專利名稱：多用精密千分尺的制作方法
技術領域：
本實用新型屬于一種測量用具，特別是一種測量長度的精密千分尺。
現(xiàn)有技術中比較精密的測長用具有卡尺和千分尺?？ǔ邷y量精度低(最高精度0．02mm)，千分尺測量范圍很窄，(只適用25mm以下)，用途單一。測內徑及深度需不同千分尺來測量。
本實用新型目的是克服現(xiàn)有技術不足之處，提供一種將卡尺和千分尺功能結合到一把量具上并同時大大提高測量精度。
本實用新型設計方案一種多用精密千分尺，具有一個測量長度數(shù)值整數(shù)部分的主尺(3)，主尺(3)一端上固定有固定量角(1)，移動量角(2)和主尺(3)套接在一起，主尺(3)另一側還有和移動量角(2)連為一體的測深尺(6)，在主尺(3)和移動量角(2)上旋套一個差動螺旋測微機構，該差動螺旋測微機構由測微螺紋Ⅰ和測微螺紋Ⅱ組成，測微螺紋Ⅰ旋接在測微螺紋Ⅱ上。
測微螺紋Ⅱ和測微螺紋Ⅰ的螺距的有一個差值，該差值視測量精度要求而定。例如精度要求為0．001時，螺距差為0．1mm。測微螺紋Ⅱ的螺距為1mm，測微螺Ⅰ的螺距為0．9mm或1．1mm。
移動量角(2)和主尺(3)以榫套接在一起并且能夠互相移動。
本實用新型優(yōu)點如下1、測量精度高，比現(xiàn)有的千分尺(0．01)提高一個數(shù)量級，可做到0．001mm；2、測量范圍大，可以做到和卡尺的范圍一樣；3、可代替現(xiàn)有千分尺十幾、幾十把的作用；4、一尺多用，可以同時測內徑、外徑及深度；5、便于測量的使用，維修和管理，可節(jié)約大量維修、鑒定及管理的費用。


圖1為本實用新型結構示意圖；圖2圖1A-A視圖；圖3為圖1中差動測微機構示意圖。
實施例1一種多用精密千分尺，具有一個測量長度數(shù)值整數(shù)部分的主尺(3)，主尺(3)一端上固定有固定量角(1)，移動量角(2)和主尺(3)套接在一起，主尺(3)另一側還有和移動量角(2)連為一體的測深尺(6)，在主尺(3)和移動量角(2)上旋套一個差動螺旋測微機構，該差動螺旋測微機構由測微螺紋Ⅰ和測微螺紋Ⅱ組成，測微螺紋Ⅰ旋接在測微螺紋Ⅱ上。測微螺紋Ⅱ和測微螺紋Ⅰ的螺距的有一個差值，該差值視測量精度要求而定。例如精度要求為0．001時，螺距差為0．1mm。測微螺紋Ⅱ的螺距為1mm，測微螺Ⅰ的螺距為0．9mm或1．1mm。移動量角(2)和主尺(3)以榫套接在一起并且能夠互相移動。
精密多用千分尺測量原理和卡尺相同，測量示值的讀出由兩部分組成，其整數(shù)部分可由主尺上的刻度顯示(主尺的最小刻度1mm)，小整部分則由一個差動螺旋測微機構來實現(xiàn)顯示。它由兩付測微螺紋Ⅰ和Ⅱ組成，Ⅰ的螺距為1mm，Ⅰ的螺距為1．1或0．9mm，這樣它旋轉一周的導程為0．1，為把測微筒等分發(fā)刻為100格，那它旋轉一格的直線距離為0．001。
權利要求1.一種多用精密千分尺，具有一個測量長度數(shù)值整數(shù)部分的主尺(3)，主尺(3)上有固定量角(1)，其特征在于移動量角(2)和主尺(3)套接在一起，主尺(3)另一側還有和移動量角(2)連為一體的測深尺(6)，主尺(3)和移動量角(2)上套有一個差動螺旋測微機構，該差動螺旋測微機構由測微螺紋Ⅰ和測微螺紋Ⅱ組成，測微螺紋Ⅰ旋接在測微螺紋Ⅱ上。
2.根據(jù)權利要求1所述的多用精密千分尺，其特征在于測微螺紋Ⅱ和測微螺紋Ⅰ的螺距的有一個差值，該差值視測量精度要求而定。
3.根據(jù)權利要求1所述的多用精度千分尺，其特征是移動量角(2)和主尺(3)以榫套接在一起并且能夠互相移動。
專利摘要本實用新型屬于一種精密測量用具。它具有讀出測量值整數(shù)部分的主尺,在主尺上有一個差動螺旋測微機構,該機構由兩個具有螺距差值的測微螺紋組成,主尺一端有固定量角,移動量角和測深尺連為一體且移動量角和主尺套接在一起。具有測量范圍大、精度高、一尺多用的特點。
文檔編號G01B3/18GK2428754SQ0022656
公開日2001年5月2日 申請日期2000年6月21日 優(yōu)先權日2000年6月21日
發(fā)明者李志壯 申請人:李志壯