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一種P型磷化銦單晶制備配方及制備方法與流程

文檔序號:12858598閱讀:917來源:國知局

技術領域:

本發(fā)明涉及半導體材料技術領域,具體涉及一種p型磷化銦單晶制備配方及制備方法。



背景技術:

磷化銦(inp)是重要的ⅲ-ⅴ族化合物半導體材料之一,是繼硅、砷化鎵之后的新一代電子功能材料。與砷化鎵(gaas)相比,其優(yōu)越性主要在于高的飽和電場飄移速度、導熱性好以及較強的抗輻射能力等,因此inp晶片通常用于新型微電子、光電子元器件制造。

inp單晶材料按電學性質主要分摻硫n型inp;摻鋅p型inp;摻鐵或非摻雜退火半絕緣inp單晶。n型inp單晶用于光電器件,inp基的長波長(1.3-1.55μm)發(fā)光二極管、激光器和探測器已用于光纖通信系統(tǒng)。半絕緣inp襯底上可以制作高速、高頻、寬帶、低噪聲微波、毫米波電子器件。

inp的熔點是1062℃,低于gaas。但是p在熔點處的離解壓(25~27.5atm)很高。由于其高離解壓,使得in和p難以象ga和as那樣在單晶爐內直接合成多晶。因此,一般要在高壓爐內用高純銦和高純紅磷首先合成inp多晶料,然后再進行晶體生長工作。

與其它的半導體材料一樣,inp材料在生長過程中難以避免熱應力作用、化學配比偏離、組份偏析、雜質沾污等,由此造成缺陷的產生和晶格完整性的破壞。在inp晶體的生長中,生成孿晶是一個嚴重的問題。特別是,使用在容器內生長晶體的諸如vgf法和垂直bridgman法(vb法)等的垂直舟法,在低溫度梯度下生長晶體時,生成孿晶的頻率高,因此得到單晶極其困難。為避免缺陷,提高材料完整性和電學性質,進而提高光電子和微電子器件性能和可靠性,需要嚴格控制化學配比。

此外磷化銦單晶生長,熱場都是生長單晶質量的關鍵因素。熱場調節(jié)結果直接影響磷化銦晶體生長時的溫度梯度,從而改變材料中的熱應力,影響位錯密度的大小和分布,晶體生長時的固液界面形狀也會隨之改變,最后加工出的晶片電學參數(shù)、光學參數(shù)的均勻性也會受到影響。



技術實現(xiàn)要素:

本發(fā)明的目的是提供一種p型磷化銦單晶制備配方及制備方法。

本發(fā)明是通過以下技術方案予以實現(xiàn)的:

一種p型磷化銦單晶制備配方,所述原料組成為:inp多晶料、單質鋅、三氧化二硼和紅磷;按生成100克p型磷化銦單晶計,inp多晶料為99.5克,單質鋅為0.2-0.8克,三氧化二硼的質量不少于32克,所述紅磷的量根據(jù)理想氣體狀態(tài)方程計算,其中壓力控制在2.7-3.5兆帕,溫度控制在1062-1100℃,所述inp多晶料經去離子水多次煮沸清洗,以去除表面的氧化物和殘余雜質;所述三氧化二硼為高純脫水三氧化二硼,脫水后的三氧化二硼含水量在500ppm量級;所述紅磷達到6n純凈度;所述鋅達到6n純凈度。

一種p型磷化銦單晶的制備方法,包括以下步驟:采用垂直溫度梯度凝固法,將inp籽晶、還有上述配方的inp多晶料、三氧化二硼、紅磷和單質鋅裝入pbn坩堝,封入與pbn坩堝密合的封裝pbn坩堝的石英容器中,抽真空,進行加熱,高溫高壓下進行晶體生長120小時,壓力控制在2.7-3.5兆帕,溫度控制在1062-1100℃,得到位錯密度小于1000cm-2甚至為0的高質量p型磷化銦單晶;所述pbn坩堝呈布氏漏斗形,封裝pbn坩堝的石英容器與pbn坩堝形狀密合,石英容器外設有加熱裝置,加熱裝置的加熱元件沿pbn坩堝錐體均勻分布,直到放置inp籽晶的pbn坩堝嘴部位,使沿著晶體生長的自下而上的溫度梯度為5-12℃/英寸,同時石英容器頂端中央設有軸,所述軸帶動石英容器沿著軸心旋轉,徑向加熱更均勻。

特別地,pbn坩堝錐形區(qū)相對于中心軸線的傾角θ等于或小于20度,且成梯度遞減。

本發(fā)明的有益效果如下:本發(fā)明通過嚴格控制化學配比,同時建立良好的熱場,使熔體內徑向溫度梯度和縱向溫度梯度更加合理,生長出殘余應力小、位錯密度低、電學參數(shù)均勻的高質量p型磷化銦晶體。

附圖說明:

圖1是本發(fā)明的單晶生長裝置示意圖;

其中,1、pbn坩堝,2、石英容器,3、加熱元件,4、軸。

具體實施方式:

以下是對本發(fā)明的進一步說明,而不是對本發(fā)明的限制。

實施例1:生產100克p型磷化銦單晶

所述原料組成為:99.5克inp多晶料,0.2-0.8克單質鋅,32克以上的三氧化二硼和紅磷,磷的量根據(jù)根據(jù)理想氣體狀態(tài)方程計算,其中壓力控制在2.7-3.5兆帕,溫度控制在1062-1100℃,所述inp多晶料經去離子水多次煮沸清洗,以去除表面的氧化物和殘余雜質;所述三氧化二硼為高純脫水三氧化二硼,脫水后的三氧化二硼含水量在500ppm量級;所述紅磷達到6n純凈度;所述鋅達到6n純凈度。

所述磷化銦單晶的生長方法,包括以下步驟:采用垂直溫度梯度凝固法,將inp籽晶、上述配方的inp多晶料、三氧化二硼、紅磷和單質鋅裝入pbn坩堝,封入與pbn坩堝密合的封裝pbn坩堝的石英容器中,抽真空,進行加熱,高溫高壓下進行晶體生長120小時,壓力控制在2.7-3.5兆帕,溫度控制在1062-1100℃,得到直徑為75mm晶體生長方向沿<100>取向的位錯密度小于1000cm-2甚至為0的高質量p型磷化銦單晶;如圖1所示,所述pbn坩堝1呈布氏漏斗形,封裝pbn坩堝的石英容器2與pbn坩堝1形狀密合,石英容器2外設有加熱裝置,加熱裝置的加熱元件3沿pbn坩堝錐體1均勻分布,直到放置inp籽晶的pbn坩堝嘴部位,使沿著晶體生長的自下而上的溫度梯度為5-12℃/英寸,同時石英容器2頂端中央設有軸3,所述軸3帶動石英容器2沿著軸心旋轉,使石英容器2徑向加熱更均勻。

特別地,pbn坩堝錐形區(qū)相對于中心軸線的傾角θ等于或小于20度,且成梯度遞減,得到的p型磷化銦單晶位錯密度甚至為0。



技術特征:

技術總結
本發(fā)明公開了一種P型磷化銦單晶制備配方及制備方法,原料組成為:InP多晶料、單質鋅、三氧化二硼和紅磷;按生成100克P型磷化銦單晶計,InP多晶料為99.5克,單質鋅為0.2?0.8克,三氧化二硼的質量不少于32克,所述紅磷的量根據(jù)理想氣體狀態(tài)方程計算,其中壓力控制在2.7?3.5兆帕,溫度控制在1062?1100℃,本發(fā)明通過嚴格控制化學配比,同時建立良好的熱場,使熔體內徑向溫度梯度和縱向溫度梯度更加合理,生長出殘余應力小、位錯密度低、電學參數(shù)均勻的高質量P型磷化銦晶體。

技術研發(fā)人員:關活明
受保護的技術使用者:臺山市華興光電科技有限公司
技術研發(fā)日:2017.06.27
技術公布日:2017.11.03
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