本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法。

背景技術(shù)：

平面顯示器件具有機(jī)身薄、省電、無輻射等眾多優(yōu)點(diǎn)，得到了廣泛的應(yīng)用。現(xiàn)有的平面顯示器件主要包括液晶顯示器件(Liquid Crystal Display，LCD)及有機(jī)發(fā)光二極管顯示器件(Organic Light Emitting Display，OLED)。

有機(jī)發(fā)光二極管(Organic Light Emitting Display，OLED)顯示裝置具有自發(fā)光、驅(qū)動電壓低、發(fā)光效率高、響應(yīng)時(shí)間短、清晰度與對比度高、近180°視角、使用溫度范圍寬，可實(shí)現(xiàn)柔性顯示與大面積全色顯示等諸多優(yōu)點(diǎn)，被業(yè)界公認(rèn)為是最有發(fā)展?jié)摿Φ娘@示裝置。

OLED顯示裝置通常包括：基板、設(shè)于基板上的陽極、設(shè)于陽極上的空穴注入層、設(shè)于空穴注入層上的空穴傳輸層、設(shè)于空穴傳輸層上的發(fā)光層、設(shè)于發(fā)光層上的電子傳輸層、設(shè)于電子傳輸層上的電子注入層、及設(shè)于電子注入層上的陰極。OLED顯示器件的發(fā)光原理為半導(dǎo)體材料和有機(jī)發(fā)光材料在電場驅(qū)動下，通過載流子注入和復(fù)合導(dǎo)致發(fā)光。具體的，OLED顯示器件通常采用ITO像素電極和金屬電極分別作為器件的陽極和陰極，在一定電壓驅(qū)動下，電子和空穴分別從陰極和陽極注入到電子傳輸層和空穴傳輸層，電子和空穴分別經(jīng)過電子傳輸層和空穴傳輸層遷移到發(fā)光層，并在發(fā)光層中相遇，形成激子并使發(fā)光分子激發(fā)，后者經(jīng)過輻射弛豫而發(fā)出可見光。

OLED顯示裝置制作完成后，需要對各像素的制程進(jìn)行檢測，及時(shí)發(fā)現(xiàn)像素驅(qū)動電路中的短路、及斷路故障，以保證出廠的產(chǎn)品質(zhì)量。目前OLED顯示裝置的檢測方法，主要為有兩種：一種是通過圖像傳感器(Charge-coupled Device，CCD)進(jìn)行檢測，另一種則是通過人眼進(jìn)行檢測。其中通過CCD進(jìn)行檢測需要購買專門的CCD設(shè)備，花費(fèi)的設(shè)備成本較高，并且其檢測算法與工藝都比較復(fù)雜，進(jìn)行點(diǎn)對點(diǎn)拍照時(shí)需要的時(shí)間很長，導(dǎo)致檢測時(shí)間過長，檢測效率較低。而通過人眼進(jìn)行檢測，雖然不需要設(shè)備成本，但其效率同樣不高，而且其準(zhǔn)確性也難以保證，容易出現(xiàn)漏檢。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，能夠準(zhǔn)確快速的檢測出OLED顯示裝置驅(qū)動電路中的短路與斷路缺陷，提升OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測效率，降低OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測成本，保證產(chǎn)品質(zhì)量。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，包括如下步驟：

步驟1、提供一OLED顯示裝置驅(qū)動電路，所述子像素驅(qū)動電路包括：第一薄膜晶體管、第二薄膜晶體管、第三薄膜晶體管、第一電容、有機(jī)發(fā)光二極管、以及第一開關(guān)；

所述第一薄膜晶體管的柵極接入掃描信號，源極接入數(shù)據(jù)信號，漏極電性連接第一節(jié)點(diǎn)；所述第二薄膜晶體管的柵極電性連接第一節(jié)點(diǎn)，源極接入第一電源電壓，漏極電性連接第二節(jié)點(diǎn)；所述第三薄膜晶體管的柵極接入偵測信號，源極電性連接第三節(jié)點(diǎn)，漏極電性連接第二節(jié)點(diǎn)；所述第一電容的一端電性連接第一節(jié)點(diǎn)，另一端電性連接第二節(jié)點(diǎn)；所述有機(jī)發(fā)光二極管的陽極電性連接第二節(jié)點(diǎn)，陰極接入第二電源電壓；所述第一開關(guān)的一端接入公共電壓，另一端電性連接第三節(jié)點(diǎn)；

步驟2、所述掃描信號和偵測信號均提供高電位，第一和第三薄膜晶體管均打開，所述數(shù)據(jù)信號提供第一電壓至第一節(jié)點(diǎn)，所述開關(guān)閉合，所述第二節(jié)點(diǎn)的電壓等于公共電壓；

步驟3、所述掃描信號和偵測信號保持高電位，第一和第三薄膜晶體管保持打開，所述數(shù)據(jù)信號繼續(xù)提供第一電壓至第一節(jié)點(diǎn)，所述第一節(jié)點(diǎn)保持第一電壓，所述開關(guān)斷開，所述第二節(jié)點(diǎn)的電壓不斷變化后重新穩(wěn)定；

步驟4、提供一模數(shù)轉(zhuǎn)換器以及與所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器電性連接的一缺陷分析模塊，利用所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器偵測出所述第二節(jié)點(diǎn)的電壓并傳送給缺陷分析模塊；

步驟5、所述缺陷分析模塊將所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器傳送來的第二節(jié)點(diǎn)的電壓與預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍進(jìn)行比較，當(dāng)所述第二節(jié)點(diǎn)的電壓超出預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍時(shí)，判定所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路存在缺陷，當(dāng)所述第二節(jié)點(diǎn)的電壓在預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍內(nèi)時(shí)，判定所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路不存在缺陷。

所述步驟5中還提供運(yùn)算放大器、以及相關(guān)雙采樣電路；

偵測時(shí)，所述運(yùn)算放大器的反相輸入端電性連接其輸出端，同相輸入端電性連接第三節(jié)點(diǎn)，輸出端電性連接相關(guān)雙采樣電路的輸入端，所述相關(guān)雙采樣電路的輸出端電性連接模數(shù)轉(zhuǎn)換器，所述第二節(jié)點(diǎn)的電壓經(jīng)由運(yùn)算放大器緩沖后輸出給相關(guān)雙采樣電路，所述相關(guān)雙采樣電路對所述第二節(jié)點(diǎn)的電壓進(jìn)行鎖存與邏輯運(yùn)算后輸出給模數(shù)轉(zhuǎn)換器，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器偵測所述第二節(jié)點(diǎn)的電壓并進(jìn)行數(shù)字量化并傳送給缺陷分析模塊。

所述步驟2中第一電壓大于第二薄膜晶體管的閾值電壓且小于有機(jī)發(fā)光二極管的閾值電壓，所述公共電壓小于所述有機(jī)發(fā)光二極管的閾值電壓。

所述步驟5中當(dāng)所述第二節(jié)點(diǎn)的電壓在預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍內(nèi)，所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路不存在缺陷時(shí)，所述第二薄膜晶體管的閾值電壓等于第一電壓與所述第二節(jié)點(diǎn)的電壓的差值。

所述步驟2中第一電壓小于第二薄膜晶體管的閾值電壓，所述公共電壓大于所述有機(jī)發(fā)光二極管的閾值電壓；

所述步驟5中當(dāng)所述第二節(jié)點(diǎn)的電壓在預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍內(nèi)，所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路不存在缺陷時(shí)，所述有機(jī)發(fā)光二極管的閾值電壓等于所述第二節(jié)點(diǎn)的電壓。

當(dāng)所述第二節(jié)點(diǎn)的電壓大于所述預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍的上限時(shí)，判定所述第二薄膜晶體管短路、或第一電容短路；

當(dāng)所述第二節(jié)點(diǎn)的電壓小于所述預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍的下限時(shí)，則判定所述第二薄膜晶體管斷路。

當(dāng)所述第二節(jié)點(diǎn)的電壓大于所述預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍的上限時(shí)，判定所述有機(jī)發(fā)光二極管斷路；

當(dāng)所述第二節(jié)點(diǎn)的電壓等于第二電源電壓時(shí)，則判定所述有機(jī)發(fā)光二極管短路。

所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路中還形成有寄生電容，所述寄生電容并聯(lián)于所述有機(jī)發(fā)光二極管的兩端。

所述公共電壓等于0V。

所述第一電壓等于0V。

所述步驟5還包括：當(dāng)所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路存在缺陷時(shí)發(fā)出警報(bào)提示。

本發(fā)明的有益效果：本發(fā)明提供了一種OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，該方法通過偵測第二節(jié)點(diǎn)的電壓，并根據(jù)第二節(jié)點(diǎn)的電壓是否在預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍內(nèi)，判定所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路是否存在缺陷，能夠準(zhǔn)確快速的檢測出OLED顯示裝置驅(qū)動電路中的短路與斷路缺陷，且該方法利用OLED顯示裝置的外部電壓補(bǔ)償架構(gòu)實(shí)現(xiàn)，不需要額外購買檢測設(shè)備，沒有設(shè)備成本，能夠提升OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測效率，降低OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測成本，保證產(chǎn)品質(zhì)量。

附圖說明

為了能更進(jìn)一步了解本發(fā)明的特征以及技術(shù)內(nèi)容，請參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細(xì)說明與附圖，然而附圖僅提供參考與說明用，并非用來對本發(fā)明加以限制。

附圖中，

圖1為本發(fā)明的OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法中的OLED顯示裝置驅(qū)動電路的電路圖；

圖2為本發(fā)明的OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

為更進(jìn)一步闡述本發(fā)明所采取的技術(shù)手段及其效果，以下結(jié)合本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例及其附圖進(jìn)行詳細(xì)描述。

請參閱圖1，本發(fā)明提供了一種OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，包括如下步驟：

步驟1、提供一OLED顯示裝置驅(qū)動電路，包括：第一薄膜晶體管T1、第二薄膜晶體管T2、第三薄膜晶體管T3、第一電容C1、有機(jī)發(fā)光二極管D1、以及第一開關(guān)S1；

所述第一薄膜晶體管T1的柵極接入掃描信號Scan，源極接入數(shù)據(jù)信號Data，漏極電性連接第一節(jié)點(diǎn)P；所述第二薄膜晶體管T2的柵極電性連接第一節(jié)點(diǎn)P，源極接入第一電源電壓Ovdd，漏極電性連接第二節(jié)點(diǎn)Q；所述第三薄膜晶體管T3的柵極接入偵測信號Sen，源極電性連接第三節(jié)點(diǎn)K，漏極電性連接第二節(jié)點(diǎn)Q；所述第一電容C1的一端電性連接第一節(jié)點(diǎn)P，另一端電性連接第二節(jié)點(diǎn)Q；所述有機(jī)發(fā)光二極管D1的陽極電性連接第二節(jié)點(diǎn)Q，陰極接入第二電源電壓Ovss；所述第一開關(guān)S1的一端接入公共電壓Vcm，另一端電性連接第三節(jié)點(diǎn)K。

具體地，所述第一薄膜晶體管T1、第二薄膜晶體管T2、第三薄膜晶體管T3、第一電容C1、及有機(jī)發(fā)光二極管D1共同組成了OLED顯示裝置的一個(gè)子像素驅(qū)動電路，而第一開關(guān)S1則用于偵測該子像素驅(qū)動電路閾值電壓。所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路中還形成有寄生電容C2，所述寄生電容C2并聯(lián)于所述有機(jī)發(fā)光二極管D1的兩端。

步驟2、所述掃描信號Scan和偵測信號Sen均提供高電位，第一和第三薄膜晶體管T1、T3均打開，所述數(shù)據(jù)信號Data提供第一電壓至第一節(jié)點(diǎn)P，所述開關(guān)S1閉合，所述第二節(jié)點(diǎn)Q的電壓等于公共電壓Vcm。

具體地，所述步驟2分為兩種情況，一種為偵測第二薄膜晶體管T2即驅(qū)動薄膜晶體管的閾值電壓的情況，一種為偵測有機(jī)發(fā)光二極管D1的閾值電壓的情況。

其中，當(dāng)偵測第二薄膜晶體管T2即驅(qū)動薄膜晶體管的閾值電壓時(shí)，所述步驟2中第一電壓大于第二薄膜晶體管T2的閾值電壓且小于有機(jī)發(fā)光二極管D1的閾值電壓，所述公共電壓Vcm小于所述有機(jī)發(fā)光二極管D1的閾值電壓，從而所述第二薄膜晶體管T2導(dǎo)通，而有機(jī)發(fā)光二極管D1不發(fā)光。優(yōu)選地，此時(shí)公共電壓Vcm為0V。

而當(dāng)偵測有機(jī)發(fā)光二極管D1的閾值電壓時(shí)，所述步驟2中第一電壓小于第二薄膜晶體管T2的閾值電壓，所述公共電壓Vcm大于所述有機(jī)發(fā)光二極管D1的閾值電壓，從而所述第二薄膜晶體管T2截止，而有機(jī)發(fā)光二極管D1發(fā)光。優(yōu)選地，此時(shí)第一電壓為0V。

步驟3、所述掃描信號Scan和偵測信號Sen保持高電位，第一和第三薄膜晶體管T1、T3保持打開，所述數(shù)據(jù)信號Data繼續(xù)提供第一電壓至第一節(jié)點(diǎn)P，所述第一節(jié)點(diǎn)P保持第一電壓，所述開關(guān)S1斷開，所述第二節(jié)點(diǎn)Q的電壓不斷變化后重新穩(wěn)定。

具體地，當(dāng)偵測第二薄膜晶體管T2即驅(qū)動薄膜晶體管的閾值電壓時(shí)，如果所述OLED顯示裝置不存在缺陷，即子像素驅(qū)動電路不存在短路和斷路缺陷，此時(shí)所述第二節(jié)點(diǎn)Q的電壓應(yīng)當(dāng)?shù)扔诘谝浑妷号c所述第二薄膜晶體管T2的閾值電壓的差值，也就說，此時(shí)用第一電壓減去偵測第二節(jié)點(diǎn)Q的電壓應(yīng)當(dāng)?shù)贸龅诙∧ぞw管T2的閾值電壓，而根據(jù)第二薄膜晶體管T2的閾值電壓只能在一個(gè)合理的電壓范圍內(nèi)浮動，據(jù)此可以為第二節(jié)點(diǎn)Q的電壓預(yù)設(shè)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍，根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍求出的第二薄膜晶體管T2的閾值電壓需要落在第二薄膜晶體管T2的閾值電壓的合理浮動范圍內(nèi)。

具體地，當(dāng)偵測有機(jī)發(fā)光二極管D1的閾值電壓時(shí)，如果所述OLED顯示裝置不存在缺陷，即子像素驅(qū)動電路不存在短路和斷路缺陷，則此時(shí)所述第二節(jié)點(diǎn)Q的電壓應(yīng)當(dāng)?shù)扔谟袡C(jī)發(fā)光二極管D1的閾值電壓，而有機(jī)發(fā)光二極管D1的閾值電壓只能在一個(gè)合理的電壓范圍內(nèi)浮動，據(jù)此可以為第二節(jié)點(diǎn)Q的電壓預(yù)設(shè)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍，此標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍即為有機(jī)發(fā)光二極管D1的閾值電壓的合理浮動范圍。

步驟4、提供一模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC以及與所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC電性連接的一缺陷分析模塊，利用所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC偵測出所述第二節(jié)點(diǎn)Q的電壓并傳送給缺陷分析模塊。

具體地，所述步驟5中還提供運(yùn)算放大器Y1、以及相關(guān)雙采樣電路CDS。

偵測時(shí)，所述運(yùn)算放大器Y1的反相輸入端電性連接其輸出端，同相輸入端電性連接第三節(jié)點(diǎn)K，輸出端電性連接相關(guān)雙采樣電路CDS的輸入端，所述相關(guān)雙采樣電路CDS的輸出端電性連接模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC，所述第二節(jié)點(diǎn)Q的電壓經(jīng)由運(yùn)算放大器Y1緩沖后輸出給相關(guān)雙采樣電路CDS，所述相關(guān)雙采樣電路CDS對所述第二節(jié)點(diǎn)Q的電壓進(jìn)行鎖存與邏輯運(yùn)算后輸出給模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC偵測所述第二節(jié)點(diǎn)Q的電壓并進(jìn)行數(shù)字量化并傳送給缺陷分析模塊。

可以理解的是，所述步驟4中偵測第二節(jié)點(diǎn)Q的電壓的方法并不限于上述的通過運(yùn)算放大器Y1、相關(guān)雙采樣電路CDS、以及模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC進(jìn)行偵測的方法，其也可以通過模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC搭配其他元件或模塊進(jìn)行偵測。

步驟5、所述缺陷分析模塊將所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC傳送來的第二節(jié)點(diǎn)Q的電壓與預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍進(jìn)行比較，當(dāng)所述第二節(jié)點(diǎn)Q的電壓超出預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍時(shí)，判定所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路存在缺陷，當(dāng)所述第二節(jié)點(diǎn)Q的電壓在預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍內(nèi)時(shí)，判定所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路不存在缺陷。

具體地，當(dāng)偵測第二薄膜晶體管T2的閾值電壓時(shí)，若所述第二節(jié)點(diǎn)Q的電壓大于所述預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍的上限時(shí)，則判定所述子像素驅(qū)動電路可能存在所述第二薄膜晶體管T2短路、或第一電容C1短路的缺陷。若所述第二節(jié)點(diǎn)Q的電壓小于所述預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍的下限時(shí)，則判定所述子像素驅(qū)動電路可能存在所述第二薄膜晶體管T2斷路的缺陷。

具體地，當(dāng)偵測有機(jī)發(fā)光二極管D1的閾值電壓時(shí)，若當(dāng)所述第二節(jié)點(diǎn)Q的電壓大于所述預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍的上限時(shí)，判定所述子像素驅(qū)動電路可能存在所述有機(jī)發(fā)光二極管D1斷路的缺陷；若所述第二節(jié)點(diǎn)Q的電壓等于第二電源電壓Ovss時(shí)，則判定所述子像素驅(qū)動電路可能存在所述有機(jī)發(fā)光二極管D1短路的缺陷。

進(jìn)一步地，上述過程可完全基于現(xiàn)有的OLED顯示裝置的外部電壓補(bǔ)償架構(gòu)實(shí)現(xiàn)，不需要額外購買檢測設(shè)備，沒有設(shè)備成本，能夠提升OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測效率，降低OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測成本，保證產(chǎn)品質(zhì)量。

值得一提的是，所述步驟5還包括：當(dāng)所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路存在缺陷時(shí)發(fā)出警報(bào)提示。警報(bào)提示的具體方式可以根據(jù)需要進(jìn)行相應(yīng)設(shè)計(jì)，如聲音警報(bào)等。

綜上所述，本發(fā)明提供了一種OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，該方法通過偵測第二節(jié)點(diǎn)的電壓，并根據(jù)第二節(jié)點(diǎn)的電壓是否在預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍內(nèi)，判定所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路是否存在缺陷，能夠準(zhǔn)確快速的檢測出OLED顯示裝置驅(qū)動電路中的短路與斷路缺陷，且該方法利用OLED顯示裝置的外部電壓補(bǔ)償架構(gòu)實(shí)現(xiàn)，不需要額外購買檢測設(shè)備，沒有設(shè)備成本，能夠提升OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測效率，降低OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測成本，保證產(chǎn)品質(zhì)量。

以上所述，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案和技術(shù)構(gòu)思作出其他各種相應(yīng)的改變和變形，而所有這些改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍。