專利名稱：一種評(píng)估絕緣電阻劣化失效的方法、裝置和系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及評(píng)估絕緣電阻劣化失效的方法、 裝置和系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
電路板及其組件常常要在潮濕的環(huán)境中工作。由于表面污染物的不斷增 加、電壓差等因素的存在，在這些因素的綜合影響下，將使絕緣電阻下降， 導(dǎo)致原本絕緣的相鄰導(dǎo)體間出現(xiàn)較大的漏電流，影響電路板及其組件正常運(yùn) 行。這種絕緣電阻劣化失效是一種常見的電路板及電子元器件的失效行為， 其失效機(jī)理包含電化學(xué)遷移腐蝕(離子遷移腐蝕)和漏電流過(guò)大。在實(shí)際應(yīng) 用中，絕緣電阻劣化失效機(jī)理主要是電化學(xué)遷移腐蝕。
電化學(xué)遷移腐蝕失效機(jī)理在一定的溫度與濕度下，電路板表面的水膜 厚度足以使離子可自由移動(dòng)。陽(yáng)極金屬氧化后產(chǎn)生的金屬陽(yáng)離子在電場(chǎng)的作 用下向負(fù)極定向移動(dòng)，到達(dá)陰極后得到電子被還原為金屬單質(zhì)。如此不斷反 復(fù)，慢慢從負(fù)極生長(zhǎng)出枝晶，最終連接陽(yáng)極和陰極，產(chǎn)生瞬間的漏電流。但 枝晶容易被燒斷，這樣絕緣電阻馬上恢復(fù)正常。如此往復(fù)，會(huì)連續(xù)出現(xiàn)的漏 電;充，直至少豆路。
目前評(píng)估絕緣電阻劣化失效的方法主要是測(cè)試表面絕緣電阻。目前表面 絕緣電阻測(cè)試原理是利用歐姆定律，在一定的直流電壓下測(cè)試兩相鄰導(dǎo)體間 的微電流，設(shè)備顯示為阻值。由于合格的表面絕緣電阻通常在1000兆歐姆以 上，表面絕緣電阻測(cè)試設(shè)備的電流檢測(cè)精度需達(dá)到nA-10pA級(jí)別。這樣一 方面對(duì)檢流計(jì)設(shè)備的精度要求高，另一方面過(guò)小的微電流容易受到干擾，需 進(jìn)行特殊的屏蔽保護(hù)。
業(yè)界表面絕緣電阻的最新進(jìn)展是通過(guò)集成超高阻測(cè)試儀、應(yīng)力電壓控制 系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)等組件，實(shí)現(xiàn)在線測(cè)試表面絕緣電阻，可以將表 面絕緣電阻的測(cè)試間隔提高到數(shù)分鐘。如圖1所示，是現(xiàn)有技術(shù)中某在線測(cè)試表面絕緣電阻的設(shè)備組件示意圖。圖中所示設(shè)備是屬于當(dāng)前業(yè)界內(nèi)技術(shù)較 為領(lǐng)先的表面絕緣電阻測(cè)試設(shè)備。在通道數(shù)為50個(gè)的時(shí)候，.其最小測(cè)試間隔
可以達(dá)到6分鐘。然而表面絕緣電阻劣化失效的典型特征是失效持續(xù)時(shí)間短， 數(shù)分鐘的測(cè)試頻率依然可能遺漏表面絕緣電阻劣化失效事件。
也就是說(shuō)，在實(shí)現(xiàn)本發(fā)明過(guò)程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在如下 問(wèn)題即使在線表面絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試間隔可達(dá)到數(shù)分鐘之內(nèi)，但是， 由于表面絕緣電阻劣化失效持續(xù)的時(shí)間很短，仍然會(huì)遺漏表面絕緣電阻失效 事件，發(fā)生檢測(cè)失誤。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例的目的在于提供一種測(cè)量劣化絕緣 電阻的方法和裝置，以實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確地測(cè)量是否發(fā)生了表面絕緣電阻失效。
為解決上述問(wèn)題，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種評(píng)估絕緣電阻劣化失效的方 法，包括步驟
在相鄰導(dǎo)體的 一個(gè)導(dǎo)體兩端施加恒流源；
如果在預(yù)設(shè)的時(shí)間段內(nèi)，所述恒流源顯示的數(shù)值出現(xiàn)過(guò)顯著變化，則指
示所述相鄰導(dǎo)體間出現(xiàn)絕緣電阻劣化失效。
還提供了一種評(píng)估絕緣電阻劣化失效的裝置，包括 恒流源，用于在相鄰導(dǎo)體的一個(gè)導(dǎo)體兩端施加恒定電流； 劣化指示單元，用于如果在預(yù)設(shè)的時(shí)間段內(nèi)，所述恒流源顯示的數(shù)值
出現(xiàn)過(guò)顯著變化，則指示所述相鄰導(dǎo)體間出現(xiàn)絕緣電阻劣化失效。 還提供了一種評(píng)估絕緣電阻劣化失效的系統(tǒng)，包括 本發(fā)明所提供的任何一個(gè)的裝置和連接所述裝置的計(jì)算機(jī)； 所述計(jì)算機(jī)用于分析所述劣化指示單元的指示；或
分析所述記錄單元記錄的所述數(shù)值。 與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明實(shí)施例具有以下優(yōu)點(diǎn)
利用本發(fā)明實(shí)施例，通過(guò)測(cè)量相鄰導(dǎo)體中其中一根導(dǎo)體的電阻，如果所 述電阻大于預(yù)設(shè)電阻值，則所述相鄰導(dǎo)體間的絕緣電阻劣化；否則，所述相 鄰導(dǎo)體間的絕緣電阻正常?？梢詫?shí)現(xiàn)通過(guò)測(cè)量漏電流對(duì)于恒流源產(chǎn)生的測(cè)試電流的影響，來(lái)間接反映出漏電流的大小，進(jìn)而可以判斷出表面絕緣電阻是 否失效。而且，由于本發(fā)明是通過(guò)間接測(cè)量的方式來(lái)反映，可以以很短的時(shí) 間間隔進(jìn)行測(cè)量。避免了現(xiàn)有技術(shù)中測(cè)試的時(shí)間間隔長(zhǎng)，難以發(fā)現(xiàn)某些劣化 失效現(xiàn)象的弱點(diǎn)。再者，現(xiàn)有技術(shù)中的設(shè)備昂貴復(fù)雜，而本發(fā)明的實(shí)施例中 可以使用市場(chǎng)是常見而易于得到的各種恒流源方便地測(cè)量相鄰導(dǎo)體中其中一 #^導(dǎo)體的電阻，并迅速^L出準(zhǔn)確的結(jié)論。


圖l所示，是現(xiàn)有技術(shù)中某在線測(cè)試表面絕緣電阻的設(shè)備組件示意圖； 圖2所示，是本發(fā)明的方法的第一個(gè)實(shí)施例的流程圖； 圖3所示，是本發(fā)明的方法的實(shí)施例中測(cè)量時(shí)使用一種的電路圖； 圖4和圖4A所示，是本發(fā)明的方法的第二個(gè)實(shí)施例的電路圖； 圖5所示，是本發(fā)明的方法的第二個(gè)實(shí)施例的流程圖； 圖6所示，是本發(fā)明的測(cè)量劣化絕緣電阻的裝置的框圖。
具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明實(shí)施例的具體實(shí)施方式
做進(jìn)一步的詳細(xì)闡述。 如圖2所示，是本發(fā)明的方法的第一個(gè)實(shí)施例的流程圖，包括步驟
5201、 在相鄰導(dǎo)體的一個(gè)導(dǎo)體兩端施加恒流源；
5202、 如果在預(yù)設(shè)的時(shí)間段內(nèi)，所述恒流源顯示的數(shù)值出現(xiàn)過(guò)顯著變化， 進(jìn)入步驟S203，否則，進(jìn)入步驟S204;對(duì)于所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員而言，通常 認(rèn)為，當(dāng)恒流源的顯示的數(shù)據(jù)單位發(fā)生了 IO倍以上變化時(shí)，通常都會(huì)理解為 顯示的數(shù)值發(fā)生了顯著的變化，或者，根據(jù)實(shí)際的情況，當(dāng)測(cè)量結(jié)果較大時(shí)， 發(fā)生1-2倍，甚至0.5-1倍的變化就認(rèn)為是發(fā)生了顯著的變化；
5203、 指示所述相鄰導(dǎo)體間的表面絕緣電阻劣化；
5204、 指示所述相鄰導(dǎo)體間的表面絕緣電阻正常。
相鄰導(dǎo)體是指在電路板上相鄰的兩個(gè)不同的導(dǎo)體，這兩個(gè)相鄰導(dǎo)體之間 沒(méi)有其它的導(dǎo)體存在。相鄰導(dǎo)體可以是兩根走線，兩個(gè)引腳焊盤，兩個(gè)過(guò)孔， 也可以是走線、焊盤、過(guò)孔的搭配組合。導(dǎo)體在通常情況下，相鄰導(dǎo)體間的 電阻很大。是用來(lái)描述絕緣電阻測(cè)試位置的籠統(tǒng)、概括性的概念。通常測(cè)試 表面絕緣電阻會(huì)使用梳狀電極等SIR測(cè)試圖形。換句話而言，梳狀電極是業(yè)
6界常用的SIR測(cè)試圖形，符合相鄰導(dǎo)體的特征。
利用本發(fā)明實(shí)施例，通過(guò)測(cè)量相鄰導(dǎo)體中其中一根導(dǎo)體的電阻，如果所
述電阻小于預(yù)設(shè)電阻值，則所述相鄰導(dǎo)體間的絕緣電阻劣化；否則，所述相 鄰導(dǎo)體間的絕緣電阻正常?？梢詫?shí)現(xiàn)通過(guò)測(cè)量漏電流對(duì)于恒流源產(chǎn)生的測(cè)試 電流的影響，來(lái)間4妻反映出漏電流的大小，進(jìn)而可以判斷出表面絕緣電阻是 否失效。而且，由于本發(fā)明是通過(guò)間接測(cè)量的方式來(lái)反映，可以以很短的時(shí) 間間隔進(jìn)行測(cè)量。避免了現(xiàn)有技術(shù)中測(cè)試的時(shí)間間隔長(zhǎng)，難以發(fā)現(xiàn)某些劣化 失效現(xiàn)象的弱點(diǎn)。再者，現(xiàn)有技術(shù)中的設(shè)備昂貴復(fù)雜，而本發(fā)明的實(shí)施例中 可以使用市場(chǎng)是常見而易于得到的各種恒流源方便地測(cè)量相鄰導(dǎo)體中其中一 根導(dǎo)體的電阻，并迅速做出準(zhǔn)確的結(jié)論。
其中，在上述實(shí)施例中，所述恒流源在所述相鄰導(dǎo)體的一個(gè)的導(dǎo)體兩端 的施加的專t出電流為10uA級(jí)。
其中，在上述實(shí)施例中，所述恒流源顯示的所述數(shù)值是電流值或電阻值 或電壓值。
其中，在上述實(shí)施例中，所述恒流源具體為 低阻測(cè)試設(shè)備或數(shù)據(jù)采集器。
測(cè)量相鄰導(dǎo)體中其中一根導(dǎo)體的電阻的設(shè)備，可以是上述三種(恒流源， 低阻測(cè)試設(shè)備或數(shù)據(jù)采集器)，但是不限于上述三種。凡是利用恒流輸出的方 式來(lái)測(cè)量相鄰導(dǎo)體中其中一根導(dǎo)體的電阻的設(shè)備，都應(yīng)該被包含在本發(fā)明的 保護(hù)范圍之內(nèi)。恒流源是指一種通過(guò)施加恒定電流的測(cè)試設(shè)備，包含但不限 于使用恒定電流的阻值測(cè)試設(shè)備。
其中，在上述實(shí)施例中，在所述在相鄰導(dǎo)體的一個(gè)導(dǎo)體兩端施加恒流源 步驟之前，還包括
在所述相鄰導(dǎo)體之間加上直流電壓，所述直流電壓是模擬所述相鄰導(dǎo)體 之間存在的工作電壓的直流電壓。
利用本實(shí)施例的方案，可以對(duì)于被測(cè)試的對(duì)象進(jìn)行靜態(tài)測(cè)試。通過(guò)對(duì)于 相鄰導(dǎo)體之間加上直流電壓的方式，模擬在實(shí)際工作情況下的漏電壓。因?yàn)?br> 許多被測(cè)試對(duì)象在工作狀態(tài)下不易于進(jìn)行漏電流的測(cè)量。利用本實(shí)施例的方 案，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)于被測(cè)試對(duì)象進(jìn)行全面的檢測(cè)，提前發(fā)現(xiàn)表面絕緣電阻可能
7存在的劣化失效問(wèn)題。
其中，在上述實(shí)施例中，所述恒流源施加的恒定電流的方向與所述直流 電壓在所述一個(gè)導(dǎo)體中產(chǎn)生的漏電流的方向相反或者相同。
對(duì)于所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員而言，不論上述的外加測(cè)試設(shè)備在被測(cè)電阻的 導(dǎo)體中產(chǎn)生的電流的方向相同或相反，都是根據(jù)漏電流對(duì)于恒定電流的間接 影響來(lái)評(píng)估絕緣電阻是否失效的。
其中，在上述實(shí)施例中，還包括步驟
如果所述恒流源顯示的數(shù)值出現(xiàn)過(guò)顯著變化，記錄變化前后的顯示的所 述數(shù)值。
如圖3所示，是本發(fā)明的方法的實(shí)施例中測(cè)量時(shí)使用的一種電路圖。本 發(fā)明的實(shí)施例中測(cè)試方法與現(xiàn)有的表面絕緣電阻測(cè)試方法不同，不是使用圖1 中直接測(cè)試絕緣電阻中流過(guò)的漏電流的方法，而是通過(guò)測(cè)量漏電流對(duì)恒定電 流的影響來(lái)間接反映出漏電流的大小及其與絕緣電阻之間的關(guān)系。在其他的 實(shí)施例中，可以借鑒表面絕緣電阻測(cè)試中流過(guò)的漏電流來(lái)評(píng)估絕緣電阻是否 失效相類似的測(cè)試手段，即在表面絕緣電阻測(cè)試圖形，比如梳狀電極上施加 一定的直流電壓，以模擬相鄰導(dǎo)體間存在的工作電壓。對(duì)于相鄰導(dǎo)體而言， 施加有電壓的相鄰導(dǎo)體之間在理論上有漏電流。如果相鄰導(dǎo)體間的絕緣電阻 是正常的，那么相鄰導(dǎo)體間的漏電流I的值應(yīng)該為nA ~ pA級(jí)(即l(T9 ~ 1(T12A 級(jí))。這是因?yàn)?br> 根據(jù)實(shí)際統(tǒng)計(jì)的數(shù)據(jù)表明，在表面絕緣電阻正常的情況下，表面絕緣電 阻的阻值通常在101G~ IO"歐姆的數(shù)量級(jí)之間，。相關(guān)行業(yè)內(nèi)部對(duì)于絕緣的要 求是絕緣電阻值要高于109歐姆。所以，合格的絕緣材料的表面絕緣電阻是 1010~1014歐姆之間。當(dāng)對(duì)其施加IOV的直流電壓，根據(jù)歐姆定律可以知道， 會(huì)存在10V/1010~1014=10-9~10-13A,即nA pA級(jí)別的微電流。
如果在相鄰導(dǎo)體中的其中一個(gè)導(dǎo)體的兩端，通過(guò)一個(gè)恒流源施加與漏電 流I方向相反的反向恒定電流I測(cè)。其中，恒流源輸出的恒定電流精度可以達(dá) 到10uA數(shù)量級(jí)。其中，電流精度的概念是電流數(shù)據(jù)改變的單位。具體到這里， 是指恒流輸出的恒定電流可以是10uA, 20uA, 30uA等。
這是由于根據(jù)實(shí)際測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，發(fā)生表面絕緣電阻劣化失效時(shí)，漏電流通
8?？梢赃_(dá)到mA級(jí)別，遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于恒定電流的大小10uA。
基于上述基本原理和規(guī)律，通過(guò)使用圖3中的電路進(jìn)行測(cè)賁，對(duì)測(cè)量結(jié) 果進(jìn)行分析。
在正常情況下，I為nA 10pA級(jí)別(I即為上述介紹中提到的漏電流)， 1<<1恒(I恒為恒流源1#出的恒定電流，I恒為1 OuA級(jí))；漏電流不仫J又在相 鄰導(dǎo)體之間有，而且，在相鄰導(dǎo)體的任何一個(gè)導(dǎo)體中的某一段導(dǎo)體中，都會(huì)
有漏電流流過(guò)，其方向與外加的恒流源產(chǎn)生的I恒的方向相同或相反。由于正 常情況下兩相鄰導(dǎo)體間的漏電流遠(yuǎn)小于恒定電流，所以，漏電流I對(duì)于恒流源 影響很小。相應(yīng)地，漏電流對(duì)恒流源設(shè)備的輸出沒(méi)有顯著影響。但是，如果 由于某種原因?qū)е卤砻娼^緣電阻失效，就會(huì)在某個(gè)瞬間產(chǎn)生mA級(jí)的漏電流， 這個(gè)漏電流相對(duì)于uA級(jí)的恒流源的輸出電流而言，影響很大。使得恒流源的 輸出會(huì)發(fā)生顯著的改變。對(duì)于恒流源的顯示信號(hào)而言，I恒+I為輸入信號(hào)。 正常情況下，I+I恒《 I恒。絕緣電阻劣化失效時(shí)，I由nA級(jí)變?yōu)閙A級(jí)時(shí)， 則I+I恒- I。
具體來(lái)說(shuō)，在SIR (surface insulation resistance,表面絕緣電阻)劣化失 效時(shí)，I為mA級(jí)別，1>>1恒(10uA級(jí)別)。當(dāng)出現(xiàn)SIR劣化失效時(shí)，兩相鄰 導(dǎo)體間的電流會(huì)大于恒定電流，相應(yīng)地，對(duì)恒流源設(shè)備的輸出有顯著影響。 本發(fā)明的各個(gè)實(shí)施例中判斷絕緣電阻是否劣化失效的方法可以通過(guò)記錄恒流 源設(shè)備的輸出，通過(guò)了解其輸出是否有顯著變化來(lái)作出失效與否的判斷。在 具體的實(shí)施方案中，比如當(dāng)恒流源是使用恒定電流測(cè)試電阻的設(shè)備時(shí)，可以 通過(guò)電阻值的顯示來(lái)判斷。即可以通過(guò)恒流源設(shè)備的顯示來(lái)判斷是否出現(xiàn)絕 緣電阻失效，比如當(dāng)恒流源是低阻測(cè)試設(shè)備時(shí)，正常情況下電阻顯示為正值， 但SIR劣化失效時(shí)電阻顯示為負(fù)值。對(duì)于所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員而言，凡是通 過(guò)恒流源或其他的方式來(lái)間接方式，通過(guò)判斷表面絕緣電阻與某一預(yù)設(shè)電阻 的對(duì)比關(guān)系，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)判斷表面絕緣電阻是否失效的方法，都沒(méi)有超出本發(fā) 明的保護(hù)范圍。
如圖4所示，是本發(fā)明的方法的第二個(gè)實(shí)施例的電路圖，也可以采用圖 4A所示的電路圖進(jìn)行，在本實(shí)施例中，使用常規(guī)的直流穩(wěn)壓電源、測(cè)試板、 數(shù)據(jù)釆集器(可用來(lái)測(cè)試低電阻)、測(cè)試電腦及數(shù)據(jù)采集器的數(shù)據(jù)分析軟件，按照上述測(cè)試原理就可以組成一個(gè)在線測(cè)試系統(tǒng)，用于評(píng)估絕緣電阻的劣化失
效是否發(fā)生，其中 .
1、 通常SIR測(cè)試中的直流電源的電壓可以設(shè)置為0~ 100V,相應(yīng)地直流 穩(wěn)壓電壓的輸出電壓可以設(shè)置在0 ~ 100V之間。
2、 測(cè)試板可使用SIR測(cè)試圖形比如梳狀電極，也可以根據(jù)需求使用自己 設(shè)計(jì)的測(cè)試圖形?？傊?，只要最終的結(jié)果體現(xiàn)為相隔一定距離的相鄰導(dǎo)體就 可以。
3、 數(shù)據(jù)采集器在測(cè)試低電阻時(shí)，采用恒流源進(jìn)行測(cè)試，其輸出的電流精 度為mA uA級(jí)。數(shù)據(jù)采集器的通道數(shù)通常為60~256，電阻掃描間隔可設(shè) 定在數(shù)秒之內(nèi)。
如圖5所示，是本發(fā)明的方法的第二個(gè)實(shí)施例的流程圖，包括步驟
5501、 在^^狀電極中選擇兩個(gè)相鄰導(dǎo)體，在其上加上直流電源；
5502、 將數(shù)據(jù)采集器串聯(lián)于其中一根導(dǎo)體的兩端；
5503、 讀取所述數(shù)據(jù)采集器輸出的電阻值；
5504、 判斷所述電阻值與O的大小關(guān)系，如果所述電阻值大于O,即為正 值，進(jìn)入步驟S505,如果所述漏電阻值為負(fù)值時(shí)，進(jìn)入步驟S506;當(dāng)然，也 可以所述梳狀電極的表面絕緣電阻的漏電阻的具體情況，將判斷的電阻設(shè)為 其他值，這沒(méi)有超出本發(fā)明的保護(hù)范圍；
5505、 提示所述相鄰導(dǎo)體間絕緣電阻正常；
5506、 提示所述相鄰導(dǎo)體間絕緣電阻劣化失效。
利用本發(fā)明實(shí)施例，通過(guò)測(cè)量梳狀中某兩個(gè)相鄰導(dǎo)體中其中 一根導(dǎo)體的 電阻，如果所述電阻大于預(yù)設(shè)電阻值，則所述相鄰導(dǎo)體間的絕緣電阻劣化； 否則，所述相鄰導(dǎo)體間的絕緣電阻正常。所述的預(yù)設(shè)電阻值，可以在不同的 實(shí)際情況下，根據(jù)測(cè)量的需要，選擇不同的值，只要選擇出來(lái)的值能夠有助 于準(zhǔn)確地判斷是否出現(xiàn)了劣化失效現(xiàn)象即可。可以實(shí)現(xiàn)通過(guò)測(cè)量漏電流對(duì)于 恒流源產(chǎn)生的測(cè)試電流的影響，來(lái)間接反映出漏電流的大小，進(jìn)而可以判斷 出表面絕緣電阻是否失效。而且，由于本發(fā)明是通過(guò)間接測(cè)量的方式來(lái)反映， 可以以很短的時(shí)間間隔進(jìn)行測(cè)量。避免了現(xiàn)有技術(shù)中測(cè)試的時(shí)間間隔長(zhǎng)，難 以發(fā)現(xiàn)某些劣化失效現(xiàn)象的弱點(diǎn)。再者，現(xiàn)有技術(shù)中的設(shè)備昂貴復(fù)雜，而本
10發(fā)明的實(shí)施例中可以使用市場(chǎng)是常見而易于得到的各種恒流源方便地測(cè)量相 鄰導(dǎo)體中其中 一根導(dǎo)體的電阻，并迅速做出準(zhǔn)確的結(jié)論。
通過(guò)在兩相鄰導(dǎo)體上通過(guò)直流電源施加一定的偏置電壓，在測(cè)試表面絕 緣電阻是否劣化失效時(shí)，在一個(gè)導(dǎo)體的兩端施加恒定電源，通過(guò)恒流源設(shè)備 的輸出來(lái)判斷是否有表面絕緣電阻劣化失效的事件出現(xiàn)。也實(shí)現(xiàn)了對(duì)于梳狀 電極的絕緣電阻是否正常進(jìn)行靜態(tài)的測(cè)量。
如圖6所示，是本發(fā)明的測(cè)量劣化絕緣電阻的裝置的框圖，包括 恒流源601，用于在相鄰導(dǎo)體的一個(gè)導(dǎo)體兩端施加恒定電流； 劣化指示單元602,用于如果在預(yù)設(shè)的時(shí)間，徵內(nèi)，所述恒流源顯示的數(shù) 值出現(xiàn)過(guò)顯著變化，則指示所述相鄰導(dǎo)體間出現(xiàn)絕緣電阻劣化失效。
利用本發(fā)明實(shí)施例，通過(guò)測(cè)量相鄰導(dǎo)體中其中一根導(dǎo)體的電阻，如果所 述電阻大于預(yù)設(shè)電阻值，則所述相鄰導(dǎo)體間的絕緣電阻劣化；否則，所述相 鄰導(dǎo)體間的絕緣電阻正常?？梢詫?shí)現(xiàn)通過(guò)測(cè)量漏電流對(duì)于恒流源產(chǎn)生的測(cè)試 電流的影響，來(lái)間接反映出漏電流的大小，進(jìn)而可以判斷出表面絕緣電阻是 否失效。而且，由于本發(fā)明是通過(guò)間接測(cè)量的方式來(lái)反映，可以以很短的時(shí) 間間隔進(jìn)行測(cè)量。避免了現(xiàn)有技術(shù)中測(cè)試的時(shí)間間隔長(zhǎng)，難以發(fā)現(xiàn)某些劣化 失效現(xiàn)象的弱點(diǎn)。再者，現(xiàn)有技術(shù)中的設(shè)備昂貴復(fù)雜，而本發(fā)明的實(shí)施例中 可以使用市場(chǎng)是常見而易于得到的各種恒流源方便地測(cè)量相鄰導(dǎo)體中其中一 根導(dǎo)體的電阻，并迅速做出準(zhǔn)確的結(jié)論。
其中，在上述實(shí)施例中，所述恒流源在所述相鄰導(dǎo)體的一個(gè)的導(dǎo)體兩端 的施加的輸出電流為10uA級(jí)。
其中，在上述實(shí)施例中，所述恒流源顯示的所述數(shù)值是電流值或電阻值 或電壓{直。
其中，在上述實(shí)施例中，所述恒流源具體為 低阻測(cè)試設(shè)備或數(shù)據(jù)采集器。
測(cè)量相鄰導(dǎo)體中其中一根導(dǎo)體的電阻的設(shè)備，可以是上述三種設(shè)備，但 是不限于上述三種。利用這些設(shè)備的高速掃描能力，可以對(duì)劣化失效現(xiàn)象得 到準(zhǔn)確地檢測(cè)。凡是利用恒流輸出的方式來(lái)測(cè)量相鄰導(dǎo)體中其中 一根導(dǎo)體的 電阻的設(shè)備，都應(yīng)該被包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。恒流源是指一種通過(guò)施加恒定電流的測(cè)試設(shè)備，包含但不限于使用恒定電流的阻值測(cè)試設(shè)備。 其中，在上述實(shí)施例中，還包括
直流電壓輸出單元，用于在所述相鄰導(dǎo)體之間加上直流電壓，所述直
流電壓是^t擬所述相鄰導(dǎo)體之間存在的工作電壓的直流電壓。
其中，在上述實(shí)施例中，還包括
記錄單元，用于如果所述恒流源顯示的數(shù)值出現(xiàn)過(guò)顯著變化，記錄變 化前后的顯示的所述數(shù)值。
本發(fā)明還公開了 一種評(píng)估絕緣電阻劣化失效的系統(tǒng)的第 一個(gè)實(shí)施例，包
括
本發(fā)明的各個(gè)實(shí)施例提供的裝置和連接所述裝置的計(jì)算機(jī)；
所述計(jì)算機(jī)用于分析所述劣化指示單元的指示；或
分析所述記錄單元記錄的所述數(shù)值。
利用測(cè)試計(jì)算機(jī)，可以通過(guò)分析軟件，對(duì)于預(yù)設(shè)電阻值、測(cè)量得到的電 阻值和劣化指示進(jìn)行綜合分析，得到當(dāng)前被測(cè)絕緣電阻的劣化失效結(jié)果。
以上所述的本發(fā)明實(shí)施方式，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明保護(hù)范圍的限定。任何 在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本
發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
1權(quán)利要求
1、一種評(píng)估絕緣電阻劣化失效的方法，其特征在于，包括步驟在相鄰導(dǎo)體的一個(gè)導(dǎo)體兩端施加恒流源；如果在預(yù)設(shè)的時(shí)間段內(nèi)，所述恒流源顯示的數(shù)值出現(xiàn)過(guò)顯著變化，則指示所述相鄰導(dǎo)體間出現(xiàn)絕緣電阻劣化失效。
2 、如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述恒流源在所述相鄰導(dǎo) 體的一個(gè)的導(dǎo)體兩端的施加的輸出電流為10uA級(jí)。
3 、如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述恒流源顯示的所述數(shù) 值是電流值或電阻值或電壓值。
4、 如權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，所述恒流源具體為 低阻測(cè)試設(shè)備或數(shù)據(jù)采集器。
5、 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述在相鄰導(dǎo)體的一個(gè) 導(dǎo)體兩端施加恒流源步驟之前，還包括在所述相鄰導(dǎo)體之間加上直流電壓，所述直流電壓是模擬所述相鄰導(dǎo)體 之間存在的工作電壓的直流電壓。
6、 如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述恒流源施加的恒定電 流的方向與所述直流電壓在所述一個(gè)導(dǎo)體中產(chǎn)生的漏電流的方向相反或者相 同。
7、 如權(quán)利要求l所述的方法，其特征在于，還包括步驟 如果所述恒流源顯示的數(shù)值出現(xiàn)過(guò)顯著變化，記錄變化前后的顯示的所述數(shù)值。
8、 一種評(píng)估絕緣電阻劣化失效的裝置，其特征在于，包括 恒流源，用于在相鄰導(dǎo)體的一個(gè)導(dǎo)體兩端施加恒定電流； 劣化指示單元，用于如果在預(yù)設(shè)的時(shí)間段內(nèi)，所述恒流源顯示的數(shù)值出現(xiàn)過(guò)顯著變化，則指示所述相鄰導(dǎo)體間出現(xiàn)絕緣電阻劣化失效。
9、 如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述恒流源在所述相鄰導(dǎo) 體的一個(gè)的導(dǎo)體兩端的施加的輸出電流為10uA級(jí)。
10、如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述恒流源顯示的所述 數(shù)值是電流值或電阻值或電壓值。
11、如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述恒流源具體為低阻測(cè)試設(shè)備或數(shù)據(jù)采集器。
12、如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，還包括 直流電壓輸出單元，用于在所述相鄰導(dǎo)體之間加上直流電壓，所述直 流電壓是模擬所述相鄰導(dǎo)體之間存在的工作電壓的直流電壓。
13、如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，還包括 記錄單元，用于如果所述恒流源顯示的數(shù)值出現(xiàn)過(guò)顯著變化，記錄變 化前后的顯示的所述數(shù)值。
14、 一種評(píng)估絕緣電阻劣化失效的系統(tǒng)，其特征在于，包括 如權(quán)利要求8 - 1 3中任一項(xiàng)所述的裝置和連接所述裝置的計(jì)算機(jī)； 所述計(jì)算機(jī)用于分析所述劣化指示單元的指示；或分析所述記錄單元記錄的所述數(shù)值。
全文摘要
本發(fā)明實(shí)施例公開了一種評(píng)估絕緣電阻劣化失效的方法，包括步驟在相鄰導(dǎo)體的一個(gè)導(dǎo)體兩端施加恒流源；如果在預(yù)設(shè)的時(shí)間段內(nèi)，所述恒流源顯示的數(shù)值出現(xiàn)過(guò)顯著變化，則指示所述相鄰導(dǎo)體間出現(xiàn)絕緣電阻劣化失效。還提供了一種評(píng)估絕緣電阻劣化失效的裝置和一種評(píng)估絕緣電阻劣化失效的系統(tǒng)，利用本發(fā)明實(shí)施例，通過(guò)測(cè)量相鄰導(dǎo)體中其中一根導(dǎo)體的電阻，如果所述電阻大于預(yù)設(shè)電阻值，則所述相鄰導(dǎo)體間的絕緣電阻劣化；否則，所述相鄰導(dǎo)體間的絕緣電阻正常。可以實(shí)現(xiàn)通過(guò)測(cè)量漏電流對(duì)于恒流源產(chǎn)生的測(cè)試電流的影響，來(lái)間接反映出漏電流的大小，進(jìn)而可以判斷出表面絕緣電阻是否失效。
文檔編號(hào)G01R27/02GK101470146SQ20081000799
公開日2009年7月1日 申請(qǐng)日期2008年2月22日 優(yōu)先權(quán)日2007年12月27日
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