專利名稱：修補(bǔ)方法以及主動元件陣列基板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明關(guān)于一種主動元件陣列基板，且特別關(guān)于一種主動元件陣列基板的修補(bǔ)方法。
背景技術(shù)：
針對多媒體社會的急速進(jìn)步，多半受惠于半導(dǎo)體元件或人機(jī)顯示裝置的飛躍性進(jìn)步。就顯示器而言，陰極射線管(Cathode Ray Tube,CRT)因具有優(yōu)異的顯示品質(zhì)與其經(jīng)濟(jì) 性，一直獨占近年來的顯示器市場。然而，對于個人在桌上操作多數(shù)終端機(jī)/顯示器裝置的 環(huán)境，或是以環(huán)保的觀點切入，若以節(jié)省能源的潮流加以預(yù)測陰極射線管因空間利用以及 能源消耗上仍存在很多問題，而對于輕、薄、短、小以及低消耗功率的需求無法有效提供解 決之道。因此，具有高畫質(zhì)、空間利用效率佳、低消耗功率、無輻射等優(yōu)越特性的薄膜晶體管 液晶顯示面板(TFT-IXD panel)已逐漸成為市場主流，其中又以高解析度的薄膜晶體管液 晶顯示面板備受關(guān)注。在高解析度的薄膜晶體管液晶顯示面板中，掃描線數(shù)量的增加已成為趨勢，但為 了顧及面板的開口率(aperture ratio)，在一般的高解析度的薄膜晶體管液晶顯示面板 中，并無用以修補(bǔ)掃描線斷線的修補(bǔ)線設(shè)計，因此當(dāng)掃描線發(fā)生斷線瑕疵(open defect) 時，面板多半需報廢，造成成本的大幅提高。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于在不影響開口率的情況下，對主動元件陣列基板進(jìn)行修補(bǔ)。為 此，本發(fā)明提供一種主動元件陣列基板的修補(bǔ)方法以及經(jīng)過修補(bǔ)后的主動元件陣列基板。本發(fā)明提供一種修補(bǔ)方法，其適于修補(bǔ)一主動元件陣列基板。主動元件陣列基板 包括一基板、多條掃描線、多條數(shù)據(jù)線、多個主動元件、多個像素電極以及多條共通線，至少 其中一條掃描線具有一斷線瑕疵(open defect)，掃描線與數(shù)據(jù)線彼此交錯以于基板上定 義出多個子像素區(qū)域，主動元件與其中一條掃描線以及其中一條數(shù)據(jù)線電連接，各個像素 電極位于其中一個子像素區(qū)域內(nèi)，并與其中一個主動元件電連接。此修補(bǔ)方法包括切除鄰 近于斷線瑕疵的其中一條共通線，以形成一與共通線電絕緣的切除區(qū)塊；以及令切除區(qū)塊 以及具有斷線瑕疵的掃描線與斷線瑕疵兩側(cè)的二主動元件焊接，以使切除區(qū)塊與具有斷線 瑕疵的掃描線電連接。在本發(fā)明的一實施例中，前述的主動元件具有一柵極、一源極以及一漏極，源極與 其中一條數(shù)據(jù)線電連接，漏極與其中一個像素電極電連接，而令切除區(qū)塊以及具有斷線瑕 疵的掃描線與斷線瑕疵兩側(cè)的二主動元件焊接的方法包括令切除區(qū)塊以及具有斷線瑕疵 的掃描線與斷線瑕疵兩側(cè)的二主動元件的二漏極焊接。在本發(fā)明的一實施例中，令切除區(qū)塊以及具有斷線瑕疵的掃描線與斷線瑕疵兩側(cè) 的二主動元件焊接的方法包括激光焊接(laser welding)。在本發(fā)明的一實施例中，切除鄰近于斷線瑕疵的其中一條共通線的方法包括激光切除工藝(laser cutting)。本發(fā)明提供一種主動元件陣列基板，其包括一基板、多條掃描線、多條數(shù)據(jù)線、多個主動元件、多個像素電極以及多條共通線。掃描線配置于基板上，且至少其中一條掃描線 具有一斷線瑕疵。數(shù)據(jù)線配置于基板上，掃描線與數(shù)據(jù)線彼此交錯以于基板上定義出多個 子像素區(qū)域。主動元件配置于基板上，并與其中一條掃描線以及其中一條數(shù)據(jù)線電連接。像 素電極配置于基板上，各個像素電極位于其中一個子像素區(qū)域內(nèi)，并分別與其中一個主動 元件電連接。共通線配置于基板上，至少其中一條共通線具有一鄰近于斷線瑕疵的切除區(qū) 塊，其中切除區(qū)塊以及具有斷線瑕疵的掃描線與斷線瑕疵兩側(cè)的二主動元件焊接，以使切 除區(qū)塊與具有斷線瑕疵的掃描線電連接。在本發(fā)明的一實施例中，前述的各個主動元件具有一柵極、一源極以及一漏極，源 極與其中一條數(shù)據(jù)線電連接，而漏極與其中一個像素電極電連接。在本發(fā)明的一實施例中，前述的切除區(qū)塊以及具有斷線瑕疵的掃描線與斷線瑕疵 兩側(cè)的二主動元件的二漏極焊接。在本發(fā)明的一實施例中，前述的各個漏極分別與其中一條共通線重疊。在本發(fā)明的一實施例中，前述的共通線位于像素電極下方?；谏鲜?，由于本發(fā)明將部分的共通線切除以作為修補(bǔ)線之用，因此本發(fā)明的修 補(bǔ)方法可以在不影響開口率的情況下，對主動元件陣列基板進(jìn)行修補(bǔ)。


圖1為本發(fā)明一實施例的主動元件陣列基板的示意圖。圖2為圖1的主動元件陣列基板經(jīng)過修補(bǔ)的后的示意圖。附圖標(biāo)號100、100，主動元件陣列基板110:基板120 掃描線130:數(shù)據(jù)線140 主動元件140G 柵極140S 源極140D 漏極15O:像素電極160 共通線D 斷線瑕疵C 切除區(qū)塊R 子像素區(qū)域C1、C2、C3、C4、C5、C6 切除線W1、W2、W3、W4 焊接點BR 橋接導(dǎo)體
具體實施例方式為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合所附附圖作詳細(xì)說明如下。圖1為本發(fā)明一實施例的主動元件陣列基板的示意圖，而圖2為圖1的主動元件 陣列基板經(jīng)過修補(bǔ)的后的示意圖。請同時參照圖1與圖2，本實施例的修補(bǔ)方法適于修補(bǔ)圖 1中的主動元件陣列基板100，以提升主動元件陣列基板100的制造成品率提升。如圖1所 示，主動元件陣列基板100包括一基板110、多條掃描線120、多條數(shù)據(jù)線130、多個主動元件 140、多個像素電極150以及多條共通線160，掃描線120與數(shù)據(jù)線130彼此交錯以于基板 110上定義出多個子像素區(qū)域R，主動元件140與其中一條掃描線120以及其中一條數(shù)據(jù)線 130電連接，各個像素電極150位于其中一個子像素區(qū)域R內(nèi)，并與其中一個主動元件140 電連接。此外，本實施例的共通線160例如是位于像素電極150下方，以與像素電極150耦 合形成儲存電容。在本實施例中，主動元件140具有一柵極140G、一源極140S以及一漏極140D，源 極140S與其中一條數(shù)據(jù)線130電連接，漏極140D與其中一個像素電極150電連接。由圖1與圖2可清楚得知，本實施例的主動元件陣列基板100中不具有額外的修 補(bǔ)線(impair line)，因此本實施例的主動元件陣列基板100具有高開口率。當(dāng)掃描線120因工藝控制不當(dāng)或是其他因素而產(chǎn)生斷線瑕疵D時，通過本實施例 的修補(bǔ)方法能夠在不影響開口率的情況下，有效地降低面板報廢的機(jī)率，進(jìn)而降低制造成 本。以下將結(jié)合圖2針對主動元件陣列基板100’的修補(bǔ)方法作進(jìn)一步的說明。請參照圖2，當(dāng)其中一條或多條掃描線120因工藝控制不當(dāng)或是其他因素而產(chǎn)生 斷線瑕疵D時，本實施例以斷線瑕疵D附近的其中一條共通線160作為修補(bǔ)線，以使具有斷 線瑕疵D的一條或多條掃描線120能夠恢復(fù)正常功能。舉例而言，本實施例可先切除鄰近 于斷線瑕疵D的共通線160，以形成一與共通線160電絕緣的切除區(qū)塊C，之后，通過焊接的 方式使切除區(qū)塊C與斷線瑕疵D兩側(cè)的二主動元件140電連接，并通過焊接的方式使具有 斷線瑕疵D的掃描線120與斷線瑕疵D兩側(cè)的二主動元件140電連接。在經(jīng)過上述的焊接 之后，切除區(qū)塊C會與具有斷線瑕疵D的掃描線120電連接。值得注意的是，在本發(fā)明的其 他實施例中，亦可先進(jìn)行焊接的動作，再進(jìn)行切除的動作，同樣可以達(dá)到相同的修補(bǔ)效果。由圖2可以清楚得知，為了形成與共通線160電絕緣的切除區(qū)塊C，本實施例沿著 切除線C1、C2、C3、C4進(jìn)行激光切除工藝，以使切除區(qū)塊C能夠與共通線160分離。詳言之， 沿著切除線Cl、C2進(jìn)行的激光切除工藝主要是用以將共通線160切斷。此外，由于共通線 160彼此的間是通過多個橋接導(dǎo)體BR電連接，故沿著切除線C3、C4進(jìn)行的激光切除工藝主 要是用以切斷部分的橋接導(dǎo)體BR。在沿著切除線C1、C2、C3、C4進(jìn)行完激光切除工藝的后， 切除區(qū)塊C便可以被當(dāng)作修補(bǔ)線來使用。為了使藉由掃描線120傳遞的信號不受到斷線瑕 疵D的影響，本實施例在焊接點Wl與W3處將切除區(qū)塊C與漏極140D焊接，在焊接點W2與 W4處將漏極140D與掃描線120焊接。如此一來，藉由信號便可通過切除區(qū)塊C以及具有斷 線瑕疵D的掃描線120來共同傳遞。舉例而言，前述的焊接例如是通過激光焊接的方式來 達(dá)成。值得注意的是，在其他可行的實施例中，沿著列方向延伸的共通線160可以在周 邊區(qū)域直接電連接，無須使用到橋接導(dǎo)體BR，此時，沿著切除線C3、C4進(jìn)行的激光切除工藝便可以省略。由于切除區(qū)塊C是通過二主動元件140的漏極140D與具有斷線瑕疵D的掃描線 120電連接，因此本實施例需進(jìn)一步沿著切除線C5、C6進(jìn)行激光切割工藝，以使斷線瑕疵D 兩側(cè)的二主動元件140 (即源極140S)與對應(yīng)的數(shù)據(jù)線130電絕緣。如此一來，數(shù)據(jù)線130 所傳遞的信號便不會被傳遞到具有斷線瑕疵D的掃描線120上。請參照圖2，經(jīng)過前述的修補(bǔ)方法修補(bǔ)之后的主動元件陣列基板100’包括一基板 110、多條掃描線120、多條數(shù)據(jù)線130、多個主動元件140、多個像素電極150以及多條共通 線160。掃描線120配置于基板110上，且至少其中一條掃描線120具有一斷線瑕疵D。數(shù) 據(jù)線130配置于基板110上，掃描線120與數(shù)據(jù)線130彼此交錯以于基板110上定義出多 個子像素區(qū)域R。主動元件140配置于基板110上，并與其中一條掃描線120以及其中一條 數(shù)據(jù)線130電連接。像素電極150配置于基板110上，各個像素電極150位于其中一個子 像素區(qū)域R內(nèi)，并與其中一個主動元件140電連接。共通線160配置于基板110上，至少其 中一條共通線160具有一鄰近于斷線瑕疵D的切除區(qū)塊C，其中切除區(qū)塊C以及具有斷線瑕 疵D的掃描線120與斷線瑕疵D兩側(cè)的二主動元件140焊接，以使切除區(qū)塊C與具有斷線 瑕疵D的掃描線120電連接。詳言之，切除區(qū)塊C與漏極140D是在焊接點Wl與W3處彼此 焊接，而漏極140D與掃描線120是在焊接點W2與W4處彼此焊接。
由圖2可知，為了方便焊接(焊接點Wl與焊接點W3)的進(jìn)行，各個漏極140D例如 分別與其中一條共通線160重疊。當(dāng)然，本發(fā)明不限定漏極140D必須與共通線160重疊， 本發(fā)明亦可以通過其他方式使漏極140D與共通線160電連接，如激光化學(xué)氣相沉積(laser CVD)等?；谏鲜?，由于本發(fā)明將部分的共通線切除以作為修補(bǔ)線之用，因此本發(fā)明的修 補(bǔ)方法可以在不影響開口率的情況下，對主動元件陣列基板進(jìn)行修補(bǔ)。雖然本發(fā)明已以實施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何所屬技術(shù)領(lǐng)域 中的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的更動與潤飾，故本發(fā)明的保 護(hù)范圍當(dāng)以權(quán)利要求所界定范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
一種修補(bǔ)方法，其特征在于，所述修補(bǔ)方法適于修補(bǔ)一主動元件陣列基板，所述主動元件陣列基板包括一基板、多條掃描線、多條數(shù)據(jù)線、多個主動元件、多個像素電極以及多條共通線，至少其中一條掃描線具有一斷線瑕疵，所述掃描線與所述數(shù)據(jù)線彼此交錯以于所述基板上定義出多個子像素區(qū)域，所述主動元件分別與其中一條掃描線以及其中一條數(shù)據(jù)線電連接，各像素電極位于其中一個子像素區(qū)域內(nèi)，并與其中一個主動元件電連接，而所述修補(bǔ)方法包括切除鄰近于所述斷線瑕疵的其中一條共通線，以形成一與所述共通線電絕緣的切除區(qū)塊；以及令所述切除區(qū)塊以及具有所述斷線瑕疵的所述掃描線與所述斷線瑕疵兩側(cè)的二主動元件焊接，以使所述切除區(qū)塊與具有所述斷線瑕疵的所述掃描線電連接。
2.如權(quán)利要求1所述的修補(bǔ)方法，其特征在于，所述主動元件分別具有一柵極、一源極 以及一漏極，所述源極與其中一條數(shù)據(jù)線電連接，所述漏極與其中一個像素電極電連接，而 令所述切除區(qū)塊以及具有所述斷線瑕疵的所述掃描線與所述斷線瑕疵兩側(cè)的二主動元件 焊接的方法包括令所述切除區(qū)塊以及具有所述斷線瑕疵的所述掃描線與所述斷線瑕疵兩 側(cè)的所述二主動元件的二漏極焊接。
3.如權(quán)利要求1所述的修補(bǔ)方法，其特征在于，令所述切除區(qū)塊以及具有所述斷線瑕 疵的所述掃描線與所述斷線瑕疵兩側(cè)的二主動元件焊接的方法包括激光焊接。
4.如權(quán)利要求1所述的修補(bǔ)方法，其特征在于，所述切除鄰近于所述斷線瑕疵的其中 一條共通線的方法包括激光切除工藝。
5.一種主動元件陣列基板，其特征在于，所述主動元件陣列基板包括一基板；多條掃描線，配置于所述基板上，其中至少其中一條掃描線具有一斷線瑕疵；多條數(shù)據(jù)線，配置于所述基板上，其中所述掃描線與所述數(shù)據(jù)線彼此交錯以于所述基 板上定義出多個子像素區(qū)域；多個主動元件，配置于所述基板上，并分別與其中一條掃描線以及其中一條數(shù)據(jù)線電 連接；多個像素電極，配置于所述基板上，其中各像素電極位于其中一個子像素區(qū)域內(nèi)，并分 別與其中一個主動元件電連接；以及多條共通線，配置于所述基板上，至少其中一條共通線具有一鄰近于所述斷線瑕疵的 切除區(qū)塊，其中所述切除區(qū)塊以及具有所述斷線瑕疵的所述掃描線與所述斷線瑕疵兩側(cè)的 二主動元件焊接，以使所述切除區(qū)塊與具有所述斷線瑕疵的所述掃描線電連接。
6.如權(quán)利要求5所述的主動元件陣列基板，其特征在于，各主動元件具有一柵極、一源 極以及一漏極，所述源極與其中一條數(shù)據(jù)線電連接，而所述漏極與其中一個像素電極電連 接。
7.如權(quán)利要求6所述的主動元件陣列基板，其特征在于，所述切除區(qū)塊以及具有所述 斷線瑕疵的所述掃描線與所述斷線瑕疵兩側(cè)的所述二主動元件的二漏極焊接。
8.如權(quán)利要求6所述的主動元件陣列基板，其特征在于，各漏極分別與其中一條共通線重疊。
9.如權(quán)利要求5所述的主動元件陣列基板，其特征在于，所述共通線位于所述像素電極下方.
全文摘要
本發(fā)明提供一種修補(bǔ)方法以及主動元件陣列基板。主動元件陣列基板包括基板、掃描線、數(shù)據(jù)線、主動元件、像素電極以及共通線，至少其中一掃描線具有一斷線瑕疵，掃描線與數(shù)據(jù)線彼此交錯以于基板上定義出子像素區(qū)域，主動元件與對應(yīng)的掃描線及數(shù)據(jù)線電連接，各像素電極位于其中一子像素區(qū)域內(nèi)，并分別與其中一主動元件電連接。所述修補(bǔ)方法包括切除鄰近于斷線瑕疵的其中一共通線，以形成一與共通線電絕緣的切除區(qū)塊；以及令切除區(qū)塊以及具有斷線瑕疵的掃描線與斷線瑕疵兩側(cè)的二主動元件焊接，以使切除區(qū)塊與具有斷線瑕疵的掃描線電連接。本發(fā)明的修補(bǔ)方法可以在不影響開口率的情況下，對主動元件陣列基板進(jìn)行修補(bǔ)。
文檔編號G02F1/13GK101813840SQ20101015655
公開日2010年8月25日 申請日期2010年4月7日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月7日
發(fā)明者蔡東璋 申請人:友達(dá)光電股份有限公司