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點(diǎn)燈測(cè)試電路、陣列基板及其制作方法、顯示裝置與流程

文檔序號(hào):12886501閱讀:1120來源:國(guó)知局
點(diǎn)燈測(cè)試電路、陣列基板及其制作方法、顯示裝置與流程

本發(fā)明涉及顯示器領(lǐng)域,特別涉及一種點(diǎn)燈測(cè)試電路、陣列基板及其制作方法、顯示裝置。



背景技術(shù):

液晶顯示面板在制作的過程中,需要進(jìn)行多個(gè)檢驗(yàn)程序,其中一個(gè)很重要的檢驗(yàn)程序就是對(duì)切割完成的液晶盒進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試(light-ontest),測(cè)試液晶盒是否存在缺陷。該測(cè)試過程如下:先對(duì)液晶面板輸入測(cè)試信號(hào),使其像素呈現(xiàn)色彩,接著通過缺陷檢測(cè)裝置逐一觀察各個(gè)像素是否良好。

目前,點(diǎn)燈測(cè)試主要包括短路條(shortingbar)點(diǎn)燈測(cè)試和全接觸(fullcontact)點(diǎn)燈測(cè)試兩種。下面以具有陣列基板柵極驅(qū)動(dòng)(gateonarray,goa)單元的液晶顯示面板的點(diǎn)燈測(cè)試為例,對(duì)shortingbar點(diǎn)燈測(cè)試和fullcontact點(diǎn)燈測(cè)試進(jìn)行說明:

fullcontact點(diǎn)燈測(cè)試是指,采用檢測(cè)探針對(duì)液晶顯示面板的陣列基板的引線(lead)區(qū)域進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試,具體地,將檢測(cè)探針與lead區(qū)域的每根數(shù)據(jù)線引線連接,通過檢測(cè)探針向其連接的數(shù)據(jù)線引線輸入數(shù)據(jù)信號(hào),進(jìn)而檢測(cè)對(duì)應(yīng)的子像素是否存在不良(是否有亮點(diǎn)或亮線)。shortingbar點(diǎn)燈測(cè)試則是在fullcontact點(diǎn)燈測(cè)試的基礎(chǔ)上,采用shortingbar將多根數(shù)據(jù)線引線相互連接,測(cè)試時(shí)可以通過檢測(cè)探針向shortingbar輸入數(shù)據(jù)信號(hào),實(shí)現(xiàn)多個(gè)子像素的同時(shí)檢測(cè),在所有子像素測(cè)試完成后,需要通過切割技術(shù)將連接在數(shù)據(jù)線引線間的shortingbar切斷,從而避免shortingbar影響液晶顯示面板的正常工作。

對(duì)shortingbar進(jìn)行切割,不僅會(huì)導(dǎo)致液晶顯示面板的成本升高,而且增加了液晶顯示面板的不良風(fēng)險(xiǎn)。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

為了解決現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)shortingbar進(jìn)行切割,不僅會(huì)導(dǎo)致液晶顯示面板的成本升高,而且增加了液晶顯示面板的不良風(fēng)險(xiǎn)的問題,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種點(diǎn)燈測(cè)試電路、陣列基板及其制作方法、顯示裝置。所述技術(shù)方案如下:

第一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種點(diǎn)燈測(cè)試電路,所述點(diǎn)燈測(cè)試電路包括多根平行布置的信號(hào)線引線、至少兩根短路線以及與所述信號(hào)線引線一一對(duì)應(yīng)設(shè)置的多個(gè)開關(guān);

每根所述信號(hào)線引線的一端適用于連接信號(hào)線,每根所述信號(hào)線引線的另一端連接所述至少兩根短路線中的一根,每根所述短路線與至少兩根所述信號(hào)線引線連接;

每個(gè)所述開關(guān)設(shè)置在對(duì)應(yīng)的所述信號(hào)線引線與所述短路線的連接點(diǎn)和對(duì)應(yīng)的所述信號(hào)線引線與所述信號(hào)線的連接點(diǎn)之間,每個(gè)所述開關(guān)均連接有控制線。

在本發(fā)明實(shí)施例的一種實(shí)現(xiàn)方式中,每根所述短路線的至少一端設(shè)置有焊盤。

在本發(fā)明實(shí)施例的另一種實(shí)現(xiàn)方式中,所述焊盤為圓形焊盤或方形焊盤,所述圓形焊盤的直徑或所述方形焊盤的邊長(zhǎng)為200-400um。

在本發(fā)明實(shí)施例的另一種實(shí)現(xiàn)方式中,所述至少兩根短路線的位于所述多根信號(hào)線引線的同一側(cè)的焊盤并排間隔布置。

在本發(fā)明實(shí)施例的另一種實(shí)現(xiàn)方式中,所述點(diǎn)燈測(cè)試電路還包括虛設(shè)焊盤,所述虛設(shè)焊盤與所述至少兩根短路線的位于所述多根信號(hào)線引線的同一側(cè)的焊盤并排間隔布置。

在本發(fā)明實(shí)施例的另一種實(shí)現(xiàn)方式中,各個(gè)所述開關(guān)與同一根所述控制線電連接。

在本發(fā)明實(shí)施例的另一種實(shí)現(xiàn)方式中,所述控制線的一端設(shè)置有焊盤。

在本發(fā)明實(shí)施例的另一種實(shí)現(xiàn)方式中,所述信號(hào)線引線為數(shù)據(jù)線引線。

在本發(fā)明實(shí)施例的另一種實(shí)現(xiàn)方式中,所述點(diǎn)燈測(cè)試電路還包括多根陣列基板柵極驅(qū)動(dòng)goa驅(qū)動(dòng)線,每根所述goa驅(qū)動(dòng)線的一端適用于連接一根goa引線,每根所述goa驅(qū)動(dòng)線的另一端設(shè)置有外引腳貼合焊盤,任意兩根所述goa驅(qū)動(dòng)線連接的所述goa引線不同;所述goa引線用于為goa單元提供外部輸入信號(hào)。

在本發(fā)明實(shí)施例的另一種實(shí)現(xiàn)方式中,所述多根信號(hào)線引線分為n組,相鄰的n根所述信號(hào)線引線分別屬于n組所述信號(hào)線引線,每組所述信號(hào)線引線連接同一根所述短路線,n為大于1的整數(shù)。

在本發(fā)明實(shí)施例的另一種實(shí)現(xiàn)方式中,所述n的取值為2、3或6。

在本發(fā)明實(shí)施例的另一種實(shí)現(xiàn)方式中,所述開關(guān)為半導(dǎo)體開關(guān)。

第二方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種陣列基板,所述陣列基板包括第一方面任一項(xiàng)所述的點(diǎn)燈測(cè)試電路。

第三方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種顯示裝置,其特征在于,所述顯示裝置包括第二方面所述的陣列基板。

第四方面,本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種陣列基板制作方法,所述方法包括:

提供一襯底基板;

在基板上制作多根平行布置的信號(hào)線引線、至少兩根短路線以及與所述信號(hào)線引線一一對(duì)應(yīng)設(shè)置的多個(gè)開關(guān);每根所述信號(hào)線引線的一端適用于連接信號(hào)線,每根所述信號(hào)線引線的另一端連接所述至少兩根短路線中的一根,每根所述短路線與至少兩根所述信號(hào)線引線連接;每個(gè)所述開關(guān)設(shè)置在對(duì)應(yīng)的所述信號(hào)線引線與所述短路線的連接點(diǎn)和對(duì)應(yīng)的所述信號(hào)線引線與所述信號(hào)線的連接點(diǎn)之間,每個(gè)所述開關(guān)均連接有控制線。

本發(fā)明實(shí)施例提供的技術(shù)方案帶來的有益效果是:

本發(fā)明通過在信號(hào)線引線上設(shè)置開關(guān),在進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試的時(shí)候,導(dǎo)通開關(guān)使得信號(hào)線引線導(dǎo)通,從而進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試,在點(diǎn)燈測(cè)試完,斷開開關(guān),由于開關(guān)外側(cè)(靠近面板邊緣)的部分(部分信號(hào)線引線和短路線)處于斷路狀態(tài),各信號(hào)線引線連接的信號(hào)線處于相互獨(dú)立的狀態(tài),所以開關(guān)外側(cè)(靠近面板邊緣)的部分不會(huì)對(duì)后續(xù)制作工序以及最終液晶顯示面板的正常工作造成任何影響,所以在后續(xù)工序中,不需要對(duì)短路線進(jìn)行切割,省去了切割工序,杜絕了切割工序所造成的不良,同時(shí)大大的降低了的面板的生產(chǎn)成本。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種點(diǎn)燈測(cè)試電路的電路圖;

圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種點(diǎn)燈測(cè)試電路的電路圖;

圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種薄膜晶體管開關(guān)的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖4是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種陣列基板制作方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明實(shí)施方式作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。

圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種點(diǎn)燈測(cè)試電路的電路圖,參見圖1,點(diǎn)燈測(cè)試電路包括多根平行布置的信號(hào)線引線11、至少兩根短路線12以及與信號(hào)線引線11一一對(duì)應(yīng)設(shè)置的多個(gè)開關(guān)13;每根信號(hào)線引線11的一端適用于連接信號(hào)線14,每根信號(hào)線引線11的另一端連接至少兩根短路線12中的一根,每根短路線12與至少兩根信號(hào)線引線11連接;每個(gè)開關(guān)13設(shè)置在對(duì)應(yīng)的信號(hào)線引線11與短路線12的連接點(diǎn)和對(duì)應(yīng)的信號(hào)線引線11與信號(hào)線14的連接點(diǎn)之間,每個(gè)開關(guān)13均連接有控制線15。控制線15用于在進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試時(shí)輸出控制信號(hào)至連接的開關(guān),使開關(guān)閉合。

本發(fā)明通過在信號(hào)線引線11上設(shè)置開關(guān)13,在進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試的時(shí)候,導(dǎo)通開關(guān)13使得信號(hào)線引線11導(dǎo)通,從而進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試,在點(diǎn)燈測(cè)試完,斷開開關(guān)13,由于開關(guān)13外側(cè)(靠近面板邊緣)的部分(部分信號(hào)線引線11和短路線12)處于斷路狀態(tài),各信號(hào)線引線11連接的信號(hào)線處于相互獨(dú)立的狀態(tài),所以開關(guān)13外側(cè)(靠近面板邊緣)的部分不會(huì)對(duì)后續(xù)制作工序以及最終液晶顯示面板的正常工作造成任何影響,所以在后續(xù)工序中,不需要對(duì)短路線12進(jìn)行切割,省去了切割工序,杜絕了切割工序所造成的不良,同時(shí)大大的降低了的面板的生產(chǎn)成本。

例如,在點(diǎn)燈測(cè)試完成后,需要對(duì)液晶顯示面板進(jìn)行邦定(bonding),bonding是指在顯示器的生產(chǎn)過程中,將液晶顯示面板(英文panel)和柔性電路板(英文flexibleprintedcircuit,簡(jiǎn)稱fpc),或fpc和印刷電路板(英文printedcircuitboard,簡(jiǎn)稱pcb)通過各向異性導(dǎo)電膠(英文anisotropicconductivefilm,簡(jiǎn)稱acf)按照一定的工作流程組合到一起并導(dǎo)通的過程。在進(jìn)行bonding時(shí),開關(guān)13外側(cè)(靠近面板邊緣)的部分(部分信號(hào)線引線11和短路線12)處于斷路狀態(tài),而bonding在開關(guān)13內(nèi)側(cè)(靠近面板中部)的信號(hào)線引線11上進(jìn)行,即通過開關(guān)13內(nèi)側(cè)的信號(hào)線引線11連接fpc,所以開關(guān)13外側(cè)(靠近面板邊緣)的部分沒有連接在電路內(nèi),在后續(xù)使用過程中,這部分不再起作用。

在本發(fā)明實(shí)施例中,每根短路線12選擇性地與至少兩根信號(hào)線引線11相連,為了保證短路線12能夠與對(duì)應(yīng)的信號(hào)線引線11連接,短路線12和信號(hào)線引線11設(shè)置在不同層,短路線12和信號(hào)線引線11通過層間過孔相連,實(shí)現(xiàn)電連接。

在本發(fā)明實(shí)施例中,信號(hào)線引線11可以為數(shù)據(jù)線引線,如圖1所示。在其他實(shí)施例中,信號(hào)線引線11也可以為柵線引線,這種情況中,液晶顯示面板的柵極驅(qū)動(dòng)方式采用傳統(tǒng)方式實(shí)現(xiàn),即柵極驅(qū)動(dòng)器直接通過柵極引線向柵線提供信號(hào)。

由于目前常見陣列基板多采用goa設(shè)計(jì),采用goa設(shè)計(jì)的陣列基板上設(shè)有多個(gè)級(jí)聯(lián)的goa單元,通過goa單元向柵線提供柵極信號(hào),所以在進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試時(shí),可以直接向goa單元的輸入端輸入測(cè)試信號(hào),而不需要再向柵極引線輸入測(cè)試信號(hào),由于goa單元的輸入端數(shù)量較少且各個(gè)輸入端輸入的信號(hào)不同,所以不需要設(shè)置短路線,所以本發(fā)明附圖均以數(shù)據(jù)線引線為例進(jìn)行說明。

在本發(fā)明實(shí)施例中,信號(hào)線引線11和信號(hào)線同層設(shè)計(jì),方便電路的設(shè)計(jì)和制作。

由于信號(hào)線引線11是與對(duì)應(yīng)的信號(hào)線同層設(shè)計(jì)的,例如數(shù)據(jù)線引線與數(shù)據(jù)線都同層。所以,當(dāng)信號(hào)線引線11為數(shù)據(jù)線引線時(shí),前述短路線12可以設(shè)置在陣列基板的柵極層,當(dāng)信號(hào)線引線11為柵線引線,前述短路線12可以設(shè)置在陣列基板的源漏極層。這樣設(shè)計(jì),既能實(shí)現(xiàn)信號(hào)線引線11和短路線12不同層設(shè)置,又能實(shí)現(xiàn)在制作柵極層圖案或者源漏極層圖案時(shí)制作該短路線12,不會(huì)增加現(xiàn)有制作工藝的制作工序,設(shè)計(jì)和制作簡(jiǎn)單。

由于短路線12設(shè)置在陣列基板的柵極層或源漏極層,因此短路線12的材料與柵極層或者源漏極層使用的材料相同。例如al、cu、mo、ti、cr等金屬,也可以采用透明導(dǎo)電材料制成,例如可以是氧化銦錫(indiumtinoxide,ito)或氧化銦鋅(indiumzincoxide,izo)薄膜。

在本發(fā)明實(shí)施例中,多根信號(hào)線引線11是平行等間隔設(shè)置的,而為了保證短路線12能夠與需要連接的信號(hào)線引線連接,該短路線12與多根信號(hào)線引線11是交叉布置的。

進(jìn)一步地,為了方便短路線12的設(shè)計(jì)和走線,短路線12可以和信號(hào)線引線11相互垂直布置。

在本發(fā)明實(shí)施例中,每根短路線12的至少一端設(shè)置有焊盤100,如圖1所示,短路線12的兩端均設(shè)置有焊盤100,從而便于進(jìn)行探針檢測(cè)。在該實(shí)現(xiàn)方式中,通過在短路線12端部設(shè)置焊盤100能夠方便檢測(cè)探針向短路線12輸入測(cè)試信號(hào)。需要說明的是,圖1中短路線12并非直接與焊盤100連接,而是在短路線12的端部連接了一條引線120,通過設(shè)計(jì)引線12可以方便對(duì)焊盤100的位置進(jìn)行布置,使焊盤100能夠布置到合適的位置。由于引線區(qū)會(huì)設(shè)計(jì)至少兩根短路線,為了節(jié)省引線區(qū)的空間,避免顯示器邊框過大,短路線之間的間距通常設(shè)置得較小,如果直接將焊盤100設(shè)置在短路線的端部,一方面會(huì)造成焊盤間距過小,容易短路,另一方面,也無法實(shí)現(xiàn)面積較大的焊盤設(shè)計(jì),而通過連接引線120可以解決上面所提的問題。當(dāng)然,在其他實(shí)施例中,也可以直接將焊盤100連接在短路線12的端部,本申請(qǐng)對(duì)此不做限制。

其中,焊盤100可以為圓形焊盤或方形焊盤,這兩種形狀的焊盤便于設(shè)計(jì)和制作。當(dāng)然,在其他實(shí)施例中,焊盤還可以為規(guī)則或不規(guī)則形狀,本發(fā)明對(duì)此不做限制。

當(dāng)焊盤10為圓形焊盤或方形焊盤時(shí),圓形焊盤的直徑或方形焊盤的邊長(zhǎng)為200-400um,從而保證焊盤100的面積,方便檢測(cè)人員實(shí)現(xiàn)探針和焊盤100的對(duì)位;同時(shí)增加探針和焊盤100的接觸面積,減少燒傷、劃傷等不良。

進(jìn)一步地,至少兩根短路線12的位于多根信號(hào)線引線11的同一側(cè)的焊盤100并排間隔布置。如圖1所示,兩根短路線12的同一端設(shè)計(jì)的兩個(gè)焊盤時(shí)并排間隔布置的。將焊盤100并排間隔布置,方便檢測(cè)探針的至少兩個(gè)針同時(shí)與至少兩個(gè)焊盤100連接。

其中,焊盤并排布置時(shí),相鄰兩個(gè)焊盤的間距和檢測(cè)探針上相鄰兩個(gè)針的間距相同,從而實(shí)現(xiàn)針和焊盤的準(zhǔn)確對(duì)位。

如圖1所示,位于多根信號(hào)線引線11的同一側(cè)的至少兩個(gè)焊盤100的連線方向可以和短路線12的長(zhǎng)度方向平行,在該實(shí)現(xiàn)方式中,引線120和信號(hào)線引線11垂直設(shè)置,引線120設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單,既能達(dá)到避免焊盤位置過于緊密的效果,同時(shí),按這個(gè)方向布置能夠方便測(cè)試時(shí)檢測(cè)探針和焊盤的對(duì)位。當(dāng)然,在其他實(shí)施例中,位于多根信號(hào)線引線11的同一側(cè)的至少兩個(gè)焊盤100的連線方向也可以是其他方向,例如和信號(hào)線引線11的長(zhǎng)度方向平行,此時(shí)只需要直接將焊盤100連接在短路線12的端部,保證至少兩根短路線12的端部對(duì)齊,這時(shí)至少兩個(gè)焊盤100的連線方向就與信號(hào)線引線11的長(zhǎng)度方向平行。

可選地,該點(diǎn)燈測(cè)試電路還可以包括虛設(shè)焊盤200,虛設(shè)焊盤200與至少兩根短路線12的位于多根信號(hào)線引線11的同一側(cè)的焊盤100并排間隔布置。通常,測(cè)試時(shí)需要使用針數(shù)與短路線12數(shù)量相等的檢測(cè)探針進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試;通過設(shè)置虛設(shè)焊盤200,使得并排間隔設(shè)置的焊盤數(shù)量增多,使得針數(shù)較多的檢測(cè)探針能夠用于檢測(cè)短路線12較少的測(cè)試電路。

如圖1所示,點(diǎn)燈測(cè)試電路包括兩個(gè)并排設(shè)置的焊盤100,如果不設(shè)置虛設(shè)焊盤,測(cè)試時(shí),通常采用具有2個(gè)針的檢測(cè)探針來加載信號(hào),當(dāng)設(shè)置2個(gè)虛設(shè)焊盤后,測(cè)試時(shí),既可以采用具有3個(gè)針的檢測(cè)探針來加載信號(hào),也可以采用具有4個(gè)針的檢測(cè)探針來加載信號(hào),提高了該點(diǎn)燈測(cè)試電路對(duì)檢測(cè)探針的兼容性。

在本發(fā)明實(shí)施例中,由于在點(diǎn)燈測(cè)試時(shí),要保證同時(shí)測(cè)試的信號(hào)線引線對(duì)應(yīng)的開關(guān)13一起通斷,所以同時(shí)測(cè)試的信號(hào)線引線對(duì)應(yīng)的開關(guān)13需要同步進(jìn)行控制,也就是說同時(shí)測(cè)試的信號(hào)線引線對(duì)應(yīng)的開關(guān)13可以通過一根控制線15來進(jìn)行控制。

進(jìn)一步地,為了方便控制時(shí)序設(shè)計(jì)和控制線的布置,點(diǎn)燈測(cè)試電路中的所有開關(guān)13可以采用相同的時(shí)序控制,即可以采用一根控制線15來進(jìn)行控制,從而降低點(diǎn)燈測(cè)試電路的復(fù)雜度。如圖1所示,各個(gè)開關(guān)13的柵極與同一根控制線15電連接,通過一根控制線15同時(shí)與所有開關(guān)13連接,從而實(shí)現(xiàn)一根控制線15同時(shí)控制所有開關(guān)13的導(dǎo)通或斷開。

當(dāng)然,在其他實(shí)施例中,控制線15的數(shù)量也可以設(shè)計(jì)得更多,本發(fā)明對(duì)此不做限制。

在本發(fā)明實(shí)施例中,控制線15可以布置在陣列基板的柵極層,由于控制線15設(shè)置在陣列基板的柵極層,因此控制線15的材料與柵極層使用的材料相同。例如al、cu、mo、ti、cr等金屬,也可以采用透明導(dǎo)電材料制成,例如可以是ito或izo薄膜。

在本發(fā)明實(shí)施例中,控制線15可以與短路線12平行布置。

進(jìn)一步地,控制線15的一端設(shè)置有焊盤100,方便向控制線15輸入控制信號(hào)。其中,控制線15可以通過引線連接焊盤100。

更進(jìn)一步地,控制線15的焊盤100可以和短路線12的焊盤100并排布置,這樣測(cè)試時(shí),可以由測(cè)試探針通過控制線15的焊盤向所有的開關(guān)13加載驅(qū)動(dòng)信號(hào),避免需要對(duì)控制線15進(jìn)行單獨(dú)控制,降低了點(diǎn)燈測(cè)試的復(fù)雜程度。

值得說明的時(shí),本發(fā)明實(shí)施例提供的點(diǎn)燈測(cè)試電路還可以用于fullcontact點(diǎn)燈測(cè)試,在用于fullcontact點(diǎn)燈測(cè)試時(shí),所有開關(guān)斷開,直接向開關(guān)和信號(hào)線之間的信號(hào)線引線加載測(cè)試信號(hào),實(shí)現(xiàn)點(diǎn)燈測(cè)試。

圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種點(diǎn)燈測(cè)試電路的電路圖,圖2提供的點(diǎn)燈測(cè)試電路中,除了示出了數(shù)據(jù)線引線(信號(hào)線引線11)部分外,還示出了陣列基板柵極驅(qū)動(dòng)goa引線17,參見圖2,該點(diǎn)燈測(cè)試電路還包括多根陣列基板柵極驅(qū)動(dòng)goa驅(qū)動(dòng)線16,每根goa驅(qū)動(dòng)線16的一端適用于連接一根goa引線17,每根goa驅(qū)動(dòng)線16的另一端設(shè)置有外引腳貼合焊盤100,任意兩根goa驅(qū)動(dòng)線16連接的goa引線17不同;goa引線17用于為goa單元提供外部輸入信號(hào)(如時(shí)鐘信號(hào)clk、電源電壓vdd、接地電壓vss等)。如前所示,目前常見陣列基板多采用goa設(shè)計(jì),采用goa設(shè)計(jì)的陣列基板上設(shè)有多個(gè)級(jí)聯(lián)的goa單元,通過goa單元向柵線提供柵極信號(hào),所以在點(diǎn)燈測(cè)試時(shí),只需要直接對(duì)連接goa單元輸入端的goa引線17進(jìn)行測(cè)試即可。因此,點(diǎn)燈測(cè)試針對(duì)數(shù)據(jù)線和其兩側(cè)的goa引線17進(jìn)行,通過設(shè)置goa驅(qū)動(dòng)線16并設(shè)置焊盤100,方便檢測(cè)探針的接觸。

其中,goa驅(qū)動(dòng)線16的焊盤100除了用于進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試外,還用于進(jìn)行bonding時(shí),通過柔性電路板(flexibleprintedcircuit,fpc)與印制電路板(printedcircuitboard,pcb)連通。

其中,goa驅(qū)動(dòng)線16的焊盤100可以采用與信號(hào)線引線11上的焊盤100相同的方式布置,比如,焊盤100通過引線120連接goa驅(qū)動(dòng)線16、多個(gè)goa驅(qū)動(dòng)線16的焊盤100并排布置等,具體設(shè)計(jì)方式可以參見關(guān)于信號(hào)線引線11上的焊盤100的描述。

在本發(fā)明實(shí)施例中,goa引線17的一端連接goa驅(qū)動(dòng)線16,goa引線17的另一端連接goa走線18,通過goa走線18將信號(hào)傳輸?shù)絞oa單元。

在本發(fā)明實(shí)施例中,goa引線17與goa驅(qū)動(dòng)線16不同層設(shè)置,goa引線17與goa驅(qū)動(dòng)線16通過層間過孔連接,實(shí)現(xiàn)電連接。例如,goa引線17位于柵極層,goa驅(qū)動(dòng)線16可以設(shè)置在源漏極層。

在本發(fā)明實(shí)施例中,goa引線17包括位于數(shù)據(jù)線引線一側(cè)的goa引線和位于數(shù)據(jù)線引線另一側(cè)的goa引線17。這兩部分goa引線17被數(shù)據(jù)線引線完全隔開,所以相應(yīng)地goa驅(qū)動(dòng)線16也包括被數(shù)據(jù)線引線完全隔開的兩部分,圖2只示出了數(shù)據(jù)線引線一側(cè)的goa驅(qū)動(dòng)線16和goa引線17。

參見圖2,由于goa引線17和數(shù)據(jù)線引線之間的空間限制,goa驅(qū)動(dòng)線16不能像短路線12一樣可以選擇從雙側(cè)引出,而只能在goa引線17的一側(cè)引出,避免兩側(cè)引出占用太多的空間。具體地,對(duì)于數(shù)據(jù)線左側(cè)的goa引線17,其對(duì)應(yīng)的goa驅(qū)動(dòng)線16也從左側(cè)引出,對(duì)于數(shù)據(jù)線右側(cè)的goa引線17,其對(duì)應(yīng)的goa驅(qū)動(dòng)線16也從右側(cè)引出。

進(jìn)一步地,多根信號(hào)線引線11分為n組,相鄰的n根信號(hào)線引線11分別屬于n組信號(hào)線引線11,每組信號(hào)線引線11連接同一根短路線12,n為大于1的整數(shù)。按照這種方式分組,可以按照顯示面板實(shí)際工作時(shí)的數(shù)據(jù)信號(hào)進(jìn)行測(cè)試,例如實(shí)現(xiàn)顯示畫面的極性反轉(zhuǎn),或者向r(紅)g(綠)b(藍(lán))子像素分別輸入不同的子像素進(jìn)行測(cè)試。

如圖2所示,多根信號(hào)線引線11分為2組,任意相鄰的兩根信號(hào)線引線11屬于不同的組。

在本發(fā)明實(shí)施例中,n的取值可以為2、3或6,采用這些取值主要是為了滿足一些具體的測(cè)試需求。n的取值與短路線12的數(shù)量相同。當(dāng)采用2根短路線12設(shè)計(jì)時(shí),可以向相鄰兩列子像素輸入極性相反的數(shù)據(jù)信號(hào),以滿足顯示面板的列反轉(zhuǎn)、點(diǎn)反轉(zhuǎn)測(cè)試需求,為了便于理解,下面對(duì)極性反轉(zhuǎn)(列反轉(zhuǎn)、點(diǎn)反轉(zhuǎn))進(jìn)行簡(jiǎn)單說明:一方面,lcd中為了抑制閃爍,要求相鄰子像素?cái)?shù)據(jù)電壓保持極性相反,另一方面,lcd要求向各子像素提供交流的數(shù)據(jù)信號(hào),避免直流信號(hào)造成液晶分子在電極表面產(chǎn)生正、負(fù)電荷偏移,從而縮短其壽命;為了滿足上述兩個(gè)方面需求,lcd通過極性反轉(zhuǎn)的方式施加數(shù)據(jù)電壓,極性反轉(zhuǎn)包括多種方式,比如點(diǎn)反轉(zhuǎn)、列反轉(zhuǎn);采用3根短路線12設(shè)計(jì)時(shí),輸入的數(shù)據(jù)信號(hào)區(qū)分rgb,實(shí)現(xiàn)對(duì)不同顏色子像素的顯示測(cè)試;采用6根短路線12設(shè)計(jì)時(shí),輸入的數(shù)據(jù)信號(hào)區(qū)分rgb,同時(shí)滿足點(diǎn)反轉(zhuǎn)、列反轉(zhuǎn)需求。

在本發(fā)明實(shí)施例中,開關(guān)13具體可以為半導(dǎo)體開關(guān)。由于點(diǎn)燈測(cè)試電路是制作在陣列基板上的,所以采用半導(dǎo)體開關(guān)作為前述開關(guān)13,能夠方便點(diǎn)燈測(cè)試電路的制作。

進(jìn)一步地,該半導(dǎo)體開關(guān)為薄膜晶體管開關(guān),薄膜晶體管開關(guān)的柵極連接控制線15,薄膜晶體管開關(guān)的源極和漏極分別連接信號(hào)線引線11和信號(hào)線14,檢測(cè)探針通過控制線15向薄膜晶體管開關(guān)的柵極通入一定的電壓后,薄膜晶體管開關(guān)導(dǎo)通,從而使源極和漏極導(dǎo)通,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)信號(hào)線引線11和信號(hào)線14連通。

該薄膜晶體管開關(guān)與陣列基板中各個(gè)子像素內(nèi)的薄膜晶體管同步制作,也就是說,該薄膜晶體管開關(guān)與陣列基板中各個(gè)子像素內(nèi)的薄膜晶體管結(jié)構(gòu)相同,且相同的膜層位于陣列基板的同一層。

該薄膜晶體管開關(guān)既可以采用底柵型薄膜晶體管實(shí)現(xiàn),也可以采用頂柵型薄膜晶體管實(shí)現(xiàn),下面以底柵型薄膜晶體管為例,對(duì)薄膜晶體管開關(guān)的結(jié)構(gòu)進(jìn)行說明:

圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種薄膜晶體管開關(guān)的結(jié)構(gòu)示意圖,參見圖3,薄膜晶體管開關(guān)包括:依次設(shè)置在襯底基板31上的柵極32、柵極絕緣層33、有源層34和源漏極35。

在本發(fā)明實(shí)施例中,襯底基板31可以為透明襯底基板,例如玻璃襯底基板、硅襯底基板和塑料襯底基板等。柵極絕緣層33可以為氮化硅或氮氧化硅層。

在本發(fā)明實(shí)施例中,有源層34可以使用非晶硅、微晶硅或者多晶硅制成。例如,有源層34可以包括設(shè)置在柵極絕緣層33上的非晶硅層341和設(shè)置在非晶硅層341上的n型摻雜非晶硅層342。通過在非晶硅層上設(shè)置n型摻雜非晶硅層,可以避免非晶硅層與源漏極直接接觸,降低非晶硅層與源漏極之間的晶格失配。

進(jìn)一步地,該薄膜晶體管開關(guān)還可以包括設(shè)置在源漏極35上的鈍化層36,通過設(shè)置鈍化層36,可以對(duì)薄膜晶體管起保護(hù)作用。其中,鈍化層可以為氮化硅或氮氧化硅層。

其中,柵極32和源漏極35可以為金屬電極,例如al、cu、mo、ti、cr等金屬層。也可以采用透明導(dǎo)電材料制成,例如可以是ito或izo薄膜電極。

在本發(fā)明實(shí)施例中,薄膜晶體管開關(guān)可以選用與液晶顯示面板顯示區(qū)域中薄膜晶體管相同類型的薄膜晶體管,例如液晶顯示面板顯示區(qū)域中薄膜晶體管為底柵型薄膜晶體管,則該薄膜晶體管開關(guān)選用底柵型薄膜晶體管,這樣可以在制作顯示區(qū)域中薄膜晶體管時(shí)同步制作薄膜晶體管開關(guān),從而節(jié)省制作工藝不做,詳見制作方法部分。當(dāng)然,在其他實(shí)施例中,薄膜晶體管開關(guān)也可以選用與液晶顯示面板顯示區(qū)域中薄膜晶體管不同類型的薄膜晶體管,例如,液晶顯示面板顯示區(qū)域中薄膜晶體管為底柵型薄膜晶體管,該薄膜晶體管開關(guān)選用頂柵型薄膜晶體管,此時(shí)無法和顯示區(qū)域中薄膜晶體管同步制作。

本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種陣列基板,該陣列基板包括圖1或圖2所示出的點(diǎn)燈測(cè)試電路。

可選地,該陣列基板還可以包括設(shè)置在引線(lead)區(qū)的絕緣保護(hù)層,該絕緣保護(hù)層覆蓋在點(diǎn)燈測(cè)試電路的所有開關(guān)上方,該絕緣保護(hù)層用于避免在bonding時(shí)因按壓造成開關(guān)處短路(short)類不良。其中,引線區(qū)設(shè)置在外圍區(qū)域,用于設(shè)置信號(hào)線引線、點(diǎn)燈測(cè)試電路等。

其中,點(diǎn)燈測(cè)試電路的上方是指點(diǎn)燈測(cè)試電路中各條線、焊盤和開關(guān)遠(yuǎn)離陣列基板的襯底基板的一側(cè)。

本發(fā)明通過在信號(hào)線引線上設(shè)置開關(guān),在進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試的時(shí)候,導(dǎo)通開關(guān)使得信號(hào)線引線導(dǎo)通,從而進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試,在點(diǎn)燈測(cè)試完,斷開開關(guān),由于開關(guān)外側(cè)(靠近面板邊緣)的部分(部分信號(hào)線引線和短路線)處于斷路狀態(tài),各信號(hào)線引線連接的信號(hào)線處于相互獨(dú)立的狀態(tài),所以開關(guān)外側(cè)(靠近面板邊緣)的部分不會(huì)對(duì)后續(xù)制作工序以及最終液晶顯示面板的正常工作造成任何影響,所以在后續(xù)工序中,不需要對(duì)短路線進(jìn)行切割,省去了切割工序,杜絕了切割工序所造成的不良,同時(shí)大大的降低了的面板的生產(chǎn)成本。

本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種顯示裝置,該顯示裝置包括前述陣列基板。

在具體實(shí)施時(shí),本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示裝置可以為手機(jī)、平板電腦、電視機(jī)、顯示器、筆記本電腦、數(shù)碼相框、導(dǎo)航儀等任何具有顯示功能的產(chǎn)品或部件。

本發(fā)明通過在信號(hào)線引線上設(shè)置開關(guān),在進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試的時(shí)候,導(dǎo)通開關(guān)使得信號(hào)線引線導(dǎo)通,從而進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試,在點(diǎn)燈測(cè)試完,斷開開關(guān),由于開關(guān)外側(cè)(靠近面板邊緣)的部分(部分信號(hào)線引線和短路線)處于斷路狀態(tài),各信號(hào)線引線連接的信號(hào)線處于相互獨(dú)立的狀態(tài),所以開關(guān)外側(cè)(靠近面板邊緣)的部分不會(huì)對(duì)后續(xù)制作工序以及最終液晶顯示面板的正常工作造成任何影響,所以在后續(xù)工序中,不需要對(duì)短路線進(jìn)行切割,省去了切割工序,杜絕了切割工序所造成的不良,同時(shí)大大的降低了的面板的生產(chǎn)成本。

圖4是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種陣列基板制作方法的流程圖,參見圖4,該方法包括:

步驟301:提供一襯底基板。

其中,襯底基板可以為透明襯底基板,例如玻璃襯底基板、硅襯底基板和塑料襯底基板等。

步驟302:在基板上制作多根平行布置的信號(hào)線引線、至少兩根短路線以及與信號(hào)線引線一一對(duì)應(yīng)設(shè)置的多個(gè)開關(guān);每根信號(hào)線引線的一端適用于連接信號(hào)線,每根信號(hào)線引線的另一端連接至少兩根短路線中的一根,每根短路線與至少兩根信號(hào)線引線連接;每個(gè)開關(guān)設(shè)置在對(duì)應(yīng)的信號(hào)線引線與短路線的連接點(diǎn)和對(duì)應(yīng)的信號(hào)線引線與信號(hào)線的連接點(diǎn)之間,每個(gè)開關(guān)均連接有控制線。

在本發(fā)明實(shí)施例中,每根短路線選擇性地與至少兩根信號(hào)線引線相連,為了保證短路線能夠與對(duì)應(yīng)的信號(hào)線引線連接,短路線和信號(hào)線引線設(shè)置在不同層,短路線和信號(hào)線引線通過層間過孔相連,實(shí)現(xiàn)電連接。

在本發(fā)明實(shí)施例中,信號(hào)線引線既可以為數(shù)據(jù)線引線,也可以為柵線引線。當(dāng)信號(hào)線引線為數(shù)據(jù)線引線時(shí),前述短路線在制作陣列基板的柵極層圖形(柵極、柵線等)時(shí)制作,當(dāng)信號(hào)線引線為柵線引線,前述短路線在制作陣列基板的源漏極層圖形(源漏極、數(shù)據(jù)線等)時(shí)制作。這樣,既能實(shí)現(xiàn)信號(hào)線引線和短路線不同層設(shè)置,又能實(shí)現(xiàn)在制作柵極層圖案或者源漏極層圖案時(shí)制作該短路線,不會(huì)增加現(xiàn)有制作工藝的制作工序,設(shè)計(jì)和制作簡(jiǎn)單。

關(guān)于短路線的其他內(nèi)容,可以參見前文關(guān)于圖1的描述,這里不再重復(fù)。

在本發(fā)明實(shí)施例中,各個(gè)開關(guān)與同一根控制線電連接。通過控制線同時(shí)與所有開關(guān)連接,從而能夠同時(shí)控制所有開關(guān)導(dǎo)通或斷開。

在本發(fā)明實(shí)施例中,控制線可以布置在陣列基板的柵極層,在制作陣列基板的柵極層圖形(柵極、柵線等)時(shí)制作。

關(guān)于控制線的其他內(nèi)容,可以參見前文關(guān)于圖1的描述,這里不再重復(fù)。

在本發(fā)明實(shí)施例中,開關(guān)具體可以為半導(dǎo)體開關(guān)。由于點(diǎn)燈測(cè)試電路是制作在陣列基板上的,所以采用半導(dǎo)體開關(guān)作為前述開關(guān),能夠方便點(diǎn)燈測(cè)試電路的制作。

在本發(fā)明實(shí)施例中,該半導(dǎo)體開關(guān)為薄膜晶體管開關(guān),該薄膜晶體管開關(guān)與陣列基板中各個(gè)子像素內(nèi)的薄膜晶體管同步制作,也就是說,該薄膜晶體管開關(guān)與陣列基板中各個(gè)子像素內(nèi)的薄膜晶體管結(jié)構(gòu)相同,且相同的膜層位于陣列基板的同一層。

該薄膜晶體管開關(guān)既可以采用底柵型薄膜晶體管實(shí)現(xiàn),也可以采用頂柵型薄膜晶體管實(shí)現(xiàn),下面以底柵型薄膜晶體管為例,對(duì)薄膜晶體管開關(guān)的制作過程進(jìn)行說明:

在襯底基板上依次制作柵極、柵極絕緣層、有源層和源漏極。

關(guān)于薄膜晶體管開關(guān)的其他內(nèi)容,可以參見前文關(guān)于圖3的描述,這里不再重復(fù)。

下面以信號(hào)線引線為數(shù)據(jù)線引線為例對(duì)步驟302的詳細(xì)過程進(jìn)行舉例說明:

在襯底基板上制作柵極層圖形,柵極層圖形包括顯示區(qū)域的柵線和薄膜晶體管的柵極,引線區(qū)的短路線、控制線、開關(guān)的柵極和焊盤(可以包括短路線的焊盤、goa驅(qū)動(dòng)線的焊盤、虛設(shè)焊盤等);然后依次制作柵極絕緣層和有源層,這里的柵極絕緣層既包括顯示區(qū)域的薄膜晶體管的柵極絕緣層,又包括引線區(qū)的開關(guān)的柵極絕緣層,這里的有源層既包括顯示區(qū)域的薄膜晶體管的有源層,又包括引線區(qū)的開關(guān)的有源層;在柵極絕緣層和有源層上制作連接短路線和數(shù)據(jù)線引線的過孔;在有源層上制作源漏極層圖形,源漏極層圖形包括顯示區(qū)域的薄膜晶體管的源漏極和數(shù)據(jù)線,引線區(qū)的數(shù)據(jù)線引線和開關(guān)的源漏極。

在上述制作過程中,電極以及信號(hào)線、引線、控制線等均可以通過先濺射后圖形化的方式制成,當(dāng)然也可以采用其他方式制成,本發(fā)明實(shí)施例對(duì)此不做限制。

可選地,該陣列基板制作方法還可以包括:在引線區(qū)制作絕緣保護(hù)層,該絕緣保護(hù)層覆蓋在點(diǎn)燈測(cè)試電路的所有開關(guān)上方,該絕緣保護(hù)層用于避免在bonding時(shí)因按壓造成開關(guān)處短路(short)類不良。其中,引線區(qū)設(shè)置在外圍區(qū)域,用于設(shè)置信號(hào)線引線、點(diǎn)燈測(cè)試電路等。

本發(fā)明通過在信號(hào)線引線上設(shè)置開關(guān),在進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試的時(shí)候,導(dǎo)通開關(guān)使得信號(hào)線引線導(dǎo)通,從而進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試,在點(diǎn)燈測(cè)試完,斷開開關(guān),由于開關(guān)外側(cè)(靠近面板邊緣)的部分(部分信號(hào)線引線和短路線)處于斷路狀態(tài),各信號(hào)線引線連接的信號(hào)線處于相互獨(dú)立的狀態(tài),所以開關(guān)外側(cè)(靠近面板邊緣)的部分不會(huì)對(duì)后續(xù)制作工序以及最終液晶顯示面板的正常工作造成任何影響,所以在后續(xù)工序中,不需要對(duì)短路線進(jìn)行切割,省去了切割工序,杜絕了切割工序所造成的不良,同時(shí)大大的降低了的面板的生產(chǎn)成本。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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