1.一種OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：
步驟1、提供一OLED顯示裝置驅(qū)動電路，包括：第一薄膜晶體管(T1)、第二薄膜晶體管(T2)、第三薄膜晶體管(T3)、第一電容(C1)、有機發(fā)光二極管(D1)、以及第一開關(guān)(S1)；
所述第一薄膜晶體管(T1)的柵極接入掃描信號(Scan)，源極接入數(shù)據(jù)信號(Data)，漏極電性連接第一節(jié)點(P)；所述第二薄膜晶體管(T2)的柵極電性連接第一節(jié)點(P)，源極接入第一電源電壓(Ovdd)，漏極電性連接第二節(jié)點(Q)；所述第三薄膜晶體管(T3)的柵極接入偵測信號(Sen)，源極電性連接第三節(jié)點(K)，漏極電性連接第二節(jié)點(Q)；所述第一電容(C1)的一端電性連接第一節(jié)點(P)，另一端電性連接第二節(jié)點(Q)；所述有機發(fā)光二極管(D1)的陽極電性連接第二節(jié)點(Q)，陰極接入第二電源電壓(Ovss)；所述第一開關(guān)(S1)的一端接入公共電壓(Vcm)，另一端電性連接第三節(jié)點(K)；
步驟2、所述掃描信號(Scan)和偵測信號(Sen)均提供高電位，第一和第三薄膜晶體管(T1、T3)均打開，所述數(shù)據(jù)信號(Data)提供第一電壓至第一節(jié)點(P)，所述開關(guān)(S1)閉合，所述第二節(jié)點(Q)的電壓等于公共電壓(Vcm)；
步驟3、所述掃描信號(Scan)和偵測信號(Sen)保持高電位，第一和第三薄膜晶體管(T1、T3)保持打開，所述數(shù)據(jù)信號(Data)繼續(xù)提供第一電壓至第一節(jié)點(P)，所述第一節(jié)點(P)保持第一電壓，所述開關(guān)(S1)斷開，所述第二節(jié)點(Q)的電壓不斷變化后重新穩(wěn)定；
步驟4、提供一模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)以及與所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)電性連接的一缺陷分析模塊，利用所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)偵測出所述第二節(jié)點(Q)的電壓并傳送給缺陷分析模塊；
步驟5、所述缺陷分析模塊將所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)傳送來的第二節(jié)點(Q)的電壓與預設(shè)的標準電壓范圍進行比較，當所述第二節(jié)點(Q)的電壓超出預設(shè)的標準電壓范圍時，判定所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路存在缺陷，當所述第二節(jié)點(Q)的電壓在預設(shè)的標準電壓范圍內(nèi)時，判定所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路不存在缺陷。
2.如權(quán)利要求1所述的OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，其特征在于，所述步驟5中還提供運算放大器(Y1)、以及相關(guān)雙采樣電路(CDS)；
偵測時，所述運算放大器(Y1)的反相輸入端電性連接其輸出端，同相輸入端電性連接第三節(jié)點(K)，輸出端電性連接相關(guān)雙采樣電路(CDS)的輸入端，所述相關(guān)雙采樣電路(CDS)的輸出端電性連接模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)，所述第二節(jié)點(Q)的電壓經(jīng)由運算放大器(Y1)緩沖后輸出給相關(guān)雙采樣電路(CDS)，所述相關(guān)雙采樣電路(CDS)對所述第二節(jié)點(Q)的電壓進行鎖存與邏輯運算后輸出給模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)偵測所述第二節(jié)點(Q)的電壓并進行數(shù)字量化并傳送給缺陷分析模塊。
3.如權(quán)利要求1所述的OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，其特征在于，所述步驟2中第一電壓大于第二薄膜晶體管(T2)的閾值電壓且小于有機發(fā)光二極管(D1)的閾值電壓，所述公共電壓(Vcm)小于所述有機發(fā)光二極管(D1)的閾值電壓；
所述步驟5中當所述第二節(jié)點(Q)的電壓在預設(shè)的標準電壓范圍內(nèi)，所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路不存在缺陷時，所述第二薄膜晶體管(T2)的閾值電壓等于第一電壓(V1)與所述第二節(jié)點(Q)的電壓的差值。
4.如權(quán)利要求1所述的OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，其特征在于，所述步驟2中第一電壓小于第二薄膜晶體管(T2)的閾值電壓，所述公共電壓(Vcm)大于所述有機發(fā)光二極管(D1)的閾值電壓；
所述步驟5中當所述第二節(jié)點(Q)的電壓在預設(shè)的標準電壓范圍內(nèi)，所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路不存在缺陷時，所述有機發(fā)光二極管(D1)的閾值電壓等于所述第二節(jié)點(Q)的電壓。
5.如權(quán)利要求3所述的OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，其特征在于，當所述第二節(jié)點(Q)的電壓大于所述預設(shè)的標準電壓范圍的上限時，判定所述第二薄膜晶體管(T2)短路、或第一電容(C1)短路；
當所述第二節(jié)點(Q)的電壓小于所述預設(shè)的標準電壓范圍的下限時，則判定所述第二薄膜晶體管(T2)斷路。
6.如權(quán)利要求4所述的OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，其特征在于，當所述第二節(jié)點(Q)的電壓大于所述預設(shè)的標準電壓范圍的上限時，判定所述有機發(fā)光二極管(D1)斷路；
當所述第二節(jié)點(Q)的電壓等于第二電源電壓(Ovss)時，則判定所述有機發(fā)光二極管(D1)短路。
7.如權(quán)利要求1所述的OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，其特征在于，所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路中還形成有寄生電容(C2)，所述寄生電容(C2)并聯(lián)于所述有機發(fā)光二極管(D1)的兩端。
8.如權(quán)利要求3所述的OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，其特征在于，所述公共電壓(Vcm)等于0V。
9.如權(quán)利要求4所述的OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，其特征在于，所述第一電壓等于0V。
10.如權(quán)利要求1所述的OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，其特征在于，所述步驟5還包括：當所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路存在缺陷時發(fā)出警報提示。