依據(jù)所述測(cè)試時(shí)間的結(jié)束以及所述測(cè) 試臺(tái)的測(cè)試結(jié)果控制所述第二搬動(dòng)單元。
7、 如權(quán)利要求2所述的高溫測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述第一、 二、三搬動(dòng)單元都是機(jī)械手臂。
8、 如權(quán)利要求2所述的高溫測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述良品 收集區(qū)包括良品傳送帶及第二檢測(cè)元件，所述不良品收集區(qū)包括不 良品傳送帶及第三檢測(cè)元件。
專利摘要一種高溫測(cè)試系統(tǒng)，適用于待測(cè)產(chǎn)品的高溫環(huán)境測(cè)試，所述高溫測(cè)試系統(tǒng)包含預(yù)熱單元、第一搬動(dòng)單元、恒溫測(cè)試單元，及第二搬動(dòng)單元。所述待測(cè)產(chǎn)品在所述預(yù)熱單元上逐漸加熱升溫，再經(jīng)由所述第一搬動(dòng)單元將預(yù)熱完成的待測(cè)產(chǎn)品搬動(dòng)到所述恒溫測(cè)試單元，所述恒溫測(cè)試單元以測(cè)試條件對(duì)所述待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試。所述第二搬動(dòng)單元依據(jù)測(cè)試結(jié)果搬動(dòng)符合所述測(cè)試條件的待測(cè)產(chǎn)品到良品收集區(qū)。
文檔編號(hào)G01R31/28GK201152891SQ20082000600
公開日2008年11月19日 申請(qǐng)日期2008年1月29日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月29日
發(fā)明者曾文源, 李致葦, 洪萬(wàn)得, 王素惠, 許森榮, 黃貴堂, 黃郅纮 申請(qǐng)人:環(huán)隆電氣股份有限公司