專利名稱：具有用于進(jìn)入不同于正常工作模式的模式的差分信號(hào)檢測(cè)電路的半導(dǎo)體裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體裝置。具體而言，本發(fā)明涉及接收或者輸 出低振幅差分信號(hào)的半導(dǎo)體裝置。
背景技術(shù)：
當(dāng)前，針對(duì)集成電路(以下稱為"IC")進(jìn)行測(cè)試以促進(jìn)其可靠
性及其質(zhì)量的改進(jìn)。在IC測(cè)試時(shí)，將IC從正常工作模式切換到測(cè)試 模式的信號(hào)被從IC外部輸入IC內(nèi)部。
至于將IC從正常工作模式切換到測(cè)試模式的方法，在專利文獻(xiàn)1 和專利文獻(xiàn)2中描述了相關(guān)技術(shù)。在專利文獻(xiàn)1所述的技術(shù)中，高于 電源電壓的電壓被輸入正常使用的輸入/輸出端，如圖15所示。 一旦IC 檢測(cè)到電壓高于電源電壓，便進(jìn)入測(cè)試模式。另一方面，在專利文獻(xiàn)2 所述的技術(shù)中，附加地提供了一種用于設(shè)置測(cè)試模式的端，如圖16所 示。在專利文獻(xiàn)2中所述情形中，當(dāng)具有預(yù)定電壓的信號(hào)被從IC的外 部輸入到該端時(shí)，IC被設(shè)置成測(cè)試模式。
然而，在專利文獻(xiàn)1所述的技術(shù)中，因?yàn)楸惠斎氲男盘?hào)的電壓高 于電源電壓，所以可能輸入高于元件擊穿電壓的電壓。因此，為使元 件擊穿電壓在某些情形下有足夠的裕度，芯片的尺寸就要大一些。而 且，在專利文獻(xiàn)2所述的技術(shù)中，因?yàn)樘峁┝擞糜跍y(cè)試模式的端，艮口， 因?yàn)樾纬捎袑?duì)于正常工作非必要的端，所以芯片尺寸最終要大一些。日本特開(kāi)第2000-338145號(hào) [專利文獻(xiàn)2]日本特開(kāi)第2002-123501號(hào)如上所述，為了使半導(dǎo)體裝置能夠接收用于將其設(shè)置為測(cè)試模式 等的信號(hào)，其芯片尺寸在某些情形下將會(huì)變大。

發(fā)明內(nèi)容
半導(dǎo)體裝置包括差分電路，在輸入端接收差分信號(hào)；以及檢測(cè) 電路，在當(dāng)預(yù)定信號(hào)被輸入至輸入端時(shí)，輸出檢測(cè)信號(hào)。此外，檢測(cè) 電路檢測(cè)所述差分信號(hào)超出電輸入標(biāo)準(zhǔn)之外，以及輸出檢測(cè)信號(hào)。
根據(jù)上述示例性方面，能夠基于差分信號(hào)的電壓范圍，來(lái)設(shè)置內(nèi) 部電路的工作模式。相應(yīng)地，毋須提供用于設(shè)置測(cè)試模式的管腳，可 利用正常電路設(shè)置測(cè)試模式。
由于可以在不新增外部端并且不使用等于或大于電源電壓的電壓 的情況下，將所述信號(hào)輸入到IC，因此芯片尺寸能夠最小化。


從以下結(jié)合附圖的對(duì)特定優(yōu)選實(shí)施方式的描述，本發(fā)明的上述及 其他示范性方面、優(yōu)點(diǎn)及特征將變得更加明顯，其中 圖1是一個(gè)全面示意圖2是示出根據(jù)實(shí)施方式1的測(cè)試電路結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)圖； 圖3是示出根據(jù)實(shí)施方式1的輸入差分信號(hào)和輸出信號(hào)的波形的 波形圖4是示出根據(jù)實(shí)施方式1的測(cè)試電路結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)圖； 圖5是示出根據(jù)實(shí)施方式2的測(cè)試電路結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)圖； 圖6是示出根據(jù)實(shí)施方式2的輸入差分信號(hào)和輸出信號(hào)的波形的 波形圖7是示出根據(jù)實(shí)施方式3的測(cè)試電路的結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)圖； 圖8是示出根據(jù)實(shí)施方式3的輸入差分信號(hào)和輸出信號(hào)的波形的 波形圖；圖9是示出根據(jù)實(shí)施方式3的測(cè)試電路的結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)圖； 圖10是示出根據(jù)實(shí)施方式4的測(cè)試電路的結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)圖11是示出根據(jù)實(shí)施方式4的輸入差分信號(hào)和輸出信號(hào)的波形的 波形圖12是示出根據(jù)實(shí)施方式4的測(cè)試電路的結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)圖； 圖13是示出根據(jù)實(shí)施方式5的測(cè)試電路的結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)圖； 圖14是示出根據(jù)實(shí)施方式3的輸入差分信號(hào)和輸出信號(hào)的波形的 波形圖15是示出常規(guī)測(cè)試電路的結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)圖；以及 圖16是示出常規(guī)測(cè)試電路的結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)圖。
具體實(shí)施方式
實(shí)施方式1
圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式1的半導(dǎo)體裝置IO和差分信號(hào) 輸出電路20。例如，圖1中的差分信號(hào)輸出電路20是被嵌入測(cè)試器中 的電路，例如，將差分信號(hào)輸出至半導(dǎo)體裝置。
圖1中的半導(dǎo)體裝置10是集成電路，當(dāng)將差分信號(hào)輸入該集成電 路時(shí)，該集成電路工作。半導(dǎo)體裝置10包含差分電平檢測(cè)電路11和 內(nèi)部電路12。差分電平檢測(cè)電路11是一種根據(jù)被輸入至半導(dǎo)體裝置的 差分信號(hào)的電平向內(nèi)部電路等輸出信號(hào)的電路。差分電平檢測(cè)電路11 的輸出信號(hào)可以是一種正常輸入信號(hào)，或者是一種設(shè)置工作模式的信 號(hào)，如正常工作模式或測(cè)試模式。內(nèi)部電路12是一種基于輸入至半導(dǎo) 體裝置10的信號(hào)來(lái)執(zhí)行處理的電路。
以下參考附圖2，對(duì)實(shí)施方式1的差分電平檢測(cè)電路11進(jìn)行更為 具體地描述。如圖2所示，實(shí)施方式l中的差分電平檢測(cè)電路ll包括 輸入緩沖器l、電壓檢測(cè)電路2、電阻器3和電阻器4。輸入緩沖器1 將輸入至輸入端IN1和IN2的差分信號(hào)轉(zhuǎn)換成單端信號(hào)等，隨后輸出 該單端信號(hào)。例如，電阻器3和電阻器4是終端電阻器，在差分信號(hào)輸入端IN1和IN2之間以串聯(lián)方式互相連接。電壓檢測(cè)電路2用于檢 測(cè)電阻器3和電阻器4之間節(jié)點(diǎn)的電壓。根據(jù)在電阻3和電阻器4之 間節(jié)點(diǎn)的電壓，電壓檢測(cè)電路2輸出一預(yù)定的邏輯值。在本實(shí)施方式 中，電阻器3和電阻器4的阻抗值假定為相同，并且電壓檢測(cè)電路2 假定為檢測(cè)輸入至輸入端IN1和IN2的差分信號(hào)的預(yù)定電壓。在本實(shí) 施方式中請(qǐng)注意的是，因?yàn)轭A(yù)定電壓是電阻器3和電阻器4的中點(diǎn)電 位，下文中將該預(yù)定電壓稱為公共電壓。在本實(shí)施方式中，電壓檢測(cè) 電路2的輸出值與設(shè)置測(cè)試模式等的信號(hào)相符。
圖3示出了圖2中輸入端IN1和IN2的輸入信號(hào)，以及電壓檢測(cè) 電路2的輸出信號(hào)。下文將結(jié)合閨2和圖3對(duì)本實(shí)施方式的工作進(jìn)行 描述。
一般而言，在半導(dǎo)體裝置IO中限定在正常工作期間要被輸入的差 分信號(hào)的標(biāo)準(zhǔn)值。假設(shè)低壓側(cè)的最小標(biāo)準(zhǔn)值是VL，以及高壓側(cè)的最大 標(biāo)準(zhǔn)值是VH。在本實(shí)施方式中，輸入的差分信號(hào)是低振幅差分信號(hào)， 并且VL和VH之間的差值在數(shù)十mV和數(shù)百mV的范圍內(nèi)。
如圖3所示，在正常工作期間，差分信號(hào)輸出電路20輸出差分信 號(hào)，其介于前述的VL和VH的范圍之間。當(dāng)從差分信號(hào)電路20輸出 的電壓在標(biāo)準(zhǔn)值的該范圍內(nèi)時(shí)，電壓檢測(cè)電路20檢測(cè)到的公共電壓的 值也在公共電壓的標(biāo)準(zhǔn)值的范圍內(nèi)(參見(jiàn)圖3中的虛線部分)。當(dāng)檢 測(cè)到的公共電壓在公共電壓的標(biāo)準(zhǔn)值的該范圍內(nèi)時(shí)，電壓檢測(cè)電路2 輸出第一邏輯值(如L)。
當(dāng)從電壓檢測(cè)電路輸出的信號(hào)為第一邏輯值時(shí)，不將內(nèi)部電路等 設(shè)置為測(cè)試模式，半導(dǎo)體裝置IO執(zhí)行正常工作。在正常工作中，基于 輸入緩沖器l輸入的差分信號(hào)，生成單端信號(hào)Sigl等，然后提供給內(nèi) 部電路。為了將半導(dǎo)體裝置10設(shè)置成測(cè)試模式，差分信號(hào)輸出電路20輸 出差分信號(hào)，每個(gè)差分信號(hào)的電壓不同于前述的VL和VH。在此處， 用于設(shè)置測(cè)試模式的差分信號(hào)的電壓的最大值與最小值被分別設(shè)為 VHT和VLT。當(dāng)為了設(shè)置測(cè)試模式，差分信號(hào)的最大值和最小值分別 從VH和VL變?yōu)閂HT和VLT時(shí)，輸入至差分電平檢測(cè)電路2的輸入 端IN1和IN2的電壓也將變化。
由于電壓檢測(cè)電路2用于檢測(cè)IN1和IN2的中點(diǎn)電壓，當(dāng)輸入至 輸入端的電壓的最大值和最小值改變時(shí)，要被檢測(cè)的公共電壓也隨之 改變。在本實(shí)施方式中，通過(guò)提高差分輸入電壓范圍的最大值和最小 值，進(jìn)而檢測(cè)到在檢測(cè)處于標(biāo)準(zhǔn)值范圍內(nèi)的差分信號(hào)的情形下未檢測(cè) 到的公共電壓，從而進(jìn)入測(cè)試模式。
在圖3所示的示例中，通過(guò)提高被輸入的差分信號(hào)電壓的范圍(最 大值和最小值)，檢測(cè)到比輸入處于標(biāo)準(zhǔn)值范圍內(nèi)差分信號(hào)時(shí)的公共 電壓高的公共電壓。當(dāng)公共電壓被檢測(cè)為并非處于標(biāo)準(zhǔn)值范圍內(nèi)的差 分輸入的電壓時(shí)，電壓檢測(cè)電路2輸出第二邏輯值(如H)。當(dāng)電壓 檢測(cè)電路2輸出第二邏輯值時(shí)，設(shè)置測(cè)試模式，內(nèi)部電路等轉(zhuǎn)換為測(cè) 試模式。
請(qǐng)注意的是，用于設(shè)置測(cè)試模式的差分信號(hào)的最大值VHT和最小 值VLT之間的差值，即，該差分信號(hào)的振幅，可以介于數(shù)十mV和數(shù) 百mV之間，正如正常工作時(shí)的情形。根據(jù)本實(shí)施方式所述的半導(dǎo)體 裝置中，通過(guò)利用被輸入的差分信號(hào)的中點(diǎn)電壓(公共電壓)的變化 來(lái)檢測(cè)測(cè)試模式，而非通過(guò)增大被輸入的差分信號(hào)本身的振幅。因此， 可以利用正常電路設(shè)置測(cè)試模式，而無(wú)須將用于構(gòu)成半導(dǎo)體裝置的每 個(gè)元件電路的擊穿電壓設(shè)置得更大，亦無(wú)須提供用于設(shè)置測(cè)試模式的 管腳。
圖4所示的是對(duì)圖2所示電路的一個(gè)改進(jìn)示例。圖4中所示的電路與圖2中所示的電路不同在于圖4中提供了預(yù)定電壓抽取電路5， 該預(yù)定電壓抽取電路5測(cè)量被輸入至輸入端IN1和IN2的差分信號(hào)的 最大值和最小值。圖4中所示電路與圖2中所示電路的區(qū)別僅在于 雖然通過(guò)由電壓檢測(cè)電路2測(cè)量所述終端電阻器3和4的中點(diǎn)電壓， 以檢測(cè)公共電壓，但是在圖4所示的電路中，預(yù)定電壓抽取電路從輸 入至輸入端的信號(hào)中抽取公共電壓。此外，由于這兩個(gè)根據(jù)公共電壓 的變化來(lái)設(shè)置測(cè)試模式的電路的操作相同，因此相關(guān)細(xì)節(jié)描述在此省 略。
實(shí)施方式2
圖5示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方式2的差分電平檢測(cè)電路11的結(jié) 構(gòu)。圖5中被指定給與圖2中相同的構(gòu)成元件的附圖標(biāo)記相同，因此 具體描述在此省略。本實(shí)施方式與實(shí)施方式1區(qū)別在于本實(shí)施方式 是根據(jù)輸入差分信號(hào)的最大值、最小值等，輸出用于設(shè)置測(cè)試模式的 信號(hào)，而在實(shí)施方式1中，通過(guò)檢測(cè)公共電壓(預(yù)定電壓)，輸出用 于設(shè)置測(cè)試模式等的信號(hào)。由于這一原因，本實(shí)施方式與實(shí)施方式1 還不同在于提供振幅電壓抽取電路6和電壓差檢測(cè)電路7，以取代圖 2中的電壓檢測(cè)電路2。
振幅電壓抽取電路6用于抽取被輸入至輸入端IN1和IN2的差分 信號(hào)的最大值和最小值。電壓差檢測(cè)電路7用于檢測(cè)由振幅電壓抽取 電路6所抽取的最大值或最小值的電位差，并輸出檢測(cè)結(jié)果。另外， 圖6示出了根據(jù)本實(shí)施方式的輸入信號(hào)的波形、測(cè)試模式設(shè)置信號(hào)等。 下文將結(jié)合圖5和圖6對(duì)本實(shí)施方式的操作進(jìn)行描述。
在正常工作期間，差分信號(hào)輸出電路輸出的差分信號(hào)，其最大值 滿足VHl<Vmax<VH2，以及其最小值滿足VLl<Vmin<VL2。振幅電壓 抽取電路6抽取所輸入的差分信號(hào)的最大值Vmax和最小值Vmin，并 將其輸出至電壓差檢測(cè)電路7。如果從振幅電壓檢測(cè)電路6中輸出的差 分信號(hào)的最大值Vmax和最小值Vmin ，分別在前述的VH 1 <Vmax<VH2和VHKVmhKVH2范圍內(nèi)，則電壓差檢測(cè)電路7輸出第一邏輯值(如 L)。當(dāng)電壓差檢測(cè)電路的輸出值在L電平時(shí)，半導(dǎo)體裝置10不被設(shè) 置為測(cè)試模式，而是進(jìn)行正常工作。
為了將半導(dǎo)體裝置IO設(shè)置成測(cè)試模式，差分信號(hào)輸出電路20輸 出前述的VHl<Vmax<VH2和VLl<Vmin<VL2不同的差分信號(hào)。在此 處，用于設(shè)置測(cè)試模式的差分信號(hào)的最大值和最小值被分別設(shè)為 Vmaxl和Vminl。如上所述，當(dāng)為了設(shè)置測(cè)試模式，差分信號(hào)的最大 值和最小值分別從Vmax和Vmin變?yōu)閂maxl和Vminl時(shí)，要被輸入 至差分電平檢測(cè)電路輸入端IN1和IN2的電壓也隨之變化。
由于電壓差檢測(cè)電路7用于檢測(cè)由振幅電壓抽取電路6抽取的最 大值和最小值的電壓差，所以隨著輸入端的電壓最大值和最小值的電 壓差變大，檢測(cè)到的電壓最大值和最小值的電壓差也變大。
此外，隨著輸入端的電壓最大值和最小值的電壓差變小，最大值 和最小值的檢測(cè)電壓差也將變小。在本實(shí)施方案中，通過(guò)改變所輸入 的差分信號(hào)的電壓的范圍的最大值和最小值的電壓差，當(dāng)檢測(cè)到差分 信號(hào)電壓最大值和最小值的電壓差并非為在輸入處于預(yù)定范圍內(nèi)的差 分信號(hào)的的情況下所檢測(cè)的電壓差時(shí)，進(jìn)入測(cè)試模式。
如圖6所示的示例中，輸入的差分信號(hào)的最大電壓升高，而其最 小電壓降低；或者輸入的差分信號(hào)的最大電壓降低，而最小電壓升。 具體而言，當(dāng)VH2<Vmaxl且VminKVLl，或者Vmax2 < VH1且 VL2<Vmin2時(shí)(參見(jiàn)圖6)，電壓差檢測(cè)電路7輸出第二邏輯值(如 H)。當(dāng)電壓差檢測(cè)電路7輸出第二邏輯值時(shí)，系統(tǒng)便進(jìn)入測(cè)試模式， 并且內(nèi)部電路等也切換到測(cè)試模式。
在本實(shí)施方式的半導(dǎo)體裝置中，可在正常電路中進(jìn)行測(cè)試模式設(shè) 置，而毋須提供設(shè)置測(cè)試模式的管腳。實(shí)施方式3
圖7示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方式3的差分電平檢測(cè)電路11的結(jié) 構(gòu)。在圖7中，被指定給與圖2中相同的構(gòu)成元件的附圖標(biāo)記相同， 因此具體描述在此省略。本實(shí)施方式與實(shí)施方式1不同，因?yàn)樘峁┝?兩個(gè)與圖2中相似的電路，在各自的電路中的電阻器3和電阻器4之 間節(jié)點(diǎn)的電壓，由單個(gè)電壓檢測(cè)電路檢測(cè)；而在實(shí)施方案1中，通過(guò) 檢測(cè)公共電壓(預(yù)定電壓)，輸出用于設(shè)置測(cè)試模式等的信號(hào)。下文 將結(jié)合圖7和圖8對(duì)實(shí)施方式3的操作進(jìn)行描述。
如圖8所示，在正常工作期間，公共電壓1和公共電壓2的電壓 值均在公共電壓的標(biāo)準(zhǔn)值的范圍內(nèi)。此時(shí)，差分信號(hào)輸出電路20輸出 第一邏輯值(如L)。當(dāng)從電壓差檢測(cè)電路輸出的信號(hào)是第一邏輯值時(shí)， 內(nèi)部電路等不被設(shè)置為測(cè)試模式，并且半導(dǎo)體裝置IO進(jìn)行正常工作。
在半導(dǎo)體裝置IO被設(shè)置為測(cè)試模式的情況下，差分信號(hào)輸出電路 20輸出具有不同的電壓的差分信號(hào)。如圖8中的示例所示，對(duì)于公共 電壓1而言，通過(guò)提高被輸入的差分信號(hào)的最大值和最小值，可檢測(cè) 到比在差分信號(hào)介于標(biāo)準(zhǔn)值范圍的情形下的公共電壓更高的公共電 壓。同時(shí)，對(duì)于公共電壓2而言，通過(guò)降低被輸入的差分信號(hào)的最大 值和最小值，可檢測(cè)到比在差分信號(hào)介于標(biāo)準(zhǔn)值范圍內(nèi)的公共電壓更 低的公共電壓。當(dāng)公共電壓1和公共電壓2被檢測(cè)為并非處于標(biāo)準(zhǔn)值 的范圍內(nèi)的差分輸入時(shí)，電壓檢測(cè)電路2輸出第二邏輯值(如H)。
當(dāng)電壓檢測(cè)電路2輸出第二邏輯值時(shí)，系統(tǒng)進(jìn)入測(cè)試模式，并且 內(nèi)部電路等也將切換到測(cè)試模式。在上面的描述中，通過(guò)提高差分輸 入的電壓的范圍(最大值和最小值)，將公共電壓1設(shè)置為高電壓， 而通過(guò)降低差分輸入的電壓的范圍，將公共電壓2設(shè)置為低電壓。從 而電壓檢測(cè)電路輸出H電平。然后，基于的該H電平的輸出，進(jìn)入測(cè) 試模。然而，也可能將電壓檢測(cè)電路設(shè)置為輸出具有與多種模式相對(duì)應(yīng)的多位的信號(hào)。
在差分信號(hào)輸出電路輸出的差分信號(hào)中，通過(guò)提高或降低公共電 壓1和公共電壓2，或者僅改變公共電壓中的任何一個(gè)電壓等，前述結(jié) 構(gòu)使得電壓檢測(cè)電路輸出的信號(hào)能夠?qū)?yīng)于多種模式。通過(guò)利用對(duì)兩 種差分信號(hào)的提高、降低等各種組合，可以實(shí)現(xiàn)八種模式設(shè)置。
而且，不僅可以通過(guò)檢測(cè)兩個(gè)公共電壓的差值，而且也可以檢測(cè) 兩個(gè)以上的公共電壓的差值來(lái)設(shè)置測(cè)試模式。此外，盡管在上述情形 中運(yùn)用兩個(gè)電路可設(shè)置八種測(cè)試模式，但也可以運(yùn)用多種差分信號(hào)來(lái) 輸出多種測(cè)試模式設(shè)置信號(hào)的方案。
在本實(shí)施方式的半導(dǎo)體裝置中，通過(guò)利用被輸入的差分信號(hào)的中 點(diǎn)電壓(公共電壓)的改變，而非通過(guò)增加被輸入的差分信號(hào)本身的 振幅，來(lái)檢測(cè)測(cè)試模式。因此，可以利用正常電路設(shè)置測(cè)試模式，而 無(wú)須將構(gòu)成半導(dǎo)體裝置的每個(gè)元件電路的擊穿電壓設(shè)置得更大，亦無(wú) 須提供用于設(shè)置測(cè)試模式的管腳。
圖9所示的是對(duì)圖7所示電路的一個(gè)改迸示例。在這個(gè)改進(jìn)示例 中，其改進(jìn)方面與圖4對(duì)圖2的改進(jìn)相同。具體而言，圖9中所示電 路與圖7中所示電路的唯一區(qū)別是，在圖9所示的電路中，預(yù)定電壓 抽取電路5從被施加至相應(yīng)輸入端的信號(hào)中抽取公共電壓。根據(jù)公共 電壓變化設(shè)置測(cè)試模式的操作與圖7相同，相關(guān)描述在此省略。
實(shí)施方式4
圖10示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方式4的差分電平檢測(cè)電路11的結(jié) 構(gòu)。在圖10中，被指定給與圖2中相同的構(gòu)成元件的附圖標(biāo)記相同， 因此具體描述在此省略。在實(shí)施方式2中根據(jù)被輸入差分信號(hào)的最大 電壓和最小電壓，來(lái)輸出用于設(shè)置測(cè)試模式等的信號(hào)；而在本實(shí)施方 式中，具有如實(shí)施方式3中所述的兩個(gè)相似的電路，然后通過(guò)電壓差檢測(cè)電路來(lái)檢測(cè)被施加至每個(gè)電路的輸入端的信號(hào)的最大電壓和最小 電壓的差值。下文將結(jié)合圖10和圖11對(duì)實(shí)施方式4的操作進(jìn)行描述。
請(qǐng)注意的是,具體工作細(xì)節(jié)與圖5中的一樣，因此相關(guān)描述在此省略。
如圖IO所示，在正常工作期間，將差分信號(hào)輸入至電壓差檢測(cè)電 路，其中被分別輸入至輸入端IN1和IN3的每個(gè)差分信號(hào)具有相同的 最大值、最小值以及振幅位相(參見(jiàn)圖ll中虛線部分)。此時(shí)，差分 信號(hào)輸出電路輸出第一邏輯值(如L)。如果電壓差檢測(cè)電路輸出的信 號(hào)是第一邏輯值，則內(nèi)部電路等不被設(shè)置為測(cè)試模式，并且半導(dǎo)體裝 置IO進(jìn)行正常工作。
在將半導(dǎo)體裝置IO設(shè)置為測(cè)試模式的情形下，差分信號(hào)輸出電路 20輸出具有不同電壓的差分信號(hào)。如圖IO中的例子所示，增大被施加 至輸入端IN1的差分信號(hào)的電壓，減小被施加至輸入端IN3的差分信 號(hào)的電壓。當(dāng)此時(shí)電壓之差等于或大于預(yù)先設(shè)置值時(shí)，電壓差檢測(cè)電 路輸出第二邏輯值(如H)。當(dāng)電壓差檢測(cè)電路輸出第二邏輯值時(shí)， 進(jìn)入測(cè)試模式，并且內(nèi)部電路等也將切換到測(cè)試模式。
在不需要提供設(shè)置測(cè)試模式的管腳的情況下，可以利用正常電路 將本實(shí)施方式中的半導(dǎo)體裝置設(shè)置成測(cè)試模式。在本實(shí)施方式中，盡 管檢測(cè)的是差分信號(hào)輸入1和3的差值，以及差分信號(hào)輸入2和4的 差值，并將其用于切換到測(cè)試模式，但也可以檢測(cè)IN1， IN2， IN3和 IN4中的每一對(duì)的差值。
圖12所示的是對(duì)圖IO中所示電路的一個(gè)改進(jìn)示例。圖12中所示 的電路與圖IO中所示的電路的差別僅在于，通過(guò)電壓差檢測(cè)電路7來(lái) 檢測(cè)被施加至輸入端IN2和IN4的差分信號(hào)的電壓之間的電壓差，而 在圖10所示的電路中，通過(guò)電壓差檢測(cè)電路來(lái)檢測(cè)被施加至輸入端IN1 和IN3的差分信號(hào)的電壓之間的電壓差。此外，根據(jù)電壓差設(shè)置測(cè)試 模式的操作是相同的，所以相關(guān)描述在此省略。 '實(shí)施方式5
圖13示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方式5的差分電平檢測(cè)電路11的結(jié) 構(gòu)。在圖13中，被指定給與圖2中相同的構(gòu)成元件的附圖標(biāo)記相同， 因此具體描述在此省略。此外，本實(shí)施方式與實(shí)施方式3不同在于， 本實(shí)施方式根據(jù)輸入差分信號(hào)的最大電壓和最小電壓之間的差值，來(lái) 輸出用于設(shè)置測(cè)試模式等的信號(hào)；而在實(shí)施方式3中，通過(guò)分別檢測(cè) 兩個(gè)電路中的公共電壓(預(yù)定電壓)，來(lái)輸出用于設(shè)置測(cè)試模式的信 號(hào)。下文將結(jié)合圖13和圖14對(duì)實(shí)施方式5的操作進(jìn)行描述。
在正常工作模式期間，差分信號(hào)輸出電路輸出差分信號(hào)，其最大 值Vmax滿足VHl<Vmax<VH2，其最小值Vmin滿足VLl<Vmin<VL2。 每個(gè)振幅電壓抽取電路6檢測(cè)從相應(yīng)電路輸入的差分信號(hào)的Vmax和 Vmin，然后將其輸出到電壓差檢測(cè)電路7。如果從每個(gè)振幅電壓抽取 電路6中輸出的差分信號(hào)最大值Vmax和最小值Vinin分別在前文所述 的VHl<Vmax<VH2和VHl<Vmin<VH2范圍內(nèi)，電壓差檢測(cè)電路7將 輸出第一邏輯值(如L)。當(dāng)電壓差檢測(cè)電路的輸出值為L(zhǎng)電平時(shí)， 半導(dǎo)體裝置10不被設(shè)置成測(cè)試模式，而是進(jìn)行正常工作。
為了將半導(dǎo)體裝置IO設(shè)置為測(cè)試模式，差分信號(hào)輸出電路20輸 出下述差分信號(hào)，其電壓差不在前文所述的VHl<Vmax<VH2和 VLl<Vmin<VL2范圍內(nèi)。此處，將用于設(shè)置測(cè)試模式的每個(gè)電路中的 差分信號(hào)的最大值和最小值分別設(shè)為Vmaxl和Vmin2。如上所述，當(dāng) 最大值和最小值分別從Vmax變?yōu)閂maxl， Vmin變?yōu)閂min2時(shí)，被 輸入至差分電平檢測(cè)電路的輸入端INI和IN2的電壓差也將隨之變化。
由于電壓差檢測(cè)電路7檢測(cè)由每個(gè)振幅電壓抽取電路6所抽取的 最大值和最小值，所以隨著被輸入至輸入端的電壓的范圍中的最大值 和最小值的電壓差的變化，要被檢測(cè)的最大值和最小值的電壓差也將 變化。在本實(shí)施方案中，通過(guò)改變要被輸入的差分信號(hào)的電壓的范圍的最大值和最小值，當(dāng)檢測(cè)到差分信號(hào)電壓的最大值和最小值并非為 在輸入處于預(yù)定范圍內(nèi)的情況下所檢測(cè)的差分信號(hào)電壓時(shí)，進(jìn)入測(cè)試
模式。由于具體操作細(xì)節(jié)與實(shí)施方式2和3相同，相關(guān)描述在此省略。
在本實(shí)施方式中，當(dāng)差分信號(hào)1和差分信號(hào)2之間的電壓差達(dá)到 標(biāo)準(zhǔn)范圍以外的電壓差電平時(shí)，進(jìn)入測(cè)試模式。此處，差分信號(hào)1被 輸入至輸入端IN1和IN2，差分信號(hào)2被輸入至輸入端IN3和IN4。然 而，也可以在當(dāng)僅任意一個(gè)電壓差變化至標(biāo)準(zhǔn)范圍以外的電壓電平時(shí)， 設(shè)置測(cè)試模式。此外，與實(shí)施方式3的情形相同，可以設(shè)置八種測(cè)試 模式。但是，可以運(yùn)用多種差分信號(hào)，輸出測(cè)試模式設(shè)置信號(hào)的多種 方案。 ，
雖然上文已經(jīng)對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式做了具體描述，但仍可在不背 離本發(fā)明精神的情況下作出各種修改。上述這些例子對(duì)測(cè)試模式的設(shè) 置做了具體描述。然而，本發(fā)明可應(yīng)用于其他用途。
例如，本發(fā)明可用于各個(gè)測(cè)試模式之間的切換，或用于內(nèi)嵌式電 可擦可編程ROM (EEPROM)的數(shù)據(jù)設(shè)置。EEPROM數(shù)據(jù)可用于個(gè)體 設(shè)置值、工廠設(shè)置值等。另外，當(dāng)在正常模式期間，輸入差分信號(hào)的 值處于標(biāo)準(zhǔn)范圍之外時(shí)，檢測(cè)電路能發(fā)現(xiàn)該信號(hào)，并發(fā)出警報(bào)。
進(jìn)一步而言，所述實(shí)施方式可用于具有顯示控制器和顯示驅(qū)動(dòng)器 的顯示系統(tǒng)。例如，顯示控制器包括圖1中的差分信號(hào)輸出電路20， 并且響應(yīng)于圖像數(shù)據(jù)及時(shí)鐘信號(hào)而輸出差分信號(hào)。顯示驅(qū)動(dòng)器通過(guò)圖 像處理操作接收該差分信號(hào)，并且輸出基于該差分信號(hào)的圖像，以驅(qū) 動(dòng)顯示板。顯示驅(qū)動(dòng)器包括如圖l、 4、 5等所示的內(nèi)部電路12和差分 電平檢測(cè)電路11。響應(yīng)于測(cè)試模式進(jìn)入請(qǐng)求，控制器輸出具有輸入規(guī) 范以外的特殊狀態(tài)的差分信號(hào)。驅(qū)動(dòng)器接收并檢測(cè)該特殊狀態(tài)，然后 產(chǎn)生一信號(hào)，該信號(hào)指示不同于正常模式的模式，比如測(cè)試模式。例 如，基于測(cè)試信號(hào)，驅(qū)動(dòng)器將其條件或環(huán)境設(shè)置用以測(cè)試。此外，在前文所述的差分電平檢測(cè)電路中，在輸入非標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)的 情況下，通過(guò)適當(dāng)?shù)卦O(shè)置檢測(cè)電路的常量以及非標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)的標(biāo)準(zhǔn)，能 夠?qū)⒉罘中盘?hào)的輸入結(jié)果傳送至內(nèi)部電路。
進(jìn)一步而言，需要注意的是，申請(qǐng)人意在包含所有與權(quán)利要求等 同的內(nèi)容，即使是在未來(lái)的申請(qǐng)期間做了修改。
權(quán)利要求
1. 一種半導(dǎo)體裝置，包括接收差分信號(hào)的多個(gè)輸入端；差分電路，與所述輸入端相連接，以接收所述差分信號(hào)；以及檢測(cè)電路，當(dāng)具有預(yù)定狀態(tài)的所述差分信號(hào)被輸入至所述輸入端時(shí)，該檢測(cè)電路輸出檢測(cè)信號(hào)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的半導(dǎo)體裝置，其中所述差分電路在電輸 入標(biāo)準(zhǔn)的范圍內(nèi)工作，以及一旦檢測(cè)到所述差分信號(hào)落在所述標(biāo)準(zhǔn)之 外，所述檢測(cè)電路輸出所述檢測(cè)信號(hào)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體裝置，其中所述檢測(cè)信號(hào)包括用 于設(shè)置內(nèi)部電路的工作模式的信號(hào)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體裝置，其中所述差分電路可根據(jù) 在所述標(biāo)準(zhǔn)之外的所述差分信號(hào)進(jìn)行工作。
5. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體裝置，其中所述檢測(cè)電路基本上 檢測(cè)所述差分信號(hào)的中點(diǎn)電壓。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的半導(dǎo)體裝置，還包括在所述輸入端之間 串聯(lián)連接的兩個(gè)電阻器，以通過(guò)所述檢測(cè)電路來(lái)檢測(cè)在所述兩個(gè)電阻 器之間的節(jié)點(diǎn)的電壓作為所述中點(diǎn)電壓。
7. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體裝置，其中所述檢測(cè)電路檢測(cè)所 述差分信號(hào)的電壓的振幅。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體裝置，其中所述檢測(cè)電路與所述 輸入端直接連接。
9. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體裝置，其中所述檢測(cè)電路檢測(cè)第 一對(duì)輸入端的中點(diǎn)電壓與第二對(duì)輸入端的中點(diǎn)電壓之間的差值。
10. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體裝置，其中所述檢測(cè)電路在接 收第一對(duì)所述輸入端處的所述標(biāo)準(zhǔn)之外的差分信號(hào)的中點(diǎn)電壓的同 時(shí)，接收第二對(duì)所述輸入端處的所述標(biāo)準(zhǔn)之內(nèi)的差分信號(hào)的中點(diǎn)電壓。
11. 根據(jù)權(quán)利要求IO所述的半導(dǎo)體裝置，還包括 在所述第一對(duì)所述輸入端之間串聯(lián)連接的第一組兩個(gè)電阻器；以及在所述第二對(duì)所述輸入端之間串聯(lián)連接的第二組兩個(gè)電阻器，其中所述檢測(cè)電路接收所述第一組兩個(gè)電阻器之間的節(jié)點(diǎn)的電壓和所 述第二組兩個(gè)電阻器之間的節(jié)點(diǎn)的電壓。
12. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體裝置，其中所述檢測(cè)電路檢測(cè) 在第一對(duì)所述輸入端之一上的信號(hào)與第二對(duì)所述輸入端之一上的信號(hào) 之間的差分差值。
13. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體裝置，其中所述檢測(cè)電路在檢 測(cè)第一對(duì)所述輸入端處的所述標(biāo)準(zhǔn)之外的差分信號(hào)的振幅的同時(shí)，檢測(cè)第二對(duì)所述輸入端處的所述標(biāo)準(zhǔn)之內(nèi)的差分信號(hào)的振幅。
14. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的半導(dǎo)體裝置，其中所述檢測(cè)電路接收 所述第一對(duì)之一處的振幅電壓和所述第二對(duì)之一處的振幅電壓。
15. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體裝置，其中所述檢測(cè)電路檢測(cè) 第一對(duì)所述輸入端的振幅和第二對(duì)所述輸入端的振幅之間的差值。
16. 根據(jù)權(quán)利要求15所述的半導(dǎo)體裝置，其中所述檢測(cè)電路在檢 測(cè)所述第一對(duì)所述輸入端處的所述標(biāo)準(zhǔn)之外的差分信號(hào)的振幅的同 時(shí)，檢測(cè)所述第二對(duì)所述輸入端處的所述標(biāo)準(zhǔn)之內(nèi)的差分信號(hào)的振幅。
17. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體裝置，其中所述檢測(cè)電路接收 所述第一對(duì)之一處的振幅電壓和所述第二對(duì)之一處的振幅電壓。
18. —種半導(dǎo)體裝置，包括 用于接收差分信號(hào)的設(shè)備；與所述接收設(shè)備連接的差分電路，用于接收所述差分信號(hào)；以及 設(shè)備，用于檢測(cè)所述差分信號(hào)具有輸入規(guī)范之外的狀態(tài)以進(jìn)入不 同于正常工作模式的模式。
19. 一種顯示系統(tǒng)，包括-用于輸出差分信號(hào)的差分信號(hào)輸出電路；以及顯示驅(qū)動(dòng)器，包含內(nèi)部電路和差分信號(hào)輸入電路，所述差分信號(hào) 輸入電路用于接收所述差分信號(hào)并且將所述差分信號(hào)轉(zhuǎn)換為單端信 號(hào)，所述單端信號(hào)被傳輸至所述內(nèi)部電路以實(shí)施圖像處理操作，并且 所述差分信號(hào)輸入電路用于檢測(cè)所述差分信號(hào)是否超出輸入規(guī)范，以 使所述顯示驅(qū)動(dòng)器進(jìn)入測(cè)試模式設(shè)置。
全文摘要
一種半導(dǎo)體裝置，其包括差分電路，用于接收輸入端處的差分信號(hào)；以及檢測(cè)電路，當(dāng)將預(yù)定信號(hào)輸入至輸入端時(shí)，該檢測(cè)電路輸出檢測(cè)信號(hào)。該檢測(cè)電路檢測(cè)所述差分信號(hào)是否變?yōu)殡娸斎霕?biāo)準(zhǔn)之外，并輸出該檢測(cè)信號(hào)。
文檔編號(hào)G01R19/165GK101294992SQ20081009239
公開(kāi)日2008年10月29日 申請(qǐng)日期2008年4月28日 優(yōu)先權(quán)日2007年4月26日
發(fā)明者堀良彥, 林健太郎 申請(qǐng)人:恩益禧電子股份有限公司