技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供了一種膜邊距測量方法及測量裝置，涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，可測量保護(hù)膜層的膜邊到基板邊緣的距離，甄別出膜邊距過大的基板。其中所述方法包括：制備包括襯底基板、測試圖形和保護(hù)膜層的待測基板；測試圖形外邊緣與襯底基板的邊緣對齊，保護(hù)膜層與測試圖形存在重合，或者邊緣與測試圖形內(nèi)邊緣對齊；沿測試路徑用測試光線掃描待測基板，接收被反射的測試光線，獲取各點(diǎn)對應(yīng)的光譜，測試路徑經(jīng)測試圖形，一個端點(diǎn)位于測試圖形所在的基板邊上；保護(hù)膜層對測試光線的吸收程度高于測試圖形對測試光線的吸收程度；確定出現(xiàn)吸收峰的光譜對應(yīng)的點(diǎn)，該點(diǎn)到測試圖形所在的基板邊的垂直距離為膜邊距。上述測量方法用于甄別出膜邊距過大的基板。

技術(shù)研發(fā)人員：陳曦;袁劍峰;周賀
受保護(hù)的技術(shù)使用者：福州京東方光電科技有限公司;京東方科技集團(tuán)股份有限公司
文檔號碼：201611031891
技術(shù)研發(fā)日：2016.11.18
技術(shù)公布日：2017.05.31