本公開實(shí)施例涉及金屬涂層,具體而言,涉及一種復(fù)合涂層的制備方法以及復(fù)合涂層。
背景技術(shù):
1、鈦合金具有輕量化、高強(qiáng)度、耐高溫等優(yōu)點(diǎn),是重大工業(yè)裝備向大型化、服役環(huán)境復(fù)雜化、構(gòu)件工況苛刻化、壽命需求長期化發(fā)展的理想選材,被廣泛應(yīng)用于航空航天、海洋、核能、化工及醫(yī)療等領(lǐng)域。但是,在實(shí)際應(yīng)用的過程中,鈦合金構(gòu)件在服役過程中存在耐磨性不足、耐電偶腐蝕及熱鹽耐蝕性不足的問題,因此容易導(dǎo)致該鈦合金構(gòu)件在使用過程中會(huì)存在可靠性及服役壽命下降,甚至影響整個(gè)裝備的運(yùn)行安全的問題。
2、為了解決該問題,可以采用表面強(qiáng)化的手段來提升鈦合金構(gòu)件表面性能。目前,對鈦合金表面涂層材料的研發(fā)主要集中在耐磨性能的提升;但是,在耐磨性能的基礎(chǔ)上,如何降低鈦合金與異種材料間的電偶腐蝕以及高溫含鹽環(huán)境下的熱鹽腐蝕等行為,也成了亟需解決的問題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本公開的目的在于提供一種復(fù)合涂層的制備方法以及復(fù)合涂層,進(jìn)而至少在一定程度上克服由于相關(guān)技術(shù)的限制和缺陷而導(dǎo)致的如何降低鈦合金與異種材料間的電偶腐蝕以及高溫含鹽環(huán)境下的熱鹽腐蝕的問題。
2、根據(jù)本公開的一個(gè)方面,提供一種復(fù)合涂層的制備方法,包括:
3、步驟一:將活化處理后的mos2納米粉體均勻分散在電解液中,得到復(fù)合電解液;
4、步驟二:將鈦合金基體放置到所述復(fù)合電解液中進(jìn)行微弧氧化處理,以在所述鈦合金基體表面生成帶有tio2/mos2的微弧氧化層;
5、步驟三:將帶有tio2/mos2的微弧氧化層的鈦合金基體浸入封孔液中,隨后進(jìn)行干燥處理,得到帶有封孔tio2耐蝕層的基材;
6、步驟四:將帶有封孔tio2耐蝕層的基材放置于氣相沉積設(shè)備的真空腔室內(nèi)作為陽極,采用mos2靶材及ti靶材作為陰極,在真空度為1pa的氬氣氛圍下進(jìn)行鍍膜處理,以在帶有封孔tio2耐蝕層的基材表面形成耐磨蝕的復(fù)合涂層。
7、在本公開的一種示例性實(shí)施例中,復(fù)合電解液制備過程中所用到的活化處理后的mos2納米粉體是通過如下方式得到的:將10-20g的mos2納米粉體浸在0.05-0.1g的十二烷基硫酸鈉與200-300g的乙醇的混合液中攪拌2h進(jìn)行活化處理,得到活化混合液,并對活化混合液進(jìn)行烘干過篩,得到活化后的mos2納米粉體。
8、在本公開的一種示例性實(shí)施例中,所述復(fù)合電解液的制備過程,是通過如下方式得到的:將1-5g/l活化后的mos2納米粉體、10-15g/l的硅酸鈉、0.5-1g/l的次亞磷酸鈉、2-5g/l的鎢酸鈉、2-8ml/l的甘油配制成電解液,連續(xù)攪拌1-2h,超聲震蕩0.5-1.5h,將活化后的mos2納米粉體均勻分布在電解液中。
9、在本公開的一種示例性實(shí)施例中,在帶有tio2/mos2的微弧氧化層的制備過程中,微弧氧化處理過程中所用到的頻率為400-800hz,正向占空比5-30%,負(fù)向占空比5%-30%,正向電壓350-500v,負(fù)向電壓10-50v,氧化時(shí)間20-40min。
10、在本公開的一種示例性實(shí)施例中,所述封孔液是通過如下方式制備得到的:
11、1)對0.5-1.5g/l的硅烷偶聯(lián)劑與2-10g/l的有機(jī)溶劑進(jìn)行混合,得到溶劑混合結(jié)果;
12、2)對溶劑混合結(jié)果攪拌36-48h進(jìn)行,以對溶劑混合結(jié)果進(jìn)行活化,得到溶劑活化結(jié)果;
13、3)在溶劑活化結(jié)果中加入5-10g/l的氟鋯酸鉀、1-3g/l的納米二氧化鈦以及1-5g/l三乙醇胺超聲震蕩0.5h后,得到所述封孔液。
14、在本公開的一種示例性實(shí)施例中,所述帶有封孔tio2耐蝕層的基材是通過如下方式制備得到的:將帶有tio2/mos2的微弧氧化層的鈦合金基體放置于封孔液中浸泡5-10min,并將浸泡后的鈦合金基體放置到烘箱中160℃烘烤15min,然后重復(fù)烘烤重復(fù)3-5次后再次烘干30min,以得到帶有封孔tio2耐蝕層的基材。
15、在本公開的一種示例性實(shí)施例中,所述復(fù)合涂層是通過如下方式制備得到的:1)將帶有封孔tio2耐蝕層的基材放置于氣相沉積設(shè)備的真空腔室內(nèi),保持真空度在1pa;2)開啟mos2靶,所用電源為射頻電源,射頻電源的濺射功率設(shè)置為200-250w;3)開啟ti靶,所用電源為直流電源,直流電源的電流大小設(shè)置為50-100a,偏壓設(shè)置為-200v~-400v,占空比為40%-60%,沉積時(shí)間為1-3h,以在帶有封孔tio2耐蝕層的基材表面鍍制所述復(fù)合涂層。
16、根據(jù)本公開的一個(gè)方面,提供一種根據(jù)上述任意一項(xiàng)所述的復(fù)合涂層的制備方法所得到的復(fù)合涂層,所述復(fù)合涂層包括微弧氧化tio2/mos2層、tio2封孔層及氣相沉積ti/mos2層。
17、在本公開的一種示例性實(shí)施例中,所述微弧氧化tio2/mos2層的厚度為10-15μm;所述tio2封孔層的厚度為1-1.5μm;所述氣相沉積ti/mos2層的厚度為1-3μm。
18、在本公開的一種示例性實(shí)施例中,所述氣相沉積ti/mos2層中ti的原子百分比為2%-10%。
19、在本公開實(shí)施例中提供的復(fù)合涂層的制備方法中,一方面,通過將活化處理后的mos2納米粉體均勻分散在電解液中,得到復(fù)合電解液;然后將鈦合金基體放置到復(fù)合電解液中進(jìn)行微弧氧化處理,以在鈦合金基體表面生成帶有tio2/mos2的微弧氧化層;再將帶有tio2/mos2的微弧氧化層的鈦合金基體浸入封孔液中,隨后進(jìn)行干燥處理,得到帶有封孔tio2耐蝕層的基材;最后將帶有封孔tio2耐蝕層的基材放置于氣相沉積設(shè)備的真空腔室內(nèi)作為陽極,采用mos2靶材及ti靶材作為陰極,在真空度為1pa的氬氣氛圍下進(jìn)行鍍膜處理,以在帶有封孔tio2耐蝕層的基材表面形成耐磨蝕的復(fù)合涂層;由于可以采用微弧氧化的方式在鈦合金基體表面生成帶有tio2/mos2的微弧氧化層,進(jìn)而可以提升鈦合金的減摩耐磨性能;另一方面,由于可以采用多步封孔法得到帶有封孔tio2耐蝕層,進(jìn)而進(jìn)一步的提升了復(fù)合涂層的耐腐蝕性能。
20、應(yīng)當(dāng)理解的是,以上的一般描述和后文的細(xì)節(jié)描述僅是示例性和解釋性的,并不能限制本公開。
1.一種復(fù)合涂層的制備方法,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的復(fù)合涂層的制備方法,其特征在于,復(fù)合電解液制備過程中所用到的活化處理后的mos2納米粉體是通過如下方式得到的:將10-20g的mos2納米粉體浸在0.05-0.1g的十二烷基硫酸鈉與200-300g的乙醇的混合液中攪拌2h進(jìn)行活化處理,得到活化混合液,并對活化混合液進(jìn)行烘干過篩,得到活化后的mos2納米粉體。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的復(fù)合涂層的制備方法,其特征在于,所述復(fù)合電解液的制備過程,是通過如下方式得到的:將1-5g/l活化后的mos2納米粉體、10-15g/l的硅酸鈉、0.5-1g/l的次亞磷酸鈉、2-5g/l的鎢酸鈉、2-8ml/l的甘油配制成電解液,連續(xù)攪拌1-2h,超聲震蕩0.5-1.5h,將活化后的mos2納米粉體均勻分布在電解液中。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的復(fù)合涂層的制備方法,其特征在于,在帶有tio2/mos2的微弧氧化層的制備過程中,微弧氧化處理過程中所用到的頻率為400-800hz,正向占空比5-30%,負(fù)向占空比5%-30%,正向電壓350-500v,負(fù)向電壓10-50v,氧化時(shí)間20-40min。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的復(fù)合涂層的制備方法,其特征在于,所述封孔液是通過如下方式制備得到的:
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的復(fù)合涂層的制備方法,其特征在于,所述帶有封孔tio2耐蝕層的基材是通過如下方式制備得到的:將帶有tio2/mos2的微弧氧化層的鈦合金基體放置于封孔液中浸泡5-10min,并將浸泡后的鈦合金基體放置到烘箱中160℃烘烤15min,然后重復(fù)烘烤重復(fù)3-5次后再次烘干30min,以得到帶有封孔tio2耐蝕層的基材。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的復(fù)合涂層的制備方法,其特征在于,所述復(fù)合涂層是通過如下方式制備得到的:1)將帶有封孔tio2耐蝕層的基材放置于氣相沉積設(shè)備的真空腔室內(nèi),保持真空度在1pa;2)開啟mos2靶,所用電源為射頻電源,射頻電源的濺射功率設(shè)置為200-250w;3)開啟ti靶,所用電源為直流電源,直流電源的電流大小設(shè)置為50-100a,偏壓設(shè)置為-200v~-400v,占空比為40%-60%,沉積時(shí)間為1-3h,以在帶有封孔tio2耐蝕層的基材表面鍍制所述復(fù)合涂層。
8.一種根據(jù)權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的復(fù)合涂層的制備方法所得到的復(fù)合涂層,其特征在于,所述復(fù)合涂層包括微弧氧化tio2/mos2層、tio2封孔層及氣相沉積ti/mos2層。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的復(fù)合涂層,其特征在于,所述微弧氧化tio2/mos2層的厚度為10-15μm;所述tio2封孔層的厚度為1-1.5μm;所述氣相沉積ti/mos2層的厚度為1-3μm。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的復(fù)合涂層,其特征在于,所述氣相沉積ti/mos2層中ti的原子百分比為2%-10%。