檢測液晶顯示面板良率的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種檢測液晶顯示面板良率的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]液晶顯示器(Liquid Crystal Display，LCD)具有機(jī)身薄、省電、無福射等眾多優(yōu)點(diǎn)，得到了廣泛的應(yīng)用，如:液晶電視、移動(dòng)電話、個(gè)人數(shù)字助理(PDA)、數(shù)字相機(jī)、計(jì)算機(jī)屏幕或筆記本電腦屏幕等，在平板顯示領(lǐng)域中占主導(dǎo)地位。
[0003]現(xiàn)有市場上的液晶顯示器大部分為背光型液晶顯示器，其包括液晶顯示面板及背光模組(backlight module)。液晶顯示面板的工作原理是在薄膜晶體管陣列基板(ThinFilm Transistor Array Substrate，TFT Array Substrate)與彩色濾光片基板(ColorFilter，CF)之間灌入液晶分子，并在兩片基板上施加驅(qū)動(dòng)電壓來控制液晶分子的旋轉(zhuǎn)方向，以將背光模組的光線折射出來產(chǎn)生畫面。
[0004]—液晶顯示面板內(nèi)包括多個(gè)呈陣列式排布的像素，每個(gè)像素電性連接一個(gè)薄膜晶體管(Thin Film Transistor，TFT)，該TFT的柵極(Gate)連接至水平方向的掃描線，漏極(Drain)連接至豎直方向的數(shù)據(jù)線，源極(Source)則連接至像素電極。在水平掃描線上施加足夠的電壓，會使得電性連接至該條掃描線上的所有TFT打開，從而數(shù)據(jù)線上的信號電壓能夠?qū)懭胂袼?，控制液晶的透光度，?shí)現(xiàn)顯示效果。
[0005]在液晶顯示面板的生產(chǎn)過程中，需要對其良率進(jìn)行檢測，及時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并進(jìn)行修復(fù)。隨著智能型手機(jī)對液晶顯示面板分辨率的要求越來越高，以低溫多晶硅(LowTemperature Poly-Si I icon，LTPS)為半導(dǎo)體材料來制作TFT陣列基板的技術(shù)成為主流，對液晶顯示面板的良率檢測要求也隨之增高。目前，業(yè)界公知的檢測液晶顯示面板良率的方法為逐一驅(qū)動(dòng)獨(dú)立的液晶顯示面板，然而該方法需要先將對應(yīng)于多個(gè)液晶顯示面板的大尺寸的TFT陣列基板與彩色濾光片基板進(jìn)行組立，形成包括多個(gè)液晶顯示面板的液晶顯示母板，再經(jīng)過一次切割、薄化、二次切割，以及偏貼工藝后才能得到獨(dú)立的具有特定尺寸的液晶顯示面板，工序較多、耗時(shí)較長、檢測效率較低，無法快速反應(yīng)液晶顯示面板的品質(zhì)及良率狀況。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的目的在于一種檢測液晶顯示面板良率的方法，能夠減少工序，節(jié)省時(shí)間，快速反應(yīng)液晶顯示面板的品質(zhì)及良率狀況，提升檢測效率。
[0007]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種檢測液晶顯示面板良率的方法，包括如下步驟:
[0008]步驟1、提供一液晶顯示母板，所述液晶顯示母板內(nèi)排布有多個(gè)液晶顯示面板，每一液晶顯示面板內(nèi)均包括多個(gè)不同功能的信號線路；
[0009]步驟2、將每一液晶顯示面板內(nèi)功能相同的信號線路均連接至一走線，該走線延伸至液晶顯示母板的外圍，形成一對應(yīng)于所有液晶顯示面板的母板集結(jié)走線；
[0010]步驟3、使用各個(gè)母板集結(jié)走線驅(qū)動(dòng)液晶顯示母板，對所有液晶顯示面板同時(shí)進(jìn)行檢測。
[0011]所述液晶顯示母板由對應(yīng)于所有液晶顯示面板的TFT陣列基板與彩色濾光片基板組立構(gòu)成。
[0012]所述TFT陣列基板與彩色濾光片基板之間夾設(shè)有液晶層。
[0013]所述多個(gè)不同功能的信號線路制作于所述TFT陣列基板上。
[0014]所述多個(gè)不同功能的信號線路包括用于輸入數(shù)據(jù)信號的數(shù)據(jù)線、與用于輸入掃描信號的掃描線。
[0015]所述步驟2具體包括:將每一液晶顯示面板內(nèi)功能相同的信號線路集結(jié)在一起形成一液晶顯示面板集結(jié)走線，各個(gè)功能相同的液晶顯示面板集結(jié)走線經(jīng)由同一走線延伸至液晶顯示母板外圍形成對應(yīng)的母板集結(jié)走線。
[0016]所述多個(gè)液晶顯示面板陣列排布于液晶顯示母板中。
[0017]相鄰的兩液晶顯示面板之間相互間隔。
[0018]本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明提供的一種檢測液晶顯示面板良率的方法，將每一液晶顯示面板內(nèi)功能相同的信號線路均連接至一走線，該走線延伸至液晶顯示母板的外圍，形成一對應(yīng)于所有液晶顯示面板的母板集結(jié)走線，使用各個(gè)母板集結(jié)走線驅(qū)動(dòng)液晶顯示母板，對所有液晶顯示面板同時(shí)進(jìn)行檢測，相比于現(xiàn)有技術(shù)，能夠減少檢測前的一次切割、薄化、二次切割，以及偏貼工序，從而節(jié)省時(shí)間，快速反應(yīng)液晶顯示面板的品質(zhì)及良率狀況，提升檢測效率。
【附圖說明】
[0019]為了能更進(jìn)一步了解本發(fā)明的特征以及技術(shù)內(nèi)容，請參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細(xì)說明與附圖，然而附圖僅提供參考與說明用，并非用來對本發(fā)明加以限制。
[0020]附圖中，
[0021]圖1為本發(fā)明的檢測液晶顯示面板良率的方法的流程圖；
[0022]圖2為本發(fā)明的檢測液晶顯示面板良率的方法中液晶顯示母板的示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0023]為更進(jìn)一步闡述本發(fā)明所采取的技術(shù)手段及其效果，以下結(jié)合本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例及其附圖進(jìn)行詳細(xì)描述。
[0024]請同時(shí)參閱圖1與圖2，本發(fā)明提供一種檢測液晶顯示面板良率的方法，包括如下步驟:
[0025]步驟1、提供一液晶顯示母板I，所述液晶顯示母板I內(nèi)排布有多個(gè)液晶顯示面板11，每一液晶顯示面板11內(nèi)均包括多個(gè)不同功能的信號線路。
[0026]具體地，所述多個(gè)液晶顯示面板11陣列排布于液晶顯示母板I中。相鄰的兩液晶顯示面板11之間相互間隔，以便于最終對液晶顯示母板I進(jìn)行切割，得到獨(dú)立的具有特定尺寸的液晶顯不面板。
[0027]所述液晶顯示母板I由對應(yīng)于所有液晶顯示面板11的TFT陣列基板與彩色濾光片基板組立構(gòu)成。所述TFT陣列基板與彩色濾光片基板之間夾設(shè)有液晶層。
[0028]所述多個(gè)不同功能的信號線路制作于所述TFT陣列基板上。
[0029]所述多個(gè)不同功能的信號線路包括用于輸入數(shù)據(jù)信號的數(shù)據(jù)線、與用于輸入掃描信號的掃描線。
[0030]步驟2、將每一液晶顯示面板11內(nèi)功能相同的信號線路均連接至一走線12，該走線12延伸至液晶顯示母板I的外圍，形成一對應(yīng)于所有液晶顯示面板11的母板集結(jié)走線13。
[0031]該步驟2具體包括:將每一液晶顯示面板11內(nèi)功能相同的信號線路集結(jié)在一起形成一液晶顯示面板集結(jié)走線14，各個(gè)功能相同的液晶顯示面板集結(jié)走線14經(jīng)由同一走線12延伸至液晶顯不母板I外圍形成對應(yīng)的母板集結(jié)走線13。例如:將每一液晶顯不面板11內(nèi)的數(shù)據(jù)線集結(jié)在一起形成一液晶顯示面板數(shù)據(jù)線集結(jié)走線，再將各個(gè)液晶顯示面板數(shù)據(jù)線集結(jié)走線連接至同一走線，并經(jīng)由該走線延伸至液晶顯示母板I的外圍，形成母板數(shù)據(jù)線集結(jié)走線；將每一液晶顯示面板11內(nèi)的掃描線集結(jié)在一起形成一液晶顯示面板掃描線集結(jié)走線，再將各個(gè)液晶顯示面板掃描線集結(jié)走線連接至同一走線，并經(jīng)由該走線延伸至液晶顯示母板I的外圍，形成母板掃描線集結(jié)走線。
[0032]步驟3、使用各個(gè)母板集結(jié)走線13驅(qū)動(dòng)液晶顯示母板I，對液晶顯示母板I內(nèi)排布的所有液晶顯示面板11同時(shí)進(jìn)行測試。
[0033]相比于現(xiàn)有的通過逐一驅(qū)動(dòng)獨(dú)立的液晶顯示面板來進(jìn)行檢測，本發(fā)明的檢測液晶顯示面板良率的方法能夠減少檢測前的一次切割、薄化、二次切割，以及偏貼工序，從而節(jié)省時(shí)間，快速反應(yīng)液晶顯示面板的品質(zhì)及良率狀況，提升檢測效率。
[0034]綜上所述，本發(fā)明的檢測液晶顯示面板良率的方法，將每一液晶顯示面板內(nèi)功能相同的信號線路均連接至一走線，該走線延伸至液晶顯示母板的外圍，形成一對應(yīng)于所有液晶顯示面板的母板集結(jié)走線，使用各個(gè)母板集結(jié)走線驅(qū)動(dòng)液晶顯示母板，對所有液晶顯示面板同時(shí)進(jìn)行檢測，相比于現(xiàn)有技術(shù)，能夠減少檢測前的一次切割、薄化、二次切割，以及偏貼工序，從而節(jié)省時(shí)間，快速反應(yīng)液晶顯示面板的品質(zhì)及良率狀況，提升檢測效率。
[0035]以上所述，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案和技術(shù)構(gòu)思作出其他各種相應(yīng)的改變和變形，而所有這些改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種檢測液晶顯示面板良率的方法，其特征在于，包括如下步驟: 步驟1、提供一液晶顯示母板(I)，所述液晶顯示母板(I)內(nèi)排布有多個(gè)液晶顯示面板(11)，每一液晶顯示面板(11)內(nèi)均包括多個(gè)不同功能的信號線路； 步驟2、將每一液晶顯示面板(11)內(nèi)功能相同的信號線路均連接至一走線(12)，該走線(12)延伸至液晶顯示母板(I)的外圍，形成一對應(yīng)于所有液晶顯示面板(11)的母板集結(jié)走線(13); 步驟3、使用各個(gè)母板集結(jié)走線(13)驅(qū)動(dòng)液晶顯示母板(I)，對所有液晶顯示面板(11)同時(shí)進(jìn)行檢測。2.如權(quán)利要求1所述的檢測液晶顯示面板良率的方法，其特征在于，所述液晶顯示母板(I)由對應(yīng)于所有液晶顯示面板(11)的TFT陣列基板與彩色濾光片基板組立構(gòu)成。3.如權(quán)利要求2所述的檢測液晶顯示面板良率的方法，其特征在于，所述TFT陣列基板與彩色濾光片基板之間夾設(shè)有液晶層。4.如權(quán)利要求2所述的檢測液晶顯示面板良率的方法，其特征在于，所述多個(gè)不同功能的信號線路制作于所述TFT陣列基板上。5.如權(quán)利要求4所述的檢測液晶顯示面板良率的方法，其特征在于，所述多個(gè)不同功能的信號線路包括用于輸入數(shù)據(jù)信號的數(shù)據(jù)線、與用于輸入掃描信號的掃描線。6.如權(quán)利要求1所述的檢測液晶顯示面板良率的方法，其特征在于，所述步驟2具體包括:將每一液晶顯示面板(11)內(nèi)功能相同的信號線路集結(jié)在一起形成一液晶顯示面板集結(jié)走線(14)，各個(gè)功能相同的液晶顯示面板集結(jié)走線(14)經(jīng)由同一走線(12)延伸至液晶顯示母板(I)外圍形成對應(yīng)的母板集結(jié)走線(13)。7.如權(quán)利要求1所述的檢測液晶顯示面板良率的方法，其特征在于，所述多個(gè)液晶顯示面板(11)陣列排布于液晶顯示母板(I)中。8.如權(quán)利要求7所述的檢測液晶顯示面板良率的方法，其特征在于，相鄰的兩液晶顯示面板(11)之間相互間隔。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種檢測液晶顯示面板良率的方法，將每一液晶顯示面板(11)內(nèi)功能相同的信號線路均連接至一走線(12)，該走線(12)延伸至液晶顯示母板(1)的外圍，形成一對應(yīng)于所有液晶顯示面板(11)的母板集結(jié)走線(13)，使用各個(gè)母板集結(jié)走線(13)驅(qū)動(dòng)液晶顯示母板(1)，對所有液晶顯示面板(11)同時(shí)進(jìn)行檢測，相比于現(xiàn)有技術(shù)，能夠減少檢測前的一次切割、薄化、二次切割，以及偏貼工序，從而節(jié)省時(shí)間，快速反應(yīng)液晶顯示面板的品質(zhì)及良率狀況，提升檢測效率。
【IPC分類】G02F1/13
【公開號】CN105445977
【申請?zhí)枴緾N201610040495
【發(fā)明人】楊少甫
【申請人】武漢華星光電技術(shù)有限公司
【公開日】2016年3月30日
【申請日】2016年1月21日