技術(shù)編號：5837873
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體裝置。具體而言，本發(fā)明涉及接收或者輸 出低振幅差分信號的半導(dǎo)體裝置。背景技術(shù)當前，針對集成電路(以下稱為"IC")進行測試以促進其可靠性及其質(zhì)量的改進。在IC測試時，將IC從正常工作模式切換到測試 模式的信號被從IC外部輸入IC內(nèi)部。至于將IC從正常工作模式切換到測試模式的方法，在專利文獻1 和專利文獻2中描述了相關(guān)技術(shù)。在專利文獻1所述的技術(shù)中，高于 電源電壓的電壓被輸入正常使用的輸入/輸出端，如圖15所示。 一旦IC 檢測到電壓高于...
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