本實(shí)用新型涉及顯示面板制造技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種探針單元及顯示面板的檢測(cè)裝置。

背景技術(shù)：

在顯示面板的制造過(guò)程中，通常需要對(duì)顯示面板進(jìn)行檢測(cè)，以及時(shí)發(fā)現(xiàn)顯示面板的各種不良問(wèn)題。用于檢測(cè)顯示面板的裝置主要包括探針單元(Probe Unit)，如圖1和圖2所示，探針單元100包括：基座1、PCB(Printed Circuit Board，印刷線路板)2、連接件3及至少一個(gè)探針塊4，其中，每個(gè)探針塊4包括：FPC(Flexible Printed Circuit，柔性電路板)41、信號(hào)處理部件42及若干探針43。檢測(cè)時(shí)，將探針單元100的探針塊4上的探針43與待測(cè)顯示面板的檢測(cè)信號(hào)端(由顯示面板內(nèi)部的柵線和數(shù)據(jù)線以特定方式所引出的信號(hào)端)相連，利用探針43向柵線和數(shù)據(jù)線施加檢測(cè)信號(hào)，點(diǎn)亮顯示面板，檢查顯示時(shí)是否存在Mura(姆拉)、暗線等不良。

根據(jù)探針單元點(diǎn)亮顯示面板的方式的不同，對(duì)顯示面板的檢測(cè)可大致分為全接觸式(Full Contact)和短路棒式(Shorting Bar)兩種。對(duì)于全接觸式檢測(cè)，所需要的探針單元具體為全接觸探針單元，其所包括的PCB和探針塊為適配的全接觸PCB和全接觸探針塊，全接觸探針塊所包括的信號(hào)處理部件具體為驅(qū)動(dòng)芯片，且其所包括的探針與待測(cè)顯示面板的柵線和數(shù)據(jù)線一一對(duì)應(yīng)。全接觸式檢測(cè)能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)待測(cè)顯示面板的每個(gè)像素獨(dú)自施加檢測(cè)信號(hào)，因此可以點(diǎn)亮顯示面板的任何畫面，對(duì)檢測(cè)Mura類不良有優(yōu)勢(shì)。但是，全接觸式檢測(cè)存在如下缺陷：只要有一根探針損壞就會(huì)給畫面造成一個(gè)亮線，因此這種檢測(cè)方式很容易出現(xiàn)探針缺失(Pin Miss)，影響人員檢測(cè)。

短路棒式檢測(cè)可分為普通短路棒式(Normal Shorting Bar)、開(kāi)關(guān)短路棒式(Switch Shorting Bar)和6D短路棒式(6D Shorting Bar)。其中，對(duì)于6D短路棒式檢測(cè)，所需要的探針單元具體為6D短路棒探針單元，其所包括的PCB和探針塊為適配的6D短路棒PCB和6D短路棒探針塊，6D短路棒探針塊所包括的信號(hào)處理部件具體為6D短路棒信號(hào)處理部件，且其所包括的探針類似全接觸式探針塊也與待測(cè)顯示面板的柵線和數(shù)據(jù)線一一對(duì)應(yīng)。進(jìn)行6D短路棒式檢測(cè)需要將待測(cè)顯示面板的數(shù)據(jù)線分組各自短接(例如將對(duì)應(yīng)R/G/B像素的數(shù)據(jù)線各自短接)，但是柵線不短接(以下稱這種待測(cè)顯示面板為6D短路棒式顯示面板)，探針向相短接數(shù)據(jù)線所施加的是相同的數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)，這樣即便用于施加數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)的探針有損壞，由于數(shù)據(jù)線短接，因此也能夠保證損壞的探針?biāo)鶎?duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線接收到數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)，從而減少探針缺失，降低亮線對(duì)人員檢測(cè)造成的影響。但是，6D短路棒式檢測(cè)存在如下缺陷：由于數(shù)據(jù)線短接，因此無(wú)法準(zhǔn)確得到不良坐標(biāo)。

對(duì)于6D短路棒式顯示面板，進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，通常會(huì)優(yōu)先采用6D短路棒式檢測(cè)，當(dāng)發(fā)現(xiàn)不良但是無(wú)法準(zhǔn)確得到不良坐標(biāo)時(shí)，還需要采用全接觸式檢測(cè)。但是，由6D短路棒探針單元切換至全接觸探針單元，需要大量的時(shí)間對(duì)設(shè)備進(jìn)行調(diào)試，嚴(yán)重降低檢測(cè)效率，進(jìn)而造成產(chǎn)能降低；并且，測(cè)試同一規(guī)格的6D短路棒式顯示面板需要配備6D短路棒和全接觸兩種探針單元，增加了生產(chǎn)成本；同時(shí)，由于需要維修的顯示面板相對(duì)于量產(chǎn)的顯示面板來(lái)說(shuō)是少數(shù)，因此全接觸探針單元的稼動(dòng)率不高。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型提供一種探針單元及顯示面板的檢測(cè)裝置，以解決6D短路棒式顯示面板的檢測(cè)工序中所存在檢測(cè)效率低、生產(chǎn)成本高、及全接觸探針單元的稼動(dòng)率低的問(wèn)題。

為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案：

本實(shí)用新型的第一方面提供了一種探針單元，所述探針單元包括：6D短路棒PCB；與所述6D短路棒PCB連接的6D短路棒信號(hào)處理部件；與所述6D短路棒信號(hào)處理部件連接的信號(hào)轉(zhuǎn)換部件；能夠與所述信號(hào)轉(zhuǎn)換部件可拆卸連接的全接觸探針塊；能夠與所述全接觸探針塊可拆卸連接的全接觸PCB；其中，所述6D短路棒PCB用于生成m個(gè)數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)，m為進(jìn)行6D短路棒式檢測(cè)所需的數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)的數(shù)量；所述信號(hào)轉(zhuǎn)換部件用于將m個(gè)所述數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)轉(zhuǎn)換n個(gè)所述數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)，n為所述全接觸探針塊的驅(qū)動(dòng)芯片所需要的檢測(cè)信號(hào)的數(shù)量。

當(dāng)采用本實(shí)用新型所提供的探針單元對(duì)6D短路棒式顯示面板進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，將6D短路棒PCB、6D短路棒信號(hào)處理部件、信號(hào)轉(zhuǎn)換部件和全接觸探針塊依次連接，6D短路棒PCB生成進(jìn)行6D短路棒式檢測(cè)所需的m個(gè)數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)，信號(hào)轉(zhuǎn)換部件將數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)的數(shù)量由m個(gè)轉(zhuǎn)換為全接觸探針塊的驅(qū)動(dòng)芯片所需要n個(gè)，使得6D短路棒PCB所生成的數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)數(shù)量適配于全接觸探針塊，從而全接觸探針塊向顯示面板中相短接的數(shù)據(jù)線輸入相同的數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)，實(shí)現(xiàn)了6D短路棒式檢測(cè)。

當(dāng)對(duì)該顯示面板進(jìn)行全接觸式檢測(cè)時(shí)，由于全接觸探針塊能夠與信號(hào)轉(zhuǎn)換部件和全接觸PCB可拆卸連接，因此僅需將全接觸探針塊從信號(hào)轉(zhuǎn)換部件上拆卸下來(lái)，然后將全接觸探針塊與全接觸PCB相連，即可實(shí)現(xiàn)全接觸式檢測(cè)。

可見(jiàn)，相比現(xiàn)有技術(shù)中切換檢測(cè)方式時(shí)需要對(duì)探針單元進(jìn)行整體替換的狀況，本實(shí)用新型利用同樣的全接觸探針塊，僅僅進(jìn)行簡(jiǎn)單的拆裝即可實(shí)現(xiàn)檢測(cè)方式的切換，因此也就無(wú)需花費(fèi)大量的時(shí)間對(duì)設(shè)備進(jìn)行調(diào)試，極大地提高了檢測(cè)效率，提高了產(chǎn)能。并且，本實(shí)用新型中的探針單元能夠?qū)崿F(xiàn)6D短路棒式和全接觸式兩種檢測(cè)，避免了測(cè)試同一規(guī)格的6D短路棒式顯示面板需要配備6D短路棒和全接觸兩種探針單元的問(wèn)題，有利于生產(chǎn)成本的降低，同時(shí)也避免了全接觸探針單元的稼動(dòng)率低的問(wèn)題。

本實(shí)用新型的第二方面提供了一種顯示面板的檢測(cè)裝置，所述顯示面板的檢測(cè)裝置包括如第一方面所述的探針單元。

本實(shí)用新型所提供的顯示面板的檢測(cè)裝置的有益效果與本實(shí)用新型所提供的探針單元的有益效果相同，此處不再贅述。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖。

圖1為現(xiàn)有技術(shù)中探針單元的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為現(xiàn)有技術(shù)中探針單元的探針塊的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例所提供的探針單元的分解結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為本實(shí)用新型實(shí)施例所提供的探針單元用于進(jìn)行6D短路棒式檢測(cè)時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5為本實(shí)用新型實(shí)施例所提供的探針單元用于進(jìn)行全接觸式檢測(cè)時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖。

附圖標(biāo)記說(shuō)明：

100-探針單元； 1-基座；

2-PCB； 2a-6D短路棒PCB；

2b-全接觸PCB； 3-連接件；

4-探針塊； 4b-全接觸探針塊；

41-FPC； 41a-6D短路棒FPC；

41b-全接觸FPC； 42-信號(hào)處理部件；

42a-6D短路棒信號(hào)處理部件； 42b-驅(qū)動(dòng)芯片；

43-探針； 5-信號(hào)轉(zhuǎn)換部件；

6-轉(zhuǎn)接板。

具體實(shí)施方式

為使本實(shí)用新型的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂，下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述。顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下所獲得的所有其它實(shí)施例，均屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。

如圖3所示，本實(shí)施例提供了一種探針單元，該探針單元包括：6D短路棒PCB 2a、6D短路棒信號(hào)處理部件42a、信號(hào)轉(zhuǎn)換部件5、全接觸探針塊4b和全接觸PCB 2b。其中，6D短路棒PCB 2a、6D短路棒信號(hào)處理部件42a和信號(hào)轉(zhuǎn)換部件5依次相連。全接觸探針塊4b能夠與信號(hào)轉(zhuǎn)換部件5可拆卸連接，全接觸探針塊4b也能夠與全接觸PCB 2b可拆卸連接。全接觸探針塊4b的具體包括：全接觸FPC 41b、驅(qū)動(dòng)芯片42b和若干探針43，全接觸FPC 41b能夠與信號(hào)轉(zhuǎn)換部件5和全接觸PCB 2b進(jìn)行可拆卸連接，驅(qū)動(dòng)芯片42b與全接觸FPC 41b連接，探針43與驅(qū)動(dòng)芯片42b連接。

在上述探針單元中，6D短路棒PCB 2a用于生成進(jìn)行6D短路棒式檢測(cè)所需的m個(gè)數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)。當(dāng)然6D短路棒PCB 2a還能夠生成進(jìn)行6D短路棒式檢測(cè)所需的柵檢測(cè)信號(hào)及其它輔助信號(hào)。

6D短路棒信號(hào)處理部件42a用于對(duì)6D短路棒PCB 2a所生成的數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)、柵檢測(cè)信號(hào)及其它輔助信號(hào)進(jìn)行相應(yīng)的數(shù)據(jù)處理操作。

信號(hào)轉(zhuǎn)換部件5用于將m個(gè)數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)的數(shù)量轉(zhuǎn)換為全接觸探針塊4b的驅(qū)動(dòng)芯片42b所需要n個(gè)數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)。由于6D短路棒PCB 2a所生成的m個(gè)數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)相同，因此經(jīng)信號(hào)轉(zhuǎn)換部件5轉(zhuǎn)換得到的n個(gè)數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)也相同。

全接觸探針塊4b中的全接觸FPC 41b用于傳輸轉(zhuǎn)換得到的n個(gè)數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)，當(dāng)然同時(shí)傳輸?shù)倪€包括柵檢測(cè)信號(hào)及其它輔助信號(hào)；驅(qū)動(dòng)芯片42b用于控制數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)、柵檢測(cè)信號(hào)及其它輔助信號(hào)的輸入；若干探針43與待測(cè)的6D短路棒式顯示面板的各柵線和各數(shù)據(jù)線一一對(duì)應(yīng)，用于向6D短路棒式顯示面板施加檢測(cè)信號(hào)，該檢測(cè)信號(hào)包括柵檢測(cè)信號(hào)、數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)及其它輔助信號(hào)。

全接觸PCB 2b用于生成進(jìn)行全接觸式檢測(cè)所需的數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)。當(dāng)然全接觸PCB 2b還能夠生成進(jìn)行全接觸式檢測(cè)所需的柵檢測(cè)信號(hào)及其它輔助信號(hào)。

當(dāng)采用上述探針單元對(duì)6D短路棒式顯示面板進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，首先進(jìn)行6D短路棒式檢測(cè)，具體過(guò)程為：如圖4所示，將6D短路棒PCB 2b、6D短路棒信號(hào)處理部件42a、信號(hào)轉(zhuǎn)換部件5和全接觸探針塊4b依次連接，6D短路棒PCB 2b生成進(jìn)行6D短路棒式檢測(cè)所需的m個(gè)數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)，信號(hào)轉(zhuǎn)換部件5將數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)的數(shù)量由m個(gè)轉(zhuǎn)換為全接觸探針塊4b的驅(qū)動(dòng)芯片42b所需要n個(gè)，使得6D短路棒PCB 2b所生成的數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)數(shù)量適配于全接觸探針塊4b，從而全接觸探針塊4b向顯示面板中相短接的數(shù)據(jù)線輸入相同的數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)，實(shí)現(xiàn)了6D短路棒式檢測(cè)。

當(dāng)發(fā)現(xiàn)不良但是無(wú)法準(zhǔn)確得到不良坐標(biāo)時(shí)，需要對(duì)6D短路棒式顯示面板進(jìn)行全接觸式檢測(cè)，具體過(guò)程為：如圖5所示，將全接觸探針塊4b從信號(hào)轉(zhuǎn)換部件5上拆卸下來(lái)，然后直接將全接觸探針塊4b與全接觸PCB 2b連接，全接觸PCB 2b生成進(jìn)行全接觸式檢測(cè)所需的柵檢測(cè)信號(hào)、數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)及其它輔助信號(hào)，全接觸探針塊4b將這些檢測(cè)信號(hào)施加于待測(cè)顯示面板上，實(shí)現(xiàn)全接觸式檢測(cè)。需要說(shuō)明的是，在進(jìn)行全接觸式檢測(cè)檢測(cè)前，需要首先對(duì)6D短路棒式顯示面板上用于短接數(shù)據(jù)線的電路進(jìn)行切除，以便于后續(xù)在進(jìn)行全接觸式檢測(cè)的過(guò)程中，可向不同的數(shù)據(jù)線施加不同的數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)。

由上述探針單元的結(jié)構(gòu)及應(yīng)用過(guò)程不難發(fā)現(xiàn)，相比現(xiàn)有技術(shù)中切換檢測(cè)方式時(shí)需要對(duì)探針單元進(jìn)行整體替換的狀況，本實(shí)施例中的探針單元在進(jìn)行6D短路棒式檢測(cè)和全接觸式檢測(cè)時(shí)共用相同的全接觸探針塊4b，僅僅進(jìn)行全接觸探針塊4b與其它部件簡(jiǎn)單的拆裝即可實(shí)現(xiàn)檢測(cè)方式的切換，因此也就無(wú)需花費(fèi)大量的時(shí)間對(duì)設(shè)備進(jìn)行調(diào)試，極大地提高了檢測(cè)效率，提高了產(chǎn)能。

并且，本實(shí)施例中的探針單元能夠?qū)崿F(xiàn)6D短路棒式和全接觸式兩種檢測(cè)，避免了測(cè)試同一規(guī)格的6D短路棒式顯示面板需要配備6D短路棒和全接觸兩種探針單元的問(wèn)題，有利于生產(chǎn)成本的降低，同時(shí)也避免了全接觸探針單元的稼動(dòng)率低的問(wèn)題。此外，6D短路棒式和全接觸式檢測(cè)共用探針塊，因此在與現(xiàn)有技術(shù)中相同投資的前提下，本實(shí)施例的技術(shù)方案可增加備件數(shù)量。

基于上述探針單元，優(yōu)選的，如圖3所示，可在6D短路棒PCB 2a與6D短路棒信號(hào)處理部件42a之間增設(shè)6D短路棒FPC 41a，通過(guò)6D短路棒FPC 41a將6D短路棒PCB 2a與6D短路棒信號(hào)處理部件42a連接起來(lái)。6D短路棒FPC 41a的作用為將6D短路棒PCB 2a所生成的用于進(jìn)行6D短路棒式檢測(cè)的檢測(cè)信號(hào)傳輸至6D短路棒信號(hào)處理部件42a。

請(qǐng)繼續(xù)參見(jiàn)圖3，為了簡(jiǎn)化探針單元的結(jié)構(gòu)，可設(shè)置一轉(zhuǎn)接板6，將6D短路棒信號(hào)處理部件42a和信號(hào)轉(zhuǎn)換部件5均設(shè)置于該轉(zhuǎn)接板6上。其中，6D短路棒信號(hào)處理部件42a通過(guò)轉(zhuǎn)接板6實(shí)現(xiàn)與6D短路棒FPC 41a的連接，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)與6D短路棒PCB 2a的連接；信號(hào)轉(zhuǎn)換部件5通過(guò)轉(zhuǎn)接板6實(shí)現(xiàn)與全接觸探針塊4b的可拆卸連接。

對(duì)于不同規(guī)格的6D短路棒式顯示面板的測(cè)試，需要不同的檢測(cè)信號(hào)，因而需要配備不同的信號(hào)轉(zhuǎn)換部件5?；谏鲜鲛D(zhuǎn)接板的技術(shù)方案，為了實(shí)現(xiàn)探針單元中其余部件的共用，優(yōu)選的可使6D短路棒FPC 41a與轉(zhuǎn)接板6的連接方式也為可拆卸連接，這樣僅需通過(guò)更換轉(zhuǎn)接板6就能夠?qū)崿F(xiàn)信號(hào)轉(zhuǎn)換部件5的更換，從而使探針單元適用于多種規(guī)格的6D短路棒式顯示面板的測(cè)試，進(jìn)一步節(jié)省了成本。

為了使本實(shí)施例所提供的技術(shù)方案更加清楚易懂，下面結(jié)合具體的示例進(jìn)行說(shuō)明。

對(duì)于一個(gè)6D短路棒式顯示面板，假設(shè)其包括R、G、B三種像素，對(duì)應(yīng)R像素的數(shù)據(jù)線為M1條且相短接，對(duì)應(yīng)G像素的數(shù)據(jù)線為M2條且相短接，對(duì)應(yīng)B像素的數(shù)據(jù)線均為M3條且相短接，另外該6D短路棒式顯示面板的柵線為P條，則若對(duì)該6D短路棒式顯示面板進(jìn)行6D短路棒式檢測(cè)需要3個(gè)數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)(分別為1個(gè)R數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)、1個(gè)G數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)、1個(gè)B數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào))、P個(gè)柵檢測(cè)信號(hào)和N個(gè)其它輔助信號(hào)，若對(duì)該6D短路棒式顯示面板進(jìn)行全接觸式檢測(cè)需要M1+M2+M3個(gè)數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)、P個(gè)柵檢測(cè)信號(hào)和N個(gè)其它輔助信號(hào)。

當(dāng)采用本實(shí)施例中的探針單元對(duì)上述6D短路棒式顯示面板進(jìn)行6D短路棒式檢測(cè)時(shí)，將6D短路棒PCB 2b、6D短路棒信號(hào)處理部件42a、信號(hào)轉(zhuǎn)換部件5和全接觸探針塊4b依次連接，6D短路棒PCB 2b生成進(jìn)行6D短路棒式檢測(cè)所需的3個(gè)數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)、P個(gè)柵檢測(cè)信號(hào)和N個(gè)其它輔助信號(hào)，信號(hào)轉(zhuǎn)換部件5將1個(gè)R數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)轉(zhuǎn)換為M1個(gè)R數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)，將1個(gè)G數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)轉(zhuǎn)換為M2個(gè)G數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)，將1個(gè)B數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)轉(zhuǎn)換為M3個(gè)B數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)，使得6D短路棒PCB 2b所生成的數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)數(shù)量適配于全接觸探針塊4b，從而全接觸探針塊4b向相短接的數(shù)據(jù)線輸入相同的數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)，同時(shí)全接觸探針塊4b向顯示面板輸入P個(gè)柵檢測(cè)信號(hào)和N個(gè)其它輔助信號(hào)，實(shí)現(xiàn)了6D短路棒式檢測(cè)。

當(dāng)采用本實(shí)施例中的探針單元對(duì)上述6D短路棒式顯示面板進(jìn)行全接觸式檢測(cè)時(shí)，將全接觸探針塊4b與全接觸PCB 2b連接，全接觸PCB 2b生成進(jìn)行全接觸式檢測(cè)所需的M1+M2+M3個(gè)數(shù)據(jù)檢測(cè)信號(hào)、P個(gè)柵檢測(cè)信號(hào)和N個(gè)其它輔助信號(hào)，全接觸探針塊4b將這些檢測(cè)信號(hào)施加于待測(cè)顯示面板上，實(shí)現(xiàn)全接觸式檢測(cè)。

當(dāng)采用本實(shí)施例中的探針單元對(duì)不同規(guī)格的6D短路棒式顯示面板進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，例如，對(duì)于包括R、G、B三種像素的顯示面板和包括W、R、G、B四種像素的顯示面板，假設(shè)包括R、G、B三種像素的顯示面板中對(duì)應(yīng)R/G/B像素的數(shù)據(jù)線各自短接，包括W、R、G、B四種像素的顯示面板中對(duì)應(yīng)W/R/G/B像素的數(shù)據(jù)線各自短接，由于兩種顯示面板的規(guī)格不同，因此現(xiàn)有的一種6D短路棒探針單元不能同時(shí)滿足這兩種顯示面板的測(cè)試需要。采用本實(shí)施例中的探針單元，可直接將轉(zhuǎn)接板進(jìn)行更換，以更換適用于上述某種規(guī)格的顯示面板的信號(hào)轉(zhuǎn)換部件42，即可實(shí)現(xiàn)對(duì)對(duì)應(yīng)規(guī)格的顯示面板的檢測(cè)。

通常情況下，待測(cè)顯示面板所需要的全接觸探針塊4b的數(shù)量為多個(gè)，因此在本實(shí)施例中，6D短路棒FPC 41a、6D短路棒信號(hào)處理部件42a及信號(hào)轉(zhuǎn)換部件5的數(shù)量也應(yīng)為多個(gè)，均與全接觸探針塊4b的數(shù)量相等，且6D短路棒FPC 41a、6D短路棒信號(hào)處理部件42a、信號(hào)轉(zhuǎn)換部件5及全接觸探針塊4b一一對(duì)應(yīng)。

本實(shí)施例中，可在探針單元中增設(shè)第一基板，將6D短路棒PCB 2a固定安裝于該第一基板上。還可在探針單元中增設(shè)第二基板，將全接觸PCB 2b固定安裝于該第二基板上。

本實(shí)施例還提供了一種顯示面板的檢測(cè)裝置，該顯示面板的檢測(cè)裝置包括如上所述的探針單元。該顯示面板的檢測(cè)裝置能夠產(chǎn)生與上述探針單元相同的有益效果，具體可參見(jiàn)本實(shí)施例中對(duì)上述探針單元的描述，此處不再贅述。

以上所述僅為本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式，但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本實(shí)用新型揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍應(yīng)以所述權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。