本發(fā)明涉及指紋識(shí)別技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種光探測(cè)器及其驅(qū)動(dòng)方法、顯示面板及顯示裝置。

背景技術(shù)：

觸控顯示面板中一般采用光學(xué)指紋識(shí)別技術(shù)進(jìn)行指紋識(shí)別。具體的，觸控顯示面板中的若干像素單元，或者每個(gè)像素單元中可以設(shè)置有一個(gè)光探測(cè)器，該光探測(cè)器用于在像素單元發(fā)光時(shí)，檢測(cè)用戶指紋紋路反射的光信號(hào)，并根據(jù)該光信號(hào)產(chǎn)生電流信號(hào)，以便觸控顯示面板中的識(shí)別模塊可以根據(jù)該電流信號(hào)識(shí)別指紋紋路。

圖1示出了相關(guān)技術(shù)中的一種光探測(cè)器的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖1所示，該光探測(cè)器00可以包括一個(gè)晶體管m0和一個(gè)感光元件d0(圖1中的感光元件為光電二極管)。晶體管m0的柵極與多條掃描線01中的一條連接，第一極與多條讀取線02中的一條連接，第二極與感光元件d1的第一極連接，該感光元件d1的第二極接地。感光元件d1在沒(méi)有受到光照時(shí)為截止?fàn)顟B(tài)，而在受到光照時(shí)相當(dāng)于導(dǎo)通狀態(tài)下的二極管，可以向讀取線輸出電流，且光照強(qiáng)度越大，輸出的電流越大。在進(jìn)行指紋識(shí)別時(shí)，由于指紋是由指端皮膚表面上一系列的指紋脊和指紋谷組成的，指紋脊的光折射率與指紋谷的光折射率不同，所以在像素單元發(fā)光時(shí)，由指紋脊反射的光的強(qiáng)度與由指紋谷反射的光的強(qiáng)度不同，最終光探測(cè)器產(chǎn)生的電流大小也不同。因此，識(shí)別模塊可以根據(jù)該電流大小確定指紋脊和指紋谷的位置，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)指紋識(shí)別的功能。

但是，由于光探測(cè)器檢測(cè)到的光信號(hào)一般較弱，由該光信號(hào)轉(zhuǎn)換成的電流也較小，當(dāng)光探測(cè)器中的晶體管存在漏電流時(shí)，可能會(huì)對(duì)該光信號(hào)轉(zhuǎn)換成的電流造成干擾，影響指紋識(shí)別的準(zhǔn)確性。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為了解決相關(guān)技術(shù)中通過(guò)光探測(cè)器進(jìn)行指紋識(shí)別時(shí)準(zhǔn)確性較低的問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種光探測(cè)器及其驅(qū)動(dòng)方法、顯示面板及顯示裝置。所述技術(shù)方案如下：

第一方面，提供了一種光探測(cè)器，所述光探測(cè)器包括：感光元件、分壓模塊、開(kāi)關(guān)模塊和探測(cè)晶體管；

所述感光元件的陰極與正電源端連接，陽(yáng)極與第一分壓節(jié)點(diǎn)連接，用于根據(jù)探測(cè)到的光信號(hào)的強(qiáng)度，控制所述第一分壓節(jié)點(diǎn)的電壓；

所述分壓模塊的一端與所述第一分壓節(jié)點(diǎn)連接，另一端與負(fù)電源端連接，用于為所述感光元件分壓；

所述開(kāi)關(guān)模塊分別與直流電源端、掃描線和所述探測(cè)晶體管的第一極相連，用于在所述掃描線提供的掃描信號(hào)的控制下，向所述探測(cè)晶體管輸出來(lái)自所述直流電源端的電源信號(hào)；

所述探測(cè)晶體管的柵極與所述第一分壓節(jié)點(diǎn)連接，第二極與讀取線連接，用于在所述第一分壓節(jié)點(diǎn)和所述電源信號(hào)的控制下，向所述讀取線輸出電流。

可選的，所述探測(cè)晶體管為雙柵極晶體管；

所述探測(cè)晶體管的第一柵極與所述第一分壓節(jié)點(diǎn)連接，第二柵極與所述負(fù)電源端連接，用于在所述第一分壓節(jié)點(diǎn)、所述電源信號(hào)和所述負(fù)電源端的控制下，向所述讀取線輸出電流。

可選的，所述分壓模塊，包括：第一電阻，所述第一電阻的一端與所述第一分壓節(jié)點(diǎn)連接，另一端與所述負(fù)電源端連接。

可選的，所述分壓模塊，包括：第一電阻、第二電阻和第三電阻；

所述第一電阻的一端與所述第一分壓節(jié)點(diǎn)連接，另一端與所述負(fù)電源端連接；

所述第二電阻的一端分別與所述正電源端和所述感光元件的陰極連接，另一端與第二分壓節(jié)點(diǎn)連接；

所述第三電阻的一端與所述第二分壓節(jié)點(diǎn)連接，另一端與所述負(fù)電源端連接，所述探測(cè)晶體管的第二柵極與所述第二分壓節(jié)點(diǎn)連接，所述探測(cè)晶體管的第二柵極通過(guò)所述第三電阻與所述負(fù)電源端連接。

可選的，所述開(kāi)關(guān)模塊，包括：第一晶體管；

所述第一晶體管的柵極與所述掃描線連接，第一極與所述直流電源端連接，第二極與所述探測(cè)晶體管的第一極連接。

可選的，所述感光元件，包括：光電二極管；

所述光電二極管的陰極與所述正電源端連接，陽(yáng)極與所述第一分壓節(jié)點(diǎn)連接。

可選的，所述光探測(cè)器，還包括：第二晶體管；

所述第二晶體管的柵極與開(kāi)關(guān)信號(hào)線連接，第一極與所述正電源端連接，第二極與所述感光元件的陰極連接。

可選的，所述感光元件，包括：光電二極管；

每個(gè)所述電阻的阻值與所述光電二極管在截止?fàn)顟B(tài)下的等效電阻相等。

第二方面，提供了一種光探測(cè)器的驅(qū)動(dòng)方法，所述光探測(cè)器包括：感光元件、分壓模塊、開(kāi)關(guān)模塊和探測(cè)晶體管；所述方法包括：

掃描線提供第一電平的掃描信號(hào)，所述開(kāi)關(guān)模塊在所述掃描信號(hào)的作用下，將直流電源端與所述探測(cè)晶體管的第一極導(dǎo)通；

當(dāng)所述感光元件在光照下電阻減小時(shí)，所述分壓模塊與所述感光元件之間的第一分壓節(jié)點(diǎn)的電壓改變，所述探測(cè)晶體管在所述第一分壓節(jié)點(diǎn)和來(lái)自所述直流電源端的電源信號(hào)的驅(qū)動(dòng)下開(kāi)啟，向所述讀取線輸出電流；

所述掃描線提供的掃描信號(hào)跳變至第二電平時(shí)，所述直流電源端與所述探測(cè)晶體管的第一極關(guān)斷，所述讀取線上無(wú)信號(hào)輸出。

可選的，所述開(kāi)關(guān)模塊包括：第一晶體管；所述光探測(cè)器，還包括：第二晶體管；所述第二晶體管的柵極與開(kāi)關(guān)信號(hào)線連接，第一極與正電源端連接，第二極與所述感光元件的陰極連接；

在所述掃描線提供第一電平的掃描信號(hào)之后，所述開(kāi)關(guān)信號(hào)線輸出的開(kāi)關(guān)信號(hào)為第一電平，所述第二晶體管開(kāi)啟，將所述正電源端與所述感光元件的陰極導(dǎo)通；

在所述掃描線提供的掃描信號(hào)跳變至第二電平之前，所述開(kāi)關(guān)信號(hào)跳變?yōu)榈诙娖?，所述第二晶體管關(guān)斷。

第三方面，提供了一種顯示面板，所述顯示面板包括：交叉限定出若干個(gè)像素區(qū)域的多條掃描線和多條讀取線；

其中，至少一個(gè)像素區(qū)域內(nèi)設(shè)置有如第一方面所述光探測(cè)器。

可選的，所述顯示面板還包括：識(shí)別模塊；

所述識(shí)別模塊與所述多條讀取線連接，用于檢測(cè)每條讀取線上的電流，并根據(jù)檢測(cè)到的電流進(jìn)行指紋識(shí)別。

第四方面，提供了一種顯示裝置，所述顯示裝置包括：如第三方面所述的顯示面板。

本發(fā)明提供的技術(shù)方案帶來(lái)的有益效果是：

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種光探測(cè)器及其驅(qū)動(dòng)方法、顯示面板及顯示裝置，該光探測(cè)器中感光元件和分壓模塊串聯(lián)在兩個(gè)電源端之間，探測(cè)晶體管的柵極與該感光元件和分壓模塊之間的第一分壓節(jié)點(diǎn)連接。因此，當(dāng)感光元件在光照作用下電阻變小時(shí)，第一分壓節(jié)點(diǎn)的電壓相應(yīng)抬升，該探測(cè)晶體管開(kāi)啟，并能夠在直流電源端的驅(qū)動(dòng)下，向讀取線輸出電流，該電流的大小是由第一分壓節(jié)點(diǎn)的電壓大小決定的。由于直流電源端驅(qū)動(dòng)探測(cè)晶體管輸出的電流較大，探測(cè)晶體管自身漏電流對(duì)該輸出電流的影響可以忽略，從而有效提高了根據(jù)該輸出電流進(jìn)行指紋識(shí)別時(shí)的準(zhǔn)確性。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是相關(guān)技術(shù)中的一種光探測(cè)器的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種光探測(cè)器的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種光探測(cè)器的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種探測(cè)晶體管的伏安特性曲線圖；

圖5是本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種光探測(cè)器的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖6是本發(fā)明實(shí)施例提供的再一種光探測(cè)器的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖7是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種光電二極管電阻隨電壓變化的示意圖；

圖8是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種光探測(cè)器的驅(qū)動(dòng)方法的流程圖；

圖9是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種光探測(cè)器驅(qū)動(dòng)過(guò)程中各信號(hào)端的時(shí)序圖；

圖10是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明實(shí)施方式作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。

本發(fā)明所有實(shí)施例中采用的晶體管均可以為薄膜晶體管或場(chǎng)效應(yīng)管或其他特性相同的器件，根據(jù)在電路中的作用本發(fā)明的實(shí)施例所采用的晶體管主要為開(kāi)關(guān)晶體管。由于這里采用的開(kāi)關(guān)晶體管的源極、漏極是對(duì)稱的，所以其源極、漏極是可以互換的。在本發(fā)明實(shí)施例中，將其中源極稱為第一級(jí)，漏極稱為第二級(jí)。按附圖中的形態(tài)規(guī)定開(kāi)關(guān)晶體管的中間端為柵極、信號(hào)輸入端為源極、信號(hào)輸出端為漏極。此外，本發(fā)明實(shí)施例所采用的晶體管可以包括p型晶體管和n型晶體管中的任一種，其中，p型晶體管在柵極為低電平時(shí)導(dǎo)通，在柵極為高電平時(shí)截止，n型晶體管在柵極為高電平時(shí)導(dǎo)通，在柵極為低電平時(shí)截止。此外，本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例中的多個(gè)信號(hào)都對(duì)應(yīng)有第一電平和第二電平。第一電平和第二電平僅代表該信號(hào)的電平有2個(gè)狀態(tài)量，不代表全文中第一電平或第二電平具有特定的數(shù)值。

圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種光探測(cè)器的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖2所示，該光探測(cè)器可以包括：感光元件10、分壓模塊20、開(kāi)關(guān)模塊30和探測(cè)晶體管t0。

該感光元件10的陰極與正電源端v+連接，陽(yáng)極與第一分壓節(jié)點(diǎn)p1連接，用于根據(jù)探測(cè)到的光信號(hào)的強(qiáng)度，控制該第一分壓節(jié)點(diǎn)p1的電壓。

該分壓模塊20的一端與該第一分壓節(jié)點(diǎn)p1連接，另一端與負(fù)電源端v-連接，用于為該感光元件10分壓。

該開(kāi)關(guān)模塊30分別與直流電源端vdd、掃描線s1和該探測(cè)晶體管t0的第一極相連，用于在該掃描線s1提供的掃描信號(hào)的控制下，向該探測(cè)晶體管t0輸出來(lái)自該直流電源端vdd的電源信號(hào)。

該探測(cè)晶體管t0的柵極與該第一分壓節(jié)點(diǎn)p1連接，第二極與讀取線r連接，用于在該第一分壓節(jié)點(diǎn)p1和該電源信號(hào)的控制下，向該讀取線r輸出電流。

在本發(fā)明實(shí)施例中，從圖2中可以看出，該感光元件10和分壓模塊20串聯(lián)在正電源端v+和負(fù)電源端v-之間。感光元件10的陰極與正電源端v+相連，該感光元件10在沒(méi)有受到光照時(shí)處于截止?fàn)顟B(tài)，其電阻較高；在受到光照時(shí)其電阻減小，使得第一分壓節(jié)點(diǎn)p1的電壓抬升，從而驅(qū)動(dòng)探測(cè)晶體管t0開(kāi)啟。若驅(qū)動(dòng)探測(cè)晶體管t0開(kāi)啟時(shí)，開(kāi)關(guān)模塊30控制直流電源端vdd與該探測(cè)晶體管t0的第一極導(dǎo)通，則該探測(cè)晶體管t0可以在電源信號(hào)的驅(qū)動(dòng)下，向讀取線r輸出電流。該電流大小由第一分壓節(jié)點(diǎn)p1的電壓大小決定，而該第一分壓節(jié)點(diǎn)p1的電壓大小是由感光元件10檢測(cè)到的光強(qiáng)決定的。因此，該探測(cè)器晶體管t0最終向讀取線r輸出的電流大小即可反映感光元件10檢測(cè)到的光強(qiáng)大小，且探測(cè)器晶體管t0輸出的電流大小與該感光元件10檢測(cè)到的光強(qiáng)大小正相關(guān)。

綜上所述，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種光探測(cè)器，該光探測(cè)器中感光元件和分壓模塊串聯(lián)在兩個(gè)電源端之間，探測(cè)晶體管的柵極與該感光元件和分壓模塊之間的第一分壓節(jié)點(diǎn)連接。因此，當(dāng)感光元件在光照作用下電阻變小時(shí)，第一分壓節(jié)點(diǎn)的電壓相應(yīng)抬升，探測(cè)晶體管開(kāi)啟，并能在直流電源端的驅(qū)動(dòng)下，向讀取線輸出電流，該電流的大小是由第一分壓節(jié)點(diǎn)的電壓大小決定的。由于直流電源端驅(qū)動(dòng)探測(cè)晶體管輸出的電流較大，探測(cè)晶體管自身漏電流對(duì)該輸出電流的影響可以忽略，從而有效提高了根據(jù)該輸出電流進(jìn)行指紋識(shí)別時(shí)的準(zhǔn)確性。

圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種光探測(cè)器的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖3所示，該探測(cè)晶體管t0可以為雙柵極晶體管，也即是該探測(cè)晶體管t0具有兩個(gè)柵極，該探測(cè)晶體管t0可以在該兩個(gè)柵極的控制下導(dǎo)通或者關(guān)斷。

參考圖3，該探測(cè)晶體管t0的第一柵極與該第一分壓節(jié)點(diǎn)p1連接，第二柵極與該負(fù)電源端v-連接，用于在該第一分壓節(jié)點(diǎn)p1、該電源信號(hào)和該負(fù)電源端v-的控制下，向該讀取線r輸出電流。

在本發(fā)明實(shí)施例中，該探測(cè)晶體管t0可以為銦鎵鋅氧化物(indiumgalliumzincoxide，igzo)薄膜晶體管，在該探測(cè)晶體管t0的第二柵極(即上柵極)的電壓為0v，第一柵極(即下柵極)的電壓v1在-30v至30v變化時(shí)，其伏安(iv)特性曲線可以如圖4所示。從圖4可以看出，探測(cè)晶體管t0的輸出電流id隨著其第一柵極的電壓v1(也即是第一節(jié)點(diǎn)p1的電壓)的增大而增大。

假設(shè)在該光電探測(cè)器中，直流電源端vdd的電壓為15v，正電源端v+的電壓為15v，負(fù)電源端v-的電壓為-15v，感光元件10在暗態(tài)時(shí)處于截止?fàn)顟B(tài)，且其電阻與分壓模塊20的阻值相等，則此時(shí)該第一節(jié)點(diǎn)p1的電壓為0，探測(cè)晶體管t0關(guān)斷。假設(shè)該感光元件10在光照狀態(tài)下電阻減小后，可以控制第一節(jié)點(diǎn)p1的電壓抬升至12v，探測(cè)晶體管t0開(kāi)啟。從圖4中可以看出，探測(cè)晶體管t0的第一柵極的電壓v1從0變化至12v時(shí)，其輸出電流id增大了近5個(gè)數(shù)量級(jí)，即該探測(cè)晶體管t0的開(kāi)關(guān)接近5個(gè)數(shù)量級(jí)。其中，晶體管的開(kāi)關(guān)比是晶體管開(kāi)啟狀態(tài)下的電流和關(guān)斷狀態(tài)下的電流比值，反映了晶體管的工作特性。開(kāi)關(guān)比越大，說(shuō)明工作電流越大，漏電流越小，信噪比越高，越有利于信號(hào)的收集。

由此可知，本發(fā)明實(shí)施例提供的光探測(cè)器中，探測(cè)晶體管t0的柵極與第一分壓節(jié)點(diǎn)p1連接，即使感光元件10在光照狀態(tài)下，控制第一分壓節(jié)點(diǎn)p1的電壓變化較小，探測(cè)晶體管t0向讀取線r輸出的電流變化也較大，從而實(shí)現(xiàn)了光信號(hào)放大的效果，提高了該光探測(cè)器的靈敏度和探測(cè)精度。

圖5是本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種光探測(cè)器的結(jié)構(gòu)示意圖，在本發(fā)明實(shí)施例一種可選的實(shí)現(xiàn)方式中，如圖5所示，該分壓模塊20可以包括：第一電阻r1。

該第一電阻r1的一端與該第一分壓節(jié)點(diǎn)p1連接，另一端與該負(fù)電源端v-連接。該感光元件10受到光照時(shí)其電阻變小，在正電源端v+和負(fù)電源端v-電壓一定的情況下，該第一電阻r1的分壓相應(yīng)抬升，即第一分壓節(jié)點(diǎn)p1的電壓升高，可以控制探測(cè)晶體管t0開(kāi)啟。

圖6是本發(fā)明實(shí)施例提供的再一種光探測(cè)器的結(jié)構(gòu)示意圖，在本發(fā)明實(shí)施例另一種可選的實(shí)現(xiàn)方式中，如圖6所示，該分壓模塊20具體可以包括：第一電阻r1、第二電阻r2和第三電阻r3。

該第一電阻r1的一端與該第一分壓節(jié)點(diǎn)p1連接，另一端與該負(fù)電源端v-連接。

該第二電阻r2的一端分別與該正電源端v+和該感光元件10的陰極連接，另一端與第二分壓節(jié)點(diǎn)p2連接。

該第三電阻r3的一端與該第二分壓節(jié)點(diǎn)p2連接，另一端與該負(fù)電源端v-連接，該探測(cè)晶體管t0的第二柵極與該第二分壓節(jié)點(diǎn)p2連接，該探測(cè)晶體管t0的第二柵極通過(guò)該第三電阻r3與該負(fù)電源端v-連接。

在圖6所示的結(jié)構(gòu)中，該分壓模塊20與該感光元件10組成了橋式電路，且該第一分壓節(jié)點(diǎn)p1和第二分壓節(jié)點(diǎn)p2分別為該橋式電路的兩個(gè)輸出端，該探測(cè)晶體管t0的兩個(gè)柵極可以分別與該橋式電路的兩個(gè)輸出端連接。

通過(guò)增加第二電阻r2和第三電阻r3，可以通過(guò)調(diào)整該兩個(gè)電阻的阻值，對(duì)第二分壓節(jié)點(diǎn)p2的電壓(也即是探測(cè)晶體管t0第二柵極的電壓值)進(jìn)行調(diào)節(jié)，從而可以更好的控制和調(diào)節(jié)探測(cè)晶體管t0的伏安特性。

在圖6所示的光探測(cè)器中，若該第一至第三電阻的阻值相等，且感光元件10在暗態(tài)時(shí)的等效電阻與每個(gè)電阻的阻值也相等，則在暗態(tài)時(shí)，該第一分壓節(jié)點(diǎn)p1和第二分壓節(jié)點(diǎn)p2的電壓均為0，探測(cè)晶體管t0關(guān)斷。在亮態(tài)時(shí)感光元件10的阻值變小，第一分壓節(jié)點(diǎn)p1的電壓抬升，第二分壓節(jié)點(diǎn)p2的電壓保持為0，該探測(cè)晶體管t0開(kāi)啟。若此時(shí)直流電源端vdd與該探測(cè)晶體管t0的第一極導(dǎo)通，則該探測(cè)晶體管t0可以向讀取線r輸出電流，且該輸出電流的大小與該第一分壓節(jié)點(diǎn)p1的電壓大小正相關(guān)。

進(jìn)一步的，參考圖5和圖6可以看出，該感光元件10可以包括：光電二極管d1，例如pin光電二極管。該光電二極管d1的陰極與該正電源端v+連接，陽(yáng)極與該第一分壓節(jié)點(diǎn)p1連接，該光電二極管d1始終處于反向偏置狀態(tài)。圖7是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種光電二極管電阻隨電壓變化的示意圖，其中，虛線表示光電二極管處于暗態(tài)時(shí)，其電阻隨電壓變化的情況，實(shí)線表示光電二極管處于亮態(tài)(即受到光照)時(shí)，其電阻隨電壓變化的情況。從圖7中可以看出，在加載在光電二極管d1兩端的電壓一定的情況下，光電二極管d1在暗態(tài)時(shí)的電阻較大，而亮態(tài)時(shí)的電阻明顯減小。

需要說(shuō)明的是，在實(shí)際應(yīng)用中，在制作該第一至第三電阻時(shí)，可以同時(shí)制作四個(gè)相同的光電二極管，然后在其中的三個(gè)光電二極管中每個(gè)光電二極管朝向顯示面板出光面的一側(cè)形成一層遮擋層(例如金屬遮擋層)，以遮擋光線。從而可以使得該三個(gè)光電二極管始終處于截止?fàn)顟B(tài)，由此即可等效于該第一至第三電阻。相比于直接制作電阻，該制造方法較為簡(jiǎn)單。因此，在本發(fā)明實(shí)施例中，該第一至第三電阻中，每個(gè)電阻的阻值可以與該光電二極管d1在截止?fàn)顟B(tài)下的等效電阻相等。

可選的，如圖5和圖6所示，該開(kāi)關(guān)模塊30可以包括：第一晶體管t1。

該第一晶體管t1的柵極與該掃描線s1連接，第一極與該直流電源端vdd連接，第二極與該探測(cè)晶體管t0的第一極連接。當(dāng)該掃描線s1提供的掃描信號(hào)為第一電平時(shí)，第一晶體管t1開(kāi)啟，直流電源端vdd與探測(cè)晶體管t0的第一極導(dǎo)通。

可選的，如圖5和圖6所示，該光探測(cè)器還可以包括：第二晶體管t2。

該第二晶體管t2的柵極與開(kāi)關(guān)信號(hào)線s2連接，第一極與該正電源端v+連接，第二極與該感光元件10的陰極連接。該第二晶體管t2可以控制正電源端v+與感光元件10之間的通斷，從而提高了對(duì)光探測(cè)器控制時(shí)的靈活性。

綜上所述，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種光探測(cè)器，該光探測(cè)器中感光元件和分壓模塊串聯(lián)在兩個(gè)電源端之間，探測(cè)晶體管的柵極與該感光元件和分壓模塊之間的第一分壓節(jié)點(diǎn)連接。因此，當(dāng)感光元件在光照作用下電阻變小時(shí)，第一分壓節(jié)點(diǎn)的電壓相應(yīng)抬升，該探測(cè)晶體管開(kāi)啟，并能夠在直流電源端的驅(qū)動(dòng)下，向讀取線輸出電流，該電流的大小是由第一分壓節(jié)點(diǎn)的電壓大小決定的。由于直流電源端驅(qū)動(dòng)探測(cè)晶體管輸出的電流較大，探測(cè)晶體管自身漏電流對(duì)該輸出電流的影響可以忽略，從而有效提高了根據(jù)該輸出電流進(jìn)行指紋識(shí)別的準(zhǔn)確性。

圖8是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種光探測(cè)器的驅(qū)動(dòng)方法的流程圖，如圖2和圖3所示，該光探測(cè)器可以包括：感光元件10、分壓模塊20、開(kāi)關(guān)模塊30和探測(cè)晶體管t0。參考圖8，該方法可以包括：

步驟101、掃描線s1提供第一電平的掃描信號(hào)，該開(kāi)關(guān)模塊30在該掃描信號(hào)的作用下，將直流電源端vdd與該探測(cè)晶體管t0的第一極導(dǎo)通。

步驟102、當(dāng)該感光元件10在光照下電阻減小時(shí)，該分壓模塊20與該感光元件10之間的第一分壓節(jié)點(diǎn)p1的電壓升高，該探測(cè)晶體管t0在該第一分壓節(jié)點(diǎn)p1和來(lái)自該直流電源端vdd的電源信號(hào)的驅(qū)動(dòng)下開(kāi)啟，向該讀取線r輸出電流。

步驟103、該掃描線s1提供的掃描信號(hào)跳變至第二電平時(shí)，該直流電源端vdd與該探測(cè)晶體管t0的第一極關(guān)斷，該讀取線r上無(wú)信號(hào)輸出。

可選的，如圖5和圖6所示，該開(kāi)關(guān)模塊30可以包括：第一晶體管t1；該感光元件10可以為光電二極管d1，該分壓模塊20可以包括第一電阻r1，或者，也可以包括第一電阻r1、第二電阻r2和第三電阻r3；該光探測(cè)器還可以包括：第二晶體管t2。

以該圖5或圖6所示的光探測(cè)器為例，詳細(xì)介紹該光探測(cè)器的驅(qū)動(dòng)原理。并且，本實(shí)施例以各晶體管為n型晶體管，且第一電平相對(duì)于第二電平為高電平為例進(jìn)行說(shuō)明。圖9是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種光探測(cè)器驅(qū)動(dòng)過(guò)程中，各信號(hào)端的時(shí)序圖。

結(jié)合圖5、圖6和圖9，當(dāng)掃描線s1提供的掃描信號(hào)跳變至第一電平時(shí)，第一晶體管t1開(kāi)啟，探測(cè)晶體管t0的第一極與直流電源端vdd連接，該直流電源端vdd可以提供第一電平的電源信號(hào)。

進(jìn)一步的，當(dāng)開(kāi)關(guān)信號(hào)線s2輸出的開(kāi)關(guān)信號(hào)跳變至第一電平時(shí)，第二晶體管t2開(kāi)啟，該正電源端v+與該光電二極管d1的陰極導(dǎo)通。當(dāng)該光電二極管d1受到光照時(shí)，其電阻變小，第一分壓節(jié)點(diǎn)p1的電壓抬升，探測(cè)晶體管t0第二柵極的電壓為負(fù)電源端v-的電壓(對(duì)應(yīng)圖5所示結(jié)構(gòu))，或者為第二分壓節(jié)點(diǎn)p2的電壓(對(duì)應(yīng)圖6所示結(jié)構(gòu))。參考圖4可以看出，在探測(cè)晶體管t0第二柵極的電壓一定的情況下，其第一柵極的電壓升高時(shí)，其輸出電流id相應(yīng)增大。并且，從圖4中可以看出，探測(cè)晶體管t0第一柵極的電壓從0增加至12v左右時(shí)，其輸出電流增大了五個(gè)數(shù)量級(jí)。由于該探測(cè)晶體管t0輸出至讀取線r上的電流較大，可以有效避免其自身漏電流對(duì)輸出電流的影響，進(jìn)而保證了根據(jù)該輸出電路進(jìn)行指紋驗(yàn)證的準(zhǔn)確性。

之后，該開(kāi)關(guān)信號(hào)線s2提供的開(kāi)關(guān)信號(hào)跳變?yōu)榈诙娖剑摰诙w管t2關(guān)斷，光電二極管d1恢復(fù)截止?fàn)顟B(tài)，第一分壓節(jié)點(diǎn)p1的電壓變?yōu)橹?，該探測(cè)晶體管t0關(guān)斷，讀取線r上沒(méi)有電流輸出。當(dāng)該掃描信號(hào)也跳變至第二電平時(shí)，第一晶體管t1關(guān)斷，直流電源端vdd與探測(cè)晶體管t0的第一極斷開(kāi)連接。光探測(cè)器停止工作并等待下一個(gè)掃描周期。

需要說(shuō)明的是，在實(shí)際應(yīng)用中，該掃描信號(hào)和開(kāi)關(guān)信號(hào)的時(shí)序可以根據(jù)情況進(jìn)行調(diào)整，例如，該開(kāi)關(guān)信號(hào)和掃描信號(hào)的時(shí)序也可以完全相同，本發(fā)明實(shí)施例對(duì)此不做限定。

綜上所述，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種光探測(cè)器的驅(qū)動(dòng)方法，該光探測(cè)器中感光元件和分壓模塊串聯(lián)在兩個(gè)電源端之間，探測(cè)晶體管的柵極與該感光元件和分壓模塊之間的第一分壓節(jié)點(diǎn)連接。因此，在驅(qū)動(dòng)過(guò)程中，當(dāng)感光元件在光照作用下電阻變小時(shí)，第一分壓節(jié)點(diǎn)的電壓相應(yīng)抬升，該探測(cè)晶體管開(kāi)啟，并能夠在直流電源端的驅(qū)動(dòng)下，向讀取線輸出電流，該電流的大小是由第一分壓節(jié)點(diǎn)的電壓大小決定的。由于直流電源端驅(qū)動(dòng)探測(cè)晶體管輸出的電流較大，探測(cè)晶體管自身漏電流對(duì)該輸出電流的影響可以忽略，從而有效提高了根據(jù)該輸出電流進(jìn)行指紋識(shí)別時(shí)的準(zhǔn)確性。

需要說(shuō)明的是，在上述實(shí)施例中，均是以各個(gè)晶體管為n型晶體管，且第一電平為相對(duì)于該第二電平高電平為例進(jìn)行的說(shuō)明。當(dāng)然，該各個(gè)晶體管還可以采用p型晶體管，當(dāng)該各個(gè)晶體管采用p型晶體管時(shí)，該第一電平相對(duì)于該第二電平可以為低電平，且該各個(gè)信號(hào)端的電平變化可以與圖9所示的電平變化相反。

圖10是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖，參考圖10，該顯示面板可以包括：交叉限定出若干個(gè)像素區(qū)域的多條掃描線s1和多條讀取線r。其中，至少一個(gè)像素區(qū)域內(nèi)可以設(shè)置有如圖2、圖3、圖5和圖6任一所示的光探測(cè)器。

從圖10可以看出，該顯示面板中還包括與掃描線s1平行設(shè)置的多條開(kāi)關(guān)信號(hào)線s2，以及與讀取線r平行設(shè)置的多條電源線，每個(gè)光探測(cè)器可以通過(guò)該多條電源線分別連接直流電源端vdd、正電源端v+和負(fù)電源端v-。

可選的，該顯示面板還可以包括：識(shí)別模塊(圖10中未示出)；該識(shí)別模塊可以與該多條讀取線r連接，用于檢測(cè)每條讀取線r上的電流，并根據(jù)檢測(cè)到的電流進(jìn)行指紋識(shí)別。

在指紋檢測(cè)過(guò)程中，該多條掃描線s1可以沿預(yù)設(shè)方向(例如柵極驅(qū)動(dòng)電路對(duì)顯示面板的掃描方向)依次輸出處于第一電平的掃描信號(hào)，該多條開(kāi)關(guān)信號(hào)線s2可以依次輸出處于第一電平的開(kāi)關(guān)信號(hào)。在掃描線掃描到任一行像素單元時(shí)，若該行像素單元中任一光探測(cè)器探測(cè)到光信號(hào)，可以向?qū)?yīng)的讀取線r輸出電流，以便識(shí)別模塊根據(jù)該多條讀取線r上傳輸?shù)碾娏鬟M(jìn)行指紋識(shí)別。

示例的，掃描線s1-1至s1-3可以依次輸出處于第一電平的掃描信號(hào)，相應(yīng)的，開(kāi)關(guān)信號(hào)線s2-1至s2-3可以依次輸出處于第一電平的開(kāi)關(guān)信號(hào)。當(dāng)掃描線s1-1輸出的掃描信號(hào)和開(kāi)關(guān)信號(hào)線s2-1輸出的開(kāi)關(guān)信號(hào)均處于第一電平時(shí)，第一行像素單元中的光探測(cè)器處于工作狀態(tài)。當(dāng)其中的光探測(cè)器100探測(cè)到光信號(hào)時(shí)，可以向?qū)?yīng)的讀取線r-1輸出電流，以便識(shí)別模塊根據(jù)該輸出電流的大小識(shí)別指紋紋路。

本發(fā)明實(shí)施例還提供一種顯示裝置，該顯示裝置可以包括如圖10所示的顯示面板。該顯示裝置可以為：液晶面板、電子紙、oled面板、amoled面板、手機(jī)、平板電腦、電視機(jī)、顯示器、筆記本電腦、數(shù)碼相框、導(dǎo)航儀等任何具有顯示功能的產(chǎn)品或部件。

所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到，為描述的方便和簡(jiǎn)潔，上述描述的光探測(cè)器和各模塊的具體工作過(guò)程，可以參考前述方法實(shí)施例中的對(duì)應(yīng)過(guò)程，在此不再贅述。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。