本申請(qǐng)涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種陣列基板、顯示面板及顯示設(shè)備。
背景技術(shù):
現(xiàn)有技術(shù)中,頂柵氧化物薄膜晶體管(thinfilmtransistor,tft)驅(qū)動(dòng)的碳納米管激發(fā)的有機(jī)發(fā)光晶體管(carbon-nanotubeenabledverticalorganiclighemittingtrasistor,cn-volet)的陣列(array)基板中,頂柵氧化物tft與cn-volet通常是單獨(dú)設(shè)置的,陣列基板結(jié)構(gòu)復(fù)雜。陣列基板制程中,每一次圖形化或刻蝕過孔都需要使用一張光罩(mask),如圖1所示,頂柵氧化物tft驅(qū)動(dòng)cn-volet的陣列基板制程包括如下步驟,其中,maskn代表陣列基板制程中使用的第n張mask,n為正整數(shù):s101、在基板上設(shè)置頂柵氧化物tft的氧化物半導(dǎo)體層,之后對(duì)氧化物半導(dǎo)體層圖形化(mask1),之后進(jìn)行退火(200-300℃)處理;s102、設(shè)置頂柵氧化物tft的柵極絕緣層和柵極金屬層,之后對(duì)柵極絕緣層和柵極金屬層圖形化(mask2);s103、對(duì)氧化物半導(dǎo)體層進(jìn)行導(dǎo)電化處理:對(duì)氧化物半導(dǎo)體歐姆接觸區(qū)域進(jìn)行導(dǎo)電化處理(he/ar等離子處理氧化物半導(dǎo)體層);s104、設(shè)置層間絕緣層(ild),之后在ild層刻蝕過孔(mask3);s105、設(shè)置金屬層,之后對(duì)金屬層圖形化(mask4),形成源極和漏極;s106、設(shè)置cn-volet的透明柵極層(通常為銦錫氧化物ito),對(duì)透明柵極層圖形化(mask5);s107、設(shè)置鈍化層,之后在鈍化層上刻蝕過孔(mask6);s108、表面層制作(mask7);s109、碳納米管(cnt)涂覆,之后對(duì)cnt層圖形化(mask8);s1010、擋墻(bank)層涂覆,之后對(duì)bank層圖形化(mask9)。上述過程需要使用9張mask。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種陣列基板、顯示面板及顯示設(shè)備,用以簡(jiǎn)化陣列基板的結(jié)構(gòu),從而簡(jiǎn)化陣列基板的制備流程,節(jié)省生產(chǎn)成本。
本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種陣列基板,包括襯底基板,所述襯底基板上設(shè)置有發(fā)光晶體管和用于控制該發(fā)光晶體管發(fā)光的開關(guān)晶體管,
所述開關(guān)晶體管包括位于所述襯底基板之上的半導(dǎo)體層、第一金屬層、第二金屬層和層間絕緣層;所述層間絕緣層位于所述第一金屬層和所述第二金屬層之間;其中,
所述半導(dǎo)體層包括所述開關(guān)晶體管的有源層、第一部分和第二部分,所述第一部分作為所述開關(guān)晶體管的源極或漏極,所述第二部作為所述發(fā)光晶體管的柵極;
在垂直于所述襯底基板的方向上,所述第一金屬層與所述有源層交疊;
所述層間絕緣層中包括過孔,所述第二金屬層通過所述過孔與所述第一部分相連;
所述發(fā)光晶體管包括柵極以及位于所述柵極之上的第一柵極絕緣層,所述層間絕緣層在垂直于所述襯底基板的方向上覆蓋所述第二部分,所述層間絕緣層復(fù)用為所述第一柵極絕緣層。
本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種顯示面板,包括本申請(qǐng)實(shí)施例提供的陣列基板。
本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種顯示設(shè)備,包括本申請(qǐng)實(shí)施例提供的顯示面板。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本申請(qǐng)至少具有如下突出的優(yōu)點(diǎn)之一:本申請(qǐng)實(shí)施例提供的陣列基板,所述開關(guān)晶體管的半導(dǎo)體層的第二部分作為發(fā)光晶體管的柵極,所述開關(guān)晶體管的層間絕緣層延伸至所述發(fā)光晶體管區(qū)域作為所述開關(guān)晶體管的柵極絕緣層,即開關(guān)晶體管的半導(dǎo)體層的第二部分復(fù)用為發(fā)光晶體管的柵極,開關(guān)晶體管的層間絕緣層復(fù)用為所述發(fā)光晶體管的柵極絕緣層,從而無需再設(shè)置開關(guān)晶體管與發(fā)光晶體管電連接的電極,發(fā)光晶體管無需再設(shè)置其柵極絕緣層,從而可以簡(jiǎn)化陣列基板的結(jié)構(gòu),簡(jiǎn)化陣列基板制備的工藝流程,從而降低陣列基板的生產(chǎn)成本。
附圖說明
為了更清楚地說明本申請(qǐng)實(shí)施例中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)要介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本申請(qǐng)的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1為現(xiàn)有技術(shù)中制備頂柵氧化物tft驅(qū)動(dòng)cn-volet的陣列基板的流程示意圖;
圖2為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的采用開關(guān)晶體管和發(fā)光晶體管cn-volet的具體驅(qū)動(dòng)方式的電路示意圖;
圖3為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種陣列基板的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的另一種陣列基板的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖5為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的陣列基板中發(fā)光晶體管的有源層的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖6為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種陣列基板制備流程示意圖;
圖7為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的另一種陣列基板制備流程示意圖。
具體實(shí)施方式
本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種陣列基板、顯示面板及顯示設(shè)備,用以簡(jiǎn)化陣列基板的結(jié)構(gòu),從而簡(jiǎn)化陣列基板的制備流程,節(jié)省生產(chǎn)成本。
首先,對(duì)采用開關(guān)晶體管t1和發(fā)光晶體管cn-volet的具體驅(qū)動(dòng)方式進(jìn)行說明,如圖2所示,cn-volet的柵極與t1的源極或漏極相連,第n行掃描信號(hào)(vscan)為高電平,將t1打開,數(shù)據(jù)信號(hào)(vdata)通過t1寫入到cn-volet的柵極中,將發(fā)光晶體管cn-volet打開,使得電流流入發(fā)光晶體管cn-volet,發(fā)光晶體管cn-volet發(fā)光。然后將vscan改為低電平,將t1關(guān)閉,數(shù)據(jù)信號(hào)(vdata)儲(chǔ)存在cn-volet的柵極和源極構(gòu)成的電容中。然后,第n+1行的vscan為高電平,開始下一行的cn-volet的信號(hào)寫入和發(fā)光。所有行的信號(hào)都寫入完成后,顯示屏顯示出一幀圖像;然后開始重新從第1行開始,重復(fù)上述步驟,顯示下一幀圖像。
本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種陣列基板,包括襯底基板,所述襯底基板上設(shè)置有發(fā)光晶體管和用于控制該發(fā)光晶體管發(fā)光的開關(guān)晶體管,所述開關(guān)晶體管包括位于所述襯底基板之上的半導(dǎo)體層、第一金屬層、第二金屬層和層間絕緣層;所述層間絕緣層位于所述第一金屬層和所述第二金屬層之間;其中,所述半導(dǎo)體層包括所述開關(guān)晶體管的有源層、第一部分和第二部分,所述第一部分作為所述開關(guān)晶體管的源極或漏極,所述第二部作為所述發(fā)光晶體管的柵極;在垂直于所述襯底基板的方向上,所述第一金屬層與所述有源層交疊;所述層間絕緣層中包括過孔,所述第二金屬層通過所述過孔與所述第一部分相連;所述發(fā)光晶體管包括柵極以及位于所述柵極之上的第一柵極絕緣層,所述層間絕緣層在垂直于所述襯底基板的方向上覆蓋所述第二部分,所述層間絕緣層復(fù)用為所述第一柵極絕緣層。
本申請(qǐng)實(shí)施例提供的陣列基板,由于所述第一部分與第二金屬層電連接作為源極或漏極,所述第二部分作為發(fā)光晶體管的柵極,因此在一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中,在陣列基板制程中可以對(duì)半導(dǎo)體層的第一部分以及第二部分進(jìn)行導(dǎo)電化處理,從而使得所述半導(dǎo)體層的第一部分和第二部分導(dǎo)電性更好。在一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中,例如,對(duì)半導(dǎo)體層第一部分和第二部分導(dǎo)電化處理后,第一部分和第二部分的方塊電阻小于20000歐姆/口。
在一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中,所述半導(dǎo)體層為透明的氧化物半導(dǎo)體層。本申請(qǐng)實(shí)施例提供的陣列基板,半導(dǎo)體層為透明的氧化物半導(dǎo)體層,這樣,可以使得在對(duì)氧化物半導(dǎo)體層進(jìn)行導(dǎo)電化處理后,使得氧化物半導(dǎo)體層導(dǎo)電性良好的同時(shí)還不影響顯示效果,從而可以使得發(fā)光晶體管產(chǎn)生的光在顯示區(qū)可以很好地透過柵極。
下面以半導(dǎo)體層為氧化物半導(dǎo)體層為例,對(duì)本申請(qǐng)實(shí)施例提供的陣列基板結(jié)構(gòu)進(jìn)行舉例說明。
如圖3所示,本申請(qǐng)實(shí)施例提供的陣列基板包括:
襯底基板1、位于襯底基板1之上的發(fā)光晶體管和用于控制該發(fā)光晶體管發(fā)光的開關(guān)晶體管;
所述發(fā)光晶體管包括柵極以及位于所述柵極之上的第一柵極絕緣層;所述開關(guān)晶體管包括位于所述襯底基板1之上的氧化物半導(dǎo)體層2、第一金屬層3、第二金屬層4、層間絕緣層5和第二柵極絕緣層9;其中,所述氧化物半導(dǎo)體層2包括所述開關(guān)晶體管的有源層6、第一部分7和第二部分8,所述第一部分7作為所述開關(guān)晶體管的源極或漏極,所述第二部分8作為所述發(fā)光晶體管的柵極,第二柵極絕緣層9位于所述有源層6之上,第一金屬層3位于第二柵極絕緣層9之上,層間絕緣層5中包括過孔21,層間絕緣層5位于第一金屬層3和第二金屬層4之間,使得第一金屬層3和第二金屬層4絕緣;第二金屬層4通過設(shè)置在所述層間絕緣層上的過孔21與第一部分7相連;開關(guān)晶體管的層間絕緣層5向發(fā)光晶體管所在區(qū)域延伸,并且在垂直于所述襯底基板1的方向上覆蓋第二部分8,層間絕緣層5的延伸部分復(fù)用為所述第一柵極絕緣層。
在一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中,所述發(fā)光晶體管,除了包括第二部分8和層間絕緣層5之外,還包括:表面層10、源極接觸層11、源極層12、遮光層13、有源層14以及陰極層15;其中,表面層10位于所述第二金屬層4和所述層間絕緣層5之上,源極接觸層11夾持設(shè)置于所述層間絕緣層5和所述表面層10之間,源極層12位于所述表面層10之上,并通過設(shè)置在表面層10中的過孔與源極接觸層11連接,遮光層13位于所述表面層10和所述發(fā)光晶體管的源極層12之上,并且設(shè)置于陣列基板的非顯示區(qū),有源層14位于所述發(fā)光晶體管的源極層12之上,陰極層15位于所述有源層14之上。
本申請(qǐng)實(shí)施例提供的如圖3所示的陣列基板,所述開關(guān)晶體管的半導(dǎo)體層的第二部分為發(fā)光晶體管的柵極,所述開關(guān)晶體管的層間絕緣層延伸至所述發(fā)光晶體管區(qū)域作為所述第一柵極絕緣層,即開關(guān)晶體管的半導(dǎo)體層的第二部分復(fù)用為發(fā)光晶體管的柵極,開關(guān)晶體管的層間絕緣層復(fù)用為所述第一柵極絕緣層,從而無需再設(shè)置開關(guān)晶體管與發(fā)光晶體管電連接的電極,發(fā)光晶體管無需再設(shè)置第一柵極絕緣層,開關(guān)晶體管便可以驅(qū)動(dòng)發(fā)光晶體管發(fā)光,從而可以簡(jiǎn)化陣列基板的結(jié)構(gòu),簡(jiǎn)化陣列基板制備的工藝流程,從而降低陣列基板的生產(chǎn)成本。此外,本申請(qǐng)實(shí)施例提供的如圖3所示的陣列基板需要在制程中對(duì)第一部分以及第二部分進(jìn)行導(dǎo)電化處理,從而所述半導(dǎo)體層的第一部分和第二部分導(dǎo)電性良好,第一部分和第二部分分別可以作為開關(guān)晶體管的源極或漏極以及發(fā)光晶體管的柵極。
在一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中,本申請(qǐng)實(shí)施例提供的陣列基板,在如圖3所示的陣列基板的基礎(chǔ)上,還包括鈍化層,具體結(jié)構(gòu)如圖4所示,本實(shí)施例提供的陣列基板包括:襯底基板1、位于襯底基板1之上的發(fā)光晶體管和用于控制該發(fā)光晶體管發(fā)光的開關(guān)晶體管。
所述發(fā)光晶體管包括柵極以及位于所述柵極之上的第一柵極絕緣層;所述開關(guān)晶體管包括位于所述襯底基板1之上的氧化物半導(dǎo)體層2、第一金屬層3、第二金屬層4、層間絕緣層5、第二柵極絕緣層9以及鈍化層16;其中,所述氧化物半導(dǎo)體層2包括所述開關(guān)晶體管的有源層6、第一部分7和第二部分8,所述第一部7分作為所述開關(guān)晶體管的源極或漏極,所述第二部分8作為所述發(fā)光晶體管的柵極,第二柵極絕緣層9位于所述有源層6之上,第一金屬層3位于第二柵極絕緣層9之上,層間絕緣層5中包括過孔21,層間絕緣層5位于第一金屬層3和第二金屬層4之間,使得第一金屬層3和第二金屬層4絕緣;第二金屬層4通過設(shè)置在所述層間絕緣層上的過孔21與第一部分7相連;開關(guān)晶體管的層間絕緣層5向發(fā)光晶體管所在區(qū)域延伸,并且在垂直于所述襯底基板1方向上覆蓋第二部分8;鈍化層16位于所述第二金屬層4和所述層間絕緣層5之上,并且在平行所述襯底基板方向上延伸,鈍化層16與層間絕緣層5的延伸部分復(fù)用為所述第一柵極絕緣層。
所述發(fā)光晶體管除了包括第二部分8、層間絕緣層5和鈍化層16之外,還包括:表面層10、源極接觸層11、源極層12、遮光層13、有源層14以及陰極層15;其中,表面層10位于所述鈍化層16之上,源極接觸層11夾持設(shè)置于層間絕緣層5和鈍化層16之間,源極層12位于表面層10之上,并通過設(shè)置在所述表面層10中的過孔以及鈍化層16中的過孔與源極接觸層11連接,遮光層13位于表面層10和發(fā)光晶體管的源極層12之上,并且位于陣列基板的非顯示區(qū),發(fā)光晶體管的有源層14位于所述發(fā)光晶體管的源極層12之上,陰極層15位于所述發(fā)光晶體管的有源層14之上。
本申請(qǐng)實(shí)施例提供的如圖4所示的陣列基板,所述開關(guān)晶體管的半導(dǎo)體層的第二部分為發(fā)光晶體管的柵極,所述開關(guān)晶體管的層間絕緣層和鈍化層延伸至所述發(fā)光晶體管區(qū)域作為所述第一柵極絕緣層,即開關(guān)晶體管的半導(dǎo)體層的第二部分復(fù)用為發(fā)光晶體管的柵極,開關(guān)晶體管的層間絕緣層加鈍化層復(fù)用為所述第一柵極絕緣層,從而開關(guān)晶體管無需再設(shè)置與發(fā)光晶體管電連接的電極,發(fā)光晶體管無需再設(shè)置第一柵極絕緣層,開關(guān)晶體管便可以驅(qū)動(dòng)發(fā)光晶體管發(fā)光,從而可以簡(jiǎn)化陣列基板的結(jié)構(gòu),簡(jiǎn)化陣列基板制備的工藝流程,從而降低陣列基板的生產(chǎn)成本。并且,在表面層和第二金屬電極層之間設(shè)置鈍化層,可以提高第二金屬層和表面層之間的絕緣效果。此外,本申請(qǐng)實(shí)施例提供的如圖4所示的陣列基板也需要在制程中對(duì)第一部分以及第二部分進(jìn)行導(dǎo)電化處理,從而所述半導(dǎo)體層的第一部分和第二部分導(dǎo)電性良好,第一部分和第二部分分別可以作為開關(guān)晶體管的源極或漏極以及發(fā)光晶體管的柵極。
在一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中,本申請(qǐng)實(shí)施例提供的陣列基板中,第一金屬層的材料包括鉬、鋁、鈦或鉬、鋁、鈦中的至少一種;所述第二金屬層的材料包括鉬、鋁、鈦或鉬、鋁、鈦中的至少一種。
在一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中,本申請(qǐng)實(shí)施例提供的陣列基板中,第二金屬層與源極接觸層材料相同且同層設(shè)置,從而可以進(jìn)一步簡(jiǎn)化陣列基板制程。
在一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中,本申請(qǐng)實(shí)施例提供的陣列基板中,所述第二柵極絕緣層、所述層間絕緣層包括氧化硅。所述第二柵極絕緣層和所述層間絕緣層可以采用相同的材料,也可以采用不同的材料。
在一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中,本申請(qǐng)實(shí)施例提供的陣列基板中,所述表面層包括苯并環(huán)丁烯(benzocyclobutene,bcb)。
在一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中,本申請(qǐng)實(shí)施例提供的陣列基板中,所述源極層包括cnt。
在一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中,本申請(qǐng)實(shí)施例提供的陣列基板中,所述遮光層可以為擋墻(bank)層,bank層的材料包括光敏聚酰亞胺樹脂。
在一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中,如圖5所示,本申請(qǐng)實(shí)施例提供的陣列基板中,發(fā)光晶體管的有源層14包括有機(jī)半導(dǎo)體層17、位于所述有機(jī)半導(dǎo)體層17之上的空穴傳輸層18、位于空穴傳輸層18之上的發(fā)光層19,以及位于所述發(fā)光層19之上的電子傳輸層20。
下面,以半導(dǎo)體層為氧化物半導(dǎo)體層、發(fā)光晶體管的源極層為cnt、遮光層為bank層為例,對(duì)本申請(qǐng)實(shí)施例提供的陣列基板制備工藝進(jìn)行說明,
如圖6所示,制備如圖3所示的陣列基板具體包括如下步驟:
s601、在襯底基板之上沉積氧化物半導(dǎo)體層,之后對(duì)氧化物半導(dǎo)體層圖形化(mask1);
s602、沉積第二柵極絕緣層、第一金屬層,之后對(duì)第二柵極絕緣層和第一金屬層圖形化(mask2);
s603、對(duì)氧化物半導(dǎo)體層第一部分和第二部分進(jìn)行導(dǎo)電化處理;例如可以采用he/ar等離子處理氧化物半導(dǎo)體層的第一部分和第二部分;
s604、沉積層間絕緣層,之后在層間絕緣層上刻蝕過孔(mask3);
s605、沉積第二金屬層,之后對(duì)第二金屬層圖形化(mask4);
s606、沉積表面層,之后刻蝕過孔(mask5);
s607、涂覆cnt,之后對(duì)cnt圖形化(mask6);
s608、涂覆bank層,之后對(duì)bank層圖形化(mask7)。
需要說明的是,每一次圖形化或刻蝕過孔都需要使用一張mask,maskn代表陣列基板制程中使用的第n張mask。本申請(qǐng)實(shí)施例提供的薄膜晶體管制備方法,在設(shè)置氧化物半導(dǎo)體層到設(shè)置發(fā)光晶體管的bank層的步驟中,只需要使用7張mask,與現(xiàn)有技術(shù)中設(shè)置半導(dǎo)體層到設(shè)置發(fā)光晶體管bank層的過程相比,可以節(jié)省兩張mask;并且,氧化物半導(dǎo)體層復(fù)用為發(fā)光晶體管的柵極層,開關(guān)晶體管的層間絕緣層復(fù)用為第一柵極絕緣層,與現(xiàn)有技術(shù)中的陣列基板制程相比,還可以簡(jiǎn)化陣列基板結(jié)構(gòu)。
如圖7所示,制備如圖4所示的陣列基板,具體包括如下步驟:
s701、在襯底基板之上沉積氧化物半導(dǎo)體層,之后對(duì)氧化物半導(dǎo)體層圖形化(mask1);
s702、沉積第二柵極絕緣層、第一金屬層,之后對(duì)第二柵極絕緣層和第一金屬層圖形化(mask2);
s703、對(duì)氧化物半導(dǎo)體層第一部分和第二部分進(jìn)行導(dǎo)電化處理;例如可以采用he/ar等離子處理氧化物半導(dǎo)體層的第一部分和第二部分;
s704、沉積層間絕緣層,之后在層間絕緣層上刻蝕過孔(mask3);
s705、沉積第二金屬層,之后對(duì)第二金屬層圖形化(mask4);
s706、沉積鈍化層,之后在鈍化層上刻蝕過孔(mask5);
s707、沉積表面層,之后刻蝕過孔(mask6);
s708、涂覆cnt,之后對(duì)cnt圖形化(mask7);
s709、涂覆bank層,之后對(duì)bank層圖形化(mask8)。
需要說明的是,每一次圖形化或刻蝕過孔都需要使用一張mask,maskn代表陣列基板制程中使用的第n張mask。本申請(qǐng)實(shí)施例提供的薄膜晶體管制備方法,設(shè)置氧化物半導(dǎo)體層到設(shè)置發(fā)光晶體管的bank層的步驟中,只需要使用8張mask,與現(xiàn)有技術(shù)中設(shè)置半導(dǎo)體層到設(shè)置發(fā)光晶體管bank層的過程相比,可以節(jié)省1張mask;并且,氧化物半導(dǎo)體層復(fù)用為發(fā)光晶體管的柵極層,開關(guān)晶體管的層間絕緣層和鈍化層復(fù)用為第一柵極絕緣層,與現(xiàn)有技術(shù)中的陣列基板制程相比,可以簡(jiǎn)化陣列基板結(jié)構(gòu)。
本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種顯示面板,包括本申請(qǐng)實(shí)施例提供的上述陣列基板。
例如,本申請(qǐng)實(shí)施例提供的顯示面板,可以是有機(jī)發(fā)光二極管(organiclight-emittingdiode,oled)顯示面板等。
本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種顯示設(shè)備,包括本申請(qǐng)實(shí)施例提供的顯示面板。
例如,本申請(qǐng)實(shí)施例中所述的顯示設(shè)備,可以是手機(jī)、電視、電腦等設(shè)備。
綜上所述,本申請(qǐng)實(shí)施例提供的陣列基板、顯示面板以及顯示設(shè)備,所述開關(guān)晶體管的半導(dǎo)體層的第二部分為發(fā)光晶體管的柵極,所述開關(guān)晶體管的層間絕緣層延伸至所述發(fā)光晶體管區(qū)域作為所述第一柵極絕緣層,即開關(guān)晶體管的半導(dǎo)體層的第二部分復(fù)用為發(fā)光晶體管的柵極,開關(guān)晶體管的層間絕緣層復(fù)用為所述第一柵極絕緣層,從而開關(guān)晶體管無需再設(shè)置與發(fā)光晶體管電連接的電極,發(fā)光晶體管無需再設(shè)置第一柵極絕緣層,從而可以簡(jiǎn)化陣列基板的結(jié)構(gòu),簡(jiǎn)化陣列基板制備的工藝流程,從而降低陣列基板的生產(chǎn)成本;本申請(qǐng)實(shí)施例提供的如圖3所示的陣列基板,其制作過程只需采用7張mask,本申請(qǐng)實(shí)施例提供的如圖4所示的陣列基板,其制作過程只需采用8張mask,與現(xiàn)有技術(shù)陣列基板制程相比分別減少2張、1張mask,降低陣列基板的生產(chǎn)成本。
顯然,本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本申請(qǐng)進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本申請(qǐng)的精神和范圍。這樣,倘若本申請(qǐng)的這些修改和變型屬于本申請(qǐng)權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi),則本申請(qǐng)也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。