一種電極絲穿絲裝置及方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及醫(yī)療技術領域，具體涉及一種電極絲穿絲裝置及方法。
【背景技術】
[0002]通過多通道微電極在體內記錄神經(jīng)元放電信號，來研究各相關腦區(qū)內神經(jīng)元的活動規(guī)律以及相關腦區(qū)間神經(jīng)元活動的相互作用關系，是醫(yī)療技術領域常用的技術方法和重要的研究手段。在上述研究過程中使用的電極主要是利用電極絲、硅管、連接頭等經(jīng)過繞絲、穿絲、纏繞等步驟制作而成。在穿絲過程中，需要將多根電極絲穿入硅管中，在此過程中電極絲需要保持筆直狀態(tài)才能滿足研究精度的需求。由于電極絲和硅管直徑都很小，而現(xiàn)有的穿絲操作需要用鑷子夾住電極絲末端才能逐步完成，這種方式容易導致電極絲彎曲，從而降低了電極絲的穿絲效率。

【發(fā)明內容】

[0003]本發(fā)明實施例公開了一種電極絲穿絲裝置及方法，能夠提高電極絲穿絲效率。
[0004]本發(fā)明實施例公開了一種電極絲穿絲裝置，包括支架、排夾以及硅管夾，其中:
[0005]所述支架設有一橫梁；
[0006]所述排夾包括多個豎直排列的電極絲夾，用于夾持電極絲，且所述排夾與所述橫梁活動連接；
[0007]所述硅管夾包括在同一水平面上的兩個夾持臂，所述兩個夾持臂用于夾持硅管，所述硅管夾固定于所述支架位于所述橫梁下方的部分。
[0008]作為一種可行的實施方式，所述裝置還包括步進電機以及處理器，其中:
[0009]所述步進電機與所述排夾相連接，用于驅動所述排夾在所述橫梁上移動；
[0010]所述處理器與所述步進電機相連接，用于控制所述步進電機的工作狀態(tài)以及所述排夾在所述橫梁上的移動方向，并控制所述排夾中的每個電極絲夾的松開和閉合。
[0011]作為另一種可行的實施方式，所述裝置還包括激光發(fā)射器，其中:
[0012]所述激光發(fā)射器與所述處理器相連接，用于測量所述硅管夾與所述排夾中處于閉合狀態(tài)且位于最下方的電極絲夾之間的距離，并將測量的所述距離發(fā)送至所述處理器。
[0013]作為又一種可行的實施方式，所述排夾與所述硅管夾在遠離所述支架的一端相互對齊。
[0014]作為又一種可行的實施方式，所述橫梁與所述硅管夾之間的距離小于所述排夾的高度。
[0015]相應的，本發(fā)明實施例還公開了一種電極絲穿絲方法，應用于電極絲穿絲裝置，所述電極絲裝置包括處理器、步進電機、排夾以及硅管夾，所述方法包括:
[0016]所述處理器向所述步進電機發(fā)送控制信號，所述控制信號用于控制所述步進電機帶動夾持有電極絲的所述排夾向夾持有硅管的所述硅管夾的方向移動；
[0017]所述處理器在所述排夾移動過程中，檢測所述電極絲進入所述硅管部分的長度；
[0018]所述處理器判斷所述長度是否大于或等于預設長度；
[0019]若是，所述處理器控制所述排夾停止移動。
[0020]作為一種可行的實施方式，所述排夾包括多個豎直排列的電極絲夾，所述電極絲穿絲裝置還包括激光發(fā)射器，所述處理器向所述步進電機發(fā)送控制信號之后，所述方法還包括:
[0021]所述處理器在所述排夾移動過程中，獲取由所述激光發(fā)射器測量的所述排夾中處于閉合狀態(tài)且位于最下方的電極絲夾與所述硅管夾之間的距離；
[0022]所述處理器判斷所述距離是否小于或等于預設距離，若是，執(zhí)行所述在所述排夾移動過程中，檢測所述電極絲進入所述硅管部分的長度的步驟；
[0023]所述處理器在所述排夾移動過程中，檢測所述電極絲進入所述硅管部分的長度，包括:
[0024]所述處理器確定當前所述排夾中處于松開狀態(tài)的電極絲夾的數(shù)量，并獲取預先記錄的單個電極絲夾的高度；
[0025]所述處理器根據(jù)所述單個電極絲夾的高度、所述處于松開狀態(tài)的電極絲夾的數(shù)量以及所述距離，計算所述電極絲進入所述硅管部分的長度。
[0026]作為另一種可行的實施方式，所述方法還包括:
[0027]若所述長度小于所述預設長度，所述處理器控制所述排夾中處于閉合狀態(tài)且位于最下方的電極絲夾松開；
[0028]所述處理器控制松開所述電極絲夾的所述排夾繼續(xù)向所述硅管夾的方向移動，并檢測所述電極絲進入所述硅管部分的長度，直至所述電極絲進入所述硅管部分的長度大于或等于所述預設長度。
[0029]作為又一種可行的實施方式，所述電極絲與所述排夾的底端齊平，所述硅管與所述硅管夾的上平面齊平。
[0030]實施本發(fā)明實施例，具有如下有益效果:
[0031]本發(fā)明實施例中，電極絲穿絲裝置在穿絲過程中，處理器會向其配置的步進電機發(fā)送控制信號，以控制該步進電機帶動夾持有電極絲的排夾向夾持有硅管的硅管夾的方向移動，并在排夾移動過程中，檢測電極絲進入硅管部分的長度，當判斷出該長度大于或等于預設長度時，停止排夾的移動，從而能夠自動完成電極絲穿絲操作。通過本發(fā)明實施例，電極絲穿絲裝置可以在保證電極絲在穿絲過程中不彎曲的前提下，自動完成穿絲操作，從而能夠提高電極絲的穿絲效率。
【附圖說明】
[0032]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0033]圖1是本發(fā)明實施例公開的一種電極絲穿絲裝置的結構示意圖；
[0034]圖2是本發(fā)明實施例公開的另一種電極絲穿絲裝置的結構示意圖；
[0035]圖3是本發(fā)明實施例公開的排夾處于閉合狀態(tài)時的俯視圖；
[0036]圖4是本發(fā)明實施例公開的排夾處于松開狀態(tài)時的俯視圖；
[0037]圖5是本發(fā)明實施例公開的一種電極絲穿絲方法的流程示意圖。
【具體實施方式】
[0038]下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0039]本發(fā)明實施例公開了一種電極絲穿絲裝置及方法，能夠提高電極絲穿絲效率。以下分別進行詳細說明。
[0040]請參閱圖1，圖1是本發(fā)明實施例公開的一種電極絲穿絲裝置的結構示意圖。如圖1所示，該電極絲穿絲裝置100可以包括支架101、排夾102以及硅管夾103，其中:
[0041]支架101設有一橫梁1011。
[0042]排夾102包括多個豎直排列的電極絲夾1021，用于夾持電極絲104，且排夾102與所述橫梁1011活動連接。
[0043]硅管夾103包括在同一水平面上的兩個夾持臂1031，兩個夾持臂1031用于夾持硅管，硅管夾103固定于支架101位于橫梁1011下方的部分。
[0044]本發(fā)明實施例中，排夾102可以在橫梁1011上進行水平方向和豎直方向的移動，電極絲夾1021主要用于夾持電極絲104。硅管夾103的兩個夾持臂1031與支架101圍成一個矩形，這樣能夠使排夾102在向硅管夾103方向的移動過程中，可以穿過該硅管夾103。
[0045]需要說明的是，排夾102與硅管夾103在遠離支架101的一端是相互對齊的，這樣可以保證電極絲穿絲裝置100在穿絲過程中，排夾102夾持的電極絲104能夠在準確的穿入硅管夾103夾持的硅管中。
[0046]而排夾102可以在橫梁1011上進行水平移動主要是為了能夠調整排夾102的水平位置，使得電極絲穿絲裝置100在穿絲過程中，排夾102夾持的電極絲104能夠在準確的穿入硅管夾103夾持的硅管中。
[0047]需要說明的是，排夾102